JPS61208700A - 不揮発性メモリの行デコ−ダ回路 - Google Patents

不揮発性メモリの行デコ−ダ回路

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JPS61208700A
JPS61208700A JP60049996A JP4999685A JPS61208700A JP S61208700 A JPS61208700 A JP S61208700A JP 60049996 A JP60049996 A JP 60049996A JP 4999685 A JP4999685 A JP 4999685A JP S61208700 A JPS61208700 A JP S61208700A
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JP
Japan
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channel transistor
gate
word line
transistor
inverter
Prior art date
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Pending
Application number
JP60049996A
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English (en)
Inventor
Shigeru Atsumi
渥美 滋
Takashi Kamei
亀井 貴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体メモリ、特に読み出し系電位と書き込み
系電位とを切換使用する電気的書込み可能な不揮発性メ
モリのCMOg型(相補性絶縁ゲート型)行デコーダ回
路に関する。
〔発明の技術的背景〕
この種の電気的書込み可能な不揮発性メモリ、声とえば
紫外線消去・再書込み可能なCMOS型読出し専用メモ
リ(EFROM)における行デコーダ回路は、従来、第
2図に示すように構成されていた。即ち、21はナンド
型デコーダであって、プリデコーダ回路(図示せず)か
らVDD電源系あデコーダ選択信号1t−1kが各ゲー
トに印加されるNチャ木ルMO8二FB? (電界効果
トランジスタ)221〜22にと、ワード線選択信号f
ムがゲートに印加されるNチャネルトランジスタ23と
、ゲートに接地電位が印加された負荷用のPチャネルト
ランジスタ24とがVDD電源と接地端との間に直列に
接続されている。25はワード線駆動用のインバータで
あって、切換電源ノード26と接地端との間VcPチャ
木ルトルトランジスタとNチャネルトランジスタ28と
が直列に接続されてなり、その出力端(出力ノード29
)はワード線に接続されておプ、上記Nチャネルトラン
ジスタ28のゲートは前記ナンド型デコーダ21の出力
端(負荷用Pチャネルトランジスタ24とNチャネルト
ランジスタ23との相互接続点’)tic接続されてい
る。このナンド型デコーダ21の出力端と前記インバー
タ25のPチャネルトランジスタ22のゲートとの間に
は、ゲートにVDD電源電圧が印加されるトランスファ
ゲート用のNチャネルトランジスタ30が接続される。
このトランジスタ30と前記インバータ250Pチヤネ
ルトランジスタ21のゲートとの接続点Cノード31)
は、切換電源ノード32との間KPチャ木シルトランジ
スタ3が接続されており、このトランジスタ33のゲー
トは前記出力ノード29に接続されている。そして、前
記電源切換ノード21;、32flC印加される電圧V
swは、読み出し動作モードでは読み出し系のVDD電
源電圧が印加され、プログラム(書き込み)動作モード
では書き込み系の高電圧である書き込み電圧VPPが印
加される。
上記行デコーダ回路においては、ワード線選択状態、り
ま)デコーダ2zでデコードが行なわれてその出力が1
0ルベル(接地電位)のとき、インバータ25ONチヤ
ネルトランジスタ28はオフになり、トランジスタ3o
を通して/−1”31(t)電位力Vaw −VTP 
(VTP FiP f −?ネルトランジスタの闇値電
圧)まで下がるとインバータ25のPチャネルトランジ
スタ21が完全にオンになるので、出力ノード29はV
ow電位に向って立ち上がる。この出力ノード29の電
位はPチャネルトランジスタ33のゲートにフィードバ
ックされ、このトランジスタ33のコンダクタンスは低
下し、ノード31はトランジスタ30を通じて10ルベ
ルになり、出力ノード29はVsw電位で安定する。こ
れに対して、ワード線非選択状態、つまbfデコーダ1
の出力が11ルベル(VDD電位)のとき、インバータ
25ONチヤネルトランジスタ28はオンになシ、出力
ノード29はVss電位(接地電位)k向って下がり始
める。まえ、ノード31はトランジスタ30を通じてデ
コーダ21の出力′11が伝わシ、出力ノード29の電
位がVsw−VTPまで下がるとPチャネルトランジス
タ33がオ/mfk#)、上記/−)’jZaVsw電
位に向って急速に立ち上がり、上記ノード3IO電位が
Vsw −VテP以上になるとインバータ25のPチャ
ネルトランジスタ22は完全にオフにな)、上記ノート
”31はMaw電位、出力ノード29は#Q#レベルで
安定する。
〔背景技術の問題点〕
しかし、上記従来の行デコーダ回路においては、ヴード
線烏択時(デコーダ2Iの出力が′O′のとき)Kナン
ド型デコーダ2111Cおけるアクティブロードである
Pチャネルトランジスタ24が直流電流を流し続ける状
態となり、消費電力が大きくなる欠点がある。この直流
電流を減らそうとして上記トランジスタ24のサイズを
小さくすると、ワード線を選択状態から非選択状態にす
るときにデコーダ21の出力を10′から11′に立ち
上げる速度が遅くなって、アクセス時間に悪影響を及ぼ
すことKなる。
〔発明の目的〕
本発明は上記の事情VC@みてなされたもので、ワード
線選択状態においてアクティブa−ドによる直流電流パ
スが表<、消費電力が少なく、高速動作が可能な不揮発
性メモリの行デコーダ回路を提供するものである。
〔発明の概要〕
即ち、本発明の不揮発性メモリの行デコーダ回路は、C
MOS型ナンド回路J/c複数のデコーダ選択信号を入
力し、このナンド回路の出力端にCMOSスイッチの一
端を接続し、このCMOSスイッチの他端をインバータ
のNチャネルトランジスタのゲートに接続し、上記CM
OSスイッチの他端と上記インバータのPチャネルトラ
ンジスタのゲートとの間にトランスファゲート用のNチ
ャネルトランジスタと、上記インバータのPチャネルト
ランジスタのゲートにPチャネルトランジスタのドレイ
ンを接続し、このPチャネルトランジスタのゲートを前
記インバータの出力ノードに接続し、上記Pチャネルト
ランジスタおよび前記インバータのPチャネルトランジ
スタの各ソースに読み出し時と書き込み時とで異なる電
源電圧を供給し、前記CMOSスイッチの他端と読み出
し系電源との間に負荷用Pチャネルトランジスタを接続
し、このPチャネルトランジスタおよび前記CMOSス
イッチのNチャネルトランジスタの各ゲートにワード線
選択信号/iを印加し、CMOSスイッチのPチャネル
トランジスタのゲートに上記ワード線選択信号n とは
相補的な信号/i を印加し、前記インバータの出力ノ
ードをワード線に接続してなることを特徴とするもので
ある。
上記のように負荷用Pチャネルトランジスタのゲートに
ワード線選択信号へを印加することだより、ワード線選
択状態において上記負荷用Pチャネルトランジスタによ
る直流電流バスが生じないので、消費電力が少なくなる
〔発明の実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第1図はCMOS型EFROMICおける行デコーダ回
路部のうちの1fI分の行デコーダ回路を示しており、
I i −1kはプリデコーダ回路(′図示せず)から
与えられるVDD電源系のデコーダ選択信号であって、
vDD電源系で動作するCMOS型ナンド回路1.に入
力する。このナンド回路Iの出力端には、それぞれトラ
ンスファゲート用のPチセ木ルトランジスタ2およびN
チャネルトランジスタ3の各一端が接続され、このトラ
ンジスタ2,3の各他端は共通接続されてノード4とな
っている。即ち、上記トランジスタ2゜3は並列接続さ
れてCMOSスイッチ5となっており□、一方の奪チャ
ネルトランジスタ2のゲートにはワード線選択信号/i
が印加され、他方のNチャネルトランジスタ3のゲート
には上記信号/iが反転されたワード線選択信号fiが
印加される。6はワード線駆動用インバータであって、
切換電源ノード7と接地端との間にはPチャネルトラン
ジスタ8とNチャネルトランジスタ9とが直列に接続さ
れてなり、その出力端(出力ノード10)はワード線に
接続されており、上記Nチャネルトランジスタ9のゲー
トは前記ノード4に接続されている。このノード4と上
記インバータ6のPチャネルトランジスタ8のゲートと
の間には、ゲートにVDD電源電圧が印加されるトラン
スファゲート用のNチャネルトランジスター1が接続さ
れる。このトランジスター1と前記インバータ6のPチ
ャネルトランジスタ8のゲートとの接続点(ノード12
)は、切換電源ノート°13との間にPチャネルトラン
ジスター4が接続されておシ、このゲ トランジスター−?のゲートは前記出力ノードZOに接
続されている。また、前記ノード4とVDD電源との間
には、ゲートに前記ワード線選択信号fiが印加される
負荷用のPチャネルトタ ランジスタ1′:p−が接続されている。そして、前記
電源切換ノード2,13に印加される電圧Vswは、読
み出し動作モードでは読み出し系のVDD電源電圧が印
加され、プログラム動作モードでは書き込み系の高電圧
である書き込み電圧VPPが印加される。
上記行デコーダ回路において、ワード線非選択状態とし
ては、(1)ワード線選択信号ftが10′でデコーダ
選択信号f11〜gkのいずれかがIローの場合と、(
2)上記信号f+が11′で信号11−1にの全てが1
1′になる場合との2通りがある。また、ワード線選択
状態においては、上記信号f1が10′で信号9に−1
にの全てが#1′になる。
次に1上記行デコーダ回路の動作を説明する。
先ず、前記(1)の場合忙よるワード線非選択状態にお
いては、負荷用トランジスタ1華はオフであり、ナンド
回路1の出力は11′であり、この111 レベルはオ
ン状態のCMOSスイッチ5を経てノード4が11ルベ
ルになる。これによって、インバータ6ONチヤネルト
ランジスタ9はオンになプ、出力ノード10はVss電
位(接地電位)K向って下がシ始める。一方、ノード1
2はトランジスタ11を経てノード40′1ルベルが伝
わり、出力ノード10の電位がVsw−V?P(Pチャ
ネルトランジスタの閾値電圧)弘 まで下がるとPチャネルトランジスタlψがオンになり
、前記ノード12はvaw電位に向つて急速に立ち上が
り、このノード12の電位がVsw −V’rp以上に
なるとインバータ6のPチャネルトランジスタ8は完全
にオフになり、上記ノード12はVsw電位、出fJ 
/  )’ 10 a ’ 0 ’レベルで安定する。
また、前記(2)の場合によるワード線非選択状態にお
いては、CMOSスイッチ5はオフであり、り 負荷用トランジスター$はオンであり、ノード4は上記
トランジスターψを経て11ルベルに充電される。この
後の動作は、上述した(1)の場合と同様である。
これに対して、前記ワード線選択状態においては、負荷
用トランジス月Jはオフであり、CMOSスイッチ5は
オンであり、ナンド回路1の出力は10′であり、この
10ルベルはCMOSスイッチ5を経てノード4に伝わ
る。これによ    −って、インバータ6ONチヤ木
ルトランジスタ9はオフになシ、トランジスター1を通
してノード12の電位がVsw −V?Pまで下がると
、インバータ6のPチャネルトランジスタ8が完全にオ
ンになるので、出力ノード1oはVsw電位に向って立
ち上がる。この出力ノード10の電り 位はPチャネルトランジスタ71のゲートにフダ イードバックされ、このトランジスター4’のコンダク
タンスは低下し、ノード12はトランジスタ11を通じ
て10ルベルになり、出力ノード10はVsw電位で安
定する。
上記ワード線選択状態において、負荷用Pチ! 十ネルトランジスター−#は完全にオフであり、直流電
流パスが形成されることはなく、消費電力が節約される
。なお、ナンド回路lは、出力が“1′のときにはVD
D側トランジスタ(図示せず)のみオンに表り、出力が
10ルベルのときにはVss電位側トランジスタ(図示
せず)のみオンにな)、直流電流パスは生じない。
即ち、上記実施例の行デコーダ回路によれば、ワード線
選択状態においてアクティブロードによる直流電流パス
がなくなシ、ワード線非選択状態においても従来例と同
様に直流電流パスがないので、消費電力が少なく々す、
従来例と同様に高速動作が可能になる。
なお、本発明はFtPROMに限らず電気的消去・再書
き込み可能なROM(1!”FROM)にも適用可能で
ある。
〔発明の効果〕
上述したように本発明の不揮発性メモリの行デコーダ回
路によれば、ワード線選択状態においてアクティブロー
ドによる直流電流パスがなく、消費電力が少なく、高速
動作が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る不揮発性メモリの行デコーダ回路
の一実施例を示す回路図、第2図は従来の不揮発性メモ
リの行デコーダ回路を示す回路図である。 1・・・ナンド回路 tt 2.8.II、1−4・・・Pチャネルトランジスタ3
.9.11・・・Nチャネルトランジスタ、5・・、C
MOSスイッチ、 6・・・インバータ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  複数のデコーダ選択信号が入力するCMOS型ナンド
    回路と、このナンド回路の出力端に一端が接続され、各
    ゲートに相補的なワード線選択信号fi、@fi@が各
    対応して印加され、PチャネルトランジスタとNチャネ
    ルトランジスタとが並列接続されてなるCMOSスイッ
    チと、このCMOSスイッチの他端にNチャネルトラン
    ジスタのゲートが接続され、Pチャネルトランジスタの
    ソースには読み出し時と書き込み時とで電源電圧が切換
    供給され、出力ノードがワード線に接続されるインバー
    タと、前記CMOSスイッチの他端と上記インバータの
    Pチャネルトランジスタのゲートとの間に接続されゲー
    トに所定電圧が印加されたトランスファゲート用のNチ
    ャネルトランジスタと、上記インバータのPチヤネルト
    ランジスタのゲートにドレインが接続され、ゲートが前
    記インバータの出力ノードに接続され、ソースには読み
    出し時と書き込み時とで電源電圧が切換供給されるPチ
    ャネルトランジスタと、前記CMOSスイッチの他端に
    ドレインが接続され、ゲートに前記ワード線選択信号@
    fi@が印加され、ソースに読み出し系の電源電圧が印
    加される負荷用のPチャネルトランジスタとを具備して
    なることを特徴とする不揮発性メモリの行デコーダ回路
JP60049996A 1985-03-13 1985-03-13 不揮発性メモリの行デコ−ダ回路 Pending JPS61208700A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63201989A (ja) * 1987-02-18 1988-08-22 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63201989A (ja) * 1987-02-18 1988-08-22 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

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