JPS61198756A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPS61198756A
JPS61198756A JP60039245A JP3924585A JPS61198756A JP S61198756 A JPS61198756 A JP S61198756A JP 60039245 A JP60039245 A JP 60039245A JP 3924585 A JP3924585 A JP 3924585A JP S61198756 A JPS61198756 A JP S61198756A
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JP
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circuit block
signal input
wiring
input
signal
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Yasuo Igawa
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0207Geometrical layout of the components, e.g. computer aided design; custom LSI, semi-custom LSI, standard cell technique

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はチップの機能がプログラマブルな半導体集積回
路に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
近年、半導体集積回路に対する少量多品種の要求に伴い
、次のようなLSIが出現している。
(1)標準セル方式 LSI内に使用される回路ブロックを予め計算機に登録
しておき、計算機の自動処理により、これらの回路ブロ
ックを配置・配線して所望の最終製品を得る。
(2)ゲートアレイ方式 論理ゲートを構成する基本回路を予め基板上にアレイ状
に配置形成しておき、この上に標準セル方式と同様に自
動配線により配線パターンを決定して所望のLSIを得
る。
これらは完全手設計のLSIに比べると開発期間が短い
という利点を有する。しかしこれらの方式でも、リソグ
ラフィー技術を用いた製造工程が必要であり、設計完了
からLSI完成まで数週間ないし数カ月かかるという問
題がある。
これに対して本出願人は先に、チップの機能を完全にフ
ィールド・プログラマブルとしたLSI方式を提案して
いる(特願昭58−157718号)。その基本構成は
第2図に示す通りである。
図において、一つ以上の論理機能素子により構成された
回路ブロック211,212.・・・、21Nは予め専
用ICの手法により配線工程を終了した状態で基板に作
り込まれる。この回路ブロック領tii!21に隣接し
て配線領域が設けられ、ここに互いに交差する信号入力
用配線群24と信号出力用配線群23が配設される。各
信号出力端子1124はそのままそれぞれ回路ブロック
の信号入力端子に接続される。各信号出力用配線23は
1字路をなす分岐配線によりそれぞれ回路ブロックの信
号出力端子に接続される。そしてこの配線領域の信号出
力用配線群23と信号入力用配線群24の各交差部には
、信号出力用配線と信号入力用配線を接続するための電
気的にON、OFF状態を書込むことのできるスイッチ
素子22が設けられている。スイッチ素子22は例えば
、E2 PROMや1ごットメモリを備えたMOSFE
T等である。
この方式によれば、チップの機能がフィールド・プログ
ラマブルであるため、ユーザーは自分の手で電気的に論
理機能を書込むことにより、高、い論理機能を備えた所
望のLSIを著しく速く手にすることができる。しかも
、ある定まった論理機能を有する回路ブロックの入力信
号と出力信号を接続するという形式でLSIの設計を行
なうことができ、ボード上での論理設計に慣れた設計者
にとっても理解しやすい。
ところでこの方式では、一つの信号入力用配線が数多く
の信号出力用配線とスイッチ素子を介して交差する。実
用的なLSIを構成しようとすると、一つの信号入力用
配線に接続されるスイッチ素子数は数100〜数100
0個にもなる。この信号入力用配線がアクティブとする
と、これらのスイッチ素子のうち唯一のスイッチ素子の
みがON状態で、残りのスイッチ素子は全てO’FF状
態となる。この様子を第4図に示す。221はON状態
のスイッチ素子を示し、これ以外のスイッチ素子222
.223 、・・・、22NはOFF状態である。31
は回路ブロック21の入力バッファである。回路ブロッ
クをCMOS構造とした時入カバツファ31の入力イン
ピーダンスはキャパシタ32で示すように容量性である
。またスイッチ素子をMOSFET構造とすると、その
電流−電圧特性は第5図に示すようになる。スイッチ素
子がON状態の時の飽和電流I Satは通常数100
μAが好ましい。これをON電流とする。
一方、スイッチ素子がOFF状態での電流は零であるこ
とが理想であるが、MO3FET構造ではOFF時にも
もれ電流It、が流れる。ここで次のような場合を想定
する。即ち、ON状態のスイッチ素子につながる信号出
力用配線231の信号レベルが低(L)レベルで、OF
’F状態の他のスイッチ素子につながる信号出力用配線
のうちm個が高(H)レベルであるとすると、入力バッ
フ731の入力キャパシタ32に流れ込む電流はmxl
、−である。そうすると入力端子33の電位Vの時間変
化は、 v=mlt、t/C である。Cはキャパシタ32の容11.tは時間である
。従って十分長い時間の後は■は入カツファ31にとっ
てHレベルになってしまう。伝達されるべきレベルは信
号出力用配線231の電位即ちLレベルである。このこ
とは、OFFスイッチ素子のもれ電流によって回路が誤
動作をすることを意味する。
このように、MOSFET構造のスイッチ素子を用いる
スイッチ・マトリクスにより第2図のプログラマブルL
SIを構成すると、スイッチ素子のOFF特性が完全で
ないために簡単に誤動作することになる。
〔発明の目的〕
本発明は、上述したOFF状態のスイッチ素子のもれ電
流による誤動作を防止した、チップの機能がプログラマ
ブルな半導体集積回路を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、前述したスイッチ・マトリクスによりチップ
の機能をプログラマブルとしたしSlについて、回路ブ
ロックの信号入力用配線が接続される入力バッファの入
力端子と接地線または電源線との間に抵抗を挿入し、そ
の抵抗値を、OFF状態の全てのスイッチ素子のもれ電
流が流れてもHレベルに達せず、かつ一つのスイッチ素
子のON電流が流れるとHレベルに達するように設定す
ることにより、誤動作を防止する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、フィールドでユーザーが何度も結線状
態を変更して所望の論理LSIを構築することが可能で
、しかもこれに用いられるスイッチ素子の特性に求めら
れる条件が厳しくならない、信頼性の高いプログラマブ
ルであるLSIを得ることができる。特に本発明は、回
路ブロック数が多い、即ちOFFスイッチ素子数10N
スイッチ素子数の大きい高集積のプログラマブルLSI
に適用して大きな効果を発揮する。
〔発明の実施例〕
以下本発明の詳細な説明する。
先ず基本的レイアウトを第2図を用いて説明する。図に
示すように81ウエーハの一辺に複数の回路ブロック2
11.212 、・・・、21Nが作り込まれて回路ブ
ロック領域21が形成されている。
各回路ブロックは、4インプツトNANDゲートなど、
論理機能素子の一つ以上により構成されている。この論
理機能素子は例えばCMOS構成であり、専用IC即ち
標準セル方式における手書きの標準セルあるいは配線済
みのゲートアレイである。
具体的な回路ブロック領域の構成例は次の通りである。
(1)4インプツトNANDゲートを2つもつブロック
           ・・・・・・15個(2)2イ
ンプツトNANDゲートを4つもつブロック     
      ・・・・・・14個(3)8インプツトN
ANDゲートを1つもつブロック          
  ・・・・・・1個(4)4つのインバータをもつブ
ロック・・・・・・100個 (5)8ビツトレジスタのブロック ・・・・・・19
([!1f(6)2つのDタイプフリップフロップをも
つブロック           ・・・・・・19個
(7)4インプツトのANDゲートを2つもつブロック
           ・・・・・・17個(8)2対
1データ・セレクタを4つもつブロック       
                    ・・・・・
・ 13 個(9)4ビツト・バイナリカウンタを2つ
もつブロック           ・・・・・・11
個(10)2−4ラインデコーダを2つもつブロック・
・・・・・7個 (11)3−8ラインデコーダをもつブロック・・・・
・・3個 (12)4−1セレクタを2つもつブロック・・・・・
・5個 (13)8−1セレクタをもつブロック ・・・・・・
4個(14) 8ビット直列人カー並列出力シフトレジ
スタをもつブロック       ・・・・・・3個(
15)8ビット並列入カー直列出力シフトレジスタをも
つブロック       ・・・・・・3個(16)8
ビット直列入カー直列出力シフトレジスタをもつブロッ
ク       ・・・・・・2個(17)11安定マ
ルチバイブレータを2つもつブロック        
    ・・・・・・4個(18) 2インプツトOR
ゲートを4つもつブロック             
                 ・・・・・・ 4
 個(19) 2インプツトNORゲートを4つもつブ
ロック            ・・・・・・3個(2
0)AND=ORインバータを2つもつブロック   
                         
  ・・・・・・ 3 個(21>64ビットRAMの
ブロック  ・・・・・・3個(22) 2インプツト
EXCLLIS IVE−ORゲートを4つもつブロッ
ク    ・・・・・・2個(23) 4ビツト・コン
パレータのブロック・・・・・・3個 <24)J−にフリップフロップを2つもつブロック 
                         
   ・・・・・・4 個(25)9ビツトの偶/奇パ
リティ・ジェネレータ/チェッカのブロック     
・・・・・・3個(26) 4ビツト・バイナリ全加算
器のブロック・・・・・・2個 (27) 2インプツト・マルチプレクサを4つもつブ
ロック          ・・・・・・5個(2f3
)S−Rラッチを4つもつブロック・・・・・・2個(
29)ALIJのブロック       ・・・・・・
1個(30)8ビツト・アドレサブルラッチのブロック
・・・・・・1個 (31)ルックアヘッド・キャリージェネレータのブロ
ック            ・・・・・・1WA以上
、274fllのMSIからなる回路ブロックが回路ブ
ロック領域21に形成されて、一種のチップからあらゆ
る機能のLSIを作り出すことができるようになってい
る。各回路ブロックの平均入力数は8、出力数は4であ
る。論理機能素子の入力部、出力部は回路ブロックの入
力部、出力部をなしている訳であるが、その出力部には
それぞれ出力バッファが設けられている(図示しない)
そして出力部はT7路をなすように信号出力用配線23
に固定的に接続され、入力部はこの出力用配線23と交
差する信号入力用配線24にそれぞれ接続されている。
信号出力用配線23と信号入力用配線24の各交差部に
はそれぞれスイッチ素子22が設けられている。このス
イッチ素子22は前述のようにE2 PROMや1ビツ
トメモリ付のMOSFET等であり、このスイッチ素子
22を外部から電気的に制御して信号出力用配線23と
信号入力用配線24の接続を行ない得るようになってい
る。即ち入出力部の結線は基本的に1スイツチで済み、
1つの電流パスに伴う等電位配線長は配線領域の辺の長
さをρとしたとき、平均2.52になる。
第1図は、一つの信号入力配m14に着目した場合のス
イッチ・マトリクス上での配線、スイッチ素子及び回路
ブロック11内の入力バッファ16部の構成を示す。ス
イッチ素子121は信号出力用配置131と信号入力用
配線14の交差点に配置されてこれらを接続するもので
、いまこれが○N状態にあると仮定されている。他のス
イッチ素子122,123.・・・、12Nは残りの信
号出力用配線132,133.・・・、13Nと信号入
力用配線14の各交差点に配置され、これらはOFF状
態にあると仮定されている。15は入力バッフ716の
入力端子に存在するキャパシタで、入力バッファ16自
体の入力容量、信号入力用配線14の浮遊容量及びスイ
ッチ素子12の端子の接合容量等を合計したものを示し
ている。17はこの回路ブロック11の入力バッファ1
6の入力端子と接地線の間に挿入された抵抗(抵抗値R
)である。
ここで、入力バッファ16の最大LレベルをVL (l
naX ) 、最小HレベルをVH(1n )とする。
信号入力配線14上のスイッチ素子数MのうちOFF状
態にあるスイッチ素子数はN=M−1で、これらOFF
スイッチ素子の最大もれ電流をfシ(max)とする。
信号入力配線14上のONスイッチ素子は121のみで
あり、そのON電流をIoNとする。そうすると、抵抗
値Rは次のように定められる。即ち、 (1)もれ電流が流れてもLレベルを維持できる条件と
して RN It、 (IllaX ) <VL (ffia
X )<2)ON電流が流れるとHレベルになる条件と
して Rro N >VH(1n ) である。
いま、具体例としてスイッチ素子がゲート長1μm、ゲ
ート幅3μmのE2PROMセルからできており、 It、 (IIlax ) = 100nAの場合を考
える。またN=1000、論理レベルとしてTTLレベ
ルを考えて VL(wax ) =0.8V VH(win ) −2,4V を仮定する。ONi!FとしてはIoN=1mAが可能
で、これを仮定すると、(1)、(2>の条件より、 2.4にΩくRく8にΩ を得る。このような範囲に抵抗値Rを設定することによ
り、回路は誤動作せず確実に動く。
通常、入力キャパシタ17の容量はC=2ρFに達する
ので、もし抵抗17が存在しないとすると、入力バッフ
ァ16の入力端子電位のOFFスイッチ素子もれ電流に
よる上昇の時間変化は、V=NILi/C =1000X100  (nA ) X t/2 X1
0’ 2  (F )=5 x107(V/sea )
 x tとなり、約16 n secで電位はOvから
0.8Vへと変化してしまい、回路の正常動作はできな
くなる。
以上のようにこの実施例によれば、OFF時にもれ電流
が流れるスイッチ素子を用いた場合にも正常動作を確保
できるプログラマブルLSIが得られる。
本発明は上記実施例に限られない。例えば回路ブロック
の入力端子に限らず、スイッチ・マトリクスを経由する
信号経路に入力インピーダンスが容量性であるバッファ
がある場合、多数のOFFスイッチ素子のもれ電流が重
畳してそのバッファの入力端子で同様に電位上昇を生じ
る。従ってこれらのバッファの入力端子部にも抵抗を挿
入することが好ましい。
第3図はその様な実施例の構成を示す。図において31
r 、312 、・・・、31Nが回路ブロックであり
、33が信号出力用配線、34が信号入力用配線を示し
、32がこれらの交差点に配置されるスイッチ素子を示
す。各回路ブロック31の入力端子部には先の実施例と
同様に抵抗36を挿入している。また信号出力用配線3
3の途中には波形整形やドライブ能力向上の目的でバッ
ファ35を設けているが、このバッファ35の入力端子
部にも抵抗36を挿入している。更に第3図はプログラ
マブルLSIが階層構造である場合、即ちある回路ブロ
ック(図では313)が更に下位の複数の回路ブロック
31i−1,313−2,・・・とスイッチ・マトリク
スにより構成される場合を示している。このような場合
には、図に示すように、上位の回路ブロック31ヨの入
力バッファの入力端子部に抵抗36を挿入すると同時に
、下位の回路ブロック例えば313−1の入力バッファ
35の入力端子部にも抵抗36を挿入する。
このようにすれば、スイッチ・マトリクスを経由する信
号の容量性バッファでの電位上昇を抑えて確実な論理動
作を行なうことができるプログラマブルLSIが得られ
る。
以上の実施例では、抵抗をバッファ回路の入力端子部と
接地線の間に挿入したが、電源線との間に挿入しても同
様に誤動作防止が図られる。また接地線側、電源線側の
双方に抵抗を挿入してもよい。更にこれらの抵抗は、バ
ッファの入力端子の直ぐ近くである必要はなく、バッフ
ァの入力端子につながる信号線上のどの位置に設けても
よい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のLSIの要部構成を示す図
、第2図はそのLSIの全体の基本構成を示す図、第3
図は他の実施例のLSI構成を示す図、第4図は第2図
のLSIでの回路ブロックの入力端子部の問題を説明す
るための図、第5図はMOSFET構造スイッチ素子の
電流−電圧特性を示す図である。 11・・・回路ブロック、 12 (12t 、122 、・・・)・・・スイッチ
素子、13 (131,132、・・・)信号出力用配
線、14・・・信号入力用配線、15・・・入力キャパ
シタ、16・・・入力バッファ、17・・・抵抗。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板に作り込まれた、それ自体論理機能を有し、
    かつ信号の入力部及び信号の出力部を有する複数の回路
    ブロックと、この複数の回路ブロックからなる回路ブロ
    ック領域に隣接して前記基板上に形成された配線領域と
    を有し、前記回路ブロック領域は複数種の論理機能素子
    の集合から構成され、前記配線領域は互いに交わる信号
    入力用配線群及び信号出力用配線群から構成され、前記
    信号入力用配線群は各回路ブロックの信号入力部にそれ
    ぞれ接続され、前記信号出力用配線群は各回路ブロック
    の信号出力部にそれぞれ接続され、かつこれらの接続は
    その回路ブロックが隣接する前記配線領域において行わ
    れ、前記信号入力用配線群と前記信号出力用配線群との
    交差部にはそれぞれスイッチ素子が設けられ、このスイ
    ッチ素子のON、OFF状態を制御することにより各回
    路ブロック間の入出力関係が決定され所望の集積回路が
    構築されるものであつて、前記回路ブロックの信号入力
    端子と接地線または電源線との間に抵抗を挿入したこと
    を特徴とする半導体集積回路。
  2. (2)回路ブロックの信号入力部がCMOS構成である
    特許請求の範囲第1項記載の半導体集積回路。
  3. (3)スイッチ素子がMOSFET構造である特許請求
    の範囲第1項記載の半導体集積回路。
  4. (4)回路ブロックへの入力信号の低レベルの最大値が
    V_L(max)、高レベルの最小値がV_H(min
    )、スイッチ素子の最大もれ電流がI_L(max)、
    一つの信号入力用配線に存在するスイッチ素子数がM個
    、ONであるスイッチ素子の電流容量がI_O_Nであ
    るとき、前記抵抗は、R>V_H(min)/I_O_
    N および R<V_L(max)/{(M−1)I_L(max)
    }を満たす抵抗値Rに設定される特許請求の範囲第1項
    記載の半導体集積回路。
JP60039245A 1985-02-28 1985-02-28 半導体集積回路 Expired - Lifetime JPH0616531B2 (ja)

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