JPS61228331A - 分光々度計試料測定装置 - Google Patents
分光々度計試料測定装置Info
- Publication number
- JPS61228331A JPS61228331A JP6900685A JP6900685A JPS61228331A JP S61228331 A JPS61228331 A JP S61228331A JP 6900685 A JP6900685 A JP 6900685A JP 6900685 A JP6900685 A JP 6900685A JP S61228331 A JPS61228331 A JP S61228331A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- spectrophotometer
- measuring device
- specimen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は分光々度計の大形試料測定及び危険物質の測定
に関する。
に関する。
従来の装置は、特許出願公開昭５７−１７５４２６号に
記載のようにセルホールダが取外し可能なユニット内に
配置され、検知器が同様に取外し可能なユニット内に配
置され、かつ試料ビーム及び対照ビームが光源及びモノ
クロメータユニットから光導管によって取外し可能なユ
ニットの試料ホールダ内の試料セルおよび対照セルに導
かれるように構成されているとなっていた。本発明は、
分光々度計の試料室で測定できない試料、例えば、分光
々度計の試料室以外の大きな試料又は試料が放射線等の
危険物質を含んでいるなどの場合を対称としたものであ
る。
記載のようにセルホールダが取外し可能なユニット内に
配置され、検知器が同様に取外し可能なユニット内に配
置され、かつ試料ビーム及び対照ビームが光源及びモノ
クロメータユニットから光導管によって取外し可能なユ
ニットの試料ホールダ内の試料セルおよび対照セルに導
かれるように構成されているとなっていた。本発明は、
分光々度計の試料室で測定できない試料、例えば、分光
々度計の試料室以外の大きな試料又は試料が放射線等の
危険物質を含んでいるなどの場合を対称としたものであ
る。
前記特許出願公開昭５７−１７５２４６との違いは、検
出部と試料セル及び対照セル部が分離していることであ
る。又出願公開昭５７−１７５２４６は放射性試料を測
定する場合、検出部とセル部が接近しているため検出部
が放射線によって被ばくされる危険性が大で放射線物質
の測定は適していない。
出部と試料セル及び対照セル部が分離していることであ
る。又出願公開昭５７−１７５２４６は放射性試料を測
定する場合、検出部とセル部が接近しているため検出部
が放射線によって被ばくされる危険性が大で放射線物質
の測定は適していない。
本発明の目的は、分光々度計を用いて分光々度計の試料
室内で測定できない試料の測定を可能にすること及び光
エネルギー損失を最小にすることにある。
室内で測定できない試料の測定を可能にすること及び光
エネルギー損失を最小にすることにある。
分光々変針側の検出器を使用すると検出器にいたるまで
に複数のミラーを介入しなければならないのでミラーに
よるエネルギー損失が起る。
に複数のミラーを介入しなければならないのでミラーに
よるエネルギー損失が起る。
この対策として試料より透過した光を外置きの検出器に
入射させる本発明が生れる。
入射させる本発明が生れる。
［発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。１は
分光々度計で光源１分光器、試料室２検出器及びデータ
処理部を有する。
分光々度計で光源１分光器、試料室２検出器及びデータ
処理部を有する。
光源より発する白色光は、分光器で単色光化しチョッピ
ング機構により試料光３と対照光４に分は試料室２に導
く。試料光３は幅約５ｍｍ高さ８１１ＩＬＩ＋の光束で
ある。この光束をレンズ５を用いて光ファイバ６の入射
端面７で幅約２ｆｆＩ１１高さ４ｍｍのスポットになる
ようにしている。−力対照光４は試料光３同様にレンズ
１９で光ファイバの入射端１６で入射端面１６で幅約２
ｍｍ高さ４ｍｍのスポットに絞る。光ファイバ６により
試料光３は分光々度計より独立した別置き試料室８に導
かれ出射するが全反射を伝導原理とする光ファイバ６か
らの光束は広がりを持っている。したがって、光ファイ
バ６の出射端面９付近に光を平行光線にするための光学
素子１０を置く。
ング機構により試料光３と対照光４に分は試料室２に導
く。試料光３は幅約５ｍｍ高さ８１１ＩＬＩ＋の光束で
ある。この光束をレンズ５を用いて光ファイバ６の入射
端面７で幅約２ｆｆＩ１１高さ４ｍｍのスポットになる
ようにしている。−力対照光４は試料光３同様にレンズ
１９で光ファイバの入射端１６で入射端面１６で幅約２
ｍｍ高さ４ｍｍのスポットに絞る。光ファイバ６により
試料光３は分光々度計より独立した別置き試料室８に導
かれ出射するが全反射を伝導原理とする光ファイバ６か
らの光束は広がりを持っている。したがって、光ファイ
バ６の出射端面９付近に光を平行光線にするための光学
素子１０を置く。
平行光、１ｌｌｌは試料１２に照射し集光素子１３によ
り光束は集光し約３＋ａｍφのスポットとし光ファイバ
１４の入射端面１５に照射する。同様にして対照光も分
光々度計１の試料室外にある対照側試料室９２に導かれ
る。詳細は試料側と同じなので省略する。
り光束は集光し約３＋ａｍφのスポットとし光ファイバ
１４の入射端面１５に照射する。同様にして対照光も分
光々度計１の試料室外にある対照側試料室９２に導かれ
る。詳細は試料側と同じなので省略する。
′試料側光ファイバ１４の入射端１５に照射した光は分
光々度計１の検出器とは別の外置き検知器９０に光ファ
イバ１４によって導く。そして検出器９０の受光部に照
射し光エネルギーを電気信号に変換する。変換された電
気信号は、コード９１により本体側の信号処理装置を利
用しディスプレー又は記録計などに表示される。
光々度計１の検出器とは別の外置き検知器９０に光ファ
イバ１４によって導く。そして検出器９０の受光部に照
射し光エネルギーを電気信号に変換する。変換された電
気信号は、コード９１により本体側の信号処理装置を利
用しディスプレー又は記録計などに表示される。
検知器としては、第１６図〜第１７図に示すように直接
に光電子増倍管９３に照射しても、積分球９７を用いて
もよい。なお、直接光電子増倍管９３に照射するときは
、光ファイバ９６の端面にレンズを付けて光ファイバか
らの光が拡散しないようにする必要がある。積分球９７
を使用する場合は積分球９７の入口に光が入射すれば、
積分球９７の内壁での反射が繰返され平均化した光が検
出器９３で電気信号に変換されるので光ファイバからの
光の状態を無視することができる利点がある。
に光電子増倍管９３に照射しても、積分球９７を用いて
もよい。なお、直接光電子増倍管９３に照射するときは
、光ファイバ９６の端面にレンズを付けて光ファイバか
らの光が拡散しないようにする必要がある。積分球９７
を使用する場合は積分球９７の入口に光が入射すれば、
積分球９７の内壁での反射が繰返され平均化した光が検
出器９３で電気信号に変換されるので光ファイバからの
光の状態を無視することができる利点がある。
対照光についても試料光とほぼ同じ方法で前述の外置き
検知器９０に導かれる。
検知器９０に導かれる。
対照光側を試料光側と同じように光ファイバの長さ試料
ホールダの間隔、検知器への照射位置を合せれば、バラ
ンスのとれた状態にすることができ、対照側の光量調整
用スリット等は必要ない。
ホールダの間隔、検知器への照射位置を合せれば、バラ
ンスのとれた状態にすることができ、対照側の光量調整
用スリット等は必要ない。
このような構成になるので別置き試料室８及び別置き検
出器９０は、必要に応じ自由に寸法を変えることができ
る。また、光ファイバの長さを変え分光々変針の設置し
た室とは別室に置き分光々変針１よりの遠隔操作による
危険物の測定も可能である。
出器９０は、必要に応じ自由に寸法を変えることができ
る。また、光ファイバの長さを変え分光々変針の設置し
た室とは別室に置き分光々変針１よりの遠隔操作による
危険物の測定も可能である。
第２図〜第４図は別置き試料室に大形ガラス測定用ガラ
スホールダを設置した実施した例を示したものである。
スホールダを設置した実施した例を示したものである。
２２は、光ファイバ６の端面をリードする金属管でケー
ス２３に取付けたワリカン２４とボス２５によってサポ
ートされ光ファイバ６の出射位置のａｍもこの金属管２
２の固定位置を変えて行うことができる。２６は金属管
をボス２４内のワリカン２５を締付けて固定するねじで
ある。
ス２３に取付けたワリカン２４とボス２５によってサポ
ートされ光ファイバ６の出射位置のａｍもこの金属管２
２の固定位置を変えて行うことができる。２６は金属管
をボス２４内のワリカン２５を締付けて固定するねじで
ある。
２７は、大形ガラス２９をバネ２８ではさみサポートす
るサポータである。
るサポータである。
ばね２８は大形ガラス２９の厚さに応じ位置可変ができ
るようになっている。
るようになっている。
３０は大形ガラス２９を上下及び左右に移動できる機構
でその一例を第３図〜第４図に示す。
でその一例を第３図〜第４図に示す。
３１はカバーでケース２３にチョーバン３２で固定して
あり開閉できるようにしである。
あり開閉できるようにしである。
第３図及び第４図において３３は大形ガラス２２をセッ
トするベースＡ３４を左右に移動するレールで固定機構
３５を有し測定すべき任意の位置で固定できる。３６は
レール３３とローラ機構３７及びナツト機構３８を取付
けるベースＢでハンドル３９を回転し、送りねじ４０を
回転することによりナツト機構３８が上下しナツト機構
３８と連結しているベースＢ３６が上下する。ローラ機
構３７は、レール４１上をベースＢ３６の上下の運転に
伴って回転する。４２は送りねじ４０の軸受で両サイド
にベアリング４３を有し回転を円滑にしている。４４は
全体のベース、４５はレール４１をサポートするサポー
タでありベース４４にねじ４６で固定しである。このよ
うな構成なので分光々変針、１の試料室２にセットでき
ない大形ガラス２９も外置き試料室８で自由に任意の位
置の透過率測定ができる。
トするベースＡ３４を左右に移動するレールで固定機構
３５を有し測定すべき任意の位置で固定できる。３６は
レール３３とローラ機構３７及びナツト機構３８を取付
けるベースＢでハンドル３９を回転し、送りねじ４０を
回転することによりナツト機構３８が上下しナツト機構
３８と連結しているベースＢ３６が上下する。ローラ機
構３７は、レール４１上をベースＢ３６の上下の運転に
伴って回転する。４２は送りねじ４０の軸受で両サイド
にベアリング４３を有し回転を円滑にしている。４４は
全体のベース、４５はレール４１をサポートするサポー
タでありベース４４にねじ４６で固定しである。このよ
うな構成なので分光々変針、１の試料室２にセットでき
ない大形ガラス２９も外置き試料室８で自由に任意の位
置の透過率測定ができる。
他の応用例して第５図〜第９図に示す。
第５図は、放射線物質等の危険物試料の測定をするため
に分光４廣計１より遠く離れた別室に置いた別置き試料
室８にブローセル５０をセットした実施例である。又光
ファイバ６の出射端付近に置き平行光線にする光学素子
１０は金属管２２内に固定しである。
に分光４廣計１より遠く離れた別室に置いた別置き試料
室８にブローセル５０をセットした実施例である。又光
ファイバ６の出射端付近に置き平行光線にする光学素子
１０は金属管２２内に固定しである。
第６図は角セル５１を外置き試料室にセットした実施例
で５２はセル台、５３は遮光フタである。
で５２はセル台、５３は遮光フタである。
第５図のフローセルを試料側に第６凹角セルセットを対
照側にし分光々変針１により光ファイバ６で別置き試料
室８にセットすることも容易であね。又、第５図フロー
セルセットと第６凹角セルセットを別々に分離させて使
用することもできる。
照側にし分光々変針１により光ファイバ６で別置き試料
室８にセットすることも容易であね。又、第５図フロー
セルセットと第６凹角セルセットを別々に分離させて使
用することもできる。
第７図は試料５３の拡散反射を測定するアタチメント５
４をセットした外置き試料室８で入射用光ファイバ５５
と出射用光ファイバ５６は同軸にした例を示す。
４をセットした外置き試料室８で入射用光ファイバ５５
と出射用光ファイバ５６は同軸にした例を示す。
第８図は、試料５７の正反射光の相対反射率を測定する
アタチメントを外置き試料室８にセットした実施例で５
８．５９はミラである。１００％ベースライン補正を行
うときは試料５７と同位置に基準ミラ６０又は基準試料
６１をセットする。
アタチメントを外置き試料室８にセットした実施例で５
８．５９はミラである。１００％ベースライン補正を行
うときは試料５７と同位置に基準ミラ６０又は基準試料
６１をセットする。
第９図は試料６１の正反射光の絶対反射率を測定するア
タチメントを外置き試料室８にセットした実施例で６２
．６５はミラ、６３は基準ミラである。
タチメントを外置き試料室８にセットした実施例で６２
．６５はミラ、６３は基準ミラである。
１００％ベースライン補正時は実線の光学系、すなわち
入射光はミラ６２ （Ｍｌ）、基準ミラ６３ （Ｍ２）
、ミラー６５（Ｍ３）を介し光ファイバ１４の入射端
面に取付けた集光素子１３により照射する。また、試料
６１を測定するときは、Ｐ、の位置に試料６１をセット
し基準ミータ６３をＰ３の位置にセットミラＭ３を点線
のように切替で行う。以上述べたように分光々度計１の
試料室２以外の所に測定サンプルの大きさと測定内容に
応じたアタチメントをセットすることによって従来のよ
うに試料室の大きさに合せてサンプルの大きさを決める
のではなく、試料の原寸の状態で測定ができる。したが
って製造ラインの品質管理たとえば、窓ガラスの透過率
の測定などができる。
入射光はミラ６２ （Ｍｌ）、基準ミラ６３ （Ｍ２）
、ミラー６５（Ｍ３）を介し光ファイバ１４の入射端
面に取付けた集光素子１３により照射する。また、試料
６１を測定するときは、Ｐ、の位置に試料６１をセット
し基準ミータ６３をＰ３の位置にセットミラＭ３を点線
のように切替で行う。以上述べたように分光々度計１の
試料室２以外の所に測定サンプルの大きさと測定内容に
応じたアタチメントをセットすることによって従来のよ
うに試料室の大きさに合せてサンプルの大きさを決める
のではなく、試料の原寸の状態で測定ができる。したが
って製造ラインの品質管理たとえば、窓ガラスの透過率
の測定などができる。
また、ガラスフィルタ等の透過率が放射線を照射しどの
ように変化するか等の経時変化測定も分光４度１より遠
く離して行うことができるので安全性の点からも優れて
いる。
ように変化するか等の経時変化測定も分光４度１より遠
く離して行うことができるので安全性の点からも優れて
いる。
本発明を生かすキーポイントは、分光々度計で分光した
光を損失なく検知器へ導き光エネルギーを電気信号に変
換する技術にある。
光を損失なく検知器へ導き光エネルギーを電気信号に変
換する技術にある。
以下本件について第１０図〜第１５図を用いて詳細に説
明する。
明する。
第１０図は光ファイバによる光伝送損失の模型図を示し
たもので入射端面７０での面反射損失７１コア８１材質
による吸収損失７２、コア８１材質の内部気泡、異物に
よる散乱による損失７３、ファイバの曲り７４による曲
り損失７５、出射端面７６における面反射損失７７、そ
して試料ホールダ部の空間７８による光フアイバ出力端
７６により出射した光の広がりにより次の光ファイバ７
９の入射端８ｏに入るまでの損失７９がある。
たもので入射端面７０での面反射損失７１コア８１材質
による吸収損失７２、コア８１材質の内部気泡、異物に
よる散乱による損失７３、ファイバの曲り７４による曲
り損失７５、出射端面７６における面反射損失７７、そ
して試料ホールダ部の空間７８による光フアイバ出力端
７６により出射した光の広がりにより次の光ファイバ７
９の入射端８ｏに入るまでの損失７９がある。
以上述べた個々の損失の中で特に他と比較し損失の多い
のは、最後に述べた光ファイバ７９の入射端８ｏに入る
までの損失７９である。
のは、最後に述べた光ファイバ７９の入射端８ｏに入る
までの損失７９である。
この損失７９の実測データ第１１図に示す。
光フアイバ間の距離２を長くするにつれて急激に損失も
増大する。
増大する。
この原因は、第１２図に示すように光フアイバ出力光の
広がりと、光ファイバの持つ伝送可能な光の入射角θに
起因する。一般に光ファイバーは全反射を起す最大の角
度、即ち受光角を開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅ
ｒｔｕｒｅ） Ｎ Ａと呼ぶ式（１）で表わされる。
広がりと、光ファイバの持つ伝送可能な光の入射角θに
起因する。一般に光ファイバーは全反射を起す最大の角
度、即ち受光角を開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅ
ｒｔｕｒｅ） Ｎ Ａと呼ぶ式（１）で表わされる。
ＮＡ＝ｓｉｎθ＝ Ｗ （１）ここでｎｌ：
コ７８１の屈折率 ｎ２：クラッド８２の屈折率 このときの入射角が最大角度でありこれ以上の角度の光
はファイバ内に伝わることができず損失となる。石英フ
ァイバの場合ＮＡ−＝０．２１でθ＝＝１２’ となり
、２θ＝２４°以内の光しか伝送できない。これらの損
失をできるだけ少くするために第１３図〜第１５図に示
すように光フアイバ端面の工夫と光フアイバ出射光を平
行光線とした。
コ７８１の屈折率 ｎ２：クラッド８２の屈折率 このときの入射角が最大角度でありこれ以上の角度の光
はファイバ内に伝わることができず損失となる。石英フ
ァイバの場合ＮＡ−＝０．２１でθ＝＝１２’ となり
、２θ＝２４°以内の光しか伝送できない。これらの損
失をできるだけ少くするために第１３図〜第１５図に示
すように光フアイバ端面の工夫と光フアイバ出射光を平
行光線とした。
本工夫について第１３図〜第１５図により詳細に説明す
る。第１図において分光４慶計１で分光した試料光３は
前述したように光ファイバ６の入射端面７で幅２ＩＩ１
ｍ高さ４ｍｍのスポットに集束しである。
る。第１図において分光４慶計１で分光した試料光３は
前述したように光ファイバ６の入射端面７で幅２ＩＩ１
ｍ高さ４ｍｍのスポットに集束しである。
この光を有効に光ファイバ６の入射端面７に入射させる
ため第１３図に示すように受光部８３の形状を幅約３１
高さ５ｍ＋＊とじ出力端面９の形状８４を試料透過窓径
４ｍｍφに合せ約３１１１ｍφとし出力端部に焦点距離
の長いレンズ８６をｖ！置し近似平行光線とした。
ため第１３図に示すように受光部８３の形状を幅約３１
高さ５ｍ＋＊とじ出力端面９の形状８４を試料透過窓径
４ｍｍφに合せ約３１１１ｍφとし出力端部に焦点距離
の長いレンズ８６をｖ！置し近似平行光線とした。
試料を透過した光を受光する光ファイバ１４の端面８７
の寸法を第１４図に示すように試料透過窓径４ｍｍφよ
り少し大きい５ｍｍφとした。光ファイバ１４の出力端
は約３ｍｍφとし外置き検知器にミラー等を介せず直接
に照射した。これらの工夫によって光損失１１５ｏにし
ノイズ１１５の少い安定した測定を可能とした。
の寸法を第１４図に示すように試料透過窓径４ｍｍφよ
り少し大きい５ｍｍφとした。光ファイバ１４の出力端
は約３ｍｍφとし外置き検知器にミラー等を介せず直接
に照射した。これらの工夫によって光損失１１５ｏにし
ノイズ１１５の少い安定した測定を可能とした。
本発明によれば、試料の寸法に制限されず、又、放射線
等の危険物質の測定も遠隔操作によって測定できる効果
がある。
等の危険物質の測定も遠隔操作によって測定できる効果
がある。
第１図は本発明の構成図、第２図は大形ガラス測定用ガ
ラスホールダの側面図、第３図は第２図の平面図、第４
図は第２図の正面図、第５図はフロセルをセットした外
置き試料室の断面図、第６図は角セルをセットした外置
き試料室の断面図、第７図は試料の拡散反射測定アタチ
メントをセットした外置き試料室の断面図、第８図は試
料の正反射光の相対反射率を示す図、第９図は絶対反射
率を測定するアタチメントをセットした外置き試料室の
平面図、第１０図は光ファイバによる光伝送損失の模型
図、第１１図は損失の実測データを′示す図、第１２図
は損失の増大原因の説明図、第１３図、第１４図、第１
５図は本発明実施例の説明図、第１６図、第１７図は従
来の検知器を示す図である。 １・・・分光々度計、２・・・試料室、５，１９．１８
゜２１・・・集光素子、６，１４・・・光導管（光ファ
イバ）、８・・・外置き試料室、外置き検知器、１０・
・・光学素子、１３・・・集光素子。
ラスホールダの側面図、第３図は第２図の平面図、第４
図は第２図の正面図、第５図はフロセルをセットした外
置き試料室の断面図、第６図は角セルをセットした外置
き試料室の断面図、第７図は試料の拡散反射測定アタチ
メントをセットした外置き試料室の断面図、第８図は試
料の正反射光の相対反射率を示す図、第９図は絶対反射
率を測定するアタチメントをセットした外置き試料室の
平面図、第１０図は光ファイバによる光伝送損失の模型
図、第１１図は損失の実測データを′示す図、第１２図
は損失の増大原因の説明図、第１３図、第１４図、第１
５図は本発明実施例の説明図、第１６図、第１７図は従
来の検知器を示す図である。 １・・・分光々度計、２・・・試料室、５，１９．１８
゜２１・・・集光素子、６，１４・・・光導管（光ファ
イバ）、８・・・外置き試料室、外置き検知器、１０・
・・光学素子、１３・・・集光素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、分光々度計の試料室より光導管を用いて前記の分光
々度計試料室外の別試験料室に光束を導き試料を透温度
、前記分光々度計以外の検出部で光信号を電気信号に変
換することを特徴とする分光光度計試料測定装置。 ２、特許請求の範囲第１項において、光導管を光ファイ
バであることを特徴とする分光々度計試料測定装置。 ３、特許請求の範囲第１項において、検出部として積分
球を用いたことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 ４、特許請求の範囲第１項において、分光々度計の別試
料室に固体試料ホールダを設置したことを特とする分光
々度計試料測定装置。 ５、特許請求の範囲第４項において、固定及びＸ−Ｙ−
Ｚ方向の１方向以上移動可能としたことを特徴とする分
光々度計試料測定装置。 ６、特許請求の範囲第１項において、光導管の出力端付
近に光学素子を用い試料に照射する光束を平行光線にし
たことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 ７、特許請求の範囲第１項において、光導管の出力端付
近に光学素子を用い試料に照射する光束を平行光線とし
かつ試料透過後の光を集光する集光素子を光ファイバの
前方付近に設置したことを特徴とする分光々度計試料測
定装置。 ８、特許請求の範囲第７項において、平行光線とする光
学素子及び集光する集光素子を光導管の一部に取付けた
ことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 ９、特許請求の範囲第１項において、分光々度計の試料
室外に試料室にフローセル及び角セルを設置可能にした
ことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 １０、特許請求の範囲第１項において、分光々度計の試
料室外の試料室に拡散反射測定ホールダを取付けたこと
を特徴とする分光々度計試料測定装置。 １１、特許請求の範囲第１項において、分光々度計の試
料室外の試料室に正反射（相対反射）アタチメントを取
付けたことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 １２、特許請求の範囲第１項において、分光々度計の試
料室外の試料室に絶対反射測定アタチメントを取付けた
ことを特徴とする分光々度計試料測定装置。 １３、特許請求の範囲第２項において、光ファイバの入
射端面・出射端面の形状を光束の大きさに合せたことを
特徴とする分光々度計試料測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6900685A JPS61228331A (ja) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | 分光々度計試料測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6900685A JPS61228331A (ja) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | 分光々度計試料測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61228331A true JPS61228331A (ja) | 1986-10-11 |
Family
ID=13390073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6900685A Pending JPS61228331A (ja) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | 分光々度計試料測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61228331A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02115749A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| FR2638835A1 (fr) * | 1988-11-07 | 1990-05-11 | Bp France | Analyseur continu pour zone de securite classee |
| EP0660106A1 (de) * | 1993-12-22 | 1995-06-28 | Hellma GmbH & Co. KG Glastechnische-optische Werkstätten | Vorrichtung mit einem Spektralphotometer und Lichtleitern |
| JPH08110302A (ja) * | 1993-12-22 | 1996-04-30 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | スペクトロフォトメータ及びライトガイドを有する装置 |
-
1985
- 1985-04-03 JP JP6900685A patent/JPS61228331A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02115749A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| FR2638835A1 (fr) * | 1988-11-07 | 1990-05-11 | Bp France | Analyseur continu pour zone de securite classee |
| EP0368560A2 (en) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Bp Oil International Limited | Analyser |
| EP0660106A1 (de) * | 1993-12-22 | 1995-06-28 | Hellma GmbH & Co. KG Glastechnische-optische Werkstätten | Vorrichtung mit einem Spektralphotometer und Lichtleitern |
| JPH08110302A (ja) * | 1993-12-22 | 1996-04-30 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | スペクトロフォトメータ及びライトガイドを有する装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104483104B (zh) | 一种光电探测器光谱响应分析系统 | |
| JPH0131130B2 (ja) | ||
| JPH04232838A (ja) | 流体試料用吸収セル | |
| JPS63175744A (ja) | 光吸収分析装置 | |
| JP2899651B2 (ja) | 光透過型分光計 | |
| JPS5985945A (ja) | 液体クロマトグラフ装置及びその分析方法 | |
| US20070030482A1 (en) | Spectrophotometer with adjustable light pathlength | |
| JPS61292043A (ja) | 分光測色計の光検出プロ−ブ | |
| JPS61228331A (ja) | 分光々度計試料測定装置 | |
| JPS61290342A (ja) | 液体クロマトグラフイ溶離剤吸光度検知器 | |
| Stephens | Long-path infrared spectrocopy for air pollution research | |
| US8164747B2 (en) | Apparatus, system and method for optical spectroscopic measurements | |
| IE53138B1 (en) | Optical beam splitter | |
| JPS6073343A (ja) | 分光光度計 | |
| US3669547A (en) | Optical spectrometer with transparent refracting chopper | |
| US4732475A (en) | Internal reflection nanosampling spectroscopy | |
| JPS6195220A (ja) | 分光光度計 | |
| JPS6225239A (ja) | 光透過式計測器 | |
| JPH04116452A (ja) | 顕微赤外ａｔｒ測定装置 | |
| CN111024630A (zh) | 一种便携式可见吸收光谱仪 | |
| CN219201355U (zh) | 一种基于对称式均匀化光源的漫反射收集系统 | |
| JPH04138340A (ja) | 赤外スペクトル測定ヘッド及び測定装置 | |
| JP2597515Y2 (ja) | 全反射吸収スペクトル測定装置 | |
| JP2002372456A (ja) | 赤外分光光度計 | |
| CN214622270U (zh) | 一种外球式漫反射光谱测量装置 |