JPS61233343A - クライオスタツト用試料ホルダ - Google Patents
クライオスタツト用試料ホルダInfo
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- JPS61233343A JPS61233343A JP7413985A JP7413985A JPS61233343A JP S61233343 A JPS61233343 A JP S61233343A JP 7413985 A JP7413985 A JP 7413985A JP 7413985 A JP7413985 A JP 7413985A JP S61233343 A JPS61233343 A JP S61233343A
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- Japan
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- holder
- sample
- samples
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0332—Cuvette constructions with temperature control
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、試料を冷却して測定を行うようにしたクラ
イオスタット用試料ホルダに関するものである。
イオスタット用試料ホルダに関するものである。
第１２図は従来の分光器等に取付けて試料を冷却するた
めのクライオスタットの一部を切欠いた分解斜視図、第
１３図はホルダの分解斜視図である。図において、１は
真空シュラウドで、その内部には測定位置に試料２を保
持するホルダ３が設けられ、冷却部４に取付けられてい
る。ホルダ３はホルダ本体３ａおよび押え板３ｂ間にイ
ンジウムリング３ｃ、３ｃｌを介して試料２を挟むよう
にねじ３ｅにより取付けられている。冷却部４は液体ヘ
リウム、液体窒素等の冷媒が循環または気化して熱伝導
により、ホルダ３を通して試料２を冷却するようになっ
ている。５は輻射シールドで、試料２、ホルダ３および
冷却部４の先端部を覆い、測定位置に対向する透孔５ａ
、５ｂを有している。
めのクライオスタットの一部を切欠いた分解斜視図、第
１３図はホルダの分解斜視図である。図において、１は
真空シュラウドで、その内部には測定位置に試料２を保
持するホルダ３が設けられ、冷却部４に取付けられてい
る。ホルダ３はホルダ本体３ａおよび押え板３ｂ間にイ
ンジウムリング３ｃ、３ｃｌを介して試料２を挟むよう
にねじ３ｅにより取付けられている。冷却部４は液体ヘ
リウム、液体窒素等の冷媒が循環または気化して熱伝導
により、ホルダ３を通して試料２を冷却するようになっ
ている。５は輻射シールドで、試料２、ホルダ３および
冷却部４の先端部を覆い、測定位置に対向する透孔５ａ
、５ｂを有している。
真空シュラウド１は透孔５ａ、５ｂに対応する位置およ
びこれと直交する位置に窓１ａ〜１ｄを有しており、Ｏ
リング６を介して窓材７が取付けられている。
びこれと直交する位置に窓１ａ〜１ｄを有しており、Ｏ
リング６を介して窓材７が取付けられている。
上記のクライオスタットにおいては、試料２をホルダ３
に保持して冷却部４に取付け、冷却部４から熱伝導によ
り冷却し、輻射シールド５によって外部からの熱輻射を
避け、真空シュラウド１内を真空にして、冷却部４以外
の熱が試料２に伝わらないようにし、窓１ａおよび透孔
５ａを通して赤外線等の測定光を試料２に照射し、測定
位置から透孔５ｂおよび窓１ｂを通して得られた測定光
を分光器等に導入して測定を行う。
に保持して冷却部４に取付け、冷却部４から熱伝導によ
り冷却し、輻射シールド５によって外部からの熱輻射を
避け、真空シュラウド１内を真空にして、冷却部４以外
の熱が試料２に伝わらないようにし、窓１ａおよび透孔
５ａを通して赤外線等の測定光を試料２に照射し、測定
位置から透孔５ｂおよび窓１ｂを通して得られた測定光
を分光器等に導入して測定を行う。
上記装置では試料２が１個しか取付けられないので、複
数の試料を取付けるものとして、ホルダ３に縦方向に一
列に並べて複数の試料２を取付け。
数の試料を取付けるものとして、ホルダ３に縦方向に一
列に並べて複数の試料２を取付け。
ホルダ３および冷却部４の全体を上下動させて前記と同
様に各試料の測定を行うものも提案されている。
様に各試料の測定を行うものも提案されている。
しかしながら、上記のような従来のクライオスタットに
おいては、試料を１個保持するものでは。
おいては、試料を１個保持するものでは。
試料交換に時間を取られ、測定の効率が悪い、また試料
を複数個保持するものでは、各試料は冷却部に対して一
列に配置されているため、冷却部からの距離が異なり、
熱勾配によって各試料の温度に差が生じ、各試料が目標
温度に達しているかどうかの確認が困難である。またク
ライオスタットでは装置全体を水蒸気パージした試料室
に設置されるが、冷却部を上下動させると、冷媒循環用
配管等の接続部品のシールおよび測定時の動作が困難に
なるなどの問題点があった。
を複数個保持するものでは、各試料は冷却部に対して一
列に配置されているため、冷却部からの距離が異なり、
熱勾配によって各試料の温度に差が生じ、各試料が目標
温度に達しているかどうかの確認が困難である。またク
ライオスタットでは装置全体を水蒸気パージした試料室
に設置されるが、冷却部を上下動させると、冷媒循環用
配管等の接続部品のシールおよび測定時の動作が困難に
なるなどの問題点があった。
この発明は上記問題点を解決するためのもので。
複数の試料を冷却部から等距離に保持して各試料の温度
を一定に保ち、かつ回転によって試料を測定位置に移動
されて冷媒供給部分の移動を少なくできるクライオスタ
ット用試料ホルダを提供することを目的としている。
を一定に保ち、かつ回転によって試料を測定位置に移動
されて冷媒供給部分の移動を少なくできるクライオスタ
ット用試料ホルダを提供することを目的としている。
この発明は、真空シュラウドと、この真空シュラウドの
測定位置に試料を保持するように真空シュラウド内に設
けられたホルダと、このホルダを通して熱伝導により試
料を冷却する冷却部とを有するクライオスタット用試料
ホルダにおいて、前記ホルダは複数の試料を冷却部から
等距離に配置するように冷却部に取付けられ、かつ回転
により各試料を測定位置に移動させるように保持するこ
とを特徴とするクライオスタット用試料ホルダである。
測定位置に試料を保持するように真空シュラウド内に設
けられたホルダと、このホルダを通して熱伝導により試
料を冷却する冷却部とを有するクライオスタット用試料
ホルダにおいて、前記ホルダは複数の試料を冷却部から
等距離に配置するように冷却部に取付けられ、かつ回転
により各試料を測定位置に移動させるように保持するこ
とを特徴とするクライオスタット用試料ホルダである。
ホルダは複数の試料を冷却部からの熱伝導径路が等距離
となるように保持するものである。このホルダは複数の
試料を１個のホルダで保持するものでもよく、１個の試
料を保持するホルダを複数用いてもよく、これらは直接
または取付部材等により冷却部に取付けられる。複数の
試料を保持するホルダとしては、同一円周上に各試料を
保持する円板状のものが好ましく、その中心を直接また
は取付部材を介して冷却部に取付けることができる。１
個の試料を保持するホルダは同形のものを複数、冷却部
または取付部材に放射状に取付けることができる。
となるように保持するものである。このホルダは複数の
試料を１個のホルダで保持するものでもよく、１個の試
料を保持するホルダを複数用いてもよく、これらは直接
または取付部材等により冷却部に取付けられる。複数の
試料を保持するホルダとしては、同一円周上に各試料を
保持する円板状のものが好ましく、その中心を直接また
は取付部材を介して冷却部に取付けることができる。１
個の試料を保持するホルダは同形のものを複数、冷却部
または取付部材に放射状に取付けることができる。
試料の測定位置への回転は、ホルダ自体の回転またはク
ライオスタット全体の回転によることができ、いずれも
モータ、プランジャ、操作レバー等によって行うことが
できる。ホルダの回転による場合、ホルダを取付部材等
により回転可能に取付け、モータ等により回転を行う。
ライオスタット全体の回転によることができ、いずれも
モータ、プランジャ、操作レバー等によって行うことが
できる。ホルダの回転による場合、ホルダを取付部材等
により回転可能に取付け、モータ等により回転を行う。
クライオスタット全体の回転による場合、クライオスタ
ットを回転ジヨイント等により分析装置等に連結するこ
とによって可能である。
ットを回転ジヨイント等により分析装置等に連結するこ
とによって可能である。
本発明は分光器、ＮＭＲ，ＥＳＲなどの試料を冷却して
測定を行うクライオスタット用の試料ホルダに適用でき
、測定の対象は透過、反射または発生した赤外線、可視
光線、紫外線、Ｘ線、マイクロ波など任意のものが含ま
わる。
測定を行うクライオスタット用の試料ホルダに適用でき
、測定の対象は透過、反射または発生した赤外線、可視
光線、紫外線、Ｘ線、マイクロ波など任意のものが含ま
わる。
本発明のクライオスタット用試料ホルダにおいては、各
試料は冷却部から等距離に配置されているため同一温度
に冷却される。この状態で回転により特定の試料を測定
位置に移動させて測定を行う、試料の移動は回転よって
行われるため、装置の上下動等の動作がなく、水蒸気パ
ージのシールが容易で、温度変化の影響や配管移動の困
戴さがない。
試料は冷却部から等距離に配置されているため同一温度
に冷却される。この状態で回転により特定の試料を測定
位置に移動させて測定を行う、試料の移動は回転よって
行われるため、装置の上下動等の動作がなく、水蒸気パ
ージのシールが容易で、温度変化の影響や配管移動の困
戴さがない。
以下、この発明を図面の実施例について説明する。第１
図はこの発明の一実施例の一部を切欠いた斜視図、第２
図はそのホルダの正面図、第３図はその■−■断面図で
あり、第１２図および第１３図と同一符号は同一または
相当部分を示す。
図はこの発明の一実施例の一部を切欠いた斜視図、第２
図はそのホルダの正面図、第３図はその■−■断面図で
あり、第１２図および第１３図と同一符号は同一または
相当部分を示す。
ホルダ３は複数の試料２を中心から等距離に保持するよ
うに同一円周上に試料取付孔３ｆを有するホルダ本体３
ａおよびほぼ同様の形状を有する押え板３ｂ間に複数の
試料２を、挟み、ねじ３ｅで固定されている。インジウ
ムリング３ｃ、３ｄは図示が省略されている。１１は冷
却部４にねじ付けられた取付部材で、その先端部にはモ
ータ１２が固着され、ホルダ３の中心部は伝熱性のスペ
ーサ１３および止輪１４を介してねじ１５によりモータ
軸１６に取付けられている。このようにホルダ３は試料
２が冷却部４からの熱伝導径路が等距離となるように、
取付部材１１を介して回転可能に取付けられている。他
の構成は第１２図および第１３図とほぼ同様である。
うに同一円周上に試料取付孔３ｆを有するホルダ本体３
ａおよびほぼ同様の形状を有する押え板３ｂ間に複数の
試料２を、挟み、ねじ３ｅで固定されている。インジウ
ムリング３ｃ、３ｄは図示が省略されている。１１は冷
却部４にねじ付けられた取付部材で、その先端部にはモ
ータ１２が固着され、ホルダ３の中心部は伝熱性のスペ
ーサ１３および止輪１４を介してねじ１５によりモータ
軸１６に取付けられている。このようにホルダ３は試料
２が冷却部４からの熱伝導径路が等距離となるように、
取付部材１１を介して回転可能に取付けられている。他
の構成は第１２図および第１３図とほぼ同様である。
以上の構成において、冷却部４において液体ヘリウム、
液体窒素等の冷媒により冷却を行うと、冷却部４から取
付部材１１、スペーサ１３およびホルダ３を介した熱伝
導により試料２は冷却される。このとき各試料２は冷却
部４に対して熱的に等距離にあるため、各試料２は同一
温度に冷却される。この状態でモータ１２を回転させる
とホルダ３が回転し、各試料２は順次測定位置に移動し
。
液体窒素等の冷媒により冷却を行うと、冷却部４から取
付部材１１、スペーサ１３およびホルダ３を介した熱伝
導により試料２は冷却される。このとき各試料２は冷却
部４に対して熱的に等距離にあるため、各試料２は同一
温度に冷却される。この状態でモータ１２を回転させる
とホルダ３が回転し、各試料２は順次測定位置に移動し
。
測定光を照射して測定が行われる。他の動作は第１２図
および第１３図の場合とほぼ同様である。
および第１３図の場合とほぼ同様である。
この実施例では円板状のホルダを使用するため、試料２
を等距離に配置しやすく１回転も容易であり、ホルダ３
が回転するため、シールおよび測定時の動作は容易であ
る。
を等距離に配置しやすく１回転も容易であり、ホルダ３
が回転するため、シールおよび測定時の動作は容易であ
る。
第４図は他の実施例の一部を切欠いた斜視図、第５図お
よび第６図は異なる動作状態における一部の断面図、第
７図は■−■断面図である。この実施例は装置全体が横
型に形成されている。ホルダ３は第１図ないし第３図と
ほぼ同様に構成されているが、取付部材１１は試料２に
対応する透孔１１ａを有するカップ状体からなり、その
中心部が冷却部４に取付けられている。ホルダ３は取付
部材１１内に回転可能に収容され、ばね１７によって押
付けられる押付板１８によって固定されるようになって
いる。取付部材１１の他端部にはキャップ１９が着脱可
能とされており、キャップ１９が装着されたとき回転す
るように取付部材１１に設けられた回転体２０が押付板
１８の押圧を解除するようになっている。キャップ１９
の中央部には操作レバー２１が固着されており、その先
端部に設けられたピン２２がホルダ本体３ａの中心部に
形成された係合溝２３に係合するようになっている。操
作レバー２１の他端部にはピン２２に対応するピン２４
および把手２５が設けられている。真空シュラウド１の
端部には透孔１ｅが設けられて、外部の反射鏡２６と対
向し、また側壁には透孔１ｆが設けられて、内部の反射
鏡２７と対向している。
よび第６図は異なる動作状態における一部の断面図、第
７図は■−■断面図である。この実施例は装置全体が横
型に形成されている。ホルダ３は第１図ないし第３図と
ほぼ同様に構成されているが、取付部材１１は試料２に
対応する透孔１１ａを有するカップ状体からなり、その
中心部が冷却部４に取付けられている。ホルダ３は取付
部材１１内に回転可能に収容され、ばね１７によって押
付けられる押付板１８によって固定されるようになって
いる。取付部材１１の他端部にはキャップ１９が着脱可
能とされており、キャップ１９が装着されたとき回転す
るように取付部材１１に設けられた回転体２０が押付板
１８の押圧を解除するようになっている。キャップ１９
の中央部には操作レバー２１が固着されており、その先
端部に設けられたピン２２がホルダ本体３ａの中心部に
形成された係合溝２３に係合するようになっている。操
作レバー２１の他端部にはピン２２に対応するピン２４
および把手２５が設けられている。真空シュラウド１の
端部には透孔１ｅが設けられて、外部の反射鏡２６と対
向し、また側壁には透孔１ｆが設けられて、内部の反射
鏡２７と対向している。
上記の構成において、第５図は測定時の状態を示してお
り、試料２を装着したホルダ３は押付板１８により押圧
されているため取付部材１１に密着し、固定されるとと
もに熱伝導性が良好とされている。この状態において各
試料２は取付部材１１を介して冷却部４から等距離にあ
り、それぞれ同一温度となるように冷□却される。この
状態で反射鏡２６および透孔１ｅを通して測定位置にあ
る試料２に測定光を照射し、測定位置から反射鏡２７お
よび透孔１ｆを通して測定光を取出し測定が行われる。
り、試料２を装着したホルダ３は押付板１８により押圧
されているため取付部材１１に密着し、固定されるとと
もに熱伝導性が良好とされている。この状態において各
試料２は取付部材１１を介して冷却部４から等距離にあ
り、それぞれ同一温度となるように冷□却される。この
状態で反射鏡２６および透孔１ｅを通して測定位置にあ
る試料２に測定光を照射し、測定位置から反射鏡２７お
よび透孔１ｆを通して測定光を取出し測定が行われる。
ホルダ３を回転させるときは操作レバー２１を押すと、
第６図のようにキャップ１９が前進し回転体２ｏを押し
て押付板１８の押圧を解除するとともに、ピン２２が係
合溝２３に係合するので、操作レバー２１を回転すると
ピン２２によってホルダ３が回転し、別の試料２が測定
位置に移動する。このときピン２４は操作ガイドとして
使用される。ホルダ３の回転後操作レバー２１を引くと
第５図の状態に戻り、測定が繰返えされる。。
第６図のようにキャップ１９が前進し回転体２ｏを押し
て押付板１８の押圧を解除するとともに、ピン２２が係
合溝２３に係合するので、操作レバー２１を回転すると
ピン２２によってホルダ３が回転し、別の試料２が測定
位置に移動する。このときピン２４は操作ガイドとして
使用される。ホルダ３の回転後操作レバー２１を引くと
第５図の状態に戻り、測定が繰返えされる。。
この実施例では前記実施例と同様に、試料２の等距離配
置およびシール等が容易である。ホルダ３の回転のため
にはモータ、プランジャ等も使用可能である。
置およびシール等が容易である。ホルダ３の回転のため
にはモータ、プランジャ等も使用可能である。
第８図は別の実施例の一部を切欠いた斜視図。
第９図はその一部を切欠いた正面図、第１０図はＸ−Ｘ
断面図である。この実施例は第１図ないし第３図と同様
縦型に形成されている。ホルダ３は１個の試料２を保持
するものが複数段けられ、冷却部４に取付けられた角柱
状の取付部材１１の側面にねじ３ｇにより放射状に取付
けられており、各試料２は取付部材１１を介して冷却部
４から等距離に配置されている。輻射シールド５には測
定位置にある１個の試料２を照射光が通過するように窓
１ａ〜１ｄに対応して４個の透孔５ａ〜５ｄが設けられ
ている。そしてクライオスタット全体が矢印Ａ方向に回
転するように回転ジヨイントで分析装置に連結されてい
るが、図示は省略されている。
断面図である。この実施例は第１図ないし第３図と同様
縦型に形成されている。ホルダ３は１個の試料２を保持
するものが複数段けられ、冷却部４に取付けられた角柱
状の取付部材１１の側面にねじ３ｇにより放射状に取付
けられており、各試料２は取付部材１１を介して冷却部
４から等距離に配置されている。輻射シールド５には測
定位置にある１個の試料２を照射光が通過するように窓
１ａ〜１ｄに対応して４個の透孔５ａ〜５ｄが設けられ
ている。そしてクライオスタット全体が矢印Ａ方向に回
転するように回転ジヨイントで分析装置に連結されてい
るが、図示は省略されている。
以上の構成において、試料２は冷却部４から等距離とさ
れているため、同一温度に冷却される。
れているため、同一温度に冷却される。
測定はクライオスタット全体を矢印Ａ方向に回転させて
、特定の試料２を測定位置に移動させ、窓１ａ〜１ｄお
よよび透孔５ａ〜５ｄを通して測定位置の試料２に測定
光を照射し測定を行う。
、特定の試料２を測定位置に移動させ、窓１ａ〜１ｄお
よよび透孔５ａ〜５ｄを通して測定位置の試料２に測定
光を照射し測定を行う。
この実施例ではクライオスタット全体を回転させるが、
回転ジョイ、ントで連結できるため、シール等は容易で
ある。
回転ジョイ、ントで連結できるため、シール等は容易で
ある。
第１１図はさらに別の実施例の一部を切欠いた斜視図で
ある。この実施例では第４図と同様に横型に形成されて
いるが、第８図と同様にクライオスタット全体をＢ方向
に回転する構成となっている。ホルダ３は第２図と同様
に形成され、取付部材１１により冷却部４に取付けられ
ている。真空シュラウド１の端部には窓１ｇが設けられ
、また輻射シールド５の端部には１反射鏡２６から窓１
ｇを通して測定光を測定位置の試料２に照射し、反射光
を窓１ｇを通して反射鏡２７に送る複数の透孔５ａ、５
ｂ・・・が設けられている。
ある。この実施例では第４図と同様に横型に形成されて
いるが、第８図と同様にクライオスタット全体をＢ方向
に回転する構成となっている。ホルダ３は第２図と同様
に形成され、取付部材１１により冷却部４に取付けられ
ている。真空シュラウド１の端部には窓１ｇが設けられ
、また輻射シールド５の端部には１反射鏡２６から窓１
ｇを通して測定光を測定位置の試料２に照射し、反射光
を窓１ｇを通して反射鏡２７に送る複数の透孔５ａ、５
ｂ・・・が設けられている。
以上の構成において、試料２は取付部材１１を介して冷
却部４から等距離に配置されているため。
却部４から等距離に配置されているため。
同一温度に冷却される。測定はクライオスタット全体を
Ｂ方向に回転させて、特定の試料２を測定位置に移動さ
せ、窓１ｇおよび透孔５ａ、５ｂ・・・を通して測定位
置の試料２に測定光を照射し、反射光を透孔５ａ、５ｂ
・・・および窓１ｇを通して反射鏡２７に送り測定を行
う。
Ｂ方向に回転させて、特定の試料２を測定位置に移動さ
せ、窓１ｇおよび透孔５ａ、５ｂ・・・を通して測定位
置の試料２に測定光を照射し、反射光を透孔５ａ、５ｂ
・・・および窓１ｇを通して反射鏡２７に送り測定を行
う。
この実施例では第８〜１０図の実施例とほぼ同様の作用
効果を有する。
効果を有する。
この発明によれば、試料を冷却部から等距離としたので
各試料を同一温度に確実に冷却でき、また試料を回転に
より測定位置に移動するようにしたので、冷媒供給部の
動作が少なくなり、シールが容易になるとともに、動作
に伴う温度変化の影響や配管移動の困難さがない。
各試料を同一温度に確実に冷却でき、また試料を回転に
より測定位置に移動するようにしたので、冷媒供給部の
動作が少なくなり、シールが容易になるとともに、動作
に伴う温度変化の影響や配管移動の困難さがない。
第１図はこの発明の一実施例の一部を切欠いた斜視図、
第２図はそのホルダの正面図、第３図はｍ−ｍ断面図、
第４図は他の実施例の一部を切欠いた斜視図、第５図お
よび第６図はそれぞれその一部の断面図、第７図は■−
■断面図、第８図は別の実施例の一部を切欠いた斜視図
、第９図はその一部を切欠いた正面図、第１０図はＸ−
Ｘ断面図、第１１図はさらに別の実施例の一部を切欠い
た斜視図、第１２図は従来のクライオスタットの一部を
切欠いた分解斜視図、第１３図はそのホルダの分解斜視
図である。 各図中、同一符号は同一または相当部分を示し、１は真
空シュラウド、２は試料、３はホルダ、４は冷却部、５
は輻射シールド、１１は取付部材、１２はモータ、１９
はキャップ、２１は操作レバーである。 代理人 弁理士 柳 原 成 第４図 派 眼
第２図はそのホルダの正面図、第３図はｍ−ｍ断面図、
第４図は他の実施例の一部を切欠いた斜視図、第５図お
よび第６図はそれぞれその一部の断面図、第７図は■−
■断面図、第８図は別の実施例の一部を切欠いた斜視図
、第９図はその一部を切欠いた正面図、第１０図はＸ−
Ｘ断面図、第１１図はさらに別の実施例の一部を切欠い
た斜視図、第１２図は従来のクライオスタットの一部を
切欠いた分解斜視図、第１３図はそのホルダの分解斜視
図である。 各図中、同一符号は同一または相当部分を示し、１は真
空シュラウド、２は試料、３はホルダ、４は冷却部、５
は輻射シールド、１１は取付部材、１２はモータ、１９
はキャップ、２１は操作レバーである。 代理人 弁理士 柳 原 成 第４図 派 眼
Claims (4)
- （１）真空シュラウドと、この真空シュラウドの測定位
置に試料を保持するように真空シュラウド内に設けられ
たホルダと、このホルダを通して熱伝導により試料を冷
却する冷却部とを有するクライオスタット用試料ホルダ
において、前記ホルダは複数の試料を冷却部から等距離
に配置するように冷却部に取付けられ、かつ回転により
各試料を測定位置に移動させるように保持することを特
徴とするクライオスタット用試料ホルダ。 - （２）ホルダは複数の試料を同一円周上に保持するよう
に直接または取付部材により冷却部に取付けられるもの
である特許請求の範囲第１項記載の試料ホルダ。 - （３）ホルダは１個の試料を保持した複数のホルダが直
接または取付部材により冷却部に取付けられるものであ
る特許請求の範囲第１項または第２項記載の試料ホルダ
。 - （４）試料の回転はホルダの回転またはクライオスタッ
ト全体の回転によるものである特許請求の範囲第１項な
いし第３項のいずれかに記載の試料ホルダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7413985A JPS61233343A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | クライオスタツト用試料ホルダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7413985A JPS61233343A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | クライオスタツト用試料ホルダ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61233343A true JPS61233343A (ja) | 1986-10-17 |
Family
ID=13538546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7413985A Pending JPS61233343A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | クライオスタツト用試料ホルダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61233343A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0294906A2 (en) * | 1987-06-11 | 1988-12-14 | NISHIZAWA, Junichi | Apparatus for measuring very low water content in gas |
| WO2006051279A2 (en) * | 2004-11-09 | 2006-05-18 | Council For The Central Laboratory Of The Research Councils | Cryostat |
| WO2015128679A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-03 | Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited | Sample holding system |
-
1985
- 1985-04-08 JP JP7413985A patent/JPS61233343A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0294906A2 (en) * | 1987-06-11 | 1988-12-14 | NISHIZAWA, Junichi | Apparatus for measuring very low water content in gas |
| WO2006051279A2 (en) * | 2004-11-09 | 2006-05-18 | Council For The Central Laboratory Of The Research Councils | Cryostat |
| WO2006051279A3 (en) * | 2004-11-09 | 2006-08-24 | Council Cent Lab Res Councils | Cryostat |
| GB2434954A (en) * | 2004-11-09 | 2007-08-08 | Council Cent Lab Res Councils | Cryostat |
| GB2434954B (en) * | 2004-11-09 | 2009-12-02 | Council Cent Lab Res Councils | Cryostat |
| US8256231B2 (en) | 2004-11-09 | 2012-09-04 | Council For The Central Laboratory Of The Research Councils | Cryostat |
| WO2015128679A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-03 | Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited | Sample holding system |
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