JPS61201577A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPS61201577A JPS61201577A JP60042353A JP4235385A JPS61201577A JP S61201577 A JPS61201577 A JP S61201577A JP 60042353 A JP60042353 A JP 60042353A JP 4235385 A JP4235385 A JP 4235385A JP S61201577 A JPS61201577 A JP S61201577A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- period
- signal
- section
- output
- signal charge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はCOD (電荷結合素子)などを用いる固体撮
像装置に関する。
像装置に関する。
一般にカメラの自動焦点制御装置に用いられる固体ライ
ンセジサでは、入射光強度によらず出力信号レベルを適
正だ保つように、AGC(自動利得制御)機能が要求さ
れている。AGC機能を有する固体ラインセンサの従来
例は第8図ないし第11図に示される。第8図は平面的
構成図、第9図は蓄積部の平面配置図、第1’ 09は
第9図のA−A線に沿う断面図、第11図は第10図の
電位分布図である。
ンセジサでは、入射光強度によらず出力信号レベルを適
正だ保つように、AGC(自動利得制御)機能が要求さ
れている。AGC機能を有する固体ラインセンサの従来
例は第8図ないし第11図に示される。第8図は平面的
構成図、第9図は蓄積部の平面配置図、第1’ 09は
第9図のA−A線に沿う断面図、第11図は第10図の
電位分布図である。
第8図においてQは例えばP型シリコン基板、1は感光
画素、イーは感光画素1で発生した信号電荷を蓄積する
蓄積部、3は蓄積部2に蓄積された信号電荷i CCD
レジスタ6へ転送させるだめのシフトゲート、4は蓄積
部2に蓄積された信号電荷量に対応する出力を検出する
検出部、5は検出部4の出力より出力信号レベルを適正
に保つために蓄積時間を制御する・やルスを発生するA
GC部、7はCCDレジスタ6によって転送さ?してき
た信号電荷を出力信号に変換する出力部である。
画素、イーは感光画素1で発生した信号電荷を蓄積する
蓄積部、3は蓄積部2に蓄積された信号電荷i CCD
レジスタ6へ転送させるだめのシフトゲート、4は蓄積
部2に蓄積された信号電荷量に対応する出力を検出する
検出部、5は検出部4の出力より出力信号レベルを適正
に保つために蓄積時間を制御する・やルスを発生するA
GC部、7はCCDレジスタ6によって転送さ?してき
た信号電荷を出力信号に変換する出力部である。
第9図において8は感光画素1で発生した信号電荷全フ
ローティングヶ°−ト9へ出力する出力r−)である。
ローティングヶ°−ト9へ出力する出力r−)である。
フロー子イングダート9は信号電荷に蓄積すると同時に
、信号電荷量に比例してケ゛−ト電極電位が変動する。
、信号電荷量に比例してケ゛−ト電極電位が変動する。
10けフローティノ/f)r’、−ト9に蓄積された信
号電荷を排出するrcc+”−ト、1ノはICC/fk
−ト1oから排出された電荷を捨てるために正電圧全印
加した不純物領域、12はフローティングr−ト9f一
定電圧にリセットするリセッ)f−ト、13はフローテ
ィングf−ト9のリセット用の一定電圧が印加される端
子、14はフローティングf −) 9の電位変化を検
出部4に伝える信号線である。
号電荷を排出するrcc+”−ト、1ノはICC/fk
−ト1oから排出された電荷を捨てるために正電圧全印
加した不純物領域、12はフローティングr−ト9f一
定電圧にリセットするリセッ)f−ト、13はフローテ
ィングf−ト9のリセット用の一定電圧が印加される端
子、14はフローティングf −) 9の電位変化を検
出部4に伝える信号線である。
第10図において1は前記感光画素のN型領域、16は
CCDレジスタ電極、17は埋め込みチャネル用N型領
域、18はバリア用P型領域である。
CCDレジスタ電極、17は埋め込みチャネル用N型領
域、18はバリア用P型領域である。
第12図はデバイスに印加されるノ2ルスのタイミング
図テ、FGR8はリセットゲート12に印加されるパル
ス、ICGばICCゲート1oに印加される・2ルス、
SHはシフl/−”−1,7に印加される・臂ルス、F
Gはフローティングゲート9の電位変化である。
図テ、FGR8はリセットゲート12に印加されるパル
ス、ICGばICCゲート1oに印加される・2ルス、
SHはシフl/−”−1,7に印加される・臂ルス、F
Gはフローティングゲート9の電位変化である。
このような従来装置にあっては、感光画素1で発生した
信号電荷は、出力r−)8を通してフワ〜ティング?−
ト9に蓄積される。フローティングデート9は予めノ!
ルスFGR8によって、一定電圧にリセットされている
。信号電荷がフローティングゲート9に蓄積されると、
70−テイングf −ト9の電位は信号電荷量に比例し
て減少する。蓄積期間は、ノクルヌICGを低レベルに
したことによシ開始し、フローティングダート電位FG
が2定しペルVthに達したとき。
信号電荷は、出力r−)8を通してフワ〜ティング?−
ト9に蓄積される。フローティングデート9は予めノ!
ルスFGR8によって、一定電圧にリセットされている
。信号電荷がフローティングゲート9に蓄積されると、
70−テイングf −ト9の電位は信号電荷量に比例し
て減少する。蓄積期間は、ノクルヌICGを低レベルに
したことによシ開始し、フローティングダート電位FG
が2定しペルVthに達したとき。
AGC部5からノ母ルスSHが発生し、信号電荷をCC
Dレジスタ6に転送し、蓄積を終了する。
Dレジスタ6に転送し、蓄積を終了する。
このような動作をすることにより、蓄積期間を入射光量
に応じて調節し、出力信号レベルとするものである。
に応じて調節し、出力信号レベルとするものである。
しかしながら上述したような構造では、蓄積部2に蓄積
された信号電荷量に対応した出方のゲインが、一般に一
定値(直線性)であるため、特に光が強い場合は、70
−チイングr−ト9の電位FCが急激にしきい値レベル
vthに達し、ノ“ルスS)Iがすぐに応答できない等
で、 AGC機能のダイナミックレンジが小さくなると
いう問題点があった。
された信号電荷量に対応した出方のゲインが、一般に一
定値(直線性)であるため、特に光が強い場合は、70
−チイングr−ト9の電位FCが急激にしきい値レベル
vthに達し、ノ“ルスS)Iがすぐに応答できない等
で、 AGC機能のダイナミックレンジが小さくなると
いう問題点があった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので。
AGC機能のダイナミックレンジを大きくできる固体撮
像装置を提供しようとするものである。
像装置を提供しようとするものである。
〔発明の概要〕 、
本発明は上記目的を達成するため、半導体基板と、この
基板上に分離配置され入射光強度に応じて信号電荷を発
生する感光画素と、前記信号電荷を一時蓄えておく蓄積
部と、この蓄積電荷量に対応する出力全蓄積期間中に検
出する検出部と、この検出部の出力に応じて信号電荷の
蓄積時間を制御するための信号を発生する自動利得制御
部とを具備し、前記蓄積部に蓄えられた信号電荷量に対
応した出方のゲインが2種以上の値をとり得る構成とし
たものである。
基板上に分離配置され入射光強度に応じて信号電荷を発
生する感光画素と、前記信号電荷を一時蓄えておく蓄積
部と、この蓄積電荷量に対応する出力全蓄積期間中に検
出する検出部と、この検出部の出力に応じて信号電荷の
蓄積時間を制御するための信号を発生する自動利得制御
部とを具備し、前記蓄積部に蓄えられた信号電荷量に対
応した出方のゲインが2種以上の値をとり得る構成とし
たものである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第1
図は蓄積部の平面的構成図、第2図は第1図のB−B線
に沿う断面図、第3図は筑2図の構成の電位分布図であ
るが、これらは前記従来例のものと対応させた場合の例
であるから、対応する個所には同−符号全村して説明を
省略し、特徴とする点の説明を行なう。本実施例の特徴
は、蓄積部2に蓄積電極19を設けた点である。即ち感
光画素1で発生した信号電荷は、蓄積電極19と70−
テイングf −ト9に蓄積される。蓄積電荷19には一
定電圧が印加されており、蓄積電極19下の電位はフロ
ーティングゲート9の電位より浅くなっている。フロー
ティングダート9には、従来例と同様にICCゲート1
oが隣接し、更にフローティングダート9の電位をリセ
ットするだめのゲート12及びリセット用電圧端子13
が付加されている。
図は蓄積部の平面的構成図、第2図は第1図のB−B線
に沿う断面図、第3図は筑2図の構成の電位分布図であ
るが、これらは前記従来例のものと対応させた場合の例
であるから、対応する個所には同−符号全村して説明を
省略し、特徴とする点の説明を行なう。本実施例の特徴
は、蓄積部2に蓄積電極19を設けた点である。即ち感
光画素1で発生した信号電荷は、蓄積電極19と70−
テイングf −ト9に蓄積される。蓄積電荷19には一
定電圧が印加されており、蓄積電極19下の電位はフロ
ーティングゲート9の電位より浅くなっている。フロー
ティングダート9には、従来例と同様にICCゲート1
oが隣接し、更にフローティングダート9の電位をリセ
ットするだめのゲート12及びリセット用電圧端子13
が付加されている。
次に上記構成の動作を説明する。第4図はこの構成で印
加されるパルス、及び一定入射光量時のフローティング
ゲート9の電位変化を示す図である。感光画素1で発生
した信号電荷は、出力r−ト8f通って蓄積電極19に
流入する。
加されるパルス、及び一定入射光量時のフローティング
ゲート9の電位変化を示す図である。感光画素1で発生
した信号電荷は、出力r−ト8f通って蓄積電極19に
流入する。
信号電荷の蓄積期間は、パルスFGR8によってフロー
ティングダート9の電位をリセットした後、・やルスI
CG i印加して開始される。蓄積開始直後は、信号電
荷はフローティングダート9の電位井戸に蓄積され、そ
の後70−テインググート9及び蓄積電極190両方の
領域に蓄積される。フローティングf−)9及び蓄積電
極19の形状を適当に設計することにより、フローティ
ングダート9の電位変化FGは、フローティングダート
9のみに蓄積されている期間2oでは高いゲインを、ま
た蓄積電極19と70−テインググート9の両方に蓄積
されている期間21では、比較的低いゲインをもつよう
にできる。
ティングダート9の電位をリセットした後、・やルスI
CG i印加して開始される。蓄積開始直後は、信号電
荷はフローティングダート9の電位井戸に蓄積され、そ
の後70−テインググート9及び蓄積電極190両方の
領域に蓄積される。フローティングf−)9及び蓄積電
極19の形状を適当に設計することにより、フローティ
ングダート9の電位変化FGは、フローティングダート
9のみに蓄積されている期間2oでは高いゲインを、ま
た蓄積電極19と70−テインググート9の両方に蓄積
されている期間21では、比較的低いゲインをもつよう
にできる。
このような特性をもつとき、蓄積期間全終了させるため
の信号を発生させるしきい値レベルを、入射光量が弱く
て信号電荷の小さい時は、高ゲインの期間のしきい値v
th1に設定し、入射光量が強い時には、低ダインの期
間のしきい値Vth2に設定する。この時フローティン
グゲート電位FCがVthlをも通過するが、この場合
Vth1に達するまでの期間は短かいので、/?ルスS
Hが出力されないようにAGC回路を設定しておけば問
題はない。上記のようにしきい値レベルを設定すること
により、蓄積期間のとり得る範囲が同じであるとすると
、従来の単一のゲインをもつ構造に比較して、より広範
囲の入射光量に対してAGC機能金働らかせることか可
能となる。
の信号を発生させるしきい値レベルを、入射光量が弱く
て信号電荷の小さい時は、高ゲインの期間のしきい値v
th1に設定し、入射光量が強い時には、低ダインの期
間のしきい値Vth2に設定する。この時フローティン
グゲート電位FCがVthlをも通過するが、この場合
Vth1に達するまでの期間は短かいので、/?ルスS
Hが出力されないようにAGC回路を設定しておけば問
題はない。上記のようにしきい値レベルを設定すること
により、蓄積期間のとり得る範囲が同じであるとすると
、従来の単一のゲインをもつ構造に比較して、より広範
囲の入射光量に対してAGC機能金働らかせることか可
能となる。
更にまた信号電荷の出力部70ゲインも、蓄積部と同様
に、信号電荷量に応じて切り換えられるような構成であ
れば、信号出力レベルを適正レベルに保つのは容易であ
る。
に、信号電荷量に応じて切り換えられるような構成であ
れば、信号出力レベルを適正レベルに保つのは容易であ
る。
第5図は本発明の他の実施例の平面構成図、第6図は同
モニタ用感光部とモニタ用出力部の平面的構成図、第7
図は蓄積部の平面的構成図である。この実施例では、入
射光量の大きさはモニタ用感光部(モニタ用感光画素)
22の出力によって検出する。23はモニタ用出力部、
24は一定電圧を印加されたモニタ用出力ダート、25
はモニタ用感光部22で発生した信号電荷を蓄積する浮
遊拡散領域、26は拡散領域25の電位リセットを行な
うr−)、27はリセット電位が印加された不純物領域
、29はモニタ用出力部のゲインを切り換えるダート、
30はゲイン切り換え用容量、31は拡散領域25の電
位を検出するソースフォロワ回路、28はモニタ用出力
、33は一定電圧が印加され、信号電荷全蓄積する蓄積
電極である。
モニタ用感光部とモニタ用出力部の平面的構成図、第7
図は蓄積部の平面的構成図である。この実施例では、入
射光量の大きさはモニタ用感光部(モニタ用感光画素)
22の出力によって検出する。23はモニタ用出力部、
24は一定電圧を印加されたモニタ用出力ダート、25
はモニタ用感光部22で発生した信号電荷を蓄積する浮
遊拡散領域、26は拡散領域25の電位リセットを行な
うr−)、27はリセット電位が印加された不純物領域
、29はモニタ用出力部のゲインを切り換えるダート、
30はゲイン切り換え用容量、31は拡散領域25の電
位を検出するソースフォロワ回路、28はモニタ用出力
、33は一定電圧が印加され、信号電荷全蓄積する蓄積
電極である。
この実施例では、拡散領域25と容量30により蓄積部
t2′Miとし、スイッチ29によって上記蓄積部に対
応するモニタ用出力部23のゲインを切り換えることに
より、広いダイナミックレンジを得ることができるもの
である。
t2′Miとし、スイッチ29によって上記蓄積部に対
応するモニタ用出力部23のゲインを切り換えることに
より、広いダイナミックレンジを得ることができるもの
である。
なお本発明は実施例に限られず、種々の応用が可能であ
る。例えば実施例では、蓄積部に蓄えられた信号電荷量
に対応した出力のゲインが2種となる場合を説明したが
、ゲインが2種以上の値をとり得るようにしてもよい。
る。例えば実施例では、蓄積部に蓄えられた信号電荷量
に対応した出力のゲインが2種となる場合を説明したが
、ゲインが2種以上の値をとり得るようにしてもよい。
以上説明した如く本発明によれば、感光部で発生した信
号電荷の蓄積量に対応した出力のゲインが2種以上の値
をとり得るので、従来の単一のゲインをもつ構成に比較
して、より広いダイナミックレンジをもつAGC機能を
有する固体撮像装置が提供できるものである。
号電荷の蓄積量に対応した出力のゲインが2種以上の値
をとり得るので、従来の単一のゲインをもつ構成に比較
して、より広いダイナミックレンジをもつAGC機能を
有する固体撮像装置が提供できるものである。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は同実施例
の断面図、第3図は同実施例の電位分布図、第4図は同
実施例の信号波形図、第5図ないし第7図は本発明の他
の実施例の構成図、第8図、第9図は従来例を示す構成
図、第10図は従来例の断面図、第11図は従来例の電
位分布図、第12図は従来例の信号波形図である。 1・・感光画素、2・・・蓄積部、3・・・シフトr−
ト、4・・・検出部、5・・・AGC部、6・・・CC
Dレノスタ、7・・・出力部、8・・・出力ダート、9
・・・フローティングr−ト、10・・・ICGI’−
ト−15・・・半導体基板、19・・・蓄積電極、22
・・・モニタ用感光部、23・・・モニタ用出力部、2
5・・・浮遊拡散領域、29・・・切り換えy−ト、3
0・・・ゲイン切り換え用容量。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第3図 第4図 第6図 第8図 第12図
の断面図、第3図は同実施例の電位分布図、第4図は同
実施例の信号波形図、第5図ないし第7図は本発明の他
の実施例の構成図、第8図、第9図は従来例を示す構成
図、第10図は従来例の断面図、第11図は従来例の電
位分布図、第12図は従来例の信号波形図である。 1・・感光画素、2・・・蓄積部、3・・・シフトr−
ト、4・・・検出部、5・・・AGC部、6・・・CC
Dレノスタ、7・・・出力部、8・・・出力ダート、9
・・・フローティングr−ト、10・・・ICGI’−
ト−15・・・半導体基板、19・・・蓄積電極、22
・・・モニタ用感光部、23・・・モニタ用出力部、2
5・・・浮遊拡散領域、29・・・切り換えy−ト、3
0・・・ゲイン切り換え用容量。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第3図 第4図 第6図 第8図 第12図
Claims (2)
- (1)半導体基板と、この基板上に分離配置され入射光
強度に応じて信号電荷を発生する感光画素と、前記信号
電荷を一時蓄えておく蓄積部と、この蓄積部に蓄えられ
た電荷量に対応する出力を蓄積期間中に検出する検出部
と、この検出部の出力に応じて信号電荷の蓄積時間を制
御するための信号を発生する自動利得制御部とを具備し
、前記蓄積部に蓄えられた信号電荷量に対応した出力の
ゲインが2種以上の値を取り得るものであることを特徴
とする固体撮像装置。 - (2)前記蓄積部はモニタ用画素の蓄積領域であること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の固体撮像装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60042353A JPS61201577A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60042353A JPS61201577A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61201577A true JPS61201577A (ja) | 1986-09-06 |
Family
ID=12633663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60042353A Pending JPS61201577A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61201577A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6367976A (ja) * | 1986-09-10 | 1988-03-26 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
JPS63152370U (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-06 | ||
US5043571A (en) * | 1988-08-01 | 1991-08-27 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | CCD photosensor and its application to a spectrophotometer |
JP2011171448A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Renesas Electronics Corp | 固体撮像装置 |
-
1985
- 1985-03-04 JP JP60042353A patent/JPS61201577A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6367976A (ja) * | 1986-09-10 | 1988-03-26 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
JPS63152370U (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-06 | ||
JPH055731Y2 (ja) * | 1987-03-26 | 1993-02-15 | ||
US5043571A (en) * | 1988-08-01 | 1991-08-27 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | CCD photosensor and its application to a spectrophotometer |
JP2011171448A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Renesas Electronics Corp | 固体撮像装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6797933B1 (en) | On-chip design-for-testing structure for CMOS APS (active pixel sensor) image sensor | |
US5608243A (en) | Single split-gate MOS transistor active pixel sensor cell with automatic anti-blooming and wide dynamic range | |
US7586487B2 (en) | Solid state imaging apparatus and method for driving the same | |
US7235772B2 (en) | Image sensor with anti-saturation function in pixel level | |
US7889258B2 (en) | Dual sensitivity image sensor | |
JP2003525543A (ja) | 自動露出検出をする高感度貯蔵画素センサー | |
US8072524B2 (en) | Solid-state image-sensing device | |
JP2003518355A (ja) | 光検出器及び放射線の測定方法 | |
US4716466A (en) | Image sensor | |
US6049357A (en) | Image pickup apparatus including signal accumulating cells | |
US6967682B1 (en) | Photoelectric converting device | |
CA2342474A1 (en) | Image sensor with a voltage switching circuit for low afterglow | |
JPS5793782A (en) | Solid-state image pickup device having storage time controlling function | |
JPS61201577A (ja) | 固体撮像装置 | |
US4616249A (en) | Solid state image pick-up element of static induction transistor type | |
TW369723B (en) | Solid photographic apparatus | |
US5319225A (en) | Output terminal of a solid-state image device | |
JPS6367976A (ja) | 固体撮像装置 | |
KR100977834B1 (ko) | 넓은 동적 범위을 갖는 씨모스 이미지 센서 | |
JP3167150B2 (ja) | 半導体光検出装置 | |
CN100444412C (zh) | 半导体摄像元件 | |
JPH0193966A (ja) | イメージセンサ | |
JPH023973A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP3142943B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
KR100325295B1 (ko) | 고체 촬상 소자 |