JP2597515Y2 - 全反射吸収スペクトル測定装置 - Google Patents
全反射吸収スペクトル測定装置Info
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- JP2597515Y2 JP2597515Y2 JP3505293U JP3505293U JP2597515Y2 JP 2597515 Y2 JP2597515 Y2 JP 2597515Y2 JP 3505293 U JP3505293 U JP 3505293U JP 3505293 U JP3505293 U JP 3505293U JP 2597515 Y2 JP2597515 Y2 JP 2597515Y2
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- sample
- light
- absorption spectrum
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、高分子材料などの有機
物をはじめ、種々の物質の定性分析や同定分析などの広
く利用される、ＡＴＲ法により赤外吸収スペクトルを測
定する装置に関する。
物をはじめ、種々の物質の定性分析や同定分析などの広
く利用される、ＡＴＲ法により赤外吸収スペクトルを測
定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】赤外吸収スペクトルを測定する方法の一
つに全反射を利用するＡＴＲ法が知られている。ＡＴＲ
法では、高い屈折率を持つＡＴＲプリズムを試料に密着
させ、ＡＴＲプリズムを通して赤外光を試料に照射し、
ＡＴＲプリズムからの出射光を分光分析する。
つに全反射を利用するＡＴＲ法が知られている。ＡＴＲ
法では、高い屈折率を持つＡＴＲプリズムを試料に密着
させ、ＡＴＲプリズムを通して赤外光を試料に照射し、
ＡＴＲプリズムからの出射光を分光分析する。
【０００３】ＡＴＲプリズムと試料との屈折率の関係か
らある角度以上の条件で赤外光をプリズムに入射させる
と、赤外光はＡＴＲプリズムから出ず、ＡＴＲプリズム
と試料との接触面で全反射を起こすが、その際、赤外光
が僅かの距離だけ試料側に滲みだすので、試料で赤外光
の吸収があれば反射光が減衰し、試料の吸収スペクトル
を得ることができる。
らある角度以上の条件で赤外光をプリズムに入射させる
と、赤外光はＡＴＲプリズムから出ず、ＡＴＲプリズム
と試料との接触面で全反射を起こすが、その際、赤外光
が僅かの距離だけ試料側に滲みだすので、試料で赤外光
の吸収があれば反射光が減衰し、試料の吸収スペクトル
を得ることができる。
【０００４】ＡＴＲ法は、ＡＴＲプリズムと接触したご
く薄い試料部分の吸収スペクトルを測定することができ
るため、厚い試料や透過性の低い試料であっても、ＡＴ
Ｒプリズムと密着させることができれば測定できるとい
う利点を備えている。
く薄い試料部分の吸収スペクトルを測定することができ
るため、厚い試料や透過性の低い試料であっても、ＡＴ
Ｒプリズムと密着させることができれば測定できるとい
う利点を備えている。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】従来のＡＴＲ法にあっ
ては、赤外分光光度計の試料室に設けられたＡＴＲ測定
用装置を用いて測定しているので、同ＡＴＲ測定用装置
に入れることのできる適当な大きさに試料を切断する必
要があり、そのため、切断できない試料や、赤外分光光
度計まで運ぶことのできない試料などは測定することが
できず、上記利点を有するにもかかわらず測定対象に制
約がある、という問題点があった。
ては、赤外分光光度計の試料室に設けられたＡＴＲ測定
用装置を用いて測定しているので、同ＡＴＲ測定用装置
に入れることのできる適当な大きさに試料を切断する必
要があり、そのため、切断できない試料や、赤外分光光
度計まで運ぶことのできない試料などは測定することが
できず、上記利点を有するにもかかわらず測定対象に制
約がある、という問題点があった。
【０００６】本考案は、試料を切断したりせずにそのま
まの状態で、また試料を移動せずに現場においたままで
もＡＴＲ法による赤外吸収スペクトルを測定することが
できる全反射吸収スペクトル測定装置を提供することを
目的としている。
まの状態で、また試料を移動せずに現場においたままで
もＡＴＲ法による赤外吸収スペクトルを測定することが
できる全反射吸収スペクトル測定装置を提供することを
目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に本考案の全反射吸収スペクトル測定装置では、赤外分
光光度計からの赤外光を試料に照射し、試料からの反射
光を再び赤外分光光度計に導いてその赤外吸収スペクト
ルを測定する全反射吸収スペクトル測定装置において、
測定試料に密着されるＡＴＲプリズム、赤外分光光度計
からの赤外光をＡＴＲプリズムに導く入射側赤外光ファ
イバー、入射側赤外光ファイバーからの赤外光をＡＴＲ
プリズムと試料との界面に集光するとともに、ＡＴＲプ
リズムと試料との界面からの反射光を反射側赤外光ファ
イバーに集光する反射対物鏡を用いた集光光学系、ＡＴ
Ｒプリズムと試料との界面からの反射光を赤外分光光度
計に導く反射側赤外光ファイバーをホルダにより一体化
した測定ヘッドを備えたことを特徴とする。
に本考案の全反射吸収スペクトル測定装置では、赤外分
光光度計からの赤外光を試料に照射し、試料からの反射
光を再び赤外分光光度計に導いてその赤外吸収スペクト
ルを測定する全反射吸収スペクトル測定装置において、
測定試料に密着されるＡＴＲプリズム、赤外分光光度計
からの赤外光をＡＴＲプリズムに導く入射側赤外光ファ
イバー、入射側赤外光ファイバーからの赤外光をＡＴＲ
プリズムと試料との界面に集光するとともに、ＡＴＲプ
リズムと試料との界面からの反射光を反射側赤外光ファ
イバーに集光する反射対物鏡を用いた集光光学系、ＡＴ
Ｒプリズムと試料との界面からの反射光を赤外分光光度
計に導く反射側赤外光ファイバーをホルダにより一体化
した測定ヘッドを備えたことを特徴とする。
【０００８】
【作用】上記のように構成された本考案の全反射吸収ス
ペクトル測定装置では、赤外光ファイバーと一体化され
たＡＴＲプリズムを赤外分光光度計の外にある試料に密
着させ、赤外分光光度計から赤外光ファイバーを通して
ＡＴＲプリズム部に赤外光が導びかれる。赤外光は赤外
光ファイバーのＡＴＲプリズム部と試料との界面で全反
射し、その反射光が再び赤外光ファイバーで赤外分光光
度計に導かれて、試料の赤外吸収スペクトルが測定され
る。
ペクトル測定装置では、赤外光ファイバーと一体化され
たＡＴＲプリズムを赤外分光光度計の外にある試料に密
着させ、赤外分光光度計から赤外光ファイバーを通して
ＡＴＲプリズム部に赤外光が導びかれる。赤外光は赤外
光ファイバーのＡＴＲプリズム部と試料との界面で全反
射し、その反射光が再び赤外光ファイバーで赤外分光光
度計に導かれて、試料の赤外吸収スペクトルが測定され
る。
【０００９】
【実施例】以下、本考案の全反射吸収スペクトル測定装
置について図面を参照して説明すると、図１には本考案
の要部をなす測定ヘッドの一実施例が示されている。
置について図面を参照して説明すると、図１には本考案
の要部をなす測定ヘッドの一実施例が示されている。
【００１０】２は測定試料１４に密着されるＡＴＲプリ
ズムであり、赤外領域で透明で屈折率の高い材質にて形
成されている。ＡＴＲプリズム２の材質としては、例え
ば、ＫｒＳ−５、ＺｎＳ、Ｇｅ、Ｓｉなどを用いること
ができる。
ズムであり、赤外領域で透明で屈折率の高い材質にて形
成されている。ＡＴＲプリズム２の材質としては、例え
ば、ＫｒＳ−５、ＺｎＳ、Ｇｅ、Ｓｉなどを用いること
ができる。
【００１１】４は入射側赤外光ファイバーで、赤外分光
光度計（図示せず）からの赤外光をＡＴＲプリズム２に
導く。６は集光光学系で、入射側赤外光ファイバー４か
らの赤外光をＡＴＲプリズム２と試料１４との界面に集
光し、ＡＴＲプリズム２と試料１４との界面からの反射
光を再び集光する。この実施例の集光光学系６はシュバ
ルツシルド型反射対物鏡であるが、ニュートン型反射対
物鏡などの他の反射光学系のほか、ＫｒＳ−５、Ｚｎ
Ｓ、Ｇｅ、Ｓｉなどの赤外領域で透明な材質で形成され
た屈折光学系を適用することもできる。
光度計（図示せず）からの赤外光をＡＴＲプリズム２に
導く。６は集光光学系で、入射側赤外光ファイバー４か
らの赤外光をＡＴＲプリズム２と試料１４との界面に集
光し、ＡＴＲプリズム２と試料１４との界面からの反射
光を再び集光する。この実施例の集光光学系６はシュバ
ルツシルド型反射対物鏡であるが、ニュートン型反射対
物鏡などの他の反射光学系のほか、ＫｒＳ−５、Ｚｎ
Ｓ、Ｇｅ、Ｓｉなどの赤外領域で透明な材質で形成され
た屈折光学系を適用することもできる。
【００１２】８は切り欠きミラーで、集光されたＡＴＲ
プリズム２と試料１４との界面からの反射光を反射側赤
外光ファイバー１０に導く。反射側赤外光ファイバー１
０はＡＴＲプリズム２からの反射光を赤外分光光度計に
導く。
プリズム２と試料１４との界面からの反射光を反射側赤
外光ファイバー１０に導く。反射側赤外光ファイバー１
０はＡＴＲプリズム２からの反射光を赤外分光光度計に
導く。
【００１３】赤外光ファイバー４、１０は、ＫｒＳ−５
で形成されたものやＡｇＣｌとＡｇＢｒの混晶で形成さ
れたものなどを利用することができる。
で形成されたものやＡｇＣｌとＡｇＢｒの混晶で形成さ
れたものなどを利用することができる。
【００１４】１２はホルダで、ＡＴＲプリズム２、集光
光学系６、切り欠きミラー８及び赤外光ファイバー４、
１０を一体的に保持している。
光学系６、切り欠きミラー８及び赤外光ファイバー４、
１０を一体的に保持している。
【００１５】
【考案の効果】本考案は、以上説明したように構成され
ているので、測定ヘッドを試料に持っていき測定部位に
押し付けるだけでＡＴＲ法による赤外スペクトルを測定
することができ、そのため、試料を切断して試料片を作
製する必要がなく、そのままの状態で測定することがで
きる。また、試料を赤外分光光度計の試料室に持ってく
る必要がないので、現場で直接測定することができる。
ているので、測定ヘッドを試料に持っていき測定部位に
押し付けるだけでＡＴＲ法による赤外スペクトルを測定
することができ、そのため、試料を切断して試料片を作
製する必要がなく、そのままの状態で測定することがで
きる。また、試料を赤外分光光度計の試料室に持ってく
る必要がないので、現場で直接測定することができる。
【図１】本考案の全反射吸収スペクトル測定装置の要部
をなす測定ヘッドの一実施例を示す図である。
をなす測定ヘッドの一実施例を示す図である。
２…ＡＴＲプリズム ４、１０…赤外光
ファイバー ６…集光光学系 ８…切り欠
きミラー １２…ホルダ １４…測定
試料
ファイバー ６…集光光学系 ８…切り欠
きミラー １２…ホルダ １４…測定
試料
Claims (1)
- 【請求項１】 赤外分光光度計からの赤外光を試料に照
射し、試料からの反射光を再び赤外分光光度計に導いて
その赤外吸収スペクトルを測定する全反射吸収スペクト
ル測定装置において、 測定試料に密着されるＡＴＲプリズム、赤外分光光度計
からの赤外光をＡＴＲプリズムに導く入射側赤外光ファ
イバー、入射側赤外光ファイバーからの赤外光をＡＴＲ
プリズムと試料との界面に集光するとともに、ＡＴＲプ
リズムと試料との界面からの反射光を反射側赤外光ファ
イバーに集光する反射対物鏡を用いた集光光学系、ＡＴ
Ｒプリズムと試料との界面からの反射光を赤外分光光度
計に導く反射側赤外光ファイバーをホルダにより一体化
した測定ヘッドを備えたことを特徴とする全反射吸収ス
ペクトル測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3505293U JP2597515Y2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3505293U JP2597515Y2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH076751U JPH076751U (ja) | 1995-01-31 |
| JP2597515Y2 true JP2597515Y2 (ja) | 1999-07-05 |
Family
ID=12431273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3505293U Expired - Lifetime JP2597515Y2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2597515Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009175219A (ja) * | 2008-01-22 | 2009-08-06 | Ricoh Co Ltd | 保護剤塗布装置、プロセスカートリッジ、画像形成装置、固体表面付着物の存在量評価方法、保護剤塗布装置の評価方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11137290B2 (en) * | 2017-11-07 | 2021-10-05 | Shimadzu Corporation | Accessory for infrared spectrophotometer |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP3505293U patent/JP2597515Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009175219A (ja) * | 2008-01-22 | 2009-08-06 | Ricoh Co Ltd | 保護剤塗布装置、プロセスカートリッジ、画像形成装置、固体表面付着物の存在量評価方法、保護剤塗布装置の評価方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH076751U (ja) | 1995-01-31 |
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