JPS61231455A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
- Publication number
- JPS61231455A JPS61231455A JP60073811A JP7381185A JPS61231455A JP S61231455 A JPS61231455 A JP S61231455A JP 60073811 A JP60073811 A JP 60073811A JP 7381185 A JP7381185 A JP 7381185A JP S61231455 A JPS61231455 A JP S61231455A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- specimen
- sample
- gas
- gcs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7206—Mass spectrometers interfaced to gas chromatograph
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は質量分析計に係シ、特に複数のＧＣから試料を
Ｊ＠序良くイオン源に導入し、同時の複数のデータを測
定するのに好適な質量分析計に関する。
Ｊ＠序良くイオン源に導入し、同時の複数のデータを測
定するのに好適な質量分析計に関する。
従来のＧＣ−ＭＳは１台のＧＣを１台のＭＳに接合し、
Ｇ Ｃ７５，ら流出する試料をＭＳで定量、定性を行っ
ていた。このように、Ｍ８はＧＣのディテクターであっ
たが、コストはＧＣの１０倍以上と高価なうえ、ＧＣの
分離能が上がり、ｌ検体の試料を測定する、のに数時間
を要する今日、同時に数構体の試料を測定したいと要請
が強くなっている。ＧＣから数構体の試料を測定するに
は、カラムを数時間掛けて昇温し、最初の試料が流出し
終ったら、数十分掛けてカラムの温度を下げ、次の試料
を注入する。そしてカラムの昇温・・・川のくり返しを
行ってｈる。
Ｇ Ｃ７５，ら流出する試料をＭＳで定量、定性を行っ
ていた。このように、Ｍ８はＧＣのディテクターであっ
たが、コストはＧＣの１０倍以上と高価なうえ、ＧＣの
分離能が上がり、ｌ検体の試料を測定する、のに数時間
を要する今日、同時に数構体の試料を測定したいと要請
が強くなっている。ＧＣから数構体の試料を測定するに
は、カラムを数時間掛けて昇温し、最初の試料が流出し
終ったら、数十分掛けてカラムの温度を下げ、次の試料
を注入する。そしてカラムの昇温・・・川のくり返しを
行ってｈる。
又数種類のカラムを一度にＧＣに取付ることは不可能で
あったため、試料のタイプが変るとＭＳのイオン源部の
電源を切り、真空をやぶってカラムの交換を行った後、
再排気をしていた為、多くの無駄な時間と労力を必要と
していた。
あったため、試料のタイプが変るとＭＳのイオン源部の
電源を切り、真空をやぶってカラムの交換を行った後、
再排気をしていた為、多くの無駄な時間と労力を必要と
していた。
本発明の目的は、一台のＭＳで同時に複数のＧＣからの
試料測定をすることのできる質量分析計を提供すること
にある。
試料測定をすることのできる質量分析計を提供すること
にある。
本発明は、ＧＣカラム出口とＭＳイオン源の間に試料セ
レクトユニットを設け、ＣＰＵから制御されたシグナル
により磁場のスキャンごとに試料制御ユニットを動作さ
せ、複数のＧＣからの流出試料を屓序良く測定すること
により、１台のＭＳで同時に複数のＧＣからの試料測定
をしようというものである。
レクトユニットを設け、ＣＰＵから制御されたシグナル
により磁場のスキャンごとに試料制御ユニットを動作さ
せ、複数のＧＣからの流出試料を屓序良く測定すること
により、１台のＭＳで同時に複数のＧＣからの試料測定
をしようというものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図には本発明に係る質量分析計の一実施例が示され
ている。
ている。
図において、質量分析計はガスクロｌから流出した試料
は、イオン源３でイオン化され加速されてイオンビーム
４として磁場５に入れられ質量分散を受ける。磁場走査
電源１３をスキャンすれば、イオンビーム４は質量スペ
クトルとしてコレクター７に入り、増巾器８を通ってＣ
ＰＵ８で処理されレコーダー１０に書き出される。
は、イオン源３でイオン化され加速されてイオンビーム
４として磁場５に入れられ質量分散を受ける。磁場走査
電源１３をスキャンすれば、イオンビーム４は質量スペ
クトルとしてコレクター７に入り、増巾器８を通ってＣ
ＰＵ８で処理されレコーダー１０に書き出される。
ガスクロ（ＧＣｌ １とイオン源３との間には試料セレ
クトユニット２が設けられている。この試料セレクトユ
ニット２は第２図に示す如き構成を有している。すなわ
ち、試料がＧＣ側管路よりＭＳ側管路との間に間隙を設
け、この間隙に試料の流れ方向に直角にＨｅガスを吹き
つける管路を設けている。また、この３つの管路のガス
吹出口は小さくしぼられている。このような構成におい
て、ＧＣｌからの試料をイオン源に入れない時は第２図
に示す如き動作、すなわち、ＧＣ側からの試料は、下側
のｌ（ｅガス吹き付は用パイプから圧力を掛けて吹き付
けられるｌ（ｅガスにより吹き飛ばされ、少量の）（ｅ
のみがＭＳ、のイオン源３に入ってゆく。一方％ＧＣＩ
からの試料をイオン源３に入れる時は、第３図に示す如
＜Ｈｅ吹きつけパイプからのｌ（ｅを止めておくと、Ｇ
ＣＩから流出したキャリアガスに混じった試料は質量分
析計部が高真空なこともあり、イオン源に吹い込まれる
。
クトユニット２が設けられている。この試料セレクトユ
ニット２は第２図に示す如き構成を有している。すなわ
ち、試料がＧＣ側管路よりＭＳ側管路との間に間隙を設
け、この間隙に試料の流れ方向に直角にＨｅガスを吹き
つける管路を設けている。また、この３つの管路のガス
吹出口は小さくしぼられている。このような構成におい
て、ＧＣｌからの試料をイオン源に入れない時は第２図
に示す如き動作、すなわち、ＧＣ側からの試料は、下側
のｌ（ｅガス吹き付は用パイプから圧力を掛けて吹き付
けられるｌ（ｅガスにより吹き飛ばされ、少量の）（ｅ
のみがＭＳ、のイオン源３に入ってゆく。一方％ＧＣＩ
からの試料をイオン源３に入れる時は、第３図に示す如
＜Ｈｅ吹きつけパイプからのｌ（ｅを止めておくと、Ｇ
ＣＩから流出したキャリアガスに混じった試料は質量分
析計部が高真空なこともあり、イオン源に吹い込まれる
。
ＣＰＵ９からのシグナルにより磁場走査電源１３ Ｋ同
期サセ、 Ｈｅ ｉスコントロールバルプ１１を順次開
閉させると、Ｈｅガスボンベ１２からのｌ（ｅガスは開
部分のみ、試料セレクトユニット２に圧力を持って送ら
れＧＣＩからのキャリアガスに混合された試料は吹き飛
ばされ、試料セレクトユニット１２からの少量の）（ｅ
のみがイオン源３に吹い込まれる。すなわち、第３図に
示される如きｌ（ｅガスコントロールバルブ１１の閉の
部分を使用した試料セレクトユニットのみが、ガスクロ
からの試料をイオン源３に入れイオン化し、その試料ス
ペクトルを得ることが出来る。磁場走査ごとに％Ｈｅガ
スコントロールパルプを順次開閉し、ＣＰＵ９にて得ら
れるデータごとに整理することによシ、数台のＧＣＩか
らの試料を同時にマススペクトルとして処理することが
出来る。
期サセ、 Ｈｅ ｉスコントロールバルプ１１を順次開
閉させると、Ｈｅガスボンベ１２からのｌ（ｅガスは開
部分のみ、試料セレクトユニット２に圧力を持って送ら
れＧＣＩからのキャリアガスに混合された試料は吹き飛
ばされ、試料セレクトユニット１２からの少量の）（ｅ
のみがイオン源３に吹い込まれる。すなわち、第３図に
示される如きｌ（ｅガスコントロールバルブ１１の閉の
部分を使用した試料セレクトユニットのみが、ガスクロ
からの試料をイオン源３に入れイオン化し、その試料ス
ペクトルを得ることが出来る。磁場走査ごとに％Ｈｅガ
スコントロールパルプを順次開閉し、ＣＰＵ９にて得ら
れるデータごとに整理することによシ、数台のＧＣＩか
らの試料を同時にマススペクトルとして処理することが
出来る。
したがって、本実施例によれば、複数のＧＣからの試料
を、ＣＰＵからのシグナルにより磁場のスキャンに同期
させた試料セレクトユニットにより順序よ＜ＭＳのイオ
ン源に導入し測定、コンピューターで整理することによ
り、数台のＧＣから流出される試料を、１台のＭＳで同
時に処理することが出来る。
を、ＣＰＵからのシグナルにより磁場のスキャンに同期
させた試料セレクトユニットにより順序よ＜ＭＳのイオ
ン源に導入し測定、コンピューターで整理することによ
り、数台のＧＣから流出される試料を、１台のＭＳで同
時に処理することが出来る。
また、本実施例によれば、試料のタイプが変って異った
カラムの使用が必要な場合もＭＳの真空をやぶることな
く、同時に数種類のカラムが出来るため、それらに費し
ていた時間労力を数分の・１とすることができる。
カラムの使用が必要な場合もＭＳの真空をやぶることな
く、同時に数種類のカラムが出来るため、それらに費し
ていた時間労力を数分の・１とすることができる。
以上説明したように、本発明によれば、１台のＭＳで同
時の複数のＧＯからの試料測定をすることができる。
時の複数のＧＯからの試料測定をすることができる。
第１図は本発明の実施例を示す構成図、第２図。
第３図は第１図図示試料セレクトユニットの構成図であ
る。 ｌ・・・複数のＧＣ，２・・・試料セレクトユニット、
３・・・イオン源、４・・・イオンビーム、５・・・磁
場、６・・・コレクタースリット、７・・・コレクター
、８・・・アンプ、９・・・コンピューター、ｌＯ・・
・レコーダー、１１・・・Ｈｅガスコントロールパル７
”、１２・・・Ｈｅガス、１３・・・磁場走査電源。
る。 ｌ・・・複数のＧＣ，２・・・試料セレクトユニット、
３・・・イオン源、４・・・イオンビーム、５・・・磁
場、６・・・コレクタースリット、７・・・コレクター
、８・・・アンプ、９・・・コンピューター、ｌＯ・・
・レコーダー、１１・・・Ｈｅガスコントロールパル７
”、１２・・・Ｈｅガス、１３・・・磁場走査電源。
Claims (1)
- １、ガスクロマトグラフのカラムから流出した試料をイ
オン源でイオン化し、そのイオンビームを磁場を通し、
特定の条件を満たすもののみをコレクターに取り込み、
該コレクターから得た信号に基づき該試料のスペクトル
を分析記録できる質量分析計において、上記ガスクロマ
トグラフを複数台設け、各ガスクロマトグラフと上記イ
オン源との間に、ガスクロマトグラフ側の試料供給管路
とイオン源側の試料供給管路との間に間隙を設け、該間
隙に試料流れ方向に直交するようにＨｅガスを吹きつけ
る管路を設けて構成される試料セレクトユニットを設け
たことを特徴とする質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60073811A JPS61231455A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60073811A JPS61231455A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | 質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61231455A true JPS61231455A (ja) | 1986-10-15 |
Family
ID=13528912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60073811A Pending JPS61231455A (ja) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61231455A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003190A (ja) * | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
-
1985
- 1985-04-08 JP JP60073811A patent/JPS61231455A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003190A (ja) * | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
| JP4701855B2 (ja) * | 2005-06-21 | 2011-06-15 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
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