JPS61218906A - ねじの表面検査装置 - Google Patents
ねじの表面検査装置Info
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- JPS61218906A JPS61218906A JP6027685A JP6027685A JPS61218906A JP S61218906 A JPS61218906 A JP S61218906A JP 6027685 A JP6027685 A JP 6027685A JP 6027685 A JP6027685 A JP 6027685A JP S61218906 A JPS61218906 A JP S61218906A
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- Japan
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- light
- photoelectric element
- screw
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2425—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures of screw-threads
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 ”
この発明は、パイプ表面等に加工されたねじの表［ｆｕ
ｃ光を照射し、その反射光を利用してねじの表面を検査
する装置、特にパイプの偏芯回転に伴う反射光の位置変
化を追従するようにしたねじの表面検査装置に関するも
のである。
ｃ光を照射し、その反射光を利用してねじの表面を検査
する装置、特にパイプの偏芯回転に伴う反射光の位置変
化を追従するようにしたねじの表面検査装置に関するも
のである。
第６図はこの種の表面検査装置の基本光学系を示す構成
図、そして筒７図は第６図の基本光学系に反射光の位置
変化を検出するための機能を付加した従来のねじの表面
検査装置の構成図であり、これらは例えば、特願昭５９
−Ｊｔｏｒｏｚ号。
図、そして筒７図は第６図の基本光学系に反射光の位置
変化を検出するための機能を付加した従来のねじの表面
検査装置の構成図であり、これらは例えば、特願昭５９
−Ｊｔｏｒｏｚ号。
特願昭３９−２ｇｏｇｏ６号に示されている。第６図に
おいて、（１）は発光手段１例えばレーザー光発生器、
Ｃコ）は表面検査用の主光電素子、（Ｊ）はパイプ、（
Ｊａ）はパイプ（３）上のねじが切られたねじ面。
おいて、（１）は発光手段１例えばレーザー光発生器、
Ｃコ）は表面検査用の主光電素子、（Ｊ）はパイプ、（
Ｊａ）はパイプ（３）上のねじが切られたねじ面。
（り）は照射レーザー光、（３］は反射レーザー光であ
る。
る。
また、第７図において、（６）はねじ、（７）はねじ（
４）の通称ベベル面と云われるリード部分Ｃ以下、ベベ
ル面（７）とする） 、 （ｆ）はベベル反射レーザー
光、（？）は反射元位置検出器であり、その他の部分は
第６図と同じである。
４）の通称ベベル面と云われるリード部分Ｃ以下、ベベ
ル面（７）とする） 、 （ｆ）はベベル反射レーザー
光、（？）は反射元位置検出器であり、その他の部分は
第６図と同じである。
第１図において、パイプ（Ｊ）のねじ面（３ａ）の表面
検査は、このねじ面（ＪＩＬ）上の軸方向ｌＩＣ発光手
段（１）から照射レーザー光（４Ａ）を照射した時の反
射レーザー光（ｊ）を主光電素子（コ）で検知すること
により。
検査は、このねじ面（ＪＩＬ）上の軸方向ｌＩＣ発光手
段（１）から照射レーザー光（４Ａ）を照射した時の反
射レーザー光（ｊ）を主光電素子（コ）で検知すること
により。
実施される。この構成においては、パイプ（Ｊ）のねじ
面（３ａ）の全面の検査をするためにパイプ（３）を回
転させるわけであるが、パイプ（Ｊ）自身の曲り等の要
因によってパイプ（，７）は偏芯回転し１反射レーザー
光（３）が主光電素子Ｃコ）から外れることがある。
面（３ａ）の全面の検査をするためにパイプ（３）を回
転させるわけであるが、パイプ（Ｊ）自身の曲り等の要
因によってパイプ（，７）は偏芯回転し１反射レーザー
光（３）が主光電素子Ｃコ）から外れることがある。
第７図ではこのために、ねじ（４）の先端部のベベル面
（７）から反射するベベル反射レーザー光（ｆ）の位置
変化を１反射光位置検出器（テ）で検出することｋよっ
てねじ（６）の偏芯を検知し、これに従って主光電素子
（コ）を移動させて反射レーザー光（りの位置変化に追
従するようｋした。
（７）から反射するベベル反射レーザー光（ｆ）の位置
変化を１反射光位置検出器（テ）で検出することｋよっ
てねじ（６）の偏芯を検知し、これに従って主光電素子
（コ）を移動させて反射レーザー光（りの位置変化に追
従するようｋした。
従来のねじの表面検査装置は以上のように構成されてい
るが、ベベル面（り）はねじ面とは全く異なる仕上げが
されているため、表面状態がねじｒＭハと安定せず、場
合によってはベベル反射レーザー光（ｆ）は乱反射する
ことがあり、ねじ面からの反射レーザー光（３）の追従
が不可能となるという問題点があった。
るが、ベベル面（り）はねじ面とは全く異なる仕上げが
されているため、表面状態がねじｒＭハと安定せず、場
合によってはベベル反射レーザー光（ｆ）は乱反射する
ことがあり、ねじ面からの反射レーザー光（３）の追従
が不可能となるという問題点があった。
この発明は上記のような間聰点を解決するためｋなされ
たもので、表面検査性能に悪影響を与えることな（、確
実にねじ面からの反射光の位置変化を検出できる機能を
有する。ねじの表面検査装置を提供することを目的とし
ている。
たもので、表面検査性能に悪影響を与えることな（、確
実にねじ面からの反射光の位置変化を検出できる機能を
有する。ねじの表面検査装置を提供することを目的とし
ている。
この発明に係るねじの表面検査装置は、主光電素子の両
側に反射光の位置変化を検出するトラッキング用光電素
子を設け、さらに、これらのトラツキ、ング用光電素子
の出力信号の不平衡が所定値を越えないようｋ、主光電
素子およびトラッキング用光電素子からなる受光手段を
移動させる制御信号を発生する制御回路手段を設けたも
のである・〔作 用〕 この発明におい【は、反射光の位置変動検出は、反射光
の空間的な拡がり分布において、実際に主光電素子で検
出される光パターンの外ｍにも微弱な反射光分布が連続
していることから、この微弱な反射光を検知し【、その
変化から反射光の中心の位置変化を検出する。
側に反射光の位置変化を検出するトラッキング用光電素
子を設け、さらに、これらのトラツキ、ング用光電素子
の出力信号の不平衡が所定値を越えないようｋ、主光電
素子およびトラッキング用光電素子からなる受光手段を
移動させる制御信号を発生する制御回路手段を設けたも
のである・〔作 用〕 この発明におい【は、反射光の位置変動検出は、反射光
の空間的な拡がり分布において、実際に主光電素子で検
出される光パターンの外ｍにも微弱な反射光分布が連続
していることから、この微弱な反射光を検知し【、その
変化から反射光の中心の位置変化を検出する。
第１図は、この発明に係るねじの表面検査装置の一部す
なわち反射光を受ける受光手段の一実施例を示す構成図
であり、図中、（コ）は主光電素子。
なわち反射光を受ける受光手段の一実施例を示す構成図
であり、図中、（コ）は主光電素子。
（コＡ）およ・び（コＢ）はこの主光電素子（コ）の両
側に設けられたトラッキング用光電素子、そして（！）
は反射レーザー光を示す。なお、主光′ｆＩｔ素子（コ
１およびトラッキング用光電素子（コＡ）、（コＢ）は
受光手段を構成する。また、第２図は１表面検査装置の
他の一部すなわち第１因のトラッキング用光電素子（コ
Ａ）、（コＢ）の出力信号を受け、上述の受光手段を所
定の方向に移動させるための制量信号を発生する劃−回
路手段の一実施例を示す回路図である。第２図において
、（１０）、（／／）はそれぞれトラッキング用光電素
子、＜２ｈ）、（ユＢ）の出力信号を増幅する増幅器、
（ｉコ）は増幅器（ｔＯ）、Ｏ／’）の出力信号の差を
求める差動増幅器、（ｔＪ）はこの差動増幅器（／２）
ｆ）、出力信号、（ハ０は差動増幅器（／コ）の中力信
号（１ｔ Ｓ ）と正の所定値ΔＶとを比、較して、出
力信４ｊ （ｔ 、ｙ ）が所定値ΔＶを越えた時に制
−信号（／！？）を発生する比較器、（１４）は差動増
幅器（／コ）の出力信号（／３）と負の一ΔＶとを比較
して、中力信号（１３）が所定値−ΔＶを越えた時Ｋ
１１１Ｉａｌｌ信号（／り）を発生する比較器である。
側に設けられたトラッキング用光電素子、そして（！）
は反射レーザー光を示す。なお、主光′ｆＩｔ素子（コ
１およびトラッキング用光電素子（コＡ）、（コＢ）は
受光手段を構成する。また、第２図は１表面検査装置の
他の一部すなわち第１因のトラッキング用光電素子（コ
Ａ）、（コＢ）の出力信号を受け、上述の受光手段を所
定の方向に移動させるための制量信号を発生する劃−回
路手段の一実施例を示す回路図である。第２図において
、（１０）、（／／）はそれぞれトラッキング用光電素
子、＜２ｈ）、（ユＢ）の出力信号を増幅する増幅器、
（ｉコ）は増幅器（ｔＯ）、Ｏ／’）の出力信号の差を
求める差動増幅器、（ｔＪ）はこの差動増幅器（／２）
ｆ）、出力信号、（ハ０は差動増幅器（／コ）の中力信
号（１ｔ Ｓ ）と正の所定値ΔＶとを比、較して、出
力信４ｊ （ｔ 、ｙ ）が所定値ΔＶを越えた時に制
−信号（／！？）を発生する比較器、（１４）は差動増
幅器（／コ）の出力信号（／３）と負の一ΔＶとを比較
して、中力信号（１３）が所定値−ΔＶを越えた時Ｋ
１１１Ｉａｌｌ信号（／り）を発生する比較器である。
また、第３図およびｇａ図は反射レーザー光（＆）の位
置検出原理を示す図、そしてｓｒ図は第２図の回路中の
差動増幅器（／コ）の出力信号（１３）、および各比較
器（／す）、（ｔｂ）の制御信号（／り１ｍ（ｉ７）の
波形図である。
置検出原理を示す図、そしてｓｒ図は第２図の回路中の
差動増幅器（／コ）の出力信号（１３）、および各比較
器（／す）、（ｔｂ）の制御信号（／り１ｍ（ｉ７）の
波形図である。
第１図において、反射レーザー光（よ）は主光電素子（
２） Ｋ対し一方向に伸びる（ベルト状の）パターンと
なっている。第３図において、この時の反射レーザー光
（３）のＡ−Ａ′方向の強度分布を観測すると＠ダ図斜
線部に示すように主光電素子（コ）の幅りを越えて、微
弱光（５人）が分布している。反射レーｆ−光（＆）の
パターンが第３図のように一方向に伸びたパターンにな
ることは、光の回折現象としして対称となることが知ら
れている。従って、反射レーザー光（りのパターンの中
心が、主光電素子（コ）の幅ＬＩＣ対してその中心にあ
れば、ｗＸ４を図の両側の斜線部で示す微弱光（３Ａ）
の面積は等しくなり、従って、これらの部分の光強度は
等しくなる。
２） Ｋ対し一方向に伸びる（ベルト状の）パターンと
なっている。第３図において、この時の反射レーザー光
（３）のＡ−Ａ′方向の強度分布を観測すると＠ダ図斜
線部に示すように主光電素子（コ）の幅りを越えて、微
弱光（５人）が分布している。反射レーｆ−光（＆）の
パターンが第３図のように一方向に伸びたパターンにな
ることは、光の回折現象としして対称となることが知ら
れている。従って、反射レーザー光（りのパターンの中
心が、主光電素子（コ）の幅ＬＩＣ対してその中心にあ
れば、ｗＸ４を図の両側の斜線部で示す微弱光（３Ａ）
の面積は等しくなり、従って、これらの部分の光強度は
等しくなる。
また、反射レーザー光（３）が主光電素子（コ）の中心
から移動すれば、第ダ図の両側斜線部の面積に差が生じ
光強度が不平衡となる。第１図のトラッキング用光電素
子（コＡ）、（コＢ）は、第グ図の斜線部の光を各々受
光する位置すなわち主光電素子（コ）の両側に配置され
る。そして、上述した動作原理に基いて１反射レーザー
光（りの中心と主充電素子（コ）の中心とのズレを、こ
れらのトラッキング用光電素子（，２Ａ）、（コＢ）の
出力信号の不平衡から検出する。第１図は、第１図のト
ラッキング用光電素子（コＡ）、ｌＢ）の出力信号の変
化を検出して。
から移動すれば、第ダ図の両側斜線部の面積に差が生じ
光強度が不平衡となる。第１図のトラッキング用光電素
子（コＡ）、（コＢ）は、第グ図の斜線部の光を各々受
光する位置すなわち主光電素子（コ）の両側に配置され
る。そして、上述した動作原理に基いて１反射レーザー
光（りの中心と主充電素子（コ）の中心とのズレを、こ
れらのトラッキング用光電素子（，２Ａ）、（コＢ）の
出力信号の不平衡から検出する。第１図は、第１図のト
ラッキング用光電素子（コＡ）、ｌＢ）の出力信号の変
化を検出して。
主光電、素子Ｃコ）と反射レーザー光（３）の中心を合
せるための制御信号（１！ｒ＞ 、 （／７）を出力す
る開開回路手段を示したものであり、トラッキング用光
電素子（コＡ）の出力信号は増幅器（ｌＯ）で、またト
ラッキング用光電素子（コＢ）の出力信号は増幅器（ｌ
／）で各々増幅された後に差動増幅器（ｌコ）Ｋ入力さ
れる。この時の差動増幅器（ｌコ）の出力信号（１３）
を例示したのが第５図の（ｔＪ’）で、ねじ或いはパイ
プの偏芯回転忙伴う反射レーザー光（＆）の位置変化に
より、正負ＶｃＷ化する。この時の出力信号（１３）の
振幅の絶縁対置と反射レーザー光（，１）の位置変動と
は相関関係が明らかであり、従って出力信号（／Ｊ）の
振幅が所定値−ＭＳＶを越えれば、主光電素子（コ）お
よびトラッキング用光電素子（コＡ）。
せるための制御信号（１！ｒ＞ 、 （／７）を出力す
る開開回路手段を示したものであり、トラッキング用光
電素子（コＡ）の出力信号は増幅器（ｌＯ）で、またト
ラッキング用光電素子（コＢ）の出力信号は増幅器（ｌ
／）で各々増幅された後に差動増幅器（ｌコ）Ｋ入力さ
れる。この時の差動増幅器（ｌコ）の出力信号（１３）
を例示したのが第５図の（ｔＪ’）で、ねじ或いはパイ
プの偏芯回転忙伴う反射レーザー光（＆）の位置変化に
より、正負ＶｃＷ化する。この時の出力信号（１３）の
振幅の絶縁対置と反射レーザー光（，１）の位置変動と
は相関関係が明らかであり、従って出力信号（／Ｊ）の
振幅が所定値−ＭＳＶを越えれば、主光電素子（コ）お
よびトラッキング用光電素子（コＡ）。
（コＢ）からなる受光手段を所定の方向、すなわち出力
信号（１３）が減少する方向に移動させれば、反射レー
ザー光（りは常に主光電素子（コ）の中に存在すること
になる。ｇコ図の制−回路手段におい【は、比較器（ハ
ｔ）Ａｌ１）で出力信号（／、７）ＶＣ対し各々所定値
＋ΔＶ、−ΔＶを設定し、出力信号（／Ｊ）がその所定
値＋ΔＶ、−ΔＶを越えれば、制御信号（ｔｒ）、（ｔ
ｒ’）を発生する。この時、制御信号（ｔｓ）、（ｔｔ
）のどちらが出てくるかによって、反射レーザー光（５
）が主光電素子（コ）の中心からどちら側に片寄ってい
るかを判断することができ、従って制御信号（／りＡ／
７）ＩＩＣよって、主光電素子（コ）およびトラッキン
グ用光電素子（２ｋ）、（２Ｂ’）を移動させるアクチ
ュエータ（図示せず）の移動方向が決定される。また、
トラッキング用光電素子（コＡ）、（コＢ）が利用する
反射光は、主光電素子（コ）では利用されていない微弱
光（ｓＡ）であり、本来の表面検査のための信号に影響
を与えることはない。これは実験的にも、各種ねじ或い
はねじの切られたパイプにおいて、／ ！ｒ ｍ Ｐ−
Ｐの強制偏芯に対し【、主光電素子（コ）の偏芯に伴う
出力変化は、わずか１％以下であることがわかっており
、この発明による装置が安定してパイプの偏芯に対応で
きることがわかる。
信号（１３）が減少する方向に移動させれば、反射レー
ザー光（りは常に主光電素子（コ）の中に存在すること
になる。ｇコ図の制−回路手段におい【は、比較器（ハ
ｔ）Ａｌ１）で出力信号（／、７）ＶＣ対し各々所定値
＋ΔＶ、−ΔＶを設定し、出力信号（／Ｊ）がその所定
値＋ΔＶ、−ΔＶを越えれば、制御信号（ｔｒ）、（ｔ
ｒ’）を発生する。この時、制御信号（ｔｓ）、（ｔｔ
）のどちらが出てくるかによって、反射レーザー光（５
）が主光電素子（コ）の中心からどちら側に片寄ってい
るかを判断することができ、従って制御信号（／りＡ／
７）ＩＩＣよって、主光電素子（コ）およびトラッキン
グ用光電素子（２ｋ）、（２Ｂ’）を移動させるアクチ
ュエータ（図示せず）の移動方向が決定される。また、
トラッキング用光電素子（コＡ）、（コＢ）が利用する
反射光は、主光電素子（コ）では利用されていない微弱
光（ｓＡ）であり、本来の表面検査のための信号に影響
を与えることはない。これは実験的にも、各種ねじ或い
はねじの切られたパイプにおいて、／ ！ｒ ｍ Ｐ−
Ｐの強制偏芯に対し【、主光電素子（コ）の偏芯に伴う
出力変化は、わずか１％以下であることがわかっており
、この発明による装置が安定してパイプの偏芯に対応で
きることがわかる。
なお、第１図の回路は、あくまでも−実施列であり、開
園回路手段は、トラッキング用光電素子（コＡ）、（コ
Ｂ）の出力信号の不平衡、すなわち差が所定値を越えな
いように、受光手段を移動させるための制御信号を発生
する回路であればよい。
園回路手段は、トラッキング用光電素子（コＡ）、（コ
Ｂ）の出力信号の不平衡、すなわち差が所定値を越えな
いように、受光手段を移動させるための制御信号を発生
する回路であればよい。
また、使用される光は、レーザー光に限られるものでは
ない。
ない。
以上のように、この発明によれば例えばレーザ等の光を
照射した時の反射光のパターンが対称形であり、しかも
微弱光にまで注目すれば表面検査用の主光電素子をはみ
出して広く分布していることを利用して、表面検査用の
主光電素子の両側に微弱光を検出するトラッキング用光
電素子を設け、かつ、これらのトラッキング用光電素子
の出力信号の不平衡を検出し、主光電素子およびトラッ
キング用光電素子からなる受光手段の位置を開開する制
菌信号を発生する側脚回路手段を設けたことＫより、表
面検査性能忙影響を与えることなく、ねじ或いはパイプ
の偏芯に無関係に検査ができるという効果が得られる。
照射した時の反射光のパターンが対称形であり、しかも
微弱光にまで注目すれば表面検査用の主光電素子をはみ
出して広く分布していることを利用して、表面検査用の
主光電素子の両側に微弱光を検出するトラッキング用光
電素子を設け、かつ、これらのトラッキング用光電素子
の出力信号の不平衡を検出し、主光電素子およびトラッ
キング用光電素子からなる受光手段の位置を開開する制
菌信号を発生する側脚回路手段を設けたことＫより、表
面検査性能忙影響を与えることなく、ねじ或いはパイプ
の偏芯に無関係に検査ができるという効果が得られる。
９７図はこの発明のねじの表面検査装置の受光手段の一
実施例を示す構成図、第２図はこの発明のねじの表面検
査装置の制（資）回路手段の一実施例を示す回路図、９
．７図および第９図はこの発明のねじの表面検査装置の
動作原理を説明するための図、第３図は９５２図の回路
中の各部の出力の波形図、ｔＪＸ６図および！７図は従
来のこの種のねじの表面検査装置の構成図である。 図において、（２）は主光［素子、（２Ａ）および（コ
Ｂ）はトラッキング用光電素子、（りは反射レーザー光
、（３Ａ）は微弱光、（１０）および（／／）は増幅器
、（ｌコ）は差動増幅器、（ｔＪ）は差動増幅器の出力
信号、（ｔ４Ｉ）および（１６）は比較器、（ｌりおよ
び（ｌり）は比較器の開開信号である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
実施例を示す構成図、第２図はこの発明のねじの表面検
査装置の制（資）回路手段の一実施例を示す回路図、９
．７図および第９図はこの発明のねじの表面検査装置の
動作原理を説明するための図、第３図は９５２図の回路
中の各部の出力の波形図、ｔＪＸ６図および！７図は従
来のこの種のねじの表面検査装置の構成図である。 図において、（２）は主光［素子、（２Ａ）および（コ
Ｂ）はトラッキング用光電素子、（りは反射レーザー光
、（３Ａ）は微弱光、（１０）および（／／）は増幅器
、（ｌコ）は差動増幅器、（ｔＪ）は差動増幅器の出力
信号、（ｔ４Ｉ）および（１６）は比較器、（ｌりおよ
び（ｌり）は比較器の開開信号である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (3)
- （１）光をねじの表面に照射する発光手段と、この発光
手段によつて照射された光の上記ねじ表面からの反射光
を受光する主光電素子およびこの主光電素子の両側にそ
れぞれ配置されて上記主光電素子を越えて分布する上記
反射光の１部を受光するトラッキング用光電素子からな
る受光手段と、上記トラッキング用光電素子の出力信号
の不平衡が所定値を越えないように上記受光手段を移動
させる制御信号を発生する制御回路手段とを備え、上記
主光電素子の出力信号に従つて表面検査が行われること
を特徴とするねじの表面検査装置。 - （２）ねじ表面に照射する光がレーザー光であり、発光
手段がレーザー光発生器であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載のねじの表面検査装置。 - （３）制御回路手段が、各トラッキング用光電素子の出
力信号をそれぞれ増幅する増幅器と、これらの増幅器の
出力信号の差を求める差動増幅器と、この差動増幅器の
出力信号とそれぞれ正、負の所定値とを比較した結果に
従つて制御信号を出力する比較器とを含む特許請求の範
囲第１項または第２項記載のねじの表面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027685A JPS61218906A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | ねじの表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027685A JPS61218906A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | ねじの表面検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61218906A true JPS61218906A (ja) | 1986-09-29 |
| JPH0414726B2 JPH0414726B2 (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=13137454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6027685A Granted JPS61218906A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | ねじの表面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61218906A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010523988A (ja) * | 2007-04-12 | 2010-07-15 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 雄ねじを光学計測するための方法および装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54150163A (en) * | 1978-05-17 | 1979-11-26 | Nippon Kokan Tsugite Kk | Automatic tester for screw member |
| JPS57165705A (en) * | 1981-04-06 | 1982-10-12 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Tester for screw member |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP6027685A patent/JPS61218906A/ja active Granted
Patent Citations (2)
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| JPS54150163A (en) * | 1978-05-17 | 1979-11-26 | Nippon Kokan Tsugite Kk | Automatic tester for screw member |
| JPS57165705A (en) * | 1981-04-06 | 1982-10-12 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Tester for screw member |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010523988A (ja) * | 2007-04-12 | 2010-07-15 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 雄ねじを光学計測するための方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0414726B2 (ja) | 1992-03-13 |
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