JPS6122253B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は正確に準備されたしよう（漿）液テス
ト・ケミストリ（test chemistry）（以下にT.C.
と記す）の電気光学的分析から得た信号を処理す
るための電子装置及び方法に係るものである。

しよう液の化学的分析、例えば糖或はアルブミ
ンの存在、或は他の多くの医学的診断に不可欠の
検査は、一般に種々の反応性化学薬品、即ち試薬
の特定量を、特定の順序で且つ特定の温度及び時
間条件の下でしよう液の検体に加え、それによつ
てしよう液内の測定される物質の量に関連してい
る色或は光の吸収度の変化を生ぜしめることによ
つて遂行されている。種々の手動及び自動化され
た手順が用いられている。

手動手順は通常熟練した技術者によつて研究室
内で遂行される。技術者は、普通はT.C.と称せ
られ試験すべきしよう液試料の一部分及びこの特
定の試験のための化学的試薬の適切量からなる検
体を準備する。処方後の合成されたT.C.は所望
の反応が起るのに注目しつつ注意深く分析しなけ
ればならない。

反応の評価は分光光度計を用いて行なう。分光
光度計の出力はしよう液を除く他の全ての組成を
含む検体が通過させるある帯域巾内の光量に対す
る試験中のT.C.が通過させる同一帯域巾内の光
量を表わしている。この比較透光度のレベルは
T.C.の要素の濃度或は光学的密度を表わす単位
に変換し、試験を評価できるように、技術者に有
意義なデータを提供しなければならない。

手動手順の欠陥は、時間及び労働力を不当に消
費するということばかりではなく、この型の研究
室試験が最適条件の下でさえも技術者の熟練度に
依存するという事実である。

ストリツプ記録計によつてT.C.の光学的密度
を供する若干の装置が提案され、使用されてい
る。この技術によれば莫大な量のデータ紙がもた
らされ、極めて誤謬を生じやすい固有の読取り問
題も伴なう。

本発明によればしよう液T.C.は、光学的分析
のために分光光度計のフロー・セル（flow
cell）内に装入することができる。空気路とT.C.
を通る通路との間の透光度の差は光電子増倍管に
よつて検出され、光電子増倍管の出力は増巾器及
び関連制御回路に供給される。光電子増倍管にま
たがる電圧を自動的に調整して動作温度或は観測
される光の波長によつて管の感度を変化させる帰
還手段を設けることができる。

フロー・セルの位置は、試験路及び参照空気路
の両者に対する増巾された光電子増倍管出力を選
択的に積分し始めるように論理状態を設定するの
に用いることができる。参照路は空気からなつて
おり、試験路は試験溶液からなつているので、参
照路信号を積分した値は常に試験路信号を積分し
た値よりも大きい。参照信号の積分値はその値が
試験信号の積分値に等しくなるまで対数的に減衰
することが許されている。被積分参照信号が被積
分試験信号の値まで減衰するのに要する時間は試
験溶液の光学的密度に比例している。これは、光
学的密度が入射光の対数マイナス透過光の対数に
等しいという関係に幾分依存している。所要減衰
時間は比例したデイジタル・パルス列に変換さ
れ、光学的密度メモリ内に選択的に配置される。

T.C.の光学的密度のデイジタル表示の処理は
論理プログラマ区分の制御の下に行なわれる。こ
のプログラマ区分はカード読取器によつて読取ら
れたプログラムされたカードからの情報を受けて
いる。

異なる方策で光学的密度信号の処理を要求する
幾つかの異種の試験をプログラムとすることがで
きる。多くの場合しよう液検体と試薬との間の反
応の終端点吸光度が観測される。反応したT.C.
の光学的密度は電子装置の計算部においてしよう
液ブランク（blank）或は試薬ブランクの光学的
密度と比較される。しよう液ブランクと比較する
場合には２つのしよう液検体を２つの異なる試薬
の組合せと混合して２つの異なる試験反応を生じ
させる。第１のT.C.の光学的密度と第２のT.C.
の光学的密度とを比較して所望の比較光学的密度
を得なければならない。

終端点試薬ブランク試験では、試薬のみからな
る化薬を始めにスペクトル的に分析し、その結果
の光学的密度の読みをその後のT.C.の読みとの
比較のために蓄積しておかなければならない。こ
の場合T.C.は全てに同一試薬を添加した異なる
しよう液検体と比較される。

同一のT.C.の光学的密度を２つの精密に制御
された時点で確認するようにして試験を遂行する
こともできる。この場合反応が正しく進行してい
るか、また線形に進行しているか否かを確かめる
ために、同じような間隔で２回或は３回上記の確
認をする必要があるかも知れない。

電子装置の演算部は、好ましくは、上記の何れ
かの試験を遂行する前に、既知の基本値に対して
結果を標準化し同時にケミストリの光学的密度を
濃度単位に変換するように較正しておく。この較
正は完全に自動的であり、既知物質濃度を有する
溶液（本文中では「標準溶液」として参照する）
を用いて行なうことができる。ここにブランクと
称し、与えられた試験のために必要な全試薬を含
む溶液を始めにフロー・セル内に入れて、その光
学的密度を確認する。ブランクと試料T.C.の光
学的密度の差は光学的密度メモリ内に蓄積され
る。このメモリの内容は既知のクロツク周波数を
変えるのに用いることができる。変化してないク
ロツク周波数は１つのカウンタをクロツクするの
に用いることができ、同時に変化したクロツク周
波数は第２のカウンタをクロツクするのに用いら
れる。このようにすると、ブランク試薬溶液の光
学的密度と標準溶液の光学的密度との間の差を表
わす比を作ることができる。この標準値は、全て
の爾後の試験結果をこの値から誘導でるように蓄
積される。各溶液の光学的密度はそのパーセンテ
ージ濃度に比例しているので、光学的密度を基礎
とする比例定数を得るために既知のパーセンテー
ジ濃度を有する標準溶液を用いると、各T.C.の
パーセンテージ濃度を確認することができる。

試験の結果、患者識別番号及び試験識別番号を
連続的に且つ選択的にドラムプリンタに呈示でき
るプリンタ論理も設けることができる。

以下に添附図面を参照して本発明の好ましい実
施例を説明する。

第１図に示す化学分析装置はありきたりの方法
でそれぞれの患者から得たしよう液試料を連続分
析するためのものである。ここに用いる「しよう
液」という語は動物体液を総称している。

概述すれば、第１図の装置は下部ハウジング１
２上に支柱１４によつて保持されている上部ハウ
ジング１０を備えている。しよう液試料輪１６及
び試験輪１８が下部ハウジング１２の頂部に保持
されている。これらの輪１６及び１８の駆動電動
機は下部ハウジング１２内に位置している。下部
ハウジング１２の底部は加圧されたびん２０の列
を収容しており、びん２０の若干は冷凍された区
画２２内に収容されている。これらのびん２０
は、装置によつてしよう液分析を実施するのに用
いられる種々の化学的試薬を容れている。またび
ん２０は試薬の劣化を防ぐために不活性窒素ガス
で加圧することができる。下部ハウジング１２の
前面扉は暗い透明であつて、びん区画を観測でき
るようになつている。

しよう液試料は、検体輸送輪１６の頂部に等間
隔に配列された空胴内に担持されている複数の試
料コツプ３０内に入れることができる。各空胴に
は番号が附してあり、それらに組合わされている
患者識別選択スイツチ（図示せず）を有してい
る。同様に試験管３４が試験輸送輪１８の周縁に
等間隔に配列されている孔（図示せず）内に担持
されている。しよう液試料はしよう液移送装置２
４によつて試料輪１６内の試料コツプ３０から取
出され、試験輪１８内の待期中の試験管３４内に
移送される。正しく選ばれた試薬が分与ヘツド２
６，２７及び２８を介して各しよう液検体に添加
される。これらのしよう液検体は試験管３４が分
与ステーシヨンによつて回転した時試験管に移送
されたものである。このようにして得られたT.
C.は、次にT.C.抽出ヘツド２９によつて連続的
に抽出され、爾後の分光光度計或は螢光光度計等
による光学的分析に供せられる。分光光度計或は
螢光光度計は保持支柱１４内に収容することがで
きる。

これらの各動作を制御する電子制御回路は上部
ハウジング１０内に収容することができる。この
回路は、特別に準備されたカードによつてプログ
ラムすることができる。カードはスロツト３６内
に挿入され、上部ハウジング１０内に保持されて
いるカード読取器（図示せず）に導びかれる。押
釦３８の列がカード読取器スロツト３６の近傍に
配置されていて装置の動作の一部或は全部を手動
制御できるようになつている。分光光度計、計算
機、プログラマ及びプリンタ・エレクトロニク
ス、並びにプリンタ機構を含む電子的測定兼報告
装置も上部ハウジング１０内に収容することがで
き、この装置によつて分光光度計或は類似装置か
らの出力信号をミリグラム・パーセンテージ濃度
のようなより一層便利な形状のデータに変換す
る。

完全に調合された試料T.C.のスペクトル分析
は、分光光度計内で行なわれる。この分光光度計
はありきたりものもではあるが、若干変更を加え
て光路を回転鏡或はチヨツパ及びビーム・スプリ
ツタでさえぎる代りに、フロー・セルを光路に出
入させる手段を設けてある。光ビームは、その空
気を通る際の透光度とフロー・セル内のT.C.を
通る際の透光度とを比較できるように向ける必要
がある。

第２図にはフロー・セルの支持ベース部材４０
及びその関連往復動装置を示してある。この支持
ベース部材４０はレール４４上の軸受け４２によ
つて保持されていて、フロー・セル４０は線形運
動が可能なように案内されている。フロー・セル
の支持ベース部材４０の底はピン４６による等で
スロツト付き部材４８に結合されている。指部材
５０は輪５２に取付けられていて輪５２上で偏心
的に駆動され、スロツト付き部材４８内のスロツ
ト５４内で運動する。シヤフト５６は玉軸受５８
によつて指保持輪５２に偏心的に取付けられてい
る。シヤフト５６は第２の円形回転輪６０に結合
されているが、その取付け場所は輪６０の回転の
中心からずれている。輪６０は電動機６２によつ
て毎分約30回転で回転する。指保持部材５２は電
動機６２が輪６０を回転させると偏心的に感動さ
れ、フロー・セル４０の支持ベース部材４０をそ
の保持棒４４上で往復動させる。この往復動がフ
ロー・セル及びその中のT.C.を光路に出入せし
めるのである。光源の強さは極めて安定化されて
おり、予め集束されている。フロー・セル及び
T.C.が往復動すると分光光度計のための連続的
な較正信号源が得られる。分光光度計の出力をよ
り一層利用し易い、意義深い形状のデータに変換
する電子的測定兼報告装置については後述する。

上述の装置は終端点しよう液ブランク試験、終
端点試薬ブランク試験及び運動試験と呼ばれてい
る試験を遂行することができる。終端点しよう液
ブランク試験では試験すべき各しよう液検体のあ
る量が試験輪１８内の連続する２本の試験管に入
れられる。一群の試薬がこれによつて対に組合わ
された試験管の１対内のしよう液検体内に分与さ
れてしよう液と組合わされ、異なる組の試薬が残
余のしよう液検体に添加され、これと組合わされ
る。これらの２組の試薬は１つ或はそれ以上の共
通試薬を有していても差支えない。前者をブラン
クと呼び、後者を試験（test）と呼ぶ。所望の結
果を得るにはブランク及び試験の両者の光学的密
度（以下にO.D.と略記する）を測定し、ブラン
クのO.O.を試験のO.D.から差引く必要がある。
これらのO.D.の差は試験によつて測定しようと
した材料の濃度に比例している。

終端点試薬ブランクは複数の試験管に同じ組合
せの試薬を添加し、次に水を第１の管（試薬ブラ
ンクと呼ぶ）に加え、別のしよう液検体をそれ以
降の各管に加える。所望の試験結果に到達するた
めには各試験管の内容のO.D.を測定し、それに
よつて測定されたO.D.から試薬ブランクのO.D.
を差引く必要がある。この差は測定しようとした
検体内の材料の濃度に比例している。

運動試験は特別な組合せの試薬としよう液検体
との反応速度を分析するものである。この試験は
ある時刻＋１におけるテスト溶液のO.D.を測定
し、次に時刻＋２に再び同じ測定を行なつて、こ
れらの読みの差を求めることによつて遂行するこ
とができる。同一の試験に対して測定回数を増し
てもよく、反応速度が線形である限り測定毎の結
果は同一であるべきである。反応の該部分の速度
が一定であることを決定し結果を記録することは
重要である。時間の関数としてのO.D.差は、試
験せんとする材料の既知の濃度を有する標準溶液
について同じ試験を行なうことによつて較正する
ことができる。以上に説明した手順は幾つかの方
法で遂行することができる。第１の方法では試験
溶液をフロー・セル内に入れ、そのO.D.を正確
に制御された時間間隔で測定する。検体分析の総
合速度が早い第２の方法では１つのしよう液検体
のある量を３連の試験管に入れる。異なる時点に
３つの各検体に試薬を適切に且つ選択的に添加す
る。３つのT.C.の各群は、正確に制御された時
間間隔の終りに連続的に抽出されることを除い
て、抽出されフロー・セル内に入れられる時には
同一組成である。この第２の方法はT.C.をフロ
ー・セルに入れる前に必要時間間隔が経過してい
るのでより良い且つより早く結果が得られること
が解つた。

第３図に示すブロツクダイアグラムは分光光度
計の出力を電子的に処理してより一層意味深い形
状のデータに変換し、特性の解つている標準溶液
との比較を可能ならしめる回路を示すものであ
る。光は光電子増倍管６６上に当る。光電子増倍
管６６の出力は直接前置増巾器６８に送られ、光
電子増倍管の出力電流は比例した直流レベルに変
換される。

T.C.未だ試験輪１８内で処方中であつて、フ
ロー・セルには入れられていないものとすれば、
分光光度計制御論理回路７０は前置増巾器６８と
積分回路７４との間のソリツドステート・スイツ
チ７２を開かせているので前置増巾器６８の出力
は閉じているスイツチ７６を介して電圧コンパレ
ータ７８の１つの入力に印加される。このコンパ
レータ７８には参照電圧も印加されている。コン
パレータ７８は前置増巾器６８の出力と参照電圧
とを比較し両者の差を用いて光電子増倍管６６に
またがつて印加する高圧電源８０を制御する。

光電子増倍管６６、前置増巾器６８、電圧コン
パレータ７８及び高圧電源８０からなるループは
光電子増倍管６６の自動利得制御及び較正調整と
して用いられている。この調整は、光電子増倍管
の特性が時間及び温度と共に大巾に変化するため
と、光電子増倍管が全ての光スペクトルに亘つて
同一感度を有していないことから必要なのであ
る。この閉ループ帰還状態によつて光電子増倍管
の出力を試験に関係ある特定波長の光に対して標
準化できる。

第１のT.C.がフロー・セル内に入れられると
分光光度計制御論理回路７０によつて検知され、
論理回路７０は前置増巾器６８と高圧電源８０と
の間の帰還路内のスイツチ７６を開き、前置増巾
器６８と積分回路７４との間のスイツチ７２を閉
じる。好ましくは、このスイツチは空のフロー・
セルが光路をさえぎる度毎はフロー・セル位置検
出スイツチ８２からの信号によつて作動する分光
光度計制御論理回路７０によつて開かれるように
する。

フロー・セル位置検出スイツチ８２はフロー・
セルが光源と光電子増倍管６６との間にあるこ
と、及び反対にフロー・セルがこの通路外にある
こと、即ち光源からの光がさえぎられずに光電子
増倍管６６に入射していることを制御論理回路７
０に知らせる。光電子増倍管６６及び前置増巾器
６８の出力は光がT.C.及びフロー・セルを通つ
ている時よりも光路が空気だけの時の高い直流レ
ベルにある。両信号は後の比較のために重要であ
る。

積分回路スイツチ７２が閉じた後に前置増巾器
６８から積分回路７４に印加される第１の信号は
T.C.を通つた後に光電子増管６６に当る与えら
れた波長の光量を表わしている。この直流信号は
論理回路７０によつて制御される特定時間長に亘
つて積分回路７４によつて積分される。積分回路
の出力は始めは０であるが前置増巾器６８の出力
を積分して行くにつれて傾斜関数となる。

傾斜関数は、発生すると、閉じている追尾スイ
ツチ８４を介して追尾及び蓄積回路網ブロツク８
６に印加される。追尾スイツチ８４も分光光度計
制御論理回路７０によつて制御されている。追尾
及び蓄積回路網８６は論理回路７０によつて積分
期間が終了するまで積分回路７４の出力を追尾す
る。終了信号は追尾スイツチ８４を開くのにも用
いられ、スイツチ８４は前置増巾器出力を積分し
た直流レレベルを追尾及び蓄積回路網８６内に蓄
積せしめる。

次でフロー・セルが光源から光電子増倍管まで
の光路外に出される。この運動はフロー・セル位
置検出器スイツチ８２によつて検出され、スイツ
チ８２はこのことを論理回路７０に知らせる。こ
の時の前置増巾器６８の出力は光源と管６６との
間の光路が空気だけからなつている場合の管６８
の出力を表わしている。

制御論理回路７０は参照信号積分期間を開始
し、積分回路７４にT.C.に対する積分時間と正
確に同一な時間だけ前置増巾器出力を積分させ
る。そこで積分回路７４はT.C.に対する積分時
間を正確に等しい時間に亘つて空気路に対する光
電子増倍管６６の出力を表わす直流信号を積分す
る。この期間の終りに積分回路７４にまたがる帰
還路内の減衰スイツチ８８が制御論理回路７０に
よつて閉じられ、積分回路７４の出力電圧は指数
的に減衰し始める。

両積分期間の終りに、空路を表わす積分回路７
４の出力と、T.C.路を表わす追尾及び蓄積回路
８６の出力とが等しいければ、Ｔ・C.のO.D.は
０であり、且つT.C.の透光度が空気の透光度に
等しいことを意味していることに注意されたい。
しかしたとえフロー・セルが空であつてもこのよ
うなことはあり得ず、T.C.を容れているフロ
ー・セルの透光度は常に自由空気の透光度よりも
小さい。空気路参照積分回路出力の指数的な減衰
は、T.C.の透光度のアナログ・デイジタル変換
の第１の部分として、同時にO.D.単位への変換
として導びかれる。

参照空気路被積分出力の指数的な減衰は、この
減衰信号の振巾が追尾及び蓄積回路網８６によつ
て保持されている信号レベルと等しくなるまで続
く。減衰信号と、追尾及び蓄積回路網の保持信号
との比較はクロスオーバー・コンパレータ９０に
おいて行なわれる。減衰スイツチ８８を閉じた信
号はクロスオーバ・コンパレータ９０の出力に接
続されいるラツチ９１にも印加され、コンパレー
タ９０の出力を計数器ゲート９２の１つの入力に
印加させる。1MHzのクロツク９４の出力は分周
部９６によつて1/10に分周され、その結果得られ
た100KHzのクロツクが計数器ゲート９２の他の
入力に印加されている。計数器ゲート９２の出力
は、コンパレータ９０の出力からの可能化信号が
存在している間に100KHzで現われるパルス列で
ある。この出力はクロスオーバ・コンパレータ９
０が追尾及び蓄積回路網８６の内容と、減衰して
行く積分回路出力とが一致していない限り発生可
能である。コンパレータ９０が両者の一致を検出
すると、コンパレータ９０から計数器ゲート９２
への入力が無くなつてパルス列は停止する。

この列内のパルスの数は積分回路７４の出力が
追尾及び蓄積回路網８６内に保持されている信号
の信号レベルに達するまで減衰することを許容さ
れる時間の長さに一致していることが明白であ
る。またこのパルス列は空気路における透光度の
対数マイナスT.C.の透光度の対数を表わし、こ
の値に比例していることも明白である。従つてこ
のパルス列はT.C.のC.D.に比例していることに
なる。

前述のように、全アナログ・デイジタル変換及
び透光度の読みは分光光度計制御論理回路７０の
制御の下に行なわれる。この論理回路７０はブロ
グラマ９８によつて適切に制御されている。プロ
グラマ９８から制御論理回路７０に送られる信号
は、プログラム・カードで選択された特定の試
験、即ち終端点しよう液ブランク試験、終端点試
薬ブランク試験或は運動試験を指示する。第３図
に示す計算区分の残余のブロツクについては、こ
れら特定の試験を参照して説明する。

上記の各試験の始めにブランク較正が行なわれ
る。フロー・セルに入れられる第１のT.C.は試
験ブランク或はしよう液ブランクの何れかであ
る。終端点試薬ブランク試験では、試薬ブランク
はしよう液を除く他の全ての薬品を含んでいる試
薬からなつている。このブランクのO.D.は、後
述のように分光光度計処理論理回路の計算部を較
正するのに用いられる。しよう液ブランク試験の
場合には、フロー・セルに入れられた第１のT.
C.はしよう液ブランクであつて、このブランク
は標準溶液と試薬からなつている。

後刻試薬ブランク或はしよう液ブンクのO.D.
を蓄積するブランク蓄積レジスタ１０２は、始め
にプログラマ９８によつて０にリセツトされる。
次で主計数器制御ゲート１０６（このゲートの動
作は後述する）を通して1MHzクロツク９４から
クロツクされている主計数器１０４が０にリセツ
トされる。フロー・セル内の溶液のO.D.のデイ
ジタル的な相対値を蓄積するためのO.D.計数器
１０８も０リセツトされる。計算計数器１１０及
びパーセンテージ濃度を計算するのに用いられる
パーセンテージ濃度計数器１１２も０にリセツト
される。

リセツト段階が終了する、O.D.計数器１０８
はブランク蓄積レジスタ１０２の内容の９の補数
でプリセツトされる。ブランク蓄積レジスタ１０
２の９の補数は９の補数変換ブロツク１１４から
取られたものである。ブランク蓄積レジスタ１０
２は０にリセツトされているから、O.D.計数器
１０８にプリセツテトされる９の補数は1999に等
しい筈である。次にパーセンテージ濃度計数器１
１２が１組のスイツチ１１６にダイアルされた数
でプリセツトされる。この値は後刻フロー・セル
内に入れられる標準溶液中の測定しようとする物
質の既知のパーセント濃度を表わしている。に乗
算・累積回路１１８がパーセンテージ濃度計数器
１１２内のパーセンテージ濃度にプリセツトされ
る。次で乗算・累積回路１１８にプリセツトされ
たこの値の９の補数が９の補数変換回路１２０に
よつて作られる。次に既知の標準濃度の９の補数
が計算計数器１１０にプリセツトされる。次でパ
ーセンテージ濃度計数器１１２が０にリセツトさ
れる。

以上の動作が終ると、ロー・セル内のブランク
溶液のO.D.を決定するための積分及びアナロ
グ・デイジタル変換が開始され得るようになる。
この時点までは前置増巾器６８を含む帰還回路内
の帰還スイツチ７６は、フロー・セルが光路から
外れている時閉じていて、光電子増倍管を較正で
きるようになつている。フロー・セル及びその収
容しているブランク溶液のO.D.を表わすパルス
列が計数器ゲート９２を通してO.D.計数器１０
８に印加される。前述のように、計数器ゲート９
２はO.D.計数器１０８に正しい数のパルスが印
加されると開くようになつている。ここでO.D.
計数器１０８内の値はブランク蓄積レジスタ１０
２内にプリセツトされ、この値の９の補数が９の
補数回路１１４によつて作られ、その結果がO.
D.計数器１０８内に戻されてこれをプリセツト
する。

次にブランク溶液がフロー・セルから除かれ
る。次にフロー・セル内に入れられるのは標準ケ
ミストリであり、その要素濃度は標準スイツチ入
力１１６にダイアルされている。次でこのケミス
トリの透光度が決定されてアナログ・デイジタル
変換が繰返され、標準ケミストリのO.D.パルス
列はブランク・ケミストリのO.D.の９の補数と
共にO.D.計数器に入れられる。その結果O.D.計
数器１０８内の数はブランクのO.D.と標準溶液
のO.D.との間の差を表わすことになる。

全ての他のパーセンテージ要素濃度計算に用い
る係数はこの差を用いて決定しなければならな
い。これを行なうには、主計数器１０４によつて
デイジタル・レート乗算回路１２４に、また乗除
選択ブロツク１２６を介してパーセンテージ濃度
計数器１１２に100KHzクロツクを印加する。
100KHzのパルス列はデイジタル・レート乗算回
路１２４においてO.D.計数器１０８内の値倍さ
れて周波数が比例的に変えられる。変更されたパ
ルス列は乗除ブロツク１２６を介して、既に標準
溶液の既知をパーセンテージ濃度の９の補数を含
んでいる計算計数器１１０に印加される。計算計
数器１１０及びパーセンテージ濃度計数器１１２
は、計算計数器１１０がデイジタル・レート乗算
回路１２４から受けたパルス数が既知の標準パー
センテージ濃度に等しくなつたことを充満検出器
１２８が検知するまで、それぞれのクロツク・ラ
インからクロツクされ続ける。この充満検出器１
２８は、1MHzクロツク９４からのクツク・パル
スを主計数器１０４に供給していた主計数器ゲー
ト１０６を不能化させるのに用いられる。この期
間中にパーセント濃度計数器１１２に印加された
パルスの数は、この後の全試験の基礎として用い
られる係数を表わしている。実際この手順は標準
溶液の物質濃度にダイアルされた数を標準ケミス
トリとブランク・ケミストリのO.D.の差で除し
てその結果の値をパーセンテージ濃度計数器１１
２を蓄積している。T.C.のO.D.にはこの標準化
された値が乗ぜられてそれらのパーセンテージ濃
度が計算される。このようにして計算された値は
ダイアルされた標準溶液の物質濃度と同一単位に
なることは明白である。

以上の過程の例としては、ブランク溶液と標準
ケミストリのO.D.差を0.5としてみよう。O.D.計
数器１０８は0.500と等価の２進数を含むことに
なる。乗除ブロツク１２６は主計数器１０４がパ
ーセンテージ濃度計数器１１２に100KHzのクロ
ツク・パルスを印加するのを可能にする。
100KHzのクロツクはデイジタル・レート乗算回
路１２４にも印加され、乗算回路１２４はこの周
波数にO.D.計数器内の数、即ち0.500を乗ずる。
そこで計算計数器１１０はパーセンテージ計数器
１１２が1000パルスを受ける度毎に500パルスを
受けるようになる。また入力スイツチ１１６にダ
イアルされた既知の標準濃度が1000で表わされて
いるものとする。すると1000の９の補数が計算計
数器１１０に入れられることになる。計数計算器
１１０が充満検出器１２８の動作を開始させるの
に必要な1000個のパルスを受ける時点までに、パ
ーセンテージ濃度計数器１１２は標準化された値
を表わす2000個のパルスを受けており、これ以降
の全てのO.D.値は対応するパーセンテージ濃度
を求めるためにこの値が乗ぜられることになる。
最終段階として乗算・累積回路１１８はこの数、
即ち2000にプリセツトされ、プログラマ９８がリ
セツトされる。

これで実際の試験を行なう準備が整つたことに
なる。ブランク蓄積レジスタ１０２はブランク溶
液のO.D.の値を含んでいる。主計数器１０４、
計算計数器１１０及びパーセンテージ濃度計数器
１１２は全て０にリセツトされている。次でO.
D.計数器１０８はブランク蓄積レジスタ１０２
の９の補数にプリセツトされる。計算計数器１１
０は次に９の補数回路１２０によつて乗算・累積
回路１１８に含まれている係数の９の補数にプリ
セツトされる。

終点試薬ブランクテストにおけるこの時までに
T.C.がフロー・セルに入れられ、光電子増倍管
６６に出力が現われて前置増巾器６８に印加され
ている。分光光度計制御論理回路７０の制御の下
に、この出力は積分され、アナログ信号からフロ
ー・セル内のT.C.のO.D.を表わすデイジタル・
パルス列に変換される。このパルス列はO.D.計
数器１０８のブランク溶液のO.D.の９の補数に
加えられる。これでO.D.計数器１０８の値はT.
C.の真のO.D.を表わすとになる。

標準ケミストリの濃度に対するT.C.の濃度の
計算はこれで遂行される。即ちこの手順の第１段
階はプログラマ９８が乗除回路１２６の乗算部を
選択することである。この選択はデイジタル・レ
ート乗算回路１２４の出力をパーセンテージ濃度
計数器１１２の入力に供給するのに役立つ。
100KHzの主数算器１０４の出力が同時に計算計
数器１１０に送られ、主計数器１０４はプログラ
マ９８からの信号によつてその100KHz出力でパ
ーセンテージ濃度計数器１１０をクロツクし始め
る。

デイジタル・レート乗算回路１２４は主計数器
１０４の別の100KHz出力の周波数にO.D.計数器
１０８内のO.D.値を乗じ、その結果生じたパル
ス列をパーセンテージ濃度計数器１１２に印加す
る。このクロツキングは計算計数器１１０が主計
数器１０４から乗算・累積回路１１８で生じた係
数に等しい数のパルスを受けたことを充満検出器
１２８が検出するまで続けられる。

この時点で主計数器ゲート１０６が禁止される
ので、主計数器１０４が1MHzクロツク９４から
それ以上のパルスを受けることを禁止される。ゲ
ート１０６が開くとパーセンテージ濃度計数器１
１２もパルスを受けなくなる。この時点における
この計数器１１２の内容は、既知の標準値に対す
るフロー・セル内のT.C.の濃度を表わしてい
る。この値はプリンタ論理回路１３２を通して識
別情報と共にプリンタ１３４に印加される。

終端点ブランクしよう液試験の始めにはブラン
ク蓄積レジスタ１０２、主計数器１０４、O.D.
計数器１０８、パーセンテージ濃度計数器１１２
及び計算計数器１１０は全て０にリセツトされ
る。このリセツトは上記のブランク及び標準較正
が終了した時に遂行される。次でプログラマ９８
はO.D.計数器１０８をブランク蓄積レジスタ１
０２の内容の９の補数をプリセツトする。このレ
ジスタ１０２は０にリセツトされていたのである
から、９の補数の値は1999に等しい。次で計算計
数器１１０は９の補数回路１２０を介して乗算・
累積回路１１８に含まれている係数の９の補数に
プリセツトされる。

この時点でプログラマ９８はその時点のフロ
ー・セル内の患者ブランクT.C.（しよう液試料
プラス１或はそれ以上の試薬からなる）の透光度
のアナログ・デイジタル変換を開始する。こ患者
ブランクのO.D.を表わすパルス列はO.D.計数器
１０８に印加される。次でこの値はブランク蓄積
レジスタ１０２内にプリセツトされ、９の補数回
路１１４によつて９の補数が作られ、そしてO.
D.計数器１０８内にプリセツトされる。

次で患者T.C.は光電子増倍管６６によつて検
査され、そのO.D.を表わすパルス列は、既に患
者ブランクのO.D.の９の補数を含んでいるO.D.
計数器１０８に印加される。これによつてO.D.
計数器１０８内の２つの読みの間のO.D.差が得
られる。次で主計数器１０４は乗除算回路１２６
を通してその100WHzパルスを既に標準係数値の
９の補数を含んでいる計算計数器１１０に供給で
きるようになる。デイジタル・レート乗算回路１
２４は主計数器１０４からの別の100KHz出力に
O.D.計数器１０８の内容を乗じ、それによつて
標準単位値計数器（パーセンテージ濃度計数器）
１１２をクロツクする。

再び計算計数器１１０に印加された主計数器１
０４からのパルスの数が標準係数に等しくなつた
ことを充満検出器１２８が検出すると、検出器１
２は主計数器ゲート１０６を開いて1MHzクロツ
クから主計数器１０４へのパルスの供給を停止さ
せる。これでパーセンテージ濃度計数器１１２内
の値が標準ブランクに対する患者T.C.のパーセ
ンテージ濃度を表わすことになる。この値は識別
情報と共にプリンタ論理回路１３２からプリンタ
１３４に印加される。プログラマ９８は試験過程
が完了するとリセツトされる。

運動試験を遂行するには特別な較正が必要であ
る。この較正にはブランク蓄積レジスタ１０２，
主計数器１０４、O.D.計数器１０８、計算計数
器１１０、及びパーセンテージ濃度計数器１１２
のリセツトが含まれる。運動較正モードに現われ
る他の動作はスイツチ１１６にダイアルされた標
準溶液パーセンテージ濃度値でパーセンテージ濃
度計数器１１２をプリセツトすることである。次
でパーセンテージ濃度計数器１１２の計数は乗
算・累算回路１１８内にプリセツトされて運動試
験のための較正を完了する。

運動試験は、種々のT.C.に起り得る反応に差
があるために異なる２つの方法の１つで遂行する
ことができる。第１の方法は２或はそれ以上の正
確に制御された時間間隔が経過した時にT.C.を
検査することを含んでいる。O.D.の増加率を求
め、それによつて第１のT.D.の読みをその後の
全ての読みの基礎として使用することができるよ
うになる。別の型の運動試験はO.D.の減少率を
調べる。この動作のモードを標準化するために標
準要素濃度が用いられ、全ての爾後の読みはその
値に関連して求められる。

運動O.D.増加試験の場合、ブランク蓄積レジ
スタ１０２及び計数器１０４，１０８，１１０及
び１１２は全て０にリセツトされる。次でO.D.
計数器１０８がプランタ蓄積レジスタ１０２の内
容の９の補数即ち1999にプリセツトされる。次に
計算計数器１１０が乗算・累積回路内に入つてい
る係数の９の補数で（９の補数回路１２０を通し
て）プリセツトされる。ここでシーケンスが禁止
され、フロー・セル内のT.D.を表わす第１のデ
イジタル・パルス列がO.D.計数器１０８内に入
れられる。

次にO.D.計数器１０８の内容がブランク蓄積
レジスタ１０２内にプリセツトされ、フロー・セ
ル内のT.C.の第２の読みが得られるまで再びシ
ーケンスが禁止される。この第２の読みで得られ
たO.D.を表わすデイジタル・パルス列はブラン
ク蓄積レジスタ１０２の内容の９の補数を有して
いるO.D.計数器１０８内に入れられ、ブランク
蓄積レジスタ１０２の内容から第２のO.D.値が
差引かれる。

次で乗除回路１２６は主計数器１０４の
100KHz出力が計算計数器１１０に印加できるよ
うになり、同時に100KHzの周波数はデイジタ
ル・レート乗算回路１２４内においてO.D.計数
器１０８の内容が乗ぜられ、パーセンテージ濃度
計数器１１２に印加れる。前述のように、主計数
器１０４から計算計器１１０に送られるパルスの
数が乗算・累積回路１１８が発生する標準値に等
しくなると、充満検出器１２８が主計数器ゲート
１０６を開き、その可能化パルスを停止する。

この時点のバーセンテージ濃度計数器１１２の
値はT.C.の読み間の時間間隔内のO.D.の変化を
表わしている。所望の線形反応が生じているのを
確かめるために若干の読みの対を得ることができ
る。次でこの値はプリンタ１３４を制御するプリ
ンタ論理回路１３２に印加される。

前述のような既知の標準出発点から低下して行
Ｔ・C.のC.D低下速度を決定するためにはO.D.損
失運動試験が用いられる。始めにブランク蓄積レ
ジスタ１０２及び全計数器１０４，１０８，１１
０及び１１２がＯにリセツトされる。次で計算計
数器１１０が乗算・累積回路１１８からの係数の
９の補数でプリセツトされる。T.C.から第１の
透光度の読みが得られ、得られた値がO.D.パル
ス列に変換され、てO.D.計数器１０８は入れら
れるまでは、それ以上のシーケンンスは禁止され
る。次でこの計数器１０８の内容はブランク蓄積
レジスタ１０２内にプリセツトされ、９の補数回
路１１４によつて９の補数が作られ、そしてO.
D.計数器１０８内にプリセツトされる。

次にT.C.の透光度の第２の読みが求められ、
その結果得られたO.D.パルス列はO.D.計数器１
０８第１の読みの９の補数値に加えらる。そこで
O.D.計数器１０８の内容は２つの読みの間の時
間内のT.C.のO.D.の正味の変化に等しくなる。

次でこの値はブランク蓄積レジスタ１０２内に
プリセツトされ、O.D.計数器１０８に再挿入さ
れる前に９の補数に変えられる。乗除回路１２６
の乗算線がプログラマ９８によつて選ばれ、主計
数器１０４からの100KHz出力は計算計数器１１
０に印加される。同時に時間間隔中のO.D.変化
の９の補数が主計数器１０４からデイジタル・レ
ート乗算回路１２４によつて受けられる100KHz
の周波数に乗ぜられる。

主計数器１０４からのパルスの数が既に計算計
数器１１０内にある標準値に達すると充満検出器
１２８によつて検出され、クロツク・ゲート１０
６が禁止されるので主計数器１０４への1MHzク
ロツク入力が終了する。パーセンテージ濃度計数
器１１２の値は反応時間間隔中に標準値から低下
したT.C.のO.D.の量を表わしている。この値は
適切な印刷物を得るためにプリンタ論理回路１３
２を経てプリンタ１３４に印加される。

運動試験、即ちO.D.の増減分析は２つの異な
る方法で制御することができることに注意された
い。１つの方法は今述べた通りであつて、プログ
ラマ９８が遂行中の試験の型に従つて信号の電子
的処理を変える。試験分析の電子計算を変える、
即ち逆算する代りに、フロー・セル内に入れる
T.C.の順序を、プログラマ９８によつて行なわ
れたのと同じ反転で行つて逆算することができ
る。

光電子増倍管出力前置増巾器６８及び前置増巾
器６８の出力から光電子増倍管６６までの自動利
得制御路内の高圧電源８０とコンパレータ７８と
の組合せの実際の回路を第４図及び第５図に示
す。コンパレータ７８及び高圧電源８０は、温度
及び光周波数変動による光電子増倍管６６の感度
及び利得を維持し、調整する。前置増巾器６８は
演算増巾器１４０及びその入力リードにまたがつ
て接続されている双電界効果トランジスタ
（FET）１４２を含んでいる。演算増巾器の入力
オフセツト電圧を調整するために抵抗性平衡回路
網１４４を用いることができる。

光電子増倍管６６は演算増巾器入力FET１４
２に電流モードで接続されている。光電子増巾管
６６は光源からの光を受け、その強さに比例する
電流を光電放出によつて作り出す。演算増巾器
（以下にOPampと略記する）１４０の出力は光電
子増倍管６６から受けた電流の量に比例するノベ
ルの直流電圧である。OPamp１４０の出力から
入力に接続されている抵抗１４６がOPamp１４
０の帰還回路になつている。この抵抗１４６に並
列に接続されているコンデンサ１４８は高周波数
における利得を抑圧している。

前置増巾器６８の出力は抵抗１５２を通してコ
ンパレータ７８内の電流加え合せ点１５０に印加
される。B⁺電源から入力を供給されている参照
OPamp１５４からコンパレータ７８に参照電圧
が供給されている。ゼナー・ダイオード１５６が
OPamp１５４の帰還回路に用いられていて
OPamp１５４の電圧出力の参照電圧を確立して
いる。OPamp１５４の出力の可変抵抗１５８に
またがる降下によつて生ずる電流は前置増巾器６
８の出力からの電流と電流加え合せ点１５０にお
いて加え合される。

FET１６０とそのバイアス用トランジスタ１
６２は第３図の前置増巾器―コンパレータ通路内
の帰還路スイツチ７６をなしている。FET１６
０のドレイン・ソース間通路は、バイアス用トラ
ンジスタ１６２のエミツタに真の信号を供給する
分光光度計論理回路７０によつて閉じられてい
る。電流は前置増巾器６８の出力とOPamp１５
４出力との間の差に従つてFET１６０のドレイ
ン１６６に流入し、或はドレイン１６６から流出
する。その結果として第１段コンパレータ
OPamp１７０の双入力FET１６８に印加される
電圧は、前置増巾器とB⁺電源との間の差であ
る。

空のフロー・セルが光路に入つて光電子増倍管
６６に達する光をさえぎるとフロー・セル位置検
出スイツチ８２によつて帰還路スイツチ７６が開
かれる。入力１５０の電圧の否定であるOPamp
１７０の出力は帰還スイツチ７６が開くとこの値
まで充電された帰還コンデンサ１７２によつて維
持される。

第１段コンパレータOPamp１７０の出力に現
われたこの電圧は入力抵抗１７４を通して第２段
コンパレータOPamp１７８の加え合せ点１７６
に印加される。このOPamp１７８の出力端子１
８０は可変高圧電源８０に接続されている。詳述
すれば第２コンパレータOPamp１７８の出力端
子１８０は１対の電流増巾器１８４及び１８６を
通る前に反転増巾器１８２によつて反転される。
第２電流増巾器１８６の出力は電力増巾器トラン
ジスタ１８８のベースに接続されている。このト
ランジスタ１８８のコレクタ１９０は高度に安定
化された電圧源Ｃ＋に接続されている。電力増巾
トランジスタ１８８の出力はステツプアツプ変圧
器１９６の１次巻線１９４の中心タツプ１９２に
印加されている。１次巻線１９４の両端２０４及
び２０６はチヨツピング・マルチバイブレータ１
９８によつて交互に接地される。（マルチバイブ
レータ１９８の２つの出力は電力スイツチ２００
及び２０２に接続されている。）変圧器１９６の
１次巻線１９４の２本のリード２０４及び２０６
もそれぞれこれらの電力スイツチ２００及び２０
２に接続されている。変圧器１９６の２次巻線２
０８は電圧逓倍兼整流回路２１０に接続されてい
る。この電圧逓倍回路２１０は２つの出力を有し
ており、一方は抵抗２１２を通して第２コンパレ
ータOPamp１７８の加え合せ点１７６に接続さ
れ、また他方は抵抗・コンデンサーフイルタ回路
２１４を通して光電子増倍管６６に電力を供給す
る。

第２コンパレータOPamp１７８の加え合せ点
１７６に抵抗２１２を通して加えられる電圧逓倍
回路２１０の出力は、前置増巾器６８の出力と参
照電圧OPamp１５４の出力との間の差である第
１コンパレータ１７０の出力電圧と前記の加え合
せ点において加え合わされる。加え合せ点１７６
はOPamp１７８の特性に基いて零電圧即ち仮想
接地に保たれなければならない。出力電圧はこの
零電圧を保つように上下動する。光電子増倍管６
６から見れば第２コンパレータ増巾器１７８の出
力１８０上の電圧の変動が自動利得制御及び感度
調整として働らく。

フロー・セル内にT.C.を入れ、フロー・セル
が光路内に位置ぎめされるとフロー・セル位置検
出スイツチ８２が分光光度計制御論理回路７０に
信号して前置増巾器帰還スイツチ７６を開かせ、
前置増巾器６８と積分回路７４との間にある積分
回路スイツチ７２を選択的に閉じさせる。

スイツチ７２及び積分回路７４の詳細を第６図
に示す。積分回路スイツチ７２はバイアス用回路
網２２２によつて制御されているFET２２０を
備えている。バイアス用回路網２２２は積分回路
７４が前置増巾器６８の出力を積分している間の
期間分光光度計制御論理回路７０から真の、即ち
正の電圧入力を受ける。正確に制御された積分期
間は、好ましくは、1600ミリ秒間である。この期
間中第１のトランジスタ２２４のベースに印加さ
れる正電圧は反転されて第２のトランジスタ２２
６のベースに印加れる。第２のトランジスタ２２
６はこの電圧を再び反転して正電圧をFET２２
０のゲートに印加し、このFET２２０を導通さ
せる。FET２２０の導通期間中、FET２２０は
前置増巾器６８内のOPamp１４０の出力がポテ
ンシヨメータ２２８及び抵抗２３０を通つて双
FET２３２のゲートに印加され得るようにす
る。

この双FET２３２はOPamp２３４のための入
力装置として働らき、このOPamp２３４のため
に極めて低い入力バイアスを与える。この
OPamp２３４の入力オフセツト電圧及びFETの
ゲート・ソース間抵抗は積分回路増巾器２３４の
他の入力に接続されている可変抵抗平衡回路網２
３６によつて平衡される。増巾器２３４のために
３つの帰還路が選択的に与えられる。第１の帰還
路は積分用コンデンサ２３８を含んでいる。第２
の帰還路はFET積分回路リセツト用スイツチ２
４０及び直列接続されている抵抗２４２を含んで
いる。FETスイツチ２４０は前述のものと同一
のバイアス用回路網２４４に正電圧が印加される
と、この回路網２４４によつて導通させられる。

第３の帰還路はFETスイツチ２４６及び直列
接続されている精密抵抗２４８及びポテンシヨメ
ータ２５０によつて与えられる。FET２４６は
そのバイアス用回路網２５２に印加される正電圧
によつて制御される。

積分回路増巾器２３４からの出力導体２５４
は、第７図にコンパレータ９０と共に示す追尾及
び蓄積回路網８６の入力抵抗２５６の一方の側に
接続されている。抵抗２５６のこの側には、クロ
スオーバ・コンパレータ９０内の反転用増巾器２
６０の入力として働らくポテンシヨメータ２５８
も接続されている。低抗２５６の他の側は
OPamp２６４の入力装置として働らく双FET２
６２のゲート端子に接続されている。OPamp２
６４は積分回路OPamp２３４からの到来信号を
反転し、ゼナー・ダイオードとして用いているト
ランジスタ２６８のエミツタに抵抗２６６を通し
て印加する。このトランジスタ２６８のベースは
どこにも接続されていない。トランジスタ２６８
は線形モード・トランジスタ２７０のベース電圧
を約９ボルト乃至15ボルト（直流）に保つ。第２
のトランジスタ２７０のコレクタ電極から取られ
る出力信号はFET２７２のドレインに印加され
る。FET２７２はそのバイアス用回路網２７４
と共に追尾及び蓄積スイツチ８４を構成してい
る。このスイツチ８４は、T.C.の検査中に現わ
れる積分期間の間分光光度計制御論理回路７０か
らの入力導体２７５を介して印加される正電圧に
よつて閉じられる。このスイツチ８４が閉じると
線形モード・トランジスタ２７０からの出力は
FET２７２及び入力抵抗２７６を通つて双FET
２７８のゲートに印加される。

双FET２７８は積分用増巾器２８０の入力装
置である。OPamp２８０の帰還回路は帰還コン
デンサ２８２を通して得られる。抵抗回路網２８
４がOPamp２８０の１入力に接続されていて、
OPamp２８０の入力オフセツト電圧を平衡させ
ている。OPamp２８０は線形モード・トランジ
スタ２７０からの入力を積分して主積分回路７４
の出力を負に再現する。この積分用OPamp２８
０は、T.C.の積分期間が完了して分光光度計制
御論理回路７０が追尾及び蓄積入力スイツチ８４
を開くまで積分回路７４の出力を積分し、これを
追尾し続ける。

積分回路２８１への入力が除かれると積分が停
止されるが、出力が上昇して得られた直流レベル
は帰還コンデンサ２８２によつて維持される。積
分回路２８１の出力も、クロスオーバー・コンパ
レータ９０のバイアスとして働らくOPamp２８
８の入力１８６に印加されていることに注意され
たい。

積分回路７４の出力が印加されている反転用増
巾器２６０は積分回路出力を反転し、この反転し
た信号をクロスオーバ・コンパレータOPamp２
８８の他の入力に印加する。

動作を説明する。各T.C.の分析には２つの同
一長積分期間が設けられる。第１の期間はT.C.
及びフロー・セルが光電子増倍管６６に当つてい
る光路内に入つている時の前置増巾器６８の出力
を積分するのに用いられる。第２の期間はフロ
ー・セルが引込められ、光が空気路だけを通つて
光電子増倍管６６に当つている時の前置増巾器６
８の出力を積分するのに用いられる。これらの各
積分期間は160ミリ秒の長さである。第１の期間
の始めには積分スイツチ７２が導通して前置増巾
器６８のOPamp１４０の出力は積分回路OPamp
２３４の入力に達することができる。この直流信
号が積分されると積分回路増巾器２３４の出力は
傾斜関数で上昇する。この傾斜関数は追尾及び蓄
積区分の第１のOPamp２６４に印加され、ゼナ
ー・ダイオードとして用いられているトランジス
タ２６８によつて電圧範囲に制限される。その結
果の直流電圧レベルは追尾及び蓄積スイツチ８４
を経て第２の蓄積回路OPamp２８０の入力に印
加される。OPamp２８０はこの信号を積分して
クロスオーバ・コンパレータ２８８の１つの入力
２８６に印加する。

試験積分期間が終ると制御論理回路７０に信号
が送られ追尾及び蓄積FETスイツチ２７２を開
かせるので積分用増巾器２８０の入力が除かれ
る。増巾器２８０の上昇した直流出力レベルは帰
還コンデンサ２８２にまたがつて維持される。積
分期間の完了は、ある時間遅らせて、積分用増巾
器２３４の第２帰還路内のFET２４０を閉じ積
分コンデンサ２３８を急速に放電させるのにも用
いられる。この放電によつて積分回路の出力は０
に戻る。

フロー・セルはその第１の検査サイクルが終る
と光電子増倍管６６への光路から除かれる。この
運動はフロー・セル位置検出器８２によつて検知
され、検知器８２は分光光度計制御論理回路７０
に信号して第２積分期間を開始させる。この第２
期間は光源からの通路が空気だけによつて占めら
れている場合の光電子増倍管出力に対応する前置
増巾器６８の出力を積分するのに用いられる。こ
の（空気）積分期間中、積分用増巾器２３４の出
力は閉じられた追尾及び蓄積スイツチ８４によつ
て追尾及び蓄積追尾用積分回路の増巾器２６４に
再び印加される。積分用増巾器２３４の出力も反
転用増巾器２６０を経てクロスオーバ・コンパレ
ータ２８８に印加される。このコンパレータ２８
８の出力は、後述のように、空気積分期間が終る
まで禁止されている。

第２積分期間即ち空気積分期間が終ると積分回
路７４の出力は試験積分期間で積分したよりも大
きい直流レベルに達している。これは空気の透光
度が常に他の何れの材料の透光度よりも大きいか
らである。積分用OPamp２３４の一番上の即ち
第３帰還路内のFET２４６は制御論理回路７０
からの真のパルスによつて導通する。このパルス
はまたコンパレータ出力ラツチ９１の禁止をも除
く。閉じられた帰還スイツチ２４６によつて積分
コンデンサ２３８の放電通路が抵抗２４８及び可
調ポテンシヨメータ２５０によつて得られる。従
つて積分用増巾器２３４の出力電圧は指数的に減
衰する。この指数的な減衰はクロスオーバ比較
OPamp２８８が、積分回路７４の出力が追尾及
び蓄積積分回路２８１内に蓄積されている直流電
圧と等しい直流レベルまで減衰したことを検知す
るまで続けられる。両直流レベルが一致するとコ
ンパレータ増巾器２８８の出力が偽（false）に
移る。積分回路出力の減衰が始まつてからコンパ
レータOPamp２８８の出力が真である時間の長
さは、試験されたT.C.のO.D.に比例している。

コンパレータOPamp２８８の出力は、制御論
理回路７０から指令があつた時だけO.D.計数器
ゲート９２にクロスオーバ・コンパレータ出力を
印加するラツチ回路９１に接続されている。ラツ
チ９１によるこの信号の引留めは分光光度計制御
論理回路７０と関連して後述する。概述すればラ
ツチ９１は論理回路７０から信号を受けると減衰
期間を始めにクロスオーバ・コンパレータ９０の
出力をO.D.計数器９２に印加する。

分光光度計制御論理回路７０の詳細を第８図及
び第９図に示す。フロー・セルが分光光路内に２
秒、外に２秒で移動することに注意されたい。フ
ロー・セル位置検出器スイツチ８２からの信号
は、フロー・セルが光路を去ると論理回路７０内
のワン・シヨツト２９０に信号を印加する。この
ワン・シヨツト２９０の出力は、フローセルが光
路から出るのを許すように、好ましは約1.2秒の
巾を有している。この出力はNORゲート２９２
に印加される。1.2秒の期間が終るとワン・シヨ
ツト２９０の出力の負に立下がる縁がNORゲー
ト２９２に正パルスを作らせ、この正パルスが別
のNORゲート２９４の入力に印加される。フロ
ー・セル位置検出器スイツチ８２からの信号は、
約10ミリ秒で終る出力を有する第２のワン・シヨ
ツト２９６のタイミング・サイクルをも開始させ
る。このワン・シヨツト２９６の出力の立下り縁
はNORゲート２９８の出力を短期間の間正に移
行させる。このNORゲート２９８の出力もNOR
ゲート２９４の入力に印加されているので、何れ
かのNORゲート入力が偽になればそれと同じ時
間だけNORゲート２９４の出力は真になる。

ワン・シヨツト制御されたNORゲート２９４
の出力はＪ―Ｋフリツプフロツプ３０２のプリセ
ツト入力に接続されている。このＪ―Ｋフリツプ
フロツプ３０２の出力３００は通常真であり、他
の出力３０４は通常偽である。通常偽の出力３０
４は積分期間計数器３０６のリセツト端子３０５
にリセツト信号を印加し続け、またプログラマ９
８の一部として第１０図に示す100KHz発振器３
１０のリセツト入力にリセツト信号を送り続け
る。この100KHz発振器３１０は1MHzクロツク
９４によつて制御されている。

100KHz発振器３１０出力は積分期間計数器３
０６のクロツキング入力に印加される。10ミリ秒
ワン×シヨツト２９６の出力信号が終るとプリセ
ツト信号がＪ―Ｋフリツプフロツプ３０２に印加
されるようになる。このためＪ―Ｋフリツプフロ
ツプ３０２の２つの出力信号が反転し、前に偽で
あつた出力３０４が真となり、前に真であつた出
力３００が偽となる。この反転によつて100Hz叛
振器３１０及び積分期間計数器３０６からリセツ
トが除かれるので積分期間計数器３０６が
100KHzによつてクロツクされ始める。

15番目のクロツクパルスで積分期間計数器３０
６の２^３出力線に接続されている導体３１２には
真の信号が印加される。16番目の計数で、この線
３１２は偽に移行するので、この導体３１２にク
ロツキング入力を接続されているフリツプフロツ
プ３０２がクロツクされ、再びフリツプフロツプ
３０２の出力が反転する。このため100Hz発振器
３１０及び積分期間計数器３０６がリセツトされ
る。この反転によつて真の信号が２つのNANDゲ
ート３１４及び３１６に印加される。（これらの
ゲートの入力は今は真になつているＪ―Ｋフリツ
プフロツプ３０２の端子３００に接続されてい
る。） 第１のNANDゲート３１４の出力は前置増巾器
６８と積分回路７４との間の積分回路スイツチ７
２に接続されている。このNANDゲート３１４の
出力は積分期間計数器３０６が計数可能である時
間中真であつた。積分期間計数器３０６がリセツ
トされるとNANDゲート３１４からも真の出力が
除かれ積分回路スイツチ７２が開いて積分が停止
する。

他のNANDゲート３１６の出力は第８図に示す
３つのワン・シヨツト３１８，３１９及び３２０
の作用を開始させる。第２のワン・シヨツト３１
９の出力パルスの長さは第１ワン・シヨツト３１
８の出力の２倍であり、第３のワン・シヨツト３
２０の出力の長さは第２のワン・シヨツト３１９
の出力の長さの２倍である。以下に第１のワン・
シヨツト３１８の出力をT₁と呼び、第２のワ
ン・シヨツト３１９の出力をT₂と呼び、第３の
ワン・シヨツト３２０の出力をT₃と呼ぶ。T₁は
反転用増巾器３２２によつて反転され、T₂も印
加されているNANDゲート３２４に印加される。
このNANDゲート３２４の出力は別の反転用増巾
器３２６で反転されるので、第２の反転用増巾器
３２６の出力のパルス巾はT₂マイナスT₁に等し
くなる。同様にT₂は反転用増巾器３２８で反転
され、NANDゲート３３０に印加される。NAND
ゲート３３０への他の入力はT₃である。この
NANPゲート３３０の出力は反転用増巾器３３２
によつて反転されるので第２の反転用増巾器３３
２の出力はT₃マイナスT₂を表わすパルス巾とな
る。これらの２つの信号T₂―T₁及びT₃―T₂は、
フロー・セル位置検出器スイツチ８２に接続され
ている1.2秒ワン・シヨツト２９０からの信号３
３４及び３３５と共に用いられている。これらの
第１の信号３３４はフロー・セル位置検出器スイ
ツチ８２がワン・シヨツト２９０に入力を印加す
ると真になる。他のワン・シヨツト出力３３５は
ワン・シヨツトの1.2秒時間の終りに真に移行す
るだけである。

分光光度計制御論理回路７０の残りの部分は前
述の種々の機能のための制御回路を備えている。
これらの機能は種々の時間間隔、即ちT₁、T₂―
T₁、T₃―T₂及び常に符号が反対のフロー・セル
位置ワン・シヨツト２９０からの信号を用いるこ
とによつて制御される。

詳述すれば、高電圧帰還ループ・スイツチ７６
（第３図）は２つのNANDゲート３３６及び３３
７によつて制御される。NANDゲート３３７から
の出力信号は、プログラマによつて制御されてい
る読取指令フリツプフロツプ３３８の出力がセツ
トの時だけ真であり、試験の読みがプログラマ９
８によつて探されている時には偽である。高圧利
得調整スイツチ７６を閉じるための他の要件は、
1.2秒のワン・シヨツト２９０の時間が過ぎて、
第２の出力３３５上の出力が真となり、フロー・
セルが充分に光路から出たことを知らせることで
ある。

追尾及び蓄積可能化スイツチ８４の制御回路は
２つのNANDゲート３４０及び３４２、及びフリ
ツプフロツプ３４４を備えている。フリツプフロ
ツプ３４４は通常セツトされており、真の信号が
出力３４５に現われている。このため追尾及び蓄
積スイツチ８４が閉じていて追尾及び蓄積回路８
６は積分回路７４の出力を追尾できるようになつ
ている。フリツプフロツプ３４４が通常セツト状
態にあるのはその制御NANPゲート３４０及び３
４２からの入力によるものである。第１のNAND
ゲート３４０への入力は時間間隔T₁及びワン・
シヨツト２９０がトリガされた時に1.2秒間真に
なる1.2秒ワン・シヨツト２９０の出力である。
この出力をワン・シヨツト２９０の「Ｑ」出力と
呼ぶ。ワン・シヨツト２９０の他の出力を
「notQ」と呼ぶ。他のNANDゲート３４２への入
力はT₃―T₂時間間隔、及び1.2秒ワン・シヨツト
２９０の「notQ」出力である。ワン・シヨツト
２９０のＱ出力はフロー・セル位置検出器スイツ
チ８２がその動作を始めてから1.2秒間真である
ことを思い出されたい。「notQ」出力は常にＱ出
力の反対である。前述のようにT₁，T₂及びT₃時
間間隔は160ミリ秒の積分期間が完了した後に始
まる。Ｑ入力は第１の積分期間中常に真である
が、その立下り縁が第２積分期間をトリガするの
で第２積分期間中は常に偽である。第１積分期間
中フリツプフロツプ３４４はセツト状態にあり、
真の出力を有している。真の期間T₁が終るとフ
リツプフロツプの出力は０にリセツトされる。こ
れによつて追尾及び蓄積スイツチ８４内のFET
２７２が開いて追尾及び蓄積回路８６内に積分回
路７４の出力を蓄積する。

フリツプフロツプ３４４の出力は、空気略即ち
参照前置増巾器出力の積分に用いられる第２積分
期間の立下り縁即ち終る時まで偽のままである。
この時点になるとワン・シヨツト２９０のＱ出力
は真であり、期間T₃―T₂が現われるとNANDゲ
ート３４２の出力が真に移つて再びフリツプフロ
ツプ３４４をセツトして次のT.C.積分期間の準
備をする。

第２積分期間が終るとT.C.光電子増倍管出力
を積分した直のアナログ・デイジタル変換が始ま
る。指数減衰制御回路３４６は制御NANDゲート
３４８及び反転用NANDゲート３５０を備えてい
る。反転用NANDゲート３５０の出力は積分用
OPamp２３４の第３帰還略内の指数減衰スイツ
チ８８内のFET２４６を作動させるように接続
されている。このFET２４６は指数減衰制御回
路３４６の反転NANPゲート３５０からの真の出
力によつて導通するようになる。このNANDゲー
ト３５０が真の出力を発生するのに必要な条件は
制御NANDゲート３４８が２つの真の入力を受け
るとである。この状態はワン・シヨツト２９０の
「notQ」信号が、第２積分期間が終つてT₂―T₁期
間と同時に真になると現われる。

積分回路リセツト制御回路３５２も分光光度計
制御論理回路７０内で作られる種々の時間間隔に
よつて制御される。このリセツト制御回路３５２
内の可能化フリツプフロツプ３５４のセツトは
ORゲート３５６、反転用NANDゲート３５８及
び制御NANDゲート３６０によつて制御される。
制御NANDゲート３６０は入力としてT₂―T₁時
間、及び1.2秒ワン・シヨツト２９０のＱ出力を
受けている。制御NANDゲート３６０のこの入力
組合せは、反転用NANDゲート３５８が第１積分
期間の終りに真の出力を発生できるようにする。
反転用NANDゲート３５８の真の出力はORゲー
ト３５６を通してフリツプフロツプ３４のセツト
入力に印加される。このORゲート３５６からの
信号であつて、スイツチ８２が作動しているとフ
リツプフロツプ３５４に真の信号を供給する。
ORゲート３５６の入力にこれらの信号組合せが
印加されると（即ちフロー・セルが光路の外に出
て第１積分期が終ると）、フリツプフロツプ３５
４がセツトされる。フリツプフロツプ３５４の出
力は積分回路７４の帰還路内のFET２４０を閉
じて積分回路出力を急速に０にリセツトさせるの
に用いられる。

可能化フリツプフロツプ３５４のリセツト入力
３６６は反転用NANDゲート３６８及び３つの制
御NANDゲート３７０，３７１及び３７２を通し
て与えられる。NANDゲート３７１及び３７２の
出力はNANDゲート３７０を制御するのに用いら
れる。このようなNANDゲートの組合せによつて
NANDゲート３７１及び３７２の何れかへの両入
力が真になる場合だけフリツプフロツプ３５４が
リセツトされる。第１のNANDゲート３７１は
1.2秒ワン・シヨツト２９０のＱ出力及び時間T₂
―T₁を受けている。従つてこのNANDゲート３
７１は第１積分期間が終つた時だけフリツプフロ
ツプ３５４をリセツトする。第２のNANDゲート
３７２は1.2秒ワン・シヨツト２９０の「notQ」
出力及び信号T₃―T₂を受けているのでこの
NANDゲート３７２は第２積分期間に続くT₂が
終るとフリツプフロツプ３５４をリセツトする。

前述のようにクロスオーバ・コンパレータ増巾
器２８８の出力はラツチ回路９１に印加される。
ラツチ回路はフリツプフロツプ３７４及びフリツ
プフロツプ３７４のリセツト線に接続されている
反転用増巾器３７６を備えている。この反転用増
巾器３７６への入力はクロスオーバ・コンパレー
タ９０内のOPampの出力２８８を受けている。
フリツプフロツプ３７４のセツト入力３７８は反
転用NANDゲート３５０の出力に接続されてお
り、NANDゲート３５０の出力は真になると積分
用OPamp２３４の出力の指数放電が始まる。こ
の放電開始もラツチ回路９１内のフリツプフロツ
プ３７４をセツトする。フリツプフロツプ３７４
はコンパレータのOPamp２８８の出力が真にな
つて積分回路７４の出力が積分されたT.C.レベ
ルの値に等しくなるまで放電したことを知らせる
までこの状態を続ける。コンパレータOPamp２
８８出力は反転用増巾器３７６によつて反転さ
れ、その結果生じたフリツプフロツプ３７４のリ
セツト線上の偽信号がフリツプフロツプ３７４の
出力０にリセツトする。このフリツプフロツプ３
７４が真の出力を発生する時間長は、従つて、分
析中の特定T.C.のO.D.を表わしている。

ラツチング・フリツプフロツプ３７４の出力は
O.D.計数器ゲート９２（第１０図）の１つの入
力に接続されている。このゲート９２はNANDゲ
ートを備え、このゲートのもう１つの入力は
1MHzクロツク９４に、そして第３の入力は指数
放電制御回路３４６の出力NANDゲート３５０に
接続されている。1MHzクロツク９４は1MHz水
晶叛振器３８０を備え、その出力はトランジスタ
増巾器によつて整形され、ゲート用NANDゲート
９２に印加される前にNANDゲート３８４によつ
て反転される。ラツチ回路９１及び指数放電制御
回路３４６からO.D.制御ゲート９２の入力に真
の信号が印加されると、1MHzクロツク・パルス
が計数器３８６に印加され得るようになる。この
計数器３８６は２進化10進計数器である。その出
力は２^３出力量から取られるのでこの線は計数器
３８６が1MHzクロツク９４によつて９回クロツ
クされる度毎に負の信号を発生する。これはクロ
ツク周波数を10で分周する。その結果生じた
100KHz出力クロツク・パルスはO.D.計数器１０
８に印加される。

第３図に示す計算区分１００内の各ブロツク要
素を他のブロツクを参照して個々に説明しよう。
ブロツクの相互作用についてはプログラマ９８の
詳細を説明する時に詳述する。

O.D.計数器１０８、ブランク蓄積レジスタ１
０２及び９の補数回路１１４を第１１ａ，１１ｂ
及び第１２図に示す。O.D.計数器１０８は２進
化10進計数器に組合わされている４つの段３９
０，３９１，３９２及び３９３を備えている。こ
の計数器の第１の段３９０はO.D.の10進等価数
の10デイジツトを表わす。残余の３つの段３９１
〜３９３はO.D.の10進表示の0.1，0.01及び0.001
位をそれぞれ表わす。実際的にはO.D.が1.999を
超えることはないので１位のデイジツト段３９０
は０或は１にセツトできるだけである。

O.D.計数器ゲート９２の出力は、O.D.計数器
１０８の0.001デイジツト３９３をクロツクする
ために印加される前にNANDゲート３９４で反転
される。の第４の段３９３の２^３出力は、第４段
３９３が計数器ゲート９２から10個のクロツク・
パルスを受ける度に第３段３９２をクロツクする
ように導体３９６によつて接続されている。同様
に第３段３９２の２^３出力線３９８は第３段３９
２が10個のパルスを受けると第２段３９１をクロ
ツクするように接続されている。第１段３９０も
同様にして第２段３９１によつてクロツクされ
る。

最後の３つの各段３９１，３９２及び３９３は
２進順序の２^０乃至２^３を表わす４つの並列出力
線を有している。最上位桁３９０は２^０を表わす
１つの出力だけを有している。３つの各段３９１
〜３９３の４つの出力線は、ブランク蓄積レジス
タ１０２の同一番号段のそれぞれのプリセツト線
に並列に印加される。後述するように、第１段の
１つの出力線だけをブランク蓄積レジスタ１０２
の対応段４０３に印加する必要がある。

ブランク蓄積レジスタ１０２内の始めの３つの
各段４００乃至４０２の内容は、９の補数回路１
１４の別々の、併し同じような段４０４を通過す
る。各９の補数回路段４０４は反転用増巾器４０
６、排他的ORゲート４０８及びNORゲート４１
０を備えている。ブランク蓄積段の２^０出力線は
反転用増巾器４０６の入力に接続されている。排
他的ORゲート４０８はその入力に２^１及び２^２
出力線が接続されている。NORゲート４１０の
入力はレジスタ段の２^１，２^２及び２^３出力線に
接続されている。２^２出力線はジヤンパ４０５に
よつて２^２の９の補数出力線に直結されている。

９の補数回路４０４の機能を説明するための例
として、ブランク蓄積レジスタ１０２の特定段が
０を蓄積しているものとすれば、その０の９の補
数は９である。特定の蓄積レジスタ段の４つの各
出力線は偽となる。反転用増巾器４０６に印加さ
れる偽信号は出力に真信号を発生させる。ジヤン
パ４０５への偽入力は、従つて、９の補数回路４
０４から偽出力を発生させる。排他的ORゲート
４０８に２つの偽入力が印加されるとゲート４０
８は偽出力を発生する。NORゲート４１０に３
つの偽入力が加わると真の出力が得られる。９の
補数回路段４０４の２進数を表わす４つの出力線
はそれぞれ真、偽、偽及び真となり、これは２進
の９を表わしている。

1.0デイジツト段３９０の内容をブランク蓄積
段４０３にプリセツトするのは、段３９０が１或
は０の内容しか有することができないために、値
の段３９３の内容をプリセツトする場合とは異な
る。この段３９０はクロツク可能なＪ―Ｋフリツ
プフロツプを備えている。プログラマ９８によつ
てプリセツト信号が送られると、O.D.計数器１
０８の内容がブランク蓄積レジスタ１０２にプリ
セツトされ、計数器１０８内の1.0デイジツト段
の出力はブランク蓄積暦ジスタ内の反転用NAND
ゲート４１２及びこれもクロツク可能なＪ―Ｋフ
リツプフロツプを備えている1.0デイジツト段３
９０のためのセツト用NANDゲート４１４に加え
られる。反転用NANDゲート４１２の出力は第２
の反転用NANDゲート４１８の出力と共にリセツ
ト用NANDゲート４１６に印加される（ゲート４
１８はその入力に印加されるプログラマ４８から
のプリセツト信号を反転する）。反転されたプリ
セツト信号にセツト用NANDゲート４１４の他の
入力としても役立つている。NANDゲート４１
２，４１４，４１６及び４１８の組合せは、プロ
グラマ９８からプリセツト信号が印加されると、
もし1.0段３９０の出力が偽ならばＪ―Ｋフリツ
プフロツプ４０３をセツトし、もし該出力が真な
らばフリツプフロツプ４０３をリセツトする。こ
れはブランク蓄積レジスタの第１段４０３内に
O.D.計数器の第１段３９０に蓄積された信号の
逆数を蓄積することになり、該段３９０の擬似の
９の補数を作ることになる。

プログラマ９８からプリセツト信号は引続いて
ブランク蓄積レジスタ段４００乃至４０３に印加
し、同レジスタ段内の数の９の補数化された形状
を再びO.D.計数器３９０〜３９３内にプリセツ
トすることもできる。多くの場合クロスオーバ・
コンパレータ・ラツチ回路９１からのO.D.出力
を表わす100KHzパルス列は、O.D.計数器１０８
がこの９の補数化された数を含んだ後にO.D.計
数器１０８内にクロツクされる。このプロセスは
入つて来る値からO.D.計数器１０８内に９の補
数が入つている数を引くことになる。

計算区分への情報は既知の標準スイツチ入力１
１６からパーセンテージ濃度計数器１１２に印加
される（第１３ａ図及び第１３ｂ図参照）。パー
センテージ濃度計数器１１２は４つの２進化10進
出力段４２０乃至４２８を備えている。これらの
段はそれぞれ１０^３，１０^２，１０^１及び１０^０
の重要度を有している。れらの各段４２０〜４２
３は共通のプリセツト線４２４に接続されてい
る。プログラマ９８はこの線４２４に真の信号を
供給てパーセンテージ濃度計数器１１２のそれぞ
れの段に既知の標準スイツチ入力１１６にダイア
ルされた各値をプリセツトする。

パーセント濃度計数器１１２の１０^０即ち１の
段４２３へのクロツク入力は乗除決定回路１２６
の出力線４２６である。残りの各段４２２，４２
１及び４２０は前段の桁上げ状態によつてクロツ
クされる。各段４２０〜４２３の２進的重要度を
持つ出力は乗算・累積回路１１８内の対応段４２
８，４２９，４３０及び４３１に並列に印加れ
る。またパーセンテージ濃度計数器１１２の並列
出力はプリンタ論理回路１３２にも印加される。

パーセンテージ濃度計数器１１２の内容は、プ
ログラマ９８から各段に接続されているプリセツ
ト線４３２が真の信号を伝えた時に乗算．累積回
路１１８内の対応段４２８〜４３１内にプリセツ
トされる。乗算・累積回路の４つの段４２８〜４
３１はクロツクされないが、それにプリセツトさ
れるパーセンテージ濃度計数器１１２の内容のた
めの緩衝蓄積回路の形状として用いられる。

乗算・累積回路の４つの段４２８〜４３１の並
列出力は９の補数回路１２０において補数化さ
れ、その結果生じた値は、計算計数器１１０の４
つの段がプログラマ９８からプリセツト線４４０
上にプリセツト信号を受けると、これらの４つの
対応段４３６〜４３９内にプリセツトされる。計
算計数器段４３６〜４３９はこれもプログラマ９
８からのリセツト線４４１上の信号によつてリセ
ツトできる。

９の補数回路１２０はブランク蓄積レジスタ１
０２とO.D.計数器１０８との間にある９の補数
回路１１４で説明した９の補数段４０４と構成が
同一の個々の段４３２乃至４３５を有している。

試験の通常の動作即ち分析では、計算計数器１
０は通常乗算・累積回路１１８内に蓄積されてい
るある係数値の９の補数にプリセツトされてい
る。次で計数器１１０はデイジタル・レート乗算
回路１２４或は主計数器１０４の何れかによつて
乗除回路１２６を通してクロツクされる。このク
ロツキングは、計数器１１０が受けたクロツク・
パルスの数がその９の補数を計数器１１０に蓄積
されている数に等しくなつたとを充満検出器１２
８が検用するまで続けられる。詳述すれば所望値
の９の複数で計算計数器１１０を充満させること
はその値を入力パルスの総数から差引くことにな
る。所望のパルス数は計数器１１０の各段の出力
が９に等しくなつた時に受けられたことになる。

充満検出器即ち９検出器１２８は、それぞれが
計算計数器１１０内の２つの段に応答する２つの
段４４２及び４４を具備している。好ましくは第
１の検出段４４２の入力は1000及び100デイジツ
ト段４３６及び４３７の２^０及び２^３出力線に接
続する。同様に、計算段４３８及び４３９の同じ
ような出力を他の検出段４４４の入力とする。こ
れらの各検出段４４２及び４４４は２つのNAND
ゲート４４６及び４４８並びにこれらの出力を入
力としているNORゲート４５０を具備してい
る。各NANDゲート４４６及び４４８は計数器１
１０の１つの段に組合わされており、この計数器
１１０の２^０及び２^３出力線をそれらの入力とし
ている。計数器の両段が９を含んだ時だけ９検出
器段４４２，４４４の出力は真になる。検出器段
４４２及び４４４の出力は主計数器可能化ゲート
１０６内のNANDゲート４５２に印加される。こ
のNANDゲート４５２の両入力が真になつて計算
計数器１１０が乗算・累積回路１１８内の数と同
数のパルスを受けたことを知らせると、この
NANDゲート４５２の偽出力が第１０図の計算制
御フリツプ・フロツプ４５４をリセツトする。

フリップフロツプ４５４がリセツトされると
NANDゲート４５８が可能化され、プリンタ論理
１３２を可能化する。リセツト・フリツプフロツ
プ４５４の出力の真の信号はまたNANDゲート４
６０によつて反転され、その出力は1MHzのクロ
ツク９４の出力を禁止するNANDゲート４６２に
印加されるので主計数器１０４のクロツキングが
停止する。

主計数器１０４及びデイジタル・レート乗算回
路１２４を第１１ａ図及び第１１ｂ図に示す。主
計数器は４つの段４６４，４６５，４６６及び４
６７を具備している。これらの段４６５〜４６７
は２進化10進形にはなつていない。主計数器段４
６４〜４６７の出力線４６８，４６９，４７０及
び４７１はそれぞれ１，２，４及び５の重要度を
負つている。第１段４６４の４及び５の出力線４
７８と４８５だけが用いられる。

主計数器は上記のゲート１０６を通して1MHz
クロツク９４からクロツクされる。各段４６４〜
４６７の桁上げ出力（これも５の重要度である）
は次の段をクロツクするように接続されている。
この直列クロツキングによつて、クロツキング段
をクロツクしている周波数から10分の１のクロツ
キング周波数に減少する。

主計数器の段４６４〜４６７の出力線はデイジ
タル・レート乗算回路（DRM）１２４の対応段
４７４，４７５，４７６及び４６７に並列に接続
されている。O.D.計数器段３９０〜３９３の２
進形の並列出力線もDRM１２４の対応段４７４
〜４７７への入力として役立つている。DRM１
２４の機能は主計数器の各段が計数する周波数を
受けてそれをO.D.計数器１０８の対応段に蓄積
されている数に比例させることである。

DRM１２４の出力パルスは、100KHz主クロツ
クの周波数にO.D.計数器１０８に蓄積されてい
る数を乗じた周波数で現われる。DRM１２４の
各段４７５〜４７７は同一構成であり、その関連
O.D.計数器段及び主計数器との相互接続も同一
である。しかしDRMの第１段４７４はO.D.計数
器の第１段３９０が１或は０だけを蓄積するだけ
でよいのでやゝ異なり、簡略化されている。

主計数器の第１段４６４の「５」出力４７８は
NANDゲート４８０で反転されてからNANDゲー
ト４８２に印加される。ゲート４８２の他の入力
はO.D.計数器の第１段８９０の出力線４８４、
NANDゲート４８６で反転された1MHzのゲート
されたクロツク、及び「４」出力線４８５の出力
である。「５」出力線４７８及び「４」出力線４
８５は別のNANDゲート４８７にも印加される。
このゲート４８７の第３の入力はNANDゲート４
８６で反転された1MHzである。ゲート４８７の
出力は反転用増巾器４８８によつて反転され、
DRM１２４の第２段４７５内の全てのNANDゲ
ート４９０〜１９４への共通入力として用いられ
る。「５」出力線４７８は第２段４６５のクロツ
ク入力に接続され、また乗除決定回路１２６の１
つの入力にも接続されている。この接続の目的は
後述する。

制御用NANDゲート４８２の出力はDRM出力
ゲート用NANDゲート５０９に印加される。この
ゲート５０９はDRM１２４の残余の段４７５乃
至４７７からも入力を受けている。第１段の制御
用NANDゲート４８２は、主計数器の第１段４６
４の「４」出力線４８５が真であり、「５」出力
線４７８が偽であ、そしてO.D.計数器の第１段
３９０から真の出力が発生している時だけ真の出
力を発生できる。際にはO.D.計数器１０８の第
１段３９０に１が蓄積されている場合にはDRM
の第１段４７４の出力は1KHzになる。

DRM４７５の第２段４６５では、対応主計数
器段４６５の「５」出力線４７１は反転用増巾器
４９６によつて反転され、O.D.計数器の対応段
３９１の２^０出力４９８と共にNMNDゲート４
９０に印加される。「５」出力線４７１は別の
NANDゲート４９４の入力ともなつており、また
次の主計数器段４６６のクロツキング入力にもな
つている。主計数器の第２段４６５の「４」出力
線４７０は「５」出力線４７１及びDRM第１段
４７４からの10KHz同期クロツクと共にNANDゲ
ート４９４への入力として用いられる。この
10KHzクロツクは第１段４６４の「４」及び
「５」出力線４８５と４７８とを共にゲートして
得たものである。

主計数器の第２段４６５の「４」出力線４７０
はDRM第２段４７５内のNANDゲート４９０に
も印加され、また反転用増巾器５００によつて否
定されて前段４７４からの10KHz信号及び第200
計数段３９１の２^３出力と共にNANDゲート４９
３に印加される。DRM段４７５の中間NANDゲ
ート４９２の入力は、O.D.計数器の第２段３９
２の２^２出力、主計数器の第２段４６５の「１」
出力線４６８及びDRMの第１段４７４からの
10KHz出力線である。「１」出力線４６８はまた
反転用増巾器５０２によつて反転され、O.D.計
数器の段３９２の２^１出力線５０４、第２主計数
器段４６５の“２”重要度出力線４６９DRMの
第１段４７４からの10KHz出力と共にNANDゲー
ト４９１に印加される。

DRMの第２段４７５の４つの各NANDゲート
４９０〜４９３の出力は出力NANDゲート５０６
に印加され、NANDゲート５０６の出力は反転用
増巾器５０８によつて反転されてからDRM出力
NANDゲート５０９に印加される。こDRM段４
７５の残余のNANDゲート４９４の出力は反転用
増巾器５１０で反転され次のDRM段４７６内の
各NANDゲートへの1KHz入力として引続き使用
される。

４つの各NANDゲート４９０〜４９３の効果は
先行段４７４からの10KHz出力を、O.D.計数器
の第２段３９１及び主計数器第２段４６５からの
入力によつて設定されるゲート状態に従つてゲー
トすることである。

例えばO.D.計数器第２段３９１に５（0101）
が蓄積されているものとしよう。各NANDゲート
４９０〜４９３には前段４７４内の反転用増巾器
１８８からの10KHzクロツクが印加されてい
る。この場合真である２^０入力を印加されている
第１のNANDゲート４９０の出力は主計数器段４
６５が10回クロツクされる毎に１回偽となること
ができるので10KHz出力を有することになる。

第２のNANDゲート４９１はO.D.計数器段３
９１の２^１出力線５０４上の０出力のために閉じ
ることはできない。第３のNANDゲート４９２は
主計数器段４６５の「１」出力線４６８が真とな
る毎に10KHzクロツクによつてオン・オフにゲ
ートされる出力を有している。この現象は計数段
４６５が各10クロツク・パルス毎に４回生ずるの
で40KHzのクロツク出力を作る。この40WHz出
力と10KHz出力は出力NANDゲート５０６で組合
わされ反転用増巾器５０８によつて反転され
50KHzクロツクとしてDRM出力ゲート５０９に
印加される。

残りの各O.D.計数器３９２及び３９３、主計
数器段４６６及び４６７、及びPRAMの対応段４
７６及び４７７内のそれぞれの接続は今述べたも
のと同一であるので説明は省略する。

DRM出力NANDゲート５０９はその振動出力
を同期NANDゲート５１２に印加する。ゲート５
１２の他入力は1MHzクロツク９４から与えられ
ており、従つてDRMのクロツキング出力を主ク
ロツク９４の出力に同期させる。

DRM１２４からの出力、より詳しく言えば同
期用NANDゲート５１２からの出力は主計数器の
第１段４６４の「５」出力線からの100KHz出力
線４７８のように乗除回路１２６（第１４図参
照）に印加される。乗除算回路１２６はの乗算路
或は除算路の選択はプログラマ９８からの信号に
よつて決定する。これに関してはプログラマ９８
に関連して以下に説明する。

概述すれば乗算路或は除算路の選択は、
100KHzクロツキング入力を計算計数器１１０
に、またDRM出力をパーセンテージ濃度計数器
１１２に向ける。或はこれらの通路を切替えて、
DRM出力を計算計計数器１１０に、そして
100KHzクロツクをパーセンテージ濃度計数器１
１２に印加する効果を生ずる。この通路選択に含
まれる特定の論理回路を第１４図に示す。

入力導体５１４上の偽信号は、較正モードがプ
ログラマ９８によつて選択されたように実施され
ており、DRM出力は計算計数器１１０に印加さ
るべきであり、そして主計数器100KHz出力はパ
ーセンテージ濃度計数器１１２に印加すべきであ
ることを指示している。またこの導体５１４上の
真の信号は、試験が進行中であり、DRM出力が
パーセンテージ濃度計数器１１２に印加されるで
あろうこと及び主計数器100KHz出力が計算計数
器１１０に印加されるであろうことを指示してい
る。

主計数器１０４の100KHz出力からの入力導体
５１６はNORゲート５１８に接続されている。
このNORゲートは入力クロツク・パルスを反転
してコンデンサ５２０にまたがつて印加する。矩
形化されたクロツク・パルスはもう一度第２の
NORゲート５２２によつて反転される。NORゲ
ート５２２の出力は並列に２つのNORゲート５
２４及び５２６に印加される。NORゲート５２
４の他の入力はフリツプフロツプ５３０内の
NANDゲート５２８から供給されている。このフ
リツプフロツプ５３０のもう一方のNANDゲート
５２９の出力は前記のNORゲート５２６の他の
入力に印加されている。フリツプフロツプ５３０
はNANDゲート５３２の出力によつてセツトされ
る。NANDゲート５３２の入力はプログラマから
の信号であつて、プログラマによつて反転用増巾
器５３４及び入力導体５１４を介して演算機能の
選択ができる。

フリツプフロツプ５３０へのリセツトはプログ
ラマによつて制御されている装置リセツト信号が
ダイオード５３６を介して印加され、また別のリ
セツトは入力を可能化反転回路５３４の出力及び
プログラマ９８からの入力導体５１４上の信号を
反転する第２の反転回路５４０の出力から得てい
るNANDゲート５３８の出力から与えられる。

DRM１２４からのゲートされたクロツク出力
は２つのNORゲート５４１及び５４２の入力に
印加される。これらのNORゲート５４１及び５
４２への他の入力はそれぞれフリツプフロツプ
NANDゲート５２９及び５２８の出力である。完
全に異なる入力を有する各対のNORゲート即ち
５４１と５４２、５２６と５２４の出力はそれぞ
れORゲート５４８及びNORゲート５４４に印加
される。ORゲート５４３の出力は計算計数器１
１０の最終段４３９のクロツク入力に、また
NORゲート５４４の出力はパーセンテージ濃度
計数器１１２の最終段４２３に印加される。

動作を説明する。入力導体５１４にプログラマ
９８から０信号即ち偽信号が印加されて「除」動
作を知らせると、フリツプフロツプ５３０の一方
のNANDゲート５２８は真の出力を発生し、他方
のNANDゲート５２９は偽出力を発生する。この
真、偽信号はDRM出力をゲートしてNORゲート
５４１及びORゲート５４３を通して計算計数器
１１０に印加する。100KHz入力は同時にNORゲ
ート５２６にゲートされてNORゲート５４２に
至り、パーセンテージ濃度計数器１１２に印加さ
れる。入力導体５１４上の信号が逆転して真信号
になり、試験を遂行すべきこと及び較正が完了し
たことを知らせると、フリツプフロツプ５３０内
のNMNDゲート５２８及び５２９はその出力を
逆転し、DRM入力をNORゲートの一方５４２及
びNORゲート５４４を通してパーセンテージ濃
度計数器１１２に向け、100KHz入力を可能化さ
れたNORゲート５２４及び出力ORゲート５４３
を通して計算計数器１１０の入力に印加する。

光電子増倍管６６からプリンタ１３４に至る全
処理シーケンスの中央制御装置であるプログラマ
９８は、プログラム入力カード内にプログラムさ
れた情報の制御下にある。プログラマ区分９８を
第１５ａ図乃至第１８図に示す。

プログラマの動作はフロー・セル位置検出スイ
ツチ８２（第１６図）からの信号によつて開始さ
れる。同信号はNANDゲート５４５に印加され
る。ゲート５４５の他の入力は、試験輪１８から
の入力５４７によつてセツトされていて試験輪が
回転したことを知らせている試験輪回転検出器フ
リツプフロツプ５４６から得ている。NANDゲー
ト５４５の出力はインバータ５４８によつて反転
され、２つの直列に接続されているワン・シヨツ
ト５４９及び５５０の始めのワン・シヨツト５４
９に印加される。第１のワン・シヨツト５４９の
臨時出力が終ると第２のワン・シヨツトの限時期
間が始まる。第２のワン・シヨツト５５０の開始
によつてその出力導体５５１上には真信号が現わ
れ、この真信号は反転回路５５２によつて反転さ
れて試験輪回転検出器フリツプフロツプ５４６を
リセツトするのに用いられる。またこのワン・シ
ヨツト５５０の出力は２つのNORゲート５５３
及び５５４をも通過する。NORゲート５５４の
出力はプログラム起動フリツプフロツプ５５５及
び読出し制御NORゲート５５６に印加される。

プログラマ９８の動作は装置制御論理回路から
の信号によつて可能化される。この信号はある性
質のT.C.が分光光度計のフロー・セル内に移送
されたことをプログラマに告げる。この信号は、
ワン・シヨツトNORゲート５５４からのワン・
シヨツト信号が印加される前に導体５６１によつ
てプログラム起動フリツプフロツプ５５５（第１
５ｂ図）に印加されなければならない。フリツプ
フロツプ５５５を形成しているNORゲートの１
つ５５７の出力はコンデンサ・抵抗微分回路５５
８に印加されてから１対のNORゲート５５９及
び５６０によつて２度反転される。都合３回反転
された前記の信号はフリツプフロツプ５６２に印
加され、その出力５６４はNANDゲート５６６に
印加される。このゲート５６６は5KHzのクロツ
ク・パルスをゲートている。この出力５６４はま
た16ビツトの２進計数器５７２のリセツト線５７
０にも印加される。

計数器５７２のプリセツト線は全て真論理電圧
に接続されているから、数１５がこの計数器５７
２にプリセツトされている。5KHzクロツク・ゲ
ート５６６及び計数器５７２に接続されているフ
リツプフロツプ５６２の出力５６４上の真の信号
は、クロツク用ゲート５６６を可能化し、計数器
５７２からプリセツトを除いて計数器５７２がク
ロツクされた時にそれを新らしくできるようにす
る。

NANDゲート５６６からの5KHzクロツク出力
は矩形化及び遅延回路網５７６を経て16線２進10
進デコーダ５７６のプリセツト入力及び２進計数
器５７２のクロツク入力に印加される。遅延回路
５７６は計数器５７２の出が１６線デコーダ５７
８にプリセツトされる少し前に計数器５７２がク
ロツクされ得るようにする。計数器５７２への第
１のクロツク・パルスは、計数器５７２が15にプ
リセツトされており、４ビツト２進計数器に過ぎ
ないから、計数器５７２内に０を置く。この０は
16線デコーダによつて解号され、その結果その第
１の出力線５８０上に偽信号が現われ、他の出力
線５８１〜５９５は真の状態を維持し続ける。

第１出力線５８０はNANDゲート５９８（第１
７図）に、及び反転用増巾器６００を経て第２の
NANDゲート６０３に印加される。NANDゲート
５９８の出力は反転用増巾器６０４によつて反転
され、次でパーセンテージ濃度計数器１１２のリ
セツト線に印加されて該計数器１１２をリセツト
する。NANDゲート６０２の出力はブランク蓄積
レジスタ１０２のリセツト入力に印加されて同レ
ジスタ１０２をリセツトする。

5KHzクロツクの次のパルスは線デコーダ５７
８の第１出力線５８０を真レベルに戻し、第２線
５８１を偽にする。この出力導体５８１はNOR
ゲート６１０（第１８図）に接続されている。
NORゲートの出力信号は反転用増巾器６１２に
よつて反転され、パーセンテージ濃度計数器１１
２に印加されるので同計数器１１２を標準位置ス
イツチ１１６の内容にプリセツトする。デコーダ
の第２出力線５８１はNORゲート６１４にも接
続されていて、その出力によつて第２のNORゲ
ート６１６を可能化する。NORゲート６１６の
出力は乗算・累積回路１１８のプリセツト線に印
加されてパーセンテージ濃度計数器１１２内にプ
リセツトされている標準単位値を乗算・累積回路
１１８内にプリセツトさせる。同時に第２出力線
５８１はNORゲート６１８にも印加される。
NORゲート６１８の真出力は別のNORゲート６
２０に印加され、次で反転増巾器６２２で反転さ
れてから第３のNORゲート６２４を通つてO.D.
計数器１０８のプリセツト線に印加される。この
特定のシーケンスによつてブランク蓄積レジスタ
１０２の９補数をO.D.計数器１０８にプリセツ
トする。

次の5KHzクロツク・ルスはもう一度計数器５
７２をステツプさせるので、今度は16線デコーダ
５７８の第３出力線５８２上に偽信号が現われ
る。この出力線５８２は前記のNANDゲート５９
８の入力に接続されている。該ゲート５９８の出
力は反転回路６０２によつて反転されてからパー
センテージ濃度計数器１１２に印加されこれをリ
セツトする。

5KHzクロツクからの次のパルスはデコーダ５
７８の第４出力線５８３の出力に偽信号を発生さ
せ、この信号はNORゲート６２６（第１５ｂ
図）に印加される。NORゲート６２６の出力は
第２のNORゲート６２８を通つてからフリツプ
フロツプ６３０をセツトして、T.C.値が読取ら
れ分光光度計制御論理回路によつて処理されるま
で２進計数器５７２がそれ以上クロツクされるの
を禁止させる。フリツプフロツプ６８０内の
NANDゲート６３２の出力はクロツク用NANDゲ
ート５６６に印加され、計数器５７２が5KHzク
ロツクによつてクロツクされるのを禁止する。ま
たこのNANDゲート６３２の出力はNORゲート
６３４にも印加され、NORゲート６３４の出力
は反転回路６３６を通して読取り指令フリツプフ
ロツプ３３３（第８図）をセツトし、分光光度計
論理回路にフロー・セル内のT.C.を読ませる。
フロー・セル内のケミストリがブランク・ケミス
トリであれば、このプロクラムされた第１の試験
サイクルは計算部のための較正サイクルであるこ
とが理解されよう。

こようにプログラマ９８によつて開始された読
取りシーケンスは分光光度計論理回路７０の制御
下におかれる。読取り指令フリツプ・フロツプ３
３８のリセツトは指数放電制御回路３４６（第８
図）内のNANDゲート３５０の出力からその入力
に印加される信号の立下りによつて遂行される。
読取り指令フリツプ・フロツプ３３８がリセツト
されると反転用増巾器６３８（第１５ｂ図）の入
力に真信号が印加され、その出力が読取り制御フ
リツプフロツプ６３０内の出力NANDゲート６３
２に印加される。このNANDゲート６３２の入力
に加えられる偽信号はこのフリツプフフロツプ６
３０をリセツトさせる。その結果生ずるこのフリ
ツプフロツプ６３０の時間出力は再び5KHzクロ
ツク・ゲート５６６を可能化するので5KHzクロ
ツクが再び遅延回路５７６を通して２進計数器５
７２をクロツクするように印加され新らしい各計
数器値を16線デコーダ５７８にプリセツトする。
これによつて線デコーダ５８３の第４出力が再び
真となり、第５出力５８４が偽となる。

第５出力線５８４はNORゲート６４０（第１
８図）に接続されており、NORゲート６４０の
出力は第２のNORゲート６４２を通してブラン
ク蓄積レジスタ１０２のプリセツト線に接続され
ている。線デコーダ５７８の第５線出力５８４上
の偽信号は読取りサイクル中にO.D.計数器１０
８内にクロツクされた数をブランク蓄積レジスタ
１０２内にプリセツトする。

16線デコーダ５８３の第６出力線５８５は使用
されておらず、その出力は無視される。第７出力
線５８６が次にクロツクされ、この出力線５８６
はNORゲート６４４の出力はO.D.計数器プリセ
ツト用NORゲート６２４に接続されている。こ
のNORゲート６２４の出力に生ずる偽信号は、
O.D.計数器をブランク蓄積レジスタ１０２の内
容の９の補数プリセツトさせる。

デコーダ５７８の次の（即ち第８の）出力線５
８７はNORゲート６４６（第１５ｂ図）に接続
され、反転されたその出力は読取り制御フリツプ
フロツプ６３０をセツトするNORゲート６２８
に印加される。従つてデコーダ５７８の第８出力
線５８７は第２の読取りサイクルを開始させるの
に用いられる。前述のようにデコーダ５７８の第
１のシーケンス中の第２読取りサイクルは、試験
輪の中でブランク溶液を入れた試験管の次の試験
管内に入れられた標準溶液のO.D.を読取るのに
用いられる。この標準溶液の濃度は既知の値であ
つて装置操作員によつて標準単位値スイツチ内に
手動的にダイアルされた値であり且つ既に乗算・
累積回路路１１８を通してパーセンテージ濃度計
数器１１２内に、及び計算計数器１１０内にプリ
セツトされている値である。

第２読取りサイクルの終りに、リセツト信号が
再び読取り指令フリツプフロツプ３３８から供給
され、反転回路６３８によつて反転されて読取り
制御フリツプフロプ６３０がリセツトされる。こ
のリセツトによつて再び5KHzクロツクが２進計
数器５７２をクロツクできるようになり、16線デ
コーダ５７８をプリセツトする。

読取りサイクルが終るとデコーダ５８７の第８
出力線５８７は再び真となり、第９出力線５８８
が偽となる。この出力線５８８はNORゲート６
４８（第１８図）の入力に接続されている。
NORゲート６４８は、運動試験シーケンスが進
行中でない限り真の信号を有しているプログラ
ム・カード読取器からの別の入力線６５０によつ
て較正シーケンス中は禁止され続けている。しか
し運動試験中にはこの出力５５８はNORゲート
６４８及びブランク蓄積レジスタNORゲート６
４２を通つてブランク蓄積レジスタ１０２に印加
され、O.D.計数器の内容ブランク蓄積レジスタ
１０２内にプリセツトさせる。

デコーダ５７８の次の（第１０）出力線５８９
も運動試験の制御に用いられる。この出力線５８
９はNORゲート６５２（第１８図）の入力に接
続されている。NORゲート６５２の出力は別の
NORゲート６２０によつてゲートされ、反転回
路６２２によつて反転されてからO.D.計数器
NORゲート６２４に印加される。このゲート６
２４の出力はO.D.計数器１０８をプリセツトす
るのに用いられる。しかし、このゲーテイング・
シーケンスはNORゲート６５２の第２入力（こ
れはカード読取器から来ている導体６５０であつ
て運動試験を選ぶための入力である）によつて禁
止されている。

デコーダ５７８の第11出力線５９０上の偽信号
は反転回路５３４（第１４図）を通してNANDゲ
ート５３２及び５３８を可能化する。ゲート５３
２及び５３８はそれぞれ乗除算選択回路１２６の
フリツプフロツプ５３０をセツト及びリセツトす
るのに用いられている。これらのゲートが可能化
されるとDRM及び主計数器クロツク出力が正し
い通路を選択できるようになることは前述の通り
である。これは16線デコーダ５７８の第１のサイ
クルであるから較正モードにある筈である。しか
しデコーダ５７８の第11出力線５９０は試験モー
ドのNANDゲート５３２及び５３８をも可能化し
ている。試験モードと較正モードとは患者識別デ
コーダからの入力線６５４，６５５及び６７２
（第１７図）を用いて区別する。もし終端点試験
ブランク（EPRB）試験がプログラムされていれ
ば、入力線６５４上の信号は反転回路６５６によ
つて反転され２つのNANDゲート６５８及び６６
０に印加される。NANDゲート６５８の出力は乗
除入力NANDゲート６６２、及びブランク蓄積レ
ジスタ・リセツト用NANDゲート６０３に印加さ
れる。のNANDゲート６０３はプログラミング・
デコーダ５７８の第１出力線５８０から偽信号を
受ければ可能化される。

EPRBNANDゲート６５８は反転回路６６４か
らも入力を受けている。反転回路６６４の入力は
NANDゲート６６６の出力に接続されており、
NANDゲート６６６の入力は後述のブランク及び
標準溶液検出回路から与えられている。

同様にプログラム・カード読取器からの終端点
しよう液ブランク（EPSB）線６５５上の信号は
反転回路６６８によつて反転され２つのNANDゲ
ート６６９及び６７０に印加される。NANDゲー
ト６６９の出力もEPRB試験NANDゲート６５８
の出力同様にNANDゲート６６２に印加されてい
る。

運動試験がプログラムされていることを知らせ
るプログラマからの出力は、導体６７２から反転
回路６７３を経て２つのNANDゲート６７４及び
６７５に印加される。NANDゲート６７４の出力
はNANDゲート６６２の１入力として印加される
（NANDゲート６６２の他の入力は前述のように
EPRB及びEPSBNANDゲート６５８及び６６９
から与えらている）。NANDゲート６６２の出力
は乗除算選択回路１２６内の正しいゲーテイング
を選択する乗算或は除算情報である。この時点
で、遂行されている各試験、即ちEPRB，EPSB
は運動試験の始めに計算部の較正が必要であり、
この較正は始めにブランク・ケミストリを分析し
次でブランク・ケミストリの読みとパーセンテー
ジ濃度の解つている標準ケミストリから得られる
読みとを比較することによつて行なつていること
を思い出すことが重要である。

上記の各試験に対する較正モード中、選ばれた
試験の型を知らせる信号を入力とするNANDゲー
ト６６２の出力は、較正モード中は偽であり、実
際の試験が行なわれている間は真である。この出
力は部分的に各NANDゲート６５８，６６０，６
６９，６７０，６７４及び６７５への入力によつ
て決定されている。それはこれらのNANDゲート
への入力の１つがカード読取器から与えられ、別
の入力はブランク及び標準検出論理回路に接続さ
れているNANDゲート６６６から供給されている
からである。

この論理回路は主装置制御論理回路からの導体
によつて入力を与えらている５つのNORゲート
６７６〜６８０（第１８図）を備えている。これ
らの導体６８１〜６８８は任意の時刻における分
析中のT.C.の１乃至100の位置番号を表わしてい
る。これらの線即ち導体はそれぞれ１，２，４，
８，10，20，40及び80の重要度を負つている。こ
れらの導体には真の信号が選択的に印加されて、
試験抽出位置にある特定の試験管を表わす。第10
入力線６８１は第１のNORゲート６７６及び別
のNORゲート６８９に接続されている。第２の
試験管位置を表わす第２入力線６８２は同様に第
１のシリズのNORゲート６７６〜６８０の第２
のNORゲート６７７及び別のNORゲート６９０
に接続されている。２つの第２シリーズNORゲ
ート６８９及び６９０の出力は２つの制御用
NANDゲート６９１及び６９２の入力として印加
される。

第３及び第４入力線６８３及び６８４は共に第
１シリーズのNORゲート６７８を通して制御用
NANDゲート６９１及び６９２の両者の入力に印
加されている。第５及び第６入力６８５及び６８
６は共にNORゲート６７９に印加され、最後の
２つの入力６８７及び６８８は共に最後のNOR
ゲート６８０に印加されている。これらの２つの
NORゲート６７９及び６８０の出力は共に
NANDゲート６９３に印加され、NANDゲート６
９３の出力はNORゲート６９４で反転されてか
ら制御用NANDゲート６９１及び６９２の両者に
供給される。第１或は第２の入力線６８１，６８
２が真になつた時だけ制御用NANDゲート６９１
及び６９２の出力が真になる。これは第１及び第
２の試験管位置だけが較正用ブランク及び標準溶
液を保持するのに用いられるからである。

第２のNANDゲート６９２は、第１の試験管内
の溶液が分析されている時に真の出力を発生して
ブランク・ケミストリ信号を表す。第1NANDゲ
ート６９１は既知の標準溶液を分析する第２の分
析中だけ真の出力を発生する。両NANDゲート６
９１及び６９２の出力はNANDゲート６６６（第
１７図）に印加され、NANDゲート６６６の出力
及びその反転された出力が試験選択NANDゲート
６５８，６６０，６６９，６７０，６７４及び６
７５の全てに印加されるのである。NANDゲート
６６６へのこれらの入力の何れかに現われる真の
信号がそれぞれのNANDゲート６５８〜６７４を
ゲートするのに用いられるので、乗除算回路入力
NANDゲート６６２の出力は較正モード中は偽で
あり、試験モード中は真になる。NANDゲート６
６２の出力導体５１４は前述のように制御用
NANDゲート５３２（第１４図）に印加され、ま
た反転されて他の制御用NANDゲート５３８に印
加されて選択フリツプフロツプ５３０をセツト或
はリセツトする。これらのNANDゲート５３２及
び５３８は線デコーダ５７８の第11出力線５９０
が偽になるまでは不能化されている。

線デコーダ５７８の第12出力線５９１は計算制
御回路内のNANDゲート６９６（第１０図）に印
加される。NANDゲート６９６の出力は、前述の
ように計算制御フリツプフロプ４５４をセツトす
るためのNANDゲート４５６に印加される。反覆
するためにこのフリツプフロツプ４５４の出力は
NANDゲート４６０によつて反転されNANDゲー
ト４６２を可能化するのに用いられる。NANDゲ
ート４６２の他の入力は1MHzのクロツク９４か
ら与えられている。NANDゲート４６２が可能化
されると主計数器１０４がクロツクされるように
なる。もし較正モードが進行中であれば主計数器
の100KHz出力はパーセンテージ濃度計数器１１
２のクロツク入力に印加され、また100KHz信号
はデイジタル・レート乗算回路１２４において
O.D.計数器１０８の内容を乗せられて計算計数
器１１０に印加される。一方もし試験を実施中で
あれば、100KHzの主計数器出力は計算計数器１
１０に印加され、デイジタル・レート乗算回路の
出力は標準単位値計数器１１２に印加される。充
満検出器１２８は、前述のように計算制御フリツ
プフロプ４５４をリセツトし、別のNANDゲート
４５８を可能化しててプリンタを5KHzでクロツ
クさせる。NANDゲート４５８の可能化はプログ
ラマからのプリント指令にも依存している。

２進計数器５７２への13番目のパルスは線デコ
ーダ５７８によつて解号され、デコーダ５７８の
第13出力線５９２が偽信号になる。第13出力線５
９２上の偽信号はNORゲート６９８（第１８
図）に印加される。NORゲート６９８の出力は
第２のNORゲート６１６を通して乗算・累積回
路１１８のプリセツト入力に印加される。このシ
ーケンスは較正モードにおいて計算制御フリツプ
フロツプ４５４によつて計算が可能である間に標
準単位値をパーセンテージ濃度計数器１１２から
乗算・累積回路１１８にプリセツトするのに用い
られる。しかし試験モード中には第１のNORゲ
ート６９８への別の入力６９９に３つの試験モー
ドNANDゲート６５８，６６９及び６７４によつ
て真信号が印加される。これらのNANDゲートの
出力は、それらの入力NANDゲート６６６への両
入力が真となつて第１或は第２の試験管の何れか
の内容が検査されず、試験を行なわなければなら
ないことを知らせていれば、真となる。

デコーダ５７８の第14出力線は次に偽となる。
この出力線５９３はプリンタ論理回路１３２への
プリント指令を作るのに用いられる。その偽信号
は２つの反転回路７００及び７０１（第１７図）
を通して反転され、コンデンサ及び抵抗組合せ７
０３によつてパルス巾を伸ばされた後再び第３の
反転回路７０２によつて反転される。第３の反転
回路７０２の出力は、プリント指令信号が計算モ
ードの終りまでに計算制御フリツプフロツプ４５
４によつて既に可能化されているプリント・ゲー
ト用NANDゲート４５８印加される前に、更に
NANDゲート７０４によつて反転される。NAND
ゲート４５８の他の入力は5KHzクロツクであ
り、これは後述のようにプリンタ論理回路のシー
ケンスをゲートするのに用いられる。

デコーダ５７８の次の出力線５９４は、カード
読取器からの他の入力によつて可能化され運動試
験がプログラムされていることを知らせている
NORゲート７０６（第１５ａ図）に印加され
る。この場合にはNORゲート７０６はその出力
に真の信号を発生するように可能化され、この出
力はワン・シヨツト７０８の動作を開始させるの
に用いられる。このワン・シヨツトの偽出力は、
このワン・シヨツトがNORゲート７０６によつ
てトリガされると２進計数器５７２をリセツトす
るように線７０９により接続されている。ワン・
シヨツトの出力のパルス巾は、5KHzクロツクか
ら次のクロツク・パルスが現われる後まで計数器
５７２をこのリセツト状態にしている。そこでワ
ン・シヨツト７０９がタイム・アウトするから16
線デコーダ５７８にプリセツトされる値は０にな
る。これは第１出力線５８０に偽信号を発生さ
せ、線デコーダ出力の運動リサイクルを始めさせ
て同一Ｔ・C.を、時間を遅らせて再読取り及び
再評価するようになる。この運動リサイクルは運
動リサイクルNORゲート７０６がカード読取器
からの入力線によつて不能化されるまで続けられ
る。リサイクルの数は主制御論理回路によつて制
御されているので、所望数のリサイクルが完了す
るとNORゲート７０６への可能化線が再び真に
なる。

試験或は較正モードが終るとデコーダ５７８の
16番目の出力線５９５が偽になつてプログラマ停
止及びリセツト・シーケンスが始まる。この出力
５９５はNANDゲート７１２（第１５ａ図）に印
加される。NANDゲート７１２の出力は反転回路
７１３によつて反転されプログラマ制御フリツプ
フロツプ５６２のリセツト入力に印加されてこの
フリツプフロツプをリセツトし、次のプログラム
起動パルスを待つ。以上に述べた16線デコーダ５
７８の主シーケンスは、較正モードにおいては終
端点試薬ブランク試験及び終端点しよう液ブラン
ク試験の両者に対して同一である。しかし運動較
正モードは若干の面で異なつている。第１の時間
間隔中、デコーダの第４出力線５８３が偽になる
と、EPSB及びEPRBでは読取り指令を作るのに
用いられたが、運動較正NANDゲート６７５（第
１７図）の出力は反転回路７１５（第１５ｂ図）
によつて反転され、NORゲート６２６への禁止
入力として用いられる。NANDゲート６２６の他
の入力はデコーダの第４出力線５８３である。反
転回路７１５の出力はNORゲート６４６の入力
としても用いられる。NORゲート６４６には別
の入力としてデコーダの第８出力線５８７が接続
されている（この出力５８７は他の試験モードで
は標準溶液の読取り指令である）。反転回路７１
５からのこれら２つのNORゲートへの入力は、
運動試試験がその結果を得るのに試験標準或は試
験ブランクに頼らず、精密な時間間隔中の各被検
査T.C.の変化に開連しているので、運動較正期
間中読取りを禁止するのに用いられる。

３つの各誌験モードはそれぞれ特定の要求を有
している。EPRB試験は較正過程の後にブランク
蓄積レジスタ１０２にブランクT.C.のO.D.を蓄
積しなければならない。EPRB試験NANDゲート
６５８（第１７図）の出力をNANDゲート６０３
を禁止するのに用いているので、ブランク蓄積レ
ジスタ１０２がリセツトされるのを防ぐ。パーセ
ンテージ濃度計数器１１２及び乗算・累積回路１
１８はEPRBの間、或は実際には、他の試験の際
にも、各試験NANDゲート６５８，６６９及び６
７４の出力に接続されていてどのような試験中で
も真になつている禁止線６９９によつてリセツト
されないようになつている。EPRB試験NAND６
５８の出力は反転用増巾器７１５を通して２つの
NORゲート６４４及び６４０（第１８図）の動
作を禁止するようにもなつている。従つてこれら
のNORゲート６４４及び６４０の出力はそれぞ
れO.D.計数器１０８及びブランク蓄積レジスタ
１０２のプリセツトを禁止する。

試験の実施には試験ブランク或は標準溶液を分
析することは含まれない。前述のように乗除算入
力導体５１４に真の信号が印加されて100KHzの
主計数器出力が計算計数器１１０に印加され、デ
イジタル・レート乗算回路の出力がパーセンテー
ジ濃度値計数器１１２に印加され得るようにす
る。また試験NANDゲート６５８，６６９及び６
７４からの入力導体は乗算・累積回路がプリセツ
トされるのを禁止しているので、試験シーケンス
が終つた時には較正モード中の標準単位値がそう
であつたように乗算・累積回路内に試験値がプリ
セツトされることはない。

終端点しよう液ブランク試験は、各しよう液検
体から２つのT.C.が準備される点が終端点試薬
ブランク試験とは異なつている。この理由からデ
コーダの第１出力線５８０がブランク蓄積レジス
タ１０２をリセツトするように偽になつた時同レ
ジスタ１０２のリセツトは禁止されない。所望の
結果を得るために第２のケミストリの値から第１
のケミストリの値を差引かなければならないか
ら、EPSBではデコーダ５７８の第５出力線５８
４が偽になつた時ブランク蓄積レジスタ１０２内
にブランク値のプリセツトは禁止されず、次の計
数でブランク蓄積レジスタ１０２の内容の９の補
数をO.D.計数器１０８にプリセツトすることも
禁止されない。

運動試験は、運動試験が時間における唯一点の
読みを求める代りに正味の変化速度を決定するの
に用いられる点が２つの終端点試験とは異なつて
いる。運動試験は３対の読みを取つてＴ・C.の
反応が線形であつたこと及び試験パラメータに影
響を与える周囲影響によつて影響されなかつたこ
とを確認する。各T.C.は合計６回検査される。
プログラマ制御回路の２進計数器５７２の各サイ
クルでは２回の読みしか得られないから、前述の
ように、デコーダの第16出力線５９５を用いてデ
コーダ５７８の計数器５７２をリサイクルさせ
る。リサイクルは計数器がセツトされ主装置制御
論理回路が禁止線７０７にリサイクルNORゲー
ト７０６への真信号を印加するまで続けられる。
各対の読みを求める時２つの読みの間の時間は主
装置制御論理回路によつて精密に制御されなけれ
ばならない。運動モードでは運動可能化線が
NANDゲート５３９の入力へ接続され、このゲー
トがNORゲート５３４からのプログラム読取り
パルスを通せなくなるようにする。運動読取りパ
ルス列は、カード読取器からの運動モード可能化
線によつてゲート・オンとなり運動試験がプログ
ラムされていることを知らせるNORゲート７１
６（第１６図）にも印加される。この運動モード
信号はまたNORゲート７１７によつて反転され
NORゲート５４１を禁止するのにも用いられ
る。

１対の読みを得るために現われる各運動読取り
パルスは、カードにプログラムされた時間間隔で
定まり、パルス対間は好ましくは４秒離す。運動
読取りパルス列はその読取り制御NORゲート５
５６によつて読取り制御フリツプフロツプ６３０
の出力NORゲート６３４の入力に印加される。
NORゲート６３４の出力信号は反転回路６３６
によつて反転され読取り指令フリツプフロツプ３
３８に印加される。

それによつてデコーダ５７８は１つのT.C.の
運動試験を完了させるために３回リサイクルす
る。試験が終了するとデコーダ５７８の第16出力
線５９５が偽となつて前述のようにプログラマを
リセツトする。

基本的運動試験はT.C.のO.D.が試験期間中に
増加して行くことを前提としている。しかしＴ・
C.が反応できるようになるにつれて溶液のO.D.
が既知の標準から低下することを前提として行な
う試験もある。16線デコーダ５７８の第９及び第
10出力線５８８及び５８９は、偽信号によつて連
続的にトリガされた時、O.D.損失運動試験を行
なうための特別な状態を作るように用いられる。
第９出力線５８８の出力は、O.D.計数器１０８
の内容をブランク蓄積レジスタ１０２内にプリセ
ツトするのを制御するNORゲートの１つ６４８
（第１８図）に印加される。この線５８８が偽に
なるとNORゲート６４８の真出力が第２のNOR
ゲート６４２に印加されてブランク蓄積レジスタ
１０２は第１の読みの対によつて決定されたT.
C.のO.D.の差にプリセツトされる。

第10出力線５８９はNORゲート６５２の入力
として用いられている。このNORゲート６５２
は他の２つのNORゲート６２０及び６２４、及
び反転回路６２２によつてO.D.計数器１０８の
プリセツトを制御している。デコーダの第10出力
線５８９の偽信号はO.D.計数器１０８を、前に
ブランク蓄積レジスタ１０２内にプリセツトされ
た差値の９の補数にプリセツトさせる。２つの読
みの間の時間間隔中のO.D.の正味の変化の９の
補数値は、主計数器の出力をデイジタル・レート
乗算回路１２４において変化させるのに用いられ
る。この効果は読みの間に現われるO.D.の負の
変化を認知することである。

16線デコーダ５７８の各サイクリングは、デコ
ーダの第14出力線に偽の信号を発生させる。この
線上の偽信号はプリント可能化信号であつて、
NANDゲート４５８を制御し、5KHzの発振器出
力がプリンタルゲートされるようにする。プリン
タ論理回路１３２はプリンタ１３４に正確な行を
描かせ、その行内に情報を配置させる正しい信号
を供給するように応答する。

本発明の好ましい実施例は、プログラム・カー
ドからの出力信号を処理して実施中の試験の番
号、その時点で分析されているT.C.に対する患
者識別番号及びパーセンテージ濃度計数器１１２
からの試験結果を仕訳けする。プリンタはありき
たりのドラム・プリンタであつて主ドラム及び副
制御ドラムを有している。主ドラムは16の異なる
文字の容量を有しており、21行の全部或は一部に
印刷することができる。主ドラムの表面には磁気
円板があり、これは主ドラムが１回転する度に１
度磁気検出器によつて検出される。副ドラムはそ
の表面に２つの磁気円板を有しており、これらは
互に極めて接近している。副ドラムは主ドラムが
１回転する毎に16回転する。主ドラム上の磁気円
板及び副ドラム上で始めに現われる円板は同時に
検出されて主リセツト信号が作られ、また副ドラ
ムからの次の16対の信号は主ドラムに掲示される
文時と同期している。

プリンタ論理回路１３２の詳細を第１９図乃至
第２５図に示す。主ドラム円板検出器（図示せ
ず）からのパルスはパルスを矩形化するために波
形整形回路７２０に印加され、次で出力線７２１
に印加される。同様に副ドラムからの二重パルス
は波形整形回路７２２に印加され、その結果生じ
た矩形パルスは出力導体７２３に印加される。主
ドラム・パルス整形回路７２０からの出力導体７
２１はＪ―Ｋフリツプフロツプ７２５のリセツト
入力に接続されている。

主ドラム・パルスが発生するとこのフリツプフ
ロツプ７２５がリセツトされ、そのＪ出力７２６
上に偽信号が、またそのＫ出力７２７上に真信号
が得られる。副ドラム・パルス整形回路７２２か
らの出力線７２３はこのＪ―Ｋフリツプフロツプ
７２５をクロツクするように接続されている。主
ドラム・パルス整形回路７２０からのパルスは副
ドラム・パルス整形回路７２２からの１対のパル
スの第１のパルスと同時刻に現われる。この理由
から副ドラムからの第１のパルスは、Ｊ―Ｋフリ
ツプフロツプ７２５に影響を与えない。それはリ
セツト入力７２４が主ドラム・パルス整形回路７
２０からのパルスによつて偽に保たれているから
である。副ドラムからの第１のパルスに直ぐ続い
ている第２のパルスはフリツプフロツプ７２５の
クロツク入力に印加される。この第２のパルスが
現われると以下に窓時間（Window time）と呼
ぶものが始まる。この窓時間は次の回転で副ドラ
ムから第１のパルスが現われるまで続く。

リセツト・パルス後の副ドラムからの第１のパ
ルスはＪ―Ｋフリツプフロツプ７２５をクロツク
してＪ出力線７２６上に真信号を、またＫ出力線
７２７上に偽信号を発生させる。Ｋ出力線７２７
はNANDゲート７２９の入力及び反転回路７３０
に接続されている。NANDゲート７２９はＫ出力
線７２７上の真信号を反転して、、この偽信号を
10個のコンパレータ出力NANDゲート７３１乃至
７４０の出力に印加してこれらのゲートの禁止を
除く。

反転回路７３０の出力は２つのNANDゲート７
４１及び７４２を経て一連の線蓄積フリツプフロ
ツプ７４４乃至７５０のためのリセツト入力導体
７４３に印加される。これらのフリツプフロツプ
の動作は後述する。

副ドラムの１回目に得られる対のパルスの第１
のパルスはＪ―Ｋフリツプフロツプ７２５のクロ
ツク入力７２８に印加されて第１の窓時間を終了
させる。その結果Ｊ出力７２６に生ずる偽信号は
窓番号計数器７５２をクロツクしてその計数器７
５２に１を置く。窓番号計数器７５２は５ビツト
の２進数を蓄積することができる。

副ドラムの二重パルスの第１のパルスの発生
は、主ドラムがその第１文字位置まで回転したこ
とを意味する。この主ドラム上の物理的な第１位
置は、21行全部に文字Ｏを含んである。標準単位
値計数器１１２、制御論理回路の患者識別区分及
びカード読取器からの試験数入力からの全部の入
力線に、印加すべきＯがあるか否かを決定するた
めにＯが探される。後述するように入力線の１つ
にＯが存在すると一連のコンパレータ入力NAND
ゲート７５３乃至７５７によつて検出される。こ
れらのNANDゲートの出力は窓番号選択計数器７
５２の出力と比較される。もし一致が確認される
と一連のコンパレータ出力NANDゲート７３１〜
７４０の出力は偽となる。この偽信号は残りの論
理回路に１つ或はそれ以上の行に印刷されるＯが
あることを知らせるのに用いられる。次に掃引レ
ジスタが用いられてＯ文字を受けるのはどの行で
あるのかを確認する。

21の考えられる各行を検査してその行に窓計数
器７５２内に蓄積されている窓の数によつて決ま
る文字があるか否かを見つけるには法外な量の回
路が必要であることが解つた。この理由から７つ
し汎用回路の１群の時分割を利用しており、その
ため主ドラムは１回だけではなく３回転する必要
がある。これを遂行するために主ドラム整形回路
７２０からの主リセツト信号はフリツプフロツプ
７６２のリセツト入力に接続されている導体７６
０、及び３つのＪ―Ｋフリツプフロツプ７６３乃
至７６５のリセツト入力に印加される。

Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７６３のＫ出力７６６
は２つのNANDゲート７６７及び７６８の入力に
接続されている。このフリツプフロツプ７６３の
Ｊ出力７６９は別の２つのNANDゲート７７０及
び７７１の入力に接続されている。Ｊ―Ｋフリツ
プフロツプ７６４のＪ出力はＪ―Ｋフリツプフロ
ツプ７６３のクロツク入力及びNANDゲート７６
７び７７１に接続されている。フリツプフロツプ
７６４のＫ出力７７３はNANDゲート７６８及び
７７０の入力として役立つている。３つの各
NANDゲート７６８〜７７０の出力は反転用増巾
器７７４乃至７７６によつて反転される。

反転回路７７４の出力は主ドラムの始めの回転
中真であるが、第２の反転回路７７５の出力が真
となつて主ドラムが第２の回転になつたことを知
らせると偽になる。同様に第３の反転回路７７６
の出力は主ドラムが３回転目に入ると真になる。
これらの出力信号は、主ドラムの任意の回転中に
読取られる３つの共通群の行を指定するのに用い
られる。

２つのＪ―Ｋフリツプフロツプ７６４及び７６
３は、これらとリサイクリツク４ビツト２進計数
器７７９の第３出力７７８を結んでいるクロツク
導体によつて３つの共通群，、及びに順序
づけられる。この２進計数器７７９のクロツキン
グは反転回路７８０及びNANDゲート７８１を通
して行なわれる。このNANDゲート７８１の入力
は窓番号計数器７５２をクロツクしているＪ―Ｋ
フリツプフロツプ７２５のＪ出力７２６から供給
されている。またこのNANDゲート７８１の他の
入力はＪ―Ｋフリツプフロツプ７８３のＪ出力７
８２から与えられている。Ｊ―Ｋフリツプフロツ
プ７８３はNANDゲート７８４からの入力によつ
てセツトされる。ゲート７８４の入力はＪ―Ｋフ
リツプフロツプ７２５のＫ出力７２７から供給さ
れ、Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７２５は窓選択計数
器７５２をクロツクしている。NANDゲート７８
４への他の入力は、リサイクル可能な２進計数器
７７９をリセツトするＪ―Ｋフリツプフロプ７６
５のＪ出力７８５から得ている。

動作を説明する。窓選択計数器７５２２をクロ
ツクしているＪ―Ｋフリツプフロツプ７２５のＪ
出力７２６は、副ドラムから受けるパルスの１つ
おきに偽となる。NANDゲート７８１の出力の真
信号は反転回路７８０で反転され計数器７７９を
クロツクする。２進計数器７７９は16番目のクロ
ツク・パルスを受けるまで計数を新しくして行
く。この時点になると２^３出力線７７７が偽とな
り、この偽信号は３相選択Ｊ―Ｋフリツプフロツ
プ７６４をクロツクし、またこのＪ―Ｋフフリツ
プフロツプ７６４のＪ出力７７２を真に、Ｋ出力
７７８を偽にさせる。これは共通群反転回路７
７４の出力の真信号を除く。フリツプフロツプ７
６４のＪ出力７７２上の真信号は共通群出力反
転回路７７５を真信号とし第２相掃引が行なわれ
ていることを知らせる。フリツプフロツプ７６４
の出力７７２及び７７３上の信号の反転は、仮セ
ツト用NANDゲート７７１の出力をも真にさせ
る。この真信号は導体７８６を介してＪ―Ｋフリ
ツプフロツプ７６５のクロツク入力に印加させ
る。フリツプフロツプ７６５は、クロツクするた
めには偽（負）信号が必要であるから正信号によ
つてクロツクされることはない。

このようにして共通群の掃引が開始され、相
の間に主ドラム制御の（選ばれた）行内に適切
な文字が印刷される。前述のように副ドラムが16
回転すると主ドラムの２回転目が始まる。窓番号
選択計数器７５２をクロツクしているＪ―Ｋフリ
ツプフロツプ７２５へのクロツク・パルスはＪ出
力７２６及びＫ出力７２７を揺動させる。この揺
動は入力NANDゲート７８１及び反転回路７８０
を通して２進計数器７７９に伝えられ、この計数
器を主ドラムの第２回転中に16回クロツクする。
16番目のクロツク・パルスは再びＪ―Ｋフリツプ
フロツプ７６４をクロツクし、共通群出力反転
回路７７５の出力を偽にし、共通群出力反転回
路７７６の出力を真にする。第２相制御用Ｊ―Ｋ
フリッブフロツプ７６４に印加される第２のクロ
ツク・パルスもＪ―Ｋフリツプフロツプ７６３を
クロツクさせる。その結果プリセツトNANDゲー
ト７７１の入力に印加される真信号は、この
NANDゲート７７１の他の入力が偽になつている
ために出力を変えることはない。

第２の制御Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７６４をク
ロツクするまでに再び16個のクロツク・パルスが
２進計数器７７９によつて得られる。このフリツ
プフロツプ７６４の出力の揺動は仮プリセツト
NANDゲート７７１の出力を偽とし、その出力に
接続されているＪ―Ｋフリツプフロツプ７６５を
クロツクする。Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７６５の
出力の揺動はＫ出力７８５に偽信号を、Ｊ出力７
８９に真信号を発生する。Ｊ出力７８９はNAND
ゲート７８４を禁止して接続されているＪ―Ｋフ
リツプフロツプ７８３がコンパレータ制御Ｊ―Ｋ
フリッブフロツプ７２５のＫ出力７２７からそれ
以上セツト用パルスを受けるのを禁止する。リセ
ツト用フリツプフロツプ７６５の偽Ｋ出力７８５
は２進計数器７７９をリセツトし、また２つの反
転回路７８８及び７９０によつて反転されてデイ
ジタル・コンパレータ可能化ゲート・ラツチン
グ・フリツプフロツプ７８３をリセツトし、プリ
ンタ（図示せず）において紙及びリボンの前進を
可能化する。

仮プリセツトNANDゲート７７１の出力は制御
フリツプフロツプ７６２のリセツト入力にも印加
されてこれをリセツトする。その結果現われるこ
のフリツプフロツプ７６２の出力上の信号は第１
及び第２制御Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７６３及び
７６４をリセツトし、共通群反転回路７７４の
出力を真信号に戻し、それによつて共通群状態
として限定される。

リサイクリツク２進計数器７７９による３プリ
ンタ共通群信号のシーケンスはプリンタ内の主ド
ラム及び副ドラムが一様に回転しているので続行
される。この定常回転はＪ―Ｋフリツプフロツプ
７２５にパルスを印加し、フリツプフロツプ７２
５はそれによつて窓番号選択計数器７５２をクロ
ツクする。共通群選択回路内のリサイクリツク計
数器７７９は主ドラムの全16回転が遂行されてド
ラム上の全ての文字をそれらがプリンタ論理文字
入力に一致すれば印刷できるようにするために必
要である。プログラマ９８からの印刷指令は２進
計数器制御フリツプフロツプ７６５のセツト入力
に印加される。印刷可能化信号がプログラマから
受けられるまでは、この線は真のままであつて、
２進計数器７７９をリセツトし、フリツプフロツ
プ７８３をリセツトし続ける。フリツプフロツプ
７８３のＪ出力７８２はコンパレータ制御回路の
NANDゲート７４１に印加されるデイジタル・コ
ンパレータ可能化信号である。

ゲート用NANDゲート５４８からプリンタに供
給され、且つ計算制御フリツプフロツプ４５４及
び印刷指令NANDゲート７０４によつて可能化さ
れた5KHzクロツク入力は４ビツト２進計数器７
９２に印加される。従つてこの計数器７９２の出
力線７９３〜７９６は5KHzの周波数で内容が更
新される。これらの出力７９３〜７９６は４―１
０線デコーダ７９８を通過する。このデコーダ７
９８の始めの７出力８００〜８０６は反転回路８
０７〜８１８によつて反転される。これらの反転
回路８０７〜８１３の出力は、計数器７９２が１
から７まで計数するにつれて順次に変化する。

反転器出力は７行選択走査信号Ａ乃至Ｇであ
る。これらの信号は，及び共通群信号と共
にゲートされ主ドラムの３回転中に主ドラムの21
行の全部を走査して任意の行に任意の文字の印刷
を行なわせるのに用いられる。共通群信号及び
行走査選択信号Ａ〜Ｇは行１、４、７、10、13、
16及び19を検査する。共通群は共通選択走査回
路がＡからＧまで走査すると２、５、８、11、
14、17及び20行を検査する。共通群は行選択走
査回路と共に残りの行３、６、９、12、15、18及
び21を走査する。しかし本発明の実施例は試験結
果のために３乃至６行を、患者識別番号のために
９及び10行をそして試験識別番号のために12及び
13行だけを用いている。Ａ乃至Ｇ信号と乃至
信号の組合せは他の行が選択されると禁止され
る。

この禁止は一連の10個のNANDゲート８１４乃
至８２８によつて行なわれる。これらのNANDゲ
ートの動作を例によつて説明しよう。前述のよう
にプリンタ論理回路は３〜６、９〜10、12〜13行
だけを用いるので、例えば行８が行選択走査信号
出力及び共通群信号出力によつて指定された場合
にはデイジタル、コンンパレータNANDゲート７
５３〜７８７を禁止してその行に何も印刷されな
いようにしなければならない。行８信号は共通群
のオン時間中にＣ行選択信号が現われることに
よつて指定される。これらの２つの信号はNAND
ゲートの１つ８１８に印加されてその出力を真と
し、コンパレータ入力NANDゲート７５３〜７５
７を禁止する。４―１０線デコーダ７９８の最後
の３出力線８２４〜８２６はNANDゲート８２７
に接続されており、このゲート８２７の出力信号
はNANDゲート８１４によつて反転されているか
ら、これらの３本の線８２４〜８２６が真になれ
ばデイジタル・コンパレータNANDゲート７５８
〜７５７は禁止されることになる。

前述のように４桁の試験結果は行３乃至６に印
刷される。試験結果が最終的に蓄積されているパ
ーセンテージ濃度計数器１１２の各デイジツトか
らの４入力線はNANDゲート８３０〜８３３、８
３４〜８３７、８３７〜８４１、及び８４２〜８
４５に印加される。パーセンテージ濃度計数器１
１２の1.0デイジツトに組合わされている４つの
NANDゲート８３０〜８３３は、NANDゲート８
４７の出力を反転するNANDゲート８４６の出力
によつて全て禁止される。NANDゲート８４７は
２つの入力を有しており、一方は行選択Ａ信号ま
た一方は共通群信号から供給されている。これ
らの両入力線に偽信号が発生するのは、前述のよ
うに行３に印刷すべき数が既に読取られているこ
とを意味している。NANDゲート８４７の入力上
のこれら両偽信号は標準単位値計数器１１２の単
位デイジツトから入力NANDゲート８３０〜８３
３の禁止を解く。この数の対応する単位デイジツ
トからの真及び偽信号は、コンパレータ入力
NANDゲート７５３〜７５７の入力に接続されて
いる出力線８４８〜８５２に転送される。

同様に共通群及び行選択信号ＢはNANDゲー
ト８５３に印加される。NANDゲート８５３の出
力は反転回路８５４によつて反転され、パーセン
テージ濃度計数器１１２の10のデイジツトの数を
表わす真及び偽信号を受けているNANDゲート８
３４〜８３７の禁止を解くのに用いられる。これ
らのNANDゲートの出力も共通出力線８４８〜８
５２に印加される。パーセンテージ濃度計数器１
１２からの100のデイジツト入力は、共通群及
びＢ行選択信号が発生するまで反転回路８５５及
びNANDゲート８５６からの信号によつて禁止さ
れている。パーセンテージ濃度計数器１１２の最
終デイジツトは、共通群及びＢ行選択信号が発
生するまで反転回路８５７及びNANDゲート８５
８からの出力信号によつて禁止されている。３つ
のNANDゲート８３５，８５６及び８５８は後述
の小数点位置ぎめ論理回路からの入力も受けてい
る。

パーセンテージ濃度計数器のデイジツトがプリ
ンタ論理回路に印加されるのと同じようにして行
９及び１０に印刷される。患者識別番号は４つの
NANDゲートからなる２つの群８６０及び８６１
に印加される。これらの各NANDゲート群８６０
及び８６１は２進数の４から８までの重要度を負
つている４つの入力を有している。単位デイジツ
トNANDゲート８６０は制御NANDゲート８６３
の出力を反転する反転回路８６２から入力を受け
ている。このNANDゲート８６３の入力は共通群
出力線及び行選択Ｄ信号出力線である。このデ
イジツト８６０に組合わされているNANDゲート
はこれらの両信号が発生するまで禁止されてい
る。

同じように第２のNANDゲート群８６１もＣ行
選択信号と共通群信号が同時にに発生するまで
反転回路８６２及びNANDゲート８６３によつて
禁止されている。

行１２及びび１３に印刷される試験識別番号か
らのコンパレータ入力も４つのNANDゲートから
なる２つの群８６６及び８６７によつて与えられ
る。これらの群はプログラム・カード読取器から
の試験識別番号からそれらの数値入力を受け、ま
た反転回路８６８及びNANDゲート８６９から禁
止入力を受けている。行１２に対応するNANDゲ
ート群８６６は共通群及び共通選択Ｄ信号が発
生するまで禁止されており、行１３に対応する
NANDゲート群８６７は行選択Ｅ信号が共通群
と共に発生するまで禁止されている。

共通群番号，及びはそれぞれ主ドラムの
１回転毎に与えられる。主ドラムの各回転中副ド
ラムの表面上の磁気円板はそれらの検出器の近く
を16回通過するから、窓番号選択計数器７５２は
主ドラムが１回転する間に０から15までを計数す
る。副ドラム上の磁気円板対の中の第２の円板の
検出からドラムの次の回転で第１の円板が現われ
るまでの時間間隔は窓時間を限定する。これと同
時に5KHzの周波数でクロツクされている計数器
７９２から行選択走査回路信号Ａ〜Ｇが発生す
る。これによつて各窓時間中に各行走査信号Ａ〜
Ｇは約５回繰返されるようになる。

特定の窓の番号即ち０〜15は主ドラム上の文字
に対応する。第１窓時間には文字０だけが印刷さ
れ第２窓時間には文字１だけが印刷され、第３窓
時間には文字２が印刷される等々となる。窓番号
選択計数器７５２に関連して説明したように、こ
の計数器は第１窓時間中０に保たれている。第１
窓時間が終るとこの計数器７５２はその制御Ｊ―
Ｋフリツプフロツプの出力の揺動によつてクロツ
クされその計数を１だけ増す。そこで窓番号計数
器７５２の出力は第２窓時間中は１であり、これ
はその時間中に印刷される文字「１」と同じであ
る。窓番号計数器７５２の出力は常にその時点に
主ドラムによつて印刷される文字である。第１窓
時間中ＡからＧまでの行選択信号が掃引される
と、これが主ドラムの１回目の回転であるとすれ
ば共通群信号は偽であるので、標準単位値計数
器１１２の10のデイジツトはＤ信号が発生した時
にコンバレータ入力線８４８〜８５２に印加さ
れ、Ｅ信号が発生すると患者識別番号の第２のデ
イジツトがコンパレータ線８４８〜８５２に印加
される。これは第１の窓であるから窓番号選択計
数器７５２の出力は０である。

コンパレータ入力線８４８〜８５２のオン時間
中これらの線の３つの情報デイジツトの何れかに
よつて信号が供給されることは、これらのデイジ
ツトの１つ或はそれ以上が「０」を受けることを
意味している。その結果生ずるコンパレータ
NANDゲート７３１〜７４０の１つの出力上の真
信号は蓄積区分内のNANDゲート８７０〜８７６
の全部を可能化する。これらの線蓄積NANDゲー
ト８７０〜８７６の他の入力はそれぞれＧからＡ
までの行走査信号である。これらのNANDゲート
の可能化（これは行走査信号Ａ〜Ｇの１つの間に
０が読取られることによつて生じる）によつてそ
の特走行信号Ａ〜Ｇを入力としているNANDゲー
ト８７０〜８７６に偽出力が発生する。この偽信
号は線蓄積フリツプフロツプ７４４〜７５０の中
の関連するフリツプフロツプをセツトする。これ
らのフリツプフロツプの出力はそれぞれトランジ
スタ増巾器８７７〜８８３に印加される。これら
の線蓄積フリツプフロツプ７４４〜７５０の何れ
かが、文字と主ドラムの特定位置との間の一致の
検出によつてセツトされると対応トランジスタ増
巾器８７７〜８８３が付活されてプリンタ機構内
のプリンタ・ハンマのニイルの一端を接地する。
これらのコイルの他の側には、共通群信号〜
によつてそれぞれ導通させられている他のトラン
ジスタ増巾器８８４〜８８６から電圧が既に印加
されている。従つて任意の時刻には１つのプリン
タ・ハンマだけが付活される。

副ドラムは１回転する毎に窓番号計数器制御フ
リツプフロツプ７２５をトリガして窓番号計数を
１つづつ進める。窓番号に一致する文字が試験識
別番号、患者識別番号或は試験結果から入力線の
何れかに提示されれば、その文字を正しい行に印
刷するように行走査信号は各窓時間中５回掃引さ
れる。始めの16窓の終りは共通群番号〜を制
御するリサイクリツク２進計数器７７９によつて
了承される。次でこの計数器７７９はその対応制
御Ｊ―Ｋフリツプフロツプ７６４をクロツクして
共通群信号を作る。装置は再び16窓時間に入
り、その間に共通群に組合わさている全入力が
各文字毎に検査される。これらもまた線蓄積フリ
ツプフフロツプ７４４〜７５０の制御の下に印刷
される。

行３乃至６の試験結果に小数点をつけるのは何
れかの行４、５或は６内の数の印刷後に行なわれ
る。小数点は主ドラムの第11列に担持されている
ので、窓選択計数器が計数１１に達するとコンパ
レータ入力線８４８〜８５２がその数毎に検査さ
れる。小数点附与はカード読取器内のプログラ
ム・カードによつて選択される。カード読取器は
行４，５及び６にそれぞれ対応する３本の小数点
出力線８８８，８８９及び８９０を有している。
これらはプリンタ論理回路への入力線８８８〜８
９０となつている。それらの信号は反転回路８９
１〜８９３で反転されてから３つの制御用NAND
ゲート８９４〜８９６に印加される。これらのゲ
ート８９４〜８９６は、行選択Ｄ信号中に共通群
，及びが現われることによつて順次にゲー
トされる。数字の場合同様にこれらのNANDゲー
ト８９４〜８９６の出力はのNANDゲート８９７
を経て一連の５つのNANDゲート８９８〜９０２
に印加される。これらのNANDゲート８９８〜９
０２は先行のNANDゲート８９７から信号を受け
ると自動的にコンパレータ８４８〜８５２上に数
１１に等しい信号を印加する。

行４、５或は６に小数点をつける場合実際には
その行が数も有しているのでその行内にずらせて
２度打ちをする。行４、５及び６内に印刷される
試験結果に関連している３つのNANDゲート８５
３〜８５８は窓番号計数器７５２の最後のデイジ
ツトからの入力線９０３によつて禁止されてい
る。この線は窓番号計数器７５２が16を計数する
と真になる。計数器７５２の最後のデイジツトの
他の出力線９０４はこの時偽になる。この出力線
９０４が、計数が16に達するまで３つの小数点
NANDゲート８９４〜８９６を禁止しておくのに
用いられる。

本発明の方法によりしよう液検体を迅速に次々
に分析することが可能となる。

本発明は他の光・光学的検査装置と共に使用可
能な計算装置及び方法を提供する。説明した実施
例には多くの変更が考えられるがこれらは広い意
味で本発明の範囲内にあるものと理解されたい。
例えば出力手段はデイジタル・デイスプレイであ
つてよいが、これは上記のプリンタ論理回路の変
形によつて選択的に付勢することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明と共に用いることができる装置
の斜視図であり、第２図はフロー・セル往復動装
置を示す垂直断面図であり、第３図は本発明の
種々の部分の相互関係を示すブロツクダイアグラ
ムであり、第４図は前置増巾器及び電圧コンパレ
ータの回路図であり、第５図は高圧電源及びその
制御手段の回路図であり、第６図は積分回路及び
その制御用スイツチの回路図であり、第７図は追
尾／蓄積制御論理手段及びクロスオーバ・コンパ
レータ制御論理手段の回路図であり、第８図は分
光光度計制御論理手段の回路図であり、第９図は
分光光度計論理制御手段の一部の回路図であり、
第１０図は1MHzクロツク源及びその関連ゲート
及び制御手段の回路図であり、第１１ａ図及び第
１１ｂ図は光学的密度計数器、デイジタル・レー
ト乗算回路及び主計数器の回路図であり、第１２
図はブランク蓄積レジスタ及び９の補数回路の回
路図であり、第１３ａ図及び第１３ｂ図は計算計
数器及び９の補数回路、乗算・累積回路、パーセ
ンテージ濃度計数器、及び標準単位スイツチの回
路図であり、第１４図は乗除算選択論理手段の回
路図であり、第１５ａ図及び第１５ｂ図はプログ
ラマ制御論理回路の一部の回路図であり、第１６
図はプログラマ制御論理手段の別の部分の回路で
あり、第１７図はプログラマ制御論理手段の一部
の回路図であり、第１８図はプログラマ制御論理
手段の一部の回路図であり、第１９図乃至第２５
図はそれぞれプリンタ制御論理手段の一部の回路
図である。 ６６…光電子増倍管、６８…前置増巾器、７０
…分光光度計論理回路、７４…積分回路、８０…
高圧電源、８６…追尾及び蓄積回路、９０…クロ
スオーバ・コンパレータ、９４…1MHzクロツ
ク、９８…プログラマ、１０２…ブランク蓄積レ
ジスタ、１０４…主計数器、１０８…光学的密度
計数器、１１０…計算計数器、１１２…パーセン
ト濃度計数器、１１４、１２０…９の補数回路、
１１８…乗算回路・累積回路、１２４…デイジタ
ル・レート乗算回路、１２６…乗除算選択回路、
１２８…一致検出器、１３２…プリンタ論理回
路、１３４…プリンタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 物質の濃度により異なるしよう液の光学密度
   の値を表わす電気信号からしよう液中の物質の濃
   度を表わす数値を、基準溶液の測定により得られ
   る較正曲線と比較することにより得るようにした
   しよう液中の物質の濃度の自動測定方法におい
   て、 ブランク溶液を表わす光学密度の値を有する第
   １の電気信号を発生し、少なくとも１つの標準溶
   液を表わす光学密度の値を有する第２の電気信号
   を発生し、標準溶液中の物質の濃度の既知の数値
   に相当する第３の電気信号を発生蓄積し、第１と
   第２の電気信号の差をとり、この差で第３の電気
   信号を割り、しよう液中の物質の濃度を表わす光
   学密度の値とブランク溶液を表わす光学密度の値
   との差を有する第４の電気信号を発生し、割算の
   結果と第４の電気信号とを乗じてしよう液中の物
   質の濃度の数値を得ることを特徴としたしよう液
   中の物質の濃度の自動測定方法。