JPS61214308A - 電圧センサ内蔵碍子 - Google Patents
電圧センサ内蔵碍子Info
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- JPS61214308A JPS61214308A JP60056423A JP5642385A JPS61214308A JP S61214308 A JPS61214308 A JP S61214308A JP 60056423 A JP60056423 A JP 60056423A JP 5642385 A JP5642385 A JP 5642385A JP S61214308 A JPS61214308 A JP S61214308A
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- optical
- electro
- conductor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的
(産業上の利用分野)
この発明は送電線又は配電線などを支持するとともに、
光による電界測定手段を有する電圧センサ内蔵碍子に関
する。
光による電界測定手段を有する電圧センサ内蔵碍子に関
する。
(従来の技術)
従来、送電線又は配電線では、変電所において、線路に
変成器を設けて事故電圧を検出し、継電器を作動させ、
遮断器をトリップさせて線路を保護していた。
変成器を設けて事故電圧を検出し、継電器を作動させ、
遮断器をトリップさせて線路を保護していた。
ところで、これまでに線路の電圧の検出に用いられてき
た装置は、導体を支持する碍子とは別体のものであり、
測定精度が充分でないばかりか、大型で測定場所への取
付作業も複雑で、その設置によって線路の美観を損ねる
ことが少なくながうた。このため、電圧の検出可能な電
圧検出装置内蔵型の碍子として、特開昭54−1343
95号公報に開示された碍子が提案された。
た装置は、導体を支持する碍子とは別体のものであり、
測定精度が充分でないばかりか、大型で測定場所への取
付作業も複雑で、その設置によって線路の美観を損ねる
ことが少なくながうた。このため、電圧の検出可能な電
圧検出装置内蔵型の碍子として、特開昭54−1343
95号公報に開示された碍子が提案された。
この碍子は第5図に示すように、磁器よりなる碍子本体
41の内部に空洞部42を設けるとともに、同碍子本体
41頂部に前記空洞部42と連通ずる孔43を設け、そ
の孔43にはチタン酸バリウムなどを主成分とするセラ
ミックス体44が嵌合固着されていた。更に、前記セラ
ミックス体44上端には、導体45を支持するための導
体支持部46を設けた電極47が一体に設けられるとと
もに、下端部には電極48が一体に設けられ、同電極4
8には碍子外部に導出したリード線49が接続されてお
り、又、碍子本体41の下方にはベース金具50がセメ
ントで一体に嵌着されていた。
41の内部に空洞部42を設けるとともに、同碍子本体
41頂部に前記空洞部42と連通ずる孔43を設け、そ
の孔43にはチタン酸バリウムなどを主成分とするセラ
ミックス体44が嵌合固着されていた。更に、前記セラ
ミックス体44上端には、導体45を支持するための導
体支持部46を設けた電極47が一体に設けられるとと
もに、下端部には電極48が一体に設けられ、同電極4
8には碍子外部に導出したリード線49が接続されてお
り、又、碍子本体41の下方にはベース金具50がセメ
ントで一体に嵌着されていた。
これによって、碍子本体41は線路の導体45を大地か
ら絶縁支持するとともに、電極47と電極48の間には
セラミックス体44が介在されているので、前記電極4
7.48は極板として、セラミックス体44は誘電率の
高い誘電体として作用し、静電容量の大きいセラミック
スコンデンサが形成される。したがって、電極48に接
続されたリード線49を測定器に接続させることより、
碍子本体41外周表面の汚損の影響をほとんど受けず、
線路電圧が容易に検出されていた。
ら絶縁支持するとともに、電極47と電極48の間には
セラミックス体44が介在されているので、前記電極4
7.48は極板として、セラミックス体44は誘電率の
高い誘電体として作用し、静電容量の大きいセラミック
スコンデンサが形成される。したがって、電極48に接
続されたリード線49を測定器に接続させることより、
碍子本体41外周表面の汚損の影響をほとんど受けず、
線路電圧が容易に検出されていた。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、前述した碍子は、碍子内部のリード線49が
外部からの電磁誘導を受けるので、SN比が低下すると
言う欠点があった。特に、近年は送電線や配電線の信頼
性を更に向上させために、瞬時地絡や間欠地絡等、これ
まで検出困難であった事故の検出も必要となりつつある
ので、線路電圧の精度の高い測定が望まれている。
外部からの電磁誘導を受けるので、SN比が低下すると
言う欠点があった。特に、近年は送電線や配電線の信頼
性を更に向上させために、瞬時地絡や間欠地絡等、これ
まで検出困難であった事故の検出も必要となりつつある
ので、線路電圧の精度の高い測定が望まれている。
この発明は導体支持碍子の内部に電圧センサを内蔵して
、構造が簡単でコンパクト、かつ信号検出が容易なばか
りでなく、碍子本来の絶縁性を損なうことなく、しかも
SN比や測定精度の高い電圧センサ内蔵碍子の提供を目
的としている。
、構造が簡単でコンパクト、かつ信号検出が容易なばか
りでなく、碍子本来の絶縁性を損なうことなく、しかも
SN比や測定精度の高い電圧センサ内蔵碍子の提供を目
的としている。
発明の構成
(問題点を解決するための手段)
第1発明は前記問題点を解決するために、導体7を支持
する碍子において、碍子本体lの課電側端から接地側端
へ貫通する空洞部13を設ける。
する碍子において、碍子本体lの課電側端から接地側端
へ貫通する空洞部13を設ける。
又、前記空洞部13の課電側端開口から課電側電極14
を嵌合するとともに、同電極14の接地側端面14aに
は導体7の電圧に応じて光を変調するための、例えば、
ポッケルス素子16などの電気光学素子を当接する。更
に、電気光学素子の接地側端には、光パワーを外部から
導入し、同素子を通過する間に電界強度に応じて変調さ
れた光を外部へ導出するための一対の光ファイバ17a
。
を嵌合するとともに、同電極14の接地側端面14aに
は導体7の電圧に応じて光を変調するための、例えば、
ポッケルス素子16などの電気光学素子を当接する。更
に、電気光学素子の接地側端には、光パワーを外部から
導入し、同素子を通過する間に電界強度に応じて変調さ
れた光を外部へ導出するための一対の光ファイバ17a
。
17bを接続するという構成を採用している。
次に、第2発明は同じく前記問題点を解決するために、
導体7を支持する碍子本体21の課電側端から接地側端
へ貫通する空洞部13を設ける。
導体7を支持する碍子本体21の課電側端から接地側端
へ貫通する空洞部13を設ける。
又、前記空洞部13には課電側電極及び接地側電極の間
を接続するとともに、前記導体7の電圧に応じて光を変
調するための、例えば、ポッケルス素子24などの電気
光学素子を介装する。更に、電気光学素子の接地側端に
は、光パワーを外部から導入し、同棄子を通過する間に
電圧強度に応じて変調された光を外部へ導出するための
一対の光ファイバ26a、26bを一体又は別体に接続
するという構成を採用している。
を接続するとともに、前記導体7の電圧に応じて光を変
調するための、例えば、ポッケルス素子24などの電気
光学素子を介装する。更に、電気光学素子の接地側端に
は、光パワーを外部から導入し、同棄子を通過する間に
電圧強度に応じて変調された光を外部へ導出するための
一対の光ファイバ26a、26bを一体又は別体に接続
するという構成を採用している。
(作用)
この発明は前記構成を採用したことにより、次のように
作用する。
作用する。
第1発明は、碍子に支持れた導体にかかる電圧が課電側
電極に印加され、これと同時に同電極近傍に生じる電界
が電気光学素子に印加される。このとき、碍子外部の発
光ダイオードなどの光源から出射された光パワーが入射
光用光ファイバを通じて、前記電気光学素子に導かれ、
開光は電気光学素子を通過する間に前記電界、つまり線
路電圧に応じて強度変調される。
電極に印加され、これと同時に同電極近傍に生じる電界
が電気光学素子に印加される。このとき、碍子外部の発
光ダイオードなどの光源から出射された光パワーが入射
光用光ファイバを通じて、前記電気光学素子に導かれ、
開光は電気光学素子を通過する間に前記電界、つまり線
路電圧に応じて強度変調される。
更に、この強度変調された光信号は、出射光用光ファイ
バを通じて碍子外部に伝送され、受光素子に導かれて電
気信号となり、線路電圧が測定される。
バを通じて碍子外部に伝送され、受光素子に導かれて電
気信号となり、線路電圧が測定される。
第2発明は、碍子に支持された導体にかかる電圧が、課
電側電極及び接地側電極の間に介装された電気光学素子
に印加される。このとき、碍子外部の発光ダイオードな
どの光源から出射された光が、入射光用光ファイバを通
じて前記電気光学素子へ導かれる。ここで、開先は電気
光学素子の接地側端から入射し、課電側端で反射して再
び接地側端へ回帰し、偏光要素を介した後線路電圧に応
じて強度変調される。
電側電極及び接地側電極の間に介装された電気光学素子
に印加される。このとき、碍子外部の発光ダイオードな
どの光源から出射された光が、入射光用光ファイバを通
じて前記電気光学素子へ導かれる。ここで、開先は電気
光学素子の接地側端から入射し、課電側端で反射して再
び接地側端へ回帰し、偏光要素を介した後線路電圧に応
じて強度変調される。
更に、前記強度変調された光信号は、出射光用光ファイ
バを通じて碍子外部に伝送され、受光素子に導かれて電
気信号となり、線路の電圧が測定される。
バを通じて碍子外部に伝送され、受光素子に導かれて電
気信号となり、線路の電圧が測定される。
(実施例)
以下、第1発明を具体化した実施例を第1図に従って説
明する。
明する。
図面中1は磁器よりなるクランプトップラインポスト型
の碍子本体であって、上下端部外周にはフランジ金具2
.3がセメントで接着され、同フランジ金具2,3には
端子板4.5がそれぞれボルトで締付されている。6は
前記端子板4上端の凹状a4aに埋め込まれた導電性の
軟質金属よりなる座金であって1.その上部には導体7
が設置されている。8は前記導体7を把持するためのク
ランプ金具であって、端子板4上部の図示しないねじ穴
に螺合され、ナツト9で締付られたボルト10に係合さ
れ、ナツト11によって締付固定されている。12は碍
子1頭部を被覆する絶縁カバーである。
の碍子本体であって、上下端部外周にはフランジ金具2
.3がセメントで接着され、同フランジ金具2,3には
端子板4.5がそれぞれボルトで締付されている。6は
前記端子板4上端の凹状a4aに埋め込まれた導電性の
軟質金属よりなる座金であって1.その上部には導体7
が設置されている。8は前記導体7を把持するためのク
ランプ金具であって、端子板4上部の図示しないねじ穴
に螺合され、ナツト9で締付られたボルト10に係合さ
れ、ナツト11によって締付固定されている。12は碍
子1頭部を被覆する絶縁カバーである。
13は碍子本体1の上下端部を貫通して設けられた空洞
部であって、その上部には有底円筒状の課電側電極14
が嵌合され、同電極14の接地側端面14aがフランジ
金具2下端より下方に位置するようにしている。前記課
電側電極14は、基端フランジ14bが碍子1の上端面
と端子板4との間に挟持固定され、かつ、端子板4に電
気的に接続され、同電極14の内側にはゴム又はレジン
などの充填物15が詰められている。16は前記課電側
電極14の接地側端面14aに接着された電気光学素子
としてのポッケルス素子であって、下端には高絶縁性と
無誘導性とを有する入射光用及び出射光用の一対の光フ
ァイバ17a、17bが接続されている。又、前記光フ
ァイバ17a。
部であって、その上部には有底円筒状の課電側電極14
が嵌合され、同電極14の接地側端面14aがフランジ
金具2下端より下方に位置するようにしている。前記課
電側電極14は、基端フランジ14bが碍子1の上端面
と端子板4との間に挟持固定され、かつ、端子板4に電
気的に接続され、同電極14の内側にはゴム又はレジン
などの充填物15が詰められている。16は前記課電側
電極14の接地側端面14aに接着された電気光学素子
としてのポッケルス素子であって、下端には高絶縁性と
無誘導性とを有する入射光用及び出射光用の一対の光フ
ァイバ17a、17bが接続されている。又、前記光フ
ァイバ17a。
17bの他端は、光コネクタ18に接続され、同コネク
タ18は端子板5に嵌合固定されている。
タ18は端子板5に嵌合固定されている。
なお、19は空洞部13内部に詰められた、レジン、コ
ンパウンドあるいは絶縁油、SF、ガスなどの絶縁物で
ある。
ンパウンドあるいは絶縁油、SF、ガスなどの絶縁物で
ある。
次に、前記のように構成した電圧センサ内蔵碍子の作用
について説明する。
について説明する。
今、第1図に示す導体7に電圧が印加されると、同時に
座金6及び端子板4を介して課電側電極14に電圧が印
加され、課電側電極14の接地側端面14aに接着され
たポッケルス素子16内に電界が加わる。なお、課電側
電極14の端面14aが、フランジ金具2の端部よりも
下方に位置しているので、前記ポッケルス素子16中の
電界は同金具2の端部による遮蔽効果を受けず、弱めら
れることがないため、電界検出感度の低下はない。
座金6及び端子板4を介して課電側電極14に電圧が印
加され、課電側電極14の接地側端面14aに接着され
たポッケルス素子16内に電界が加わる。なお、課電側
電極14の端面14aが、フランジ金具2の端部よりも
下方に位置しているので、前記ポッケルス素子16中の
電界は同金具2の端部による遮蔽効果を受けず、弱めら
れることがないため、電界検出感度の低下はない。
これに次いで、碍子外部の図示しない光#I(例えば、
発光ダイオード)より光コネクタ18を介して入射光用
光ファイバ17aに光パワーが伝送され、更に、ポッケ
ルス素子16中を光が通過する間に、開光はポッケルス
効果により電界強度、すなわち、導体7の電圧に応じて
位相変調を受けて、ポッケルス素子16に付加された偏
光要素により強度変調される。更に、この被変調光は、
出射光用光ファイバ17bによって、外部からの電磁誘
導を受けることなく伝送され、光コネクタ18を介して
、碍子外部の図示しない受光器に導かれ、その後電気信
号となって電圧が測定される。
発光ダイオード)より光コネクタ18を介して入射光用
光ファイバ17aに光パワーが伝送され、更に、ポッケ
ルス素子16中を光が通過する間に、開光はポッケルス
効果により電界強度、すなわち、導体7の電圧に応じて
位相変調を受けて、ポッケルス素子16に付加された偏
光要素により強度変調される。更に、この被変調光は、
出射光用光ファイバ17bによって、外部からの電磁誘
導を受けることなく伝送され、光コネクタ18を介して
、碍子外部の図示しない受光器に導かれ、その後電気信
号となって電圧が測定される。
なお、この第1発明は次のように実施することもできる
。
。
第2図に示すように、空洞部13をポッケルス素子16
及び光ファイバ17a、17bが収容できる程度に可及
的に狭くすること。
及び光ファイバ17a、17bが収容できる程度に可及
的に狭くすること。
この別例では、空洞部13内の絶縁物19の使用量を少
なくし、碍子本体1の機械的強度を高めることができる
。
なくし、碍子本体1の機械的強度を高めることができる
。
次に、第2発明の構成について第3図に従って説明する
。なお、第1図に示す実施例と同一の機能を有する部材
については、同一の番号を附して説明を省略する。
。なお、第1図に示す実施例と同一の機能を有する部材
については、同一の番号を附して説明を省略する。
図面中21は磁器よりなるタイトツブ型のラインポスト
碍子本体、22は端子板4の下面中央に一体に形成した
課電側電極である。同電極22の端部には反射板23を
介して絶縁性の電気光学素子であるポッケルス素子24
が当接され、同素子24下端は偏光要素を介してベース
金具25に嵌合固定された光コネクタ18に接続されて
いる。
碍子本体、22は端子板4の下面中央に一体に形成した
課電側電極である。同電極22の端部には反射板23を
介して絶縁性の電気光学素子であるポッケルス素子24
が当接され、同素子24下端は偏光要素を介してベース
金具25に嵌合固定された光コネクタ18に接続されて
いる。
同コネクタ18には碍子外部から高絶縁性と無誘導性と
を有する入射光用及び出射光用の一対の光ファイバ26
a、26bが接続可能になっている。
を有する入射光用及び出射光用の一対の光ファイバ26
a、26bが接続可能になっている。
次に、前記のように構成された電圧センサ内蔵碍子の作
用について説明する。
用について説明する。
今、第3図に示す導体7に電圧が印加されると、同時に
座金6及び端子板4の課電側電極22を介して、同電極
22とベース金具25との間に介装された反射板23及
びポッケルス素子24に電圧が印加さる。このとき、ポ
ッケルス素子24に印加される電圧は、線路の対地電圧
、すなわち碍子に加わる全電圧である。このため、碍子
本体21の汚損により、同碍子21外表面に漏れ電流が
生じても、碍子21外表面及び内部の電界の乱れとは無
関係に線路電圧が検出される。従って、ポッケルス素子
24により線路の対地電圧の微弱な変化を精度よく検出
できる。
座金6及び端子板4の課電側電極22を介して、同電極
22とベース金具25との間に介装された反射板23及
びポッケルス素子24に電圧が印加さる。このとき、ポ
ッケルス素子24に印加される電圧は、線路の対地電圧
、すなわち碍子に加わる全電圧である。このため、碍子
本体21の汚損により、同碍子21外表面に漏れ電流が
生じても、碍子21外表面及び内部の電界の乱れとは無
関係に線路電圧が検出される。従って、ポッケルス素子
24により線路の対地電圧の微弱な変化を精度よく検出
できる。
これに次いで、碍子外部の図示しない光源(例えば、発
光ダイオード)より光パワーが入射光用光フアイバ26
a伝送され、光コネクタ18を介してポッケルス素子2
4に導入される。すると、開先は光コネクタ18上端か
ら同素子24内部を通り反射板23で反射され、再び素
子24内部を通って光コネクタ18上端に回帰する。こ
の間、前記光はポッケルス効果により、同素子24に印
加される電圧の変化に応じて位相変調され、偏光要素を
介して強度変調される。従って、その後光コネクタ18
より導出され、外部からの電磁誘導を受けることなく出
射光用光ファイバ26bを遣って、碍子外部の図示しな
い受光器に伝送された変調後の光信号は、電気信号とな
って電圧が測定される。
光ダイオード)より光パワーが入射光用光フアイバ26
a伝送され、光コネクタ18を介してポッケルス素子2
4に導入される。すると、開先は光コネクタ18上端か
ら同素子24内部を通り反射板23で反射され、再び素
子24内部を通って光コネクタ18上端に回帰する。こ
の間、前記光はポッケルス効果により、同素子24に印
加される電圧の変化に応じて位相変調され、偏光要素を
介して強度変調される。従って、その後光コネクタ18
より導出され、外部からの電磁誘導を受けることなく出
射光用光ファイバ26bを遣って、碍子外部の図示しな
い受光器に伝送された変調後の光信号は、電気信号とな
って電圧が測定される。
なお、第2発明は次のように実施することもできる。
第4図に示すように、複数のポッケルス素子27を光フ
ァイバ28とリード線で光学的及び電気的に接続して電
気光学素子とすること。
ァイバ28とリード線で光学的及び電気的に接続して電
気光学素子とすること。
この実施例は、高価な大型の素子を用いなくても機能が
低下することがないので経済的である。
低下することがないので経済的である。
なお、前記第1発明及び第2発明の実施例で用いられる
光ファイバ17a、17b、26a、26bは、光ファ
イバの単体の他に、光ファイバの単体をPvCシースな
どで被覆保護した光フアイバケーブルも含めたものであ
る。
光ファイバ17a、17b、26a、26bは、光ファ
イバの単体の他に、光ファイバの単体をPvCシースな
どで被覆保護した光フアイバケーブルも含めたものであ
る。
又、この第1発明及び第2発明の電圧センサ内蔵碍子は
、それぞれ導体7の支持として従来のように変電所など
の所要箇所に設置するだけでなく、電線路における各電
柱などに設置して電圧を測定し、その信号を伝送するよ
うにしておけば、各フィーダごとの地絡、短絡などの事
故などを集中監視することができる。又、電線路に股い
ては、携書式電圧測定器を用いることによって、光コネ
クタ18を介して適宜測定することもできる。
、それぞれ導体7の支持として従来のように変電所など
の所要箇所に設置するだけでなく、電線路における各電
柱などに設置して電圧を測定し、その信号を伝送するよ
うにしておけば、各フィーダごとの地絡、短絡などの事
故などを集中監視することができる。又、電線路に股い
ては、携書式電圧測定器を用いることによって、光コネ
クタ18を介して適宜測定することもできる。
発明の効果
以上詳述したように、第1発明は碍子本体に電気光学素
子及び光ファイバを内蔵したので、この発明の説明で省
略した碍子外部の発光素子及び受光素子などを含む測定
部と、碍子内部の電圧検出部とを効果的に絶縁強化でき
るとともに、碍子本体もセンサ内蔵のための大きなスペ
ースを必要とせず、構造が簡単かつコンパクトなぽかり
でなく、無誘導で精度の高い測定ができる。
子及び光ファイバを内蔵したので、この発明の説明で省
略した碍子外部の発光素子及び受光素子などを含む測定
部と、碍子内部の電圧検出部とを効果的に絶縁強化でき
るとともに、碍子本体もセンサ内蔵のための大きなスペ
ースを必要とせず、構造が簡単かつコンパクトなぽかり
でなく、無誘導で精度の高い測定ができる。
又、第2発明は前記第1発明の効果に加えて、構造が簡
単で、更に精度の高い測定が可能となる。
単で、更に精度の高い測定が可能となる。
第1図は第1発明の実施例を示す断面図、第2図は同じ
く第1発明の別例を示す断面図、第3図は第2発明の実
施例を示す断面図、第4図は同じく第2発明の別例を示
す断面図、第5図は従来例を示す断面図である。 1.21・・・碍子本体、7・・・導体、13・・・空
洞部、14.22・・・課電側電極、14 a−・一端
面、17a。 17b、26a、26b・・・光ファイバ。
く第1発明の別例を示す断面図、第3図は第2発明の実
施例を示す断面図、第4図は同じく第2発明の別例を示
す断面図、第5図は従来例を示す断面図である。 1.21・・・碍子本体、7・・・導体、13・・・空
洞部、14.22・・・課電側電極、14 a−・一端
面、17a。 17b、26a、26b・・・光ファイバ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導体(7)を支持する碍子において、碍子本体(1
)の導体支持側端から接地側端へ貫通する空洞部(13
)を設け、空洞部(13)の導体支持側端開口へ課電側
電極(14)を嵌合するとともに、課電側電極(14)
の接地側端面(14a)には前記導体(7)の電圧変化
を光の強度変化に変換するための電気光学素子を当接し
、同電気光学素子の接地側端には同素子へ光パワーを供
給し、前記素子により変調された光を外部へ導出するた
めの光ファイバ(17a、17b)を接続することを特
徴とする電圧センサ内蔵碍子。 2 課電側電極(14)は有底筒状で空洞部(13)の
内周面に嵌合された特許請求の範囲第1項に記載の電圧
センサ内蔵碍子。 3 課電側電極(14)はその先端接地側端面(14a
)がフランジ金具(2)端部よりも接地側寄りに位置し
た特許請求の範囲第1項に記載の電圧センサ内蔵碍子。 4 導体(7)を支持する碍子において、碍子本体(2
1)の導体支持側端から接地側端へ貫通する空洞部(1
3)を設け、同空洞部(13)には課電側電極と接地側
電極の間に、ほぼ全長にわたって前記導体(7)の電圧
変化を光の強度変化に変換するための電気光学素子を介
装し、同電気光学素子の接地側端には同素子へ光パワー
を供給し、前記素子に変調された光を外部へ導出するた
めの光ファイバ(26a、26b)を一体又は別体に接
続することを特徴とする電圧センサ内蔵碍子。 5 電気光学素子は課電側電極との接続部に光の反射板
(23)を投けた特許請求の範囲第5項に記載の電圧セ
ンサ内蔵碍子。 6 電気光学素子は接地側電極に設けた光コネクタ(1
8)に連結され、光ファイバ(26a、26b)と接続
される特許請求の範囲第5項に記載の電圧センサ内蔵碍
子。 7 電気光学素子は細長棒状の一体型または光ファイバ
(28)と交互に連結された分割型である特許請求の範
囲第5項に記載の電圧センサ内蔵碍子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60056423A JPS61214308A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 電圧センサ内蔵碍子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60056423A JPS61214308A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 電圧センサ内蔵碍子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61214308A true JPS61214308A (ja) | 1986-09-24 |
JPH0450685B2 JPH0450685B2 (ja) | 1992-08-17 |
Family
ID=13026687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60056423A Granted JPS61214308A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 電圧センサ内蔵碍子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61214308A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0494217U (ja) * | 1991-01-11 | 1992-08-17 | ||
EP1175623A1 (en) * | 1999-04-02 | 2002-01-30 | Lindsey Manufacturing Company | Insulator support current sensor |
JP2008070265A (ja) * | 2006-09-14 | 2008-03-27 | Toshiba Corp | 光vt装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54134395A (en) * | 1978-04-07 | 1979-10-18 | Ngk Insulators Ltd | Porcelain insulator |
JPS5557135A (en) * | 1978-10-24 | 1980-04-26 | Doujin Kagaku Kenkyusho:Kk | Light absoption intensity quantization method for dehydrogeneration enzyme using tetrasolium chloride and its compound |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP60056423A patent/JPS61214308A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6555999B1 (en) | 1999-04-02 | 2003-04-29 | Lindsey Manufacturing Company | Insulator support current sensor |
JP2008070265A (ja) * | 2006-09-14 | 2008-03-27 | Toshiba Corp | 光vt装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0450685B2 (ja) | 1992-08-17 |
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