JPS61214147A - 光デ−タ記録カ−ドのデ−タ読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は光学的にデータが記録されたカードからデータ
を光学的に読取るデータ読取装置に関する。

〔従来技術〕

情報を記録するためのカードとして、従来から磁気カー
ドが広く普及しているが、近年データ記録の高密度化を
図るために光データ記録カードが提案されている。これ
は磁気のかわりに光学的にデータを記録再生するもので
ある。光学的にデータを読取る場合、一般にラインセン
サ等の高速読取素子を用いることになる。即ら、光デー
タ記録カードのデータ記録部に光を照射し、ここからの
反射光をレンズ等の光学系でラインセンサ面に結像しデ
ータを読取る方式が用いられる。

第２図に従来提案されている一般的なデータ読取装置に
よる読取方式を示す。カード１は基板層１ａ、データ記
録ｍ’＋　ｂ、カバーシート層１ｃ。

保護膜１ｄから形成され、データはデータ記録層１ｂに
データビット２という形で記録される。カード１の上方
には読取ヘッド３が位置する。この読取ヘッド３は、カ
ード１に光ビームを照射するための光源と、カード１か
らの正反射光を受光するための受光装置とを有する。照
射ビームはデータ記録層１ｂ上に焦点調節され、ライン
センサ等からなる受光装置は正反射光からデータビット
２を読取ることができる。ラインセンサを用いれば素子
配列方向に対応したデータビットを数個あるいは数十個
同時に読取ることができる。

〔従来技術の問題点〕

カードは一般に持ち運びされるため、表面にきすや汚れ
がつきやすい。磁気カードでは、このようなきずや汚れ
は読取上の支障を生じないが、光データ記録カードでは
重大な問題となる。例えば第３図に示すようにカード１
の表面にきず４が形成されている場合を考えると、読取
ヘッド３から照射された光ビームはこのきず４で散乱し
、カードのデータ記録面に対しθの角度に外れてしまう
。

従って正反射光を読取ヘッド３内のラインセンサで受光
した場合、データビット２を読取ったときと同程度の出
力信号が発生することがある。このようなきず４に基づ
く読取りエラーは、後の電気的な信号処理で取除くこと
が極めて困難となる。

このようなきずの発生を抑制するために保護膜１ｄを設
けているが、完全な保護は期待できず、多少のきずの発
生は不可避である。また、きず以外にもカバーシート中
に生じる細かい気泡等その他の欠陥が読取エラーの原因
として同様の作用を果たすことがある。

〔発明の目的〕

そこで本発明はカードに形成された種々の欠陥に基づく
読取エラーが生ずることのない光データ記録カードのデ
ータ読取装置を提供することを目的とする。

〔発明の概要〕

本発明の特徴は、光学的にデータが記録されたカードか
らこのデータを読取る光データ記録カードのデータ読取
装置において、カードに対し所定の入射角で主光ビーム
を照射する主光源と、カードに形成された欠陥によって
主光ビームが受ける散乱の影響を補償する方向から副光
ビームを照射する副光源と、カードからの正反射光を受
光しデータを読取る受光装置と、を設け、カードに形成
された種々の欠陥に基づく読取エラーを減少させた点に
ある。

〔発明の実施例〕

以下本発明を第１図に示す実施例に基づいて説明する。

読取ヘッド５は、カード１に主光ビームを照射する主光
源と、カード１からの正反射光を受光するためのライン
センサ等の受光装置とを有する。本発明の特徴は、これ
に更に副光源６を設けた点である。Ｄ１光源６は、主光
ビームがきず４によって散乱されるであろう方向に設け
るのが好ましい。例えば第３図に示すようにθの角度で
散乱を受ける場合には、第１図に示すように同じθの角
度に副光源６を設ければよい。副光源６がないと、散乱
の影響を受けた部分は正反射光が読取ヘッド５に戻らず
暗くなるが、副光源６を設けると、ここから照射される
副光ビームが散乱して上方へ向かい、散乱の影響を補償
することができる。

また、データビット２の上方にきず４が形成されている
場合でも、この副光ビームによって隠れたデータビット
へ・の光照射を補うことができる。

主光ビームは第１図に示すように、カードのデータ記録
面に対して垂直に入射させるのが好ましい。垂直入射に
よれば読取り時に最良のＳ／Ｎ比を得ることができるか
らである。特にラインセンサによる読取り光学系の拡大
率を大きく設定した場合には、垂直入射光がないとライ
ンセンサ受光面での照度がかなり低下し、十分なＳ／Ｎ
比を得ることができなくなる。また、副光ビームの入射
角度については、カードに形成されるきずの深さ、角度
またはその他の欠陥の大きさ、形成位置等によって最適
位置は異なるが、データ記録面に対して５〜６０°の角
度で入射させるのが効果的である。副光ビームが５〜６
０°の角度範囲にわたっである程度一様に分布するよう
に、副光源を設けておけば、はとんどの欠陥に対して有
効な相補効果が期待できる。

〔発明の効果〕

以上のとおり本発明によれば、光データ記録カードのデ
ータ読取装置において、主光源の他に副光源を設けてカ
ードに形成された欠陥の影響を補償するようにしたため
、読取エラーを大幅に減少させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るデータ読取装置の一実施例の説明
図、第２図は従来のデータ読取装置の説明図、第３図は
従来のデータ読取装置の問題点を示す説明図である。 １・・・カード、１ａ・・・基板層、１ｂ・・・データ
記録層、１Ｃ・・・カバーシート層、１ｄ・・・保護膜
、２・・・データビット、３・・・読取ヘッド、４・・
・きず、５・・・読取ヘッド、６・・・副光源。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光学的にデータが記録されたカードからこのデータ
   を読取るためのデータ読取装置であつて、前記カードに
   対し所定の入射角で主光ビームを照射する主光源と、前
   記カードに形成された欠陥によって前記主光ビームが受
   ける散乱の影響を補償する方向から副光ビームを照射す
   る副光源と、前記カードからの正反射光を受光しデータ
   を読取る受光装置と、を備えることを特徴とする光デー
   タ記録カードのデータ読取装置。 ２、主光ビームがカードのデータ記録面に対して垂直に
   入射することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   光データ記録カードのデータ読取装置。 ３、副光ビームがデータ記録面に対して５°〜６０°の
   角度で入射することを特徴とする特許請求の範囲第２項
   記載の光データ記録カードのデータ読取装置。