JPS61194644A - 光学情報記録再生装置 - Google Patents
光学情報記録再生装置Info
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- JPS61194644A JPS61194644A JP60034743A JP3474385A JPS61194644A JP S61194644 A JPS61194644 A JP S61194644A JP 60034743 A JP60034743 A JP 60034743A JP 3474385 A JP3474385 A JP 3474385A JP S61194644 A JPS61194644 A JP S61194644A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alloy
- recording medium
- information recording
- objective lens
- movable mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はレーザ光を利用し、その光を記録媒体上に集光
し、情報を記録、再生、消去するのに好適な光学情報記
録再生消去装置に関する。
し、情報を記録、再生、消去するのに好適な光学情報記
録再生消去装置に関する。
上記したところの装置は多くのレンズにより構成される
光学系であり、レンズは主にガラスにより構成される。
光学系であり、レンズは主にガラスにより構成される。
かつレンズのうち多くのものは焦点調整を自動的に行な
う必要があるために、レンズの駆動機構を有している。
う必要があるために、レンズの駆動機構を有している。
係る光学系の代表的−例として光デイスク装置について
、以下説明する。光デイスク装置は雑誌[日立評論J
1984年8月号等にてすでに知られている。
、以下説明する。光デイスク装置は雑誌[日立評論J
1984年8月号等にてすでに知られている。
本発明の目的は消去可能であり、焦点合わせが不用な光
学レンズ系を持った光学情報記録再生装置を提供するこ
とを目的とする。
学レンズ系を持った光学情報記録再生装置を提供するこ
とを目的とする。
本発明は、ビーム走査用のミラーが動作しても。
対物レンズと記録媒体までの距離が変化しないヘッドを
用い、自動焦点合せ機構が不要な光学系を実現する。
用い、自動焦点合せ機構が不要な光学系を実現する。
前記記録媒体は固体状態で少なくとも2種類の結晶構造
を有し、一方の温度領域での結晶構造を他方の温度領域
で保持し及び/又は結晶状態で互いに異なった体積変化
を生じる金属又は合金からなることを特徴とする。
を有し、一方の温度領域での結晶構造を他方の温度領域
で保持し及び/又は結晶状態で互いに異なった体積変化
を生じる金属又は合金からなることを特徴とする。
なお、結晶変化を伴なわなくても凹凸の変化が生じる合
金を用いることができる。
金を用いることができる。
合金例としては、Cu−Al1合金、Cu−Zn合金、
Cu−AQ−2n合金、Cu−An−Ni合金、 Cu
−A A −M n合金、Cu−An−Fa−Cr合
金、Cu−Gan合金 Cu A Q−G n合金、
Cu−In合金、Cu−AII In合金。
Cu−AQ−2n合金、Cu−An−Ni合金、 Cu
−A A −M n合金、Cu−An−Fa−Cr合
金、Cu−Gan合金 Cu A Q−G n合金、
Cu−In合金、Cu−AII In合金。
Cu−Ge合金、Cu AQ−Ge合金、Cu−8n
合金、Cu−Ta合金、Cu−Ti合金。
合金、Cu−Ta合金、Cu−Ti合金。
Cu−AQ−8n合金、Cu−Zn合金、Cu−8i合
金、Cu−8b合金、Cu−Be合金。
金、Cu−8b合金、Cu−Be合金。
Cu −B n合金、 Cu −M n合金、Cu−P
d合金、Cu−Pt合金、Ag−Znn合金Ag−Af
fi合金、Ag−Cd合金、Ag−In合金。
d合金、Cu−Pt合金、Ag−Znn合金Ag−Af
fi合金、Ag−Cd合金、Ag−In合金。
A g −G n合金、 A g−A M −A u合
金*Ag−A Q −Cn合金、Ag−An−Au−C
u合金。
金*Ag−A Q −Cn合金、Ag−An−Au−C
u合金。
Ag−AQ−Cd合金、Ag−Ptn合金Ag−8合金
、Ag−8n合金tAgTa合金+Ag−Ti合金、A
gZr合金金合A g −A !1合金。
、Ag−8n合金tAgTa合金+Ag−Ti合金、A
gZr合金金合A g −A !1合金。
Ag−Au合金、Ag−Ben合金 A g −M n
合金、Ag−Lin合金 A g M n合金、Al
−Fsn合金AQ−Mg合金、AQ Mn合金。
合金、Ag−Lin合金 A g M n合金、Al
−Fsn合金AQ−Mg合金、AQ Mn合金。
Al2−Pdn合金AD Ton合金 A n−T
n合金、AQZn合金、AQ−Zr合金、Ni−5b合
金、Ni−8i合金、Ni−5n合金。
n合金、AQZn合金、AQ−Zr合金、Ni−5b合
金、Ni−8i合金、Ni−5n合金。
N i −G n合金、Mn−Ge合金、N1−Cn合
金、Ni−Mn合金、Ni−8合金、Ni−Ti合金、
FeAs合金、As−8合金、As−Zn合金、Fe−
Bs合金、Fe−Ni合金。
金、Ni−Mn合金、Ni−8合金、Ni−Ti合金、
FeAs合金、As−8合金、As−Zn合金、Fe−
Bs合金、Fe−Ni合金。
F e −Cr合金、Fa−P合金、Mn−Pd合金。
M n −P を合金、Mn−5b合金、Mn−8i合
金、 A u Ca合金g A u A j1合金
、Au−Inn合金 A u G a合金g A u
Cd合金。
金、 A u Ca合金g A u A j1合金
、Au−Inn合金 A u G a合金g A u
Cd合金。
Au−Cu合金、AuFe合金、Au−Mn合金* A
u Z n合金、Ba−Ca合金、Bi−pb金合
金Bi−Ti合金、Ti−Ni合金。
u Z n合金、Ba−Ca合金、Bi−pb金合
金Bi−Ti合金、Ti−Ni合金。
N1−V合金、Ni−Zn合金、Cd−Li合金。
Cd−Mg合金、Cd−Pb合金、Cd−8b合金、5
b−In合金、5b−In−8s合金。
b−In合金、5b−In−8s合金。
M g −Cn合金、Go−Cr合金、Go−Ga合金
、Co−Mn合金、Co−8b合金、Co−V合金、I
n−Mg合金、In−Mn合金、In−Ni合金、In
−8n合金、In−TQ合金。
、Co−Mn合金、Co−8b合金、Co−V合金、I
n−Mg合金、In−Mn合金、In−Ni合金、In
−8n合金、In−TQ合金。
L i −Z n合金、Mn−Zn合金、Pb−Ti合
金、pb−n合金、pb−sb金合金Pd−Zn合金、
5n−8b合金、TQ−8b合金、5b−Zn合金、T
i−8n合金、TQ−8n合金。
金、pb−n合金、pb−sb金合金Pd−Zn合金、
5n−8b合金、TQ−8b合金、5b−Zn合金、T
i−8n合金、TQ−8n合金。
Zr−8n合金、Zr−Th合金、Ti−Zn合金、T
i−Zr合金などがある。
i−Zr合金などがある。
合金例として、重量組成で次のものが好ましい。
Agに30〜46%Zn、6〜lO%Afl、 40〜
60%Cd、20〜30%In、13〜23%Gaを単
独、Cuに10〜20%AQ、20〜30%Ga、20
〜40%In、20〜30%Ga、15〜35%Sn、
10〜60%Zn、5〜10%Si、4〜15%Be、
3Q〜45%sbを単独、Auに15〜25%In、1
0〜15%Ga、5〜25%Zn、20〜55%Cd。
60%Cd、20〜30%In、13〜23%Gaを単
独、Cuに10〜20%AQ、20〜30%Ga、20
〜40%In、20〜30%Ga、15〜35%Sn、
10〜60%Zn、5〜10%Si、4〜15%Be、
3Q〜45%sbを単独、Auに15〜25%In、1
0〜15%Ga、5〜25%Zn、20〜55%Cd。
2.5〜5%Aflを単独、Niに55〜60%AQ、
40〜50%Tiを単独で加えた合金、In−25〜3
5%T1合金、Feに55%以下のptを加えた合金1
Mn−5〜50%Cu合金、5a15〜25%−In3
0〜40%−sb金合金これらの合金に対し更に第3成
分、第4成分。
40〜50%Tiを単独で加えた合金、In−25〜3
5%T1合金、Feに55%以下のptを加えた合金1
Mn−5〜50%Cu合金、5a15〜25%−In3
0〜40%−sb金合金これらの合金に対し更に第3成
分、第4成分。
第5成分等として第2成分以外の次の元素を加えること
ができる。
ができる。
r a、I[a、IVa、Va、Via、■a、■。
Ib−Vb、希土類元素の1種又は2種以上の合計で1
5重量%以下である。
5重量%以下である。
具体的には、Ia族はLi、Ia族はM g tCa、
■a族はTi、Zr、Hf、Va族はV。
■a族はTi、Zr、Hf、Va族はV。
Nb、Ta、 ■a族はCr、Mo、W、■a族はMn
、■族はCo、Rh、Ir、Fs、Ru。
、■族はCo、Rh、Ir、Fs、Ru。
Os、Ni、Pd、Pt、I b族はCu、Ag。
Au、■b族はZn、Cd、mb族はB、AQ。
Ga、In、IVb族はC,Si、Ge、Sn。
pb、vb族はpt sb、Bi、希土類元素はY。
La、Go、Sm、Gd、Tb、Dy、Luが好ましい
、特に、0.1〜5重量%が好ましい。
、特に、0.1〜5重量%が好ましい。
また、Te、Seを主にした合金を溶解、昇華によって
凹凸を形成させる合金も使用可能である。
凹凸を形成させる合金も使用可能である。
第2図は本発明の記録媒体を有する光デイスク装置の光
学系の全体構成を示す、同図の各部の記号とその動作に
ついて以下に説明する。1は光源となるレーザダイオー
ドである。2はコリメーションレンズで、レーザーダイ
オード1の光束を平行光にする63は偏光ビームスプリ
ッタ(以下PBSと略称する)で、コリメーションレン
ズの出力光を透過するとともに、つぎに述へる記号4で
示すλ/4板からのもどり光を屈折する。λ/4板4は
PBS3で入射光と反射光の識別を容易にするために光
の位相偏光を用いる。5は対物レンズであり、入射光を
集光するために用いられる。
学系の全体構成を示す、同図の各部の記号とその動作に
ついて以下に説明する。1は光源となるレーザダイオー
ドである。2はコリメーションレンズで、レーザーダイ
オード1の光束を平行光にする63は偏光ビームスプリ
ッタ(以下PBSと略称する)で、コリメーションレン
ズの出力光を透過するとともに、つぎに述へる記号4で
示すλ/4板からのもどり光を屈折する。λ/4板4は
PBS3で入射光と反射光の識別を容易にするために光
の位相偏光を用いる。5は対物レンズであり、入射光を
集光するために用いられる。
6はカップリングレンズで−PBS3からの光束を受け
てこれを集光させる。カップリングレンズ6は直交され
た2つのかまぼこ形レンズで構成されている。7は光検
知器である。光検知器7はカップリングレンズ6からの
入射光L6の光スポツト形状を検知することによって対
物レンズ5からの出力光L5の光スポツト形状を間接的
に検知する。8はアクチュエータであり、アクチュエー
タ8は光検知器7の出力に従い、対物レンズ5の出力光
L5の焦点位置を調整する。81はレンズ駆動部であり
、レンズ駆動部81はアクチュエータ8からの駆動制御
出力によって、対物レンズ5の位置を調整する。9は情
報を光学的に記録、再生。
てこれを集光させる。カップリングレンズ6は直交され
た2つのかまぼこ形レンズで構成されている。7は光検
知器である。光検知器7はカップリングレンズ6からの
入射光L6の光スポツト形状を検知することによって対
物レンズ5からの出力光L5の光スポツト形状を間接的
に検知する。8はアクチュエータであり、アクチュエー
タ8は光検知器7の出力に従い、対物レンズ5の出力光
L5の焦点位置を調整する。81はレンズ駆動部であり
、レンズ駆動部81はアクチュエータ8からの駆動制御
出力によって、対物レンズ5の位置を調整する。9は情
報を光学的に記録、再生。
消去等が可能なディスクであり、その一部を示す。
ディスク9は対物レンズ5からの出力光L5がディスク
面上に所望の光スポットを照射することによって、上記
の記録、再生、消去などを可能にしている。10はモー
タであり、ディスク9はモータ1oにより駆動する。
面上に所望の光スポットを照射することによって、上記
の記録、再生、消去などを可能にしている。10はモー
タであり、ディスク9はモータ1oにより駆動する。
第3図は第2図に示した光検知器7の従来の実施例を示
す、同図において、L6は第2図のカップリングレンズ
6の出力光L6を示す。PL。
す、同図において、L6は第2図のカップリングレンズ
6の出力光L6を示す。PL。
P2.P3.P4はそれぞれ光量を電気信号に変えるた
めのフォトダイオードである。入射光L6の光スポット
が真円のとき、フォトダイオードPL、P2.P3.及
びP4の出力電圧をそれぞれVl、V2.Va、V4と
すると、これらはそれぞれ等しくなるように整定しであ
る。71゜72はそれぞれディスク9上にトラッキング
を行うための減算器である。フォトダイオードP1の出
力電圧v1とフォトダイオードP2の出力電圧v2の差
(Vl−V2)の出力信号を検出することによって、間
接的に対物レンズ5からの出力光L5が所定のライン上
に照射されているか否かを判別する。もし、対物レンズ
5の出力光L5がディスク9の情報記録ラインに対称に
当っていないときには、出力電圧v1とv2に差を生じ
るのでその差の大きさ、及び符号により、ディスク9上
の記録ラインからずれていることを検知し、その差がな
くなるまで、対物レンズ5の位置を制御するためのトラ
ッキング制御信所TAIを出力する。
めのフォトダイオードである。入射光L6の光スポット
が真円のとき、フォトダイオードPL、P2.P3.及
びP4の出力電圧をそれぞれVl、V2.Va、V4と
すると、これらはそれぞれ等しくなるように整定しであ
る。71゜72はそれぞれディスク9上にトラッキング
を行うための減算器である。フォトダイオードP1の出
力電圧v1とフォトダイオードP2の出力電圧v2の差
(Vl−V2)の出力信号を検出することによって、間
接的に対物レンズ5からの出力光L5が所定のライン上
に照射されているか否かを判別する。もし、対物レンズ
5の出力光L5がディスク9の情報記録ラインに対称に
当っていないときには、出力電圧v1とv2に差を生じ
るのでその差の大きさ、及び符号により、ディスク9上
の記録ラインからずれていることを検知し、その差がな
くなるまで、対物レンズ5の位置を制御するためのトラ
ッキング制御信所TAIを出力する。
減算器72についても減算器71と同様に、フォトダイ
オードP3とP4の出力電圧v3とv4を入力信号とし
て、トラッキング制御信号TA2を得る。73.74は
加算器、75は比較器であり、対物レンズ5の出力光L
5がディスク9に当る焦点深度を調整するためのオート
フォーカス制御用の出力信号FAを得る部分である。こ
れは、焦点深度がディスク9の記録ラインに合致してい
るときには入射光L6が真円の状態でフォトダイオード
PL、P2.P3.P4に均等に入射し、しかもその光
束量も最も大きく、出力電圧Vl。
オードP3とP4の出力電圧v3とv4を入力信号とし
て、トラッキング制御信号TA2を得る。73.74は
加算器、75は比較器であり、対物レンズ5の出力光L
5がディスク9に当る焦点深度を調整するためのオート
フォーカス制御用の出力信号FAを得る部分である。こ
れは、焦点深度がディスク9の記録ラインに合致してい
るときには入射光L6が真円の状態でフォトダイオード
PL、P2.P3.P4に均等に入射し、しかもその光
束量も最も大きく、出力電圧Vl。
V2.V3.V4がそれぞれが等しく、その大きさは最
大になる。もし、焦点深度がずれて、入射光L6がだ円
形状になり、フォトダイオードP1゜P2.P3.P4
(7)出力電圧Vl、V2.V3゜v4で作成した(V
1+V3)と(V2+V4)の値に差を生じないように
なる。この現象を加算器73,74、及び比較器75を
用いて検出し、その出力信号FAが零になるまで、対物
レンズ5の位置を調整する。第4図はトラッキング、及
びオートフォーカス制御による対物レンズ5の駆動部の
従来実施例を示す、同図において、811゜812.8
13,814はコイルである。815は対物レンズ5の
ホルダーである。816,817は磁石、818,81
9はばね、820はフレームである。対物レンズ5はホ
ルダー815で固定され、ばね818,819により磁
光学ヘッドのフレーム820に据付けである。磁石81
6゜817は対物レンズ5の位置を定める要素のひとつ
として用いるもので、ホルダー815を鉄片など磁性体
とすることにより磁石816,817に吸引力と、ばね
818.819の引張り強さにより対物レンズ5の位置
が定まっている。第3図からのフォーカス制御用出力信
号FAにより、コイル811,812にも電流を流し、
対物レンズ5の位置を上、下に動かし、所望の焦点深度
にする。
大になる。もし、焦点深度がずれて、入射光L6がだ円
形状になり、フォトダイオードP1゜P2.P3.P4
(7)出力電圧Vl、V2.V3゜v4で作成した(V
1+V3)と(V2+V4)の値に差を生じないように
なる。この現象を加算器73,74、及び比較器75を
用いて検出し、その出力信号FAが零になるまで、対物
レンズ5の位置を調整する。第4図はトラッキング、及
びオートフォーカス制御による対物レンズ5の駆動部の
従来実施例を示す、同図において、811゜812.8
13,814はコイルである。815は対物レンズ5の
ホルダーである。816,817は磁石、818,81
9はばね、820はフレームである。対物レンズ5はホ
ルダー815で固定され、ばね818,819により磁
光学ヘッドのフレーム820に据付けである。磁石81
6゜817は対物レンズ5の位置を定める要素のひとつ
として用いるもので、ホルダー815を鉄片など磁性体
とすることにより磁石816,817に吸引力と、ばね
818.819の引張り強さにより対物レンズ5の位置
が定まっている。第3図からのフォーカス制御用出力信
号FAにより、コイル811,812にも電流を流し、
対物レンズ5の位置を上、下に動かし、所望の焦点深度
にする。
トラッキング制御信号TA、TBはそれぞれコイル81
3,814に電流を流し、対物レンズ5の左右の位置を
調整し、所望のトラッキングを行う。
3,814に電流を流し、対物レンズ5の左右の位置を
調整し、所望のトラッキングを行う。
以上、従来の方式によれば、ディスクの記録ラインに対
して、光スポットを正確に照射するためのトラッキング
、及び焦点深度の制御を行うことができる。
して、光スポットを正確に照射するためのトラッキング
、及び焦点深度の制御を行うことができる。
第5図に本発明ど使用する記録媒体30を示す。
これは柔軟性のあるプラスチック等のベース92の上に
薄く記録材料91を蒸着等で貼り付けたものである。
薄く記録材料91を蒸着等で貼り付けたものである。
第6図に前述のテープ状記録媒体への記録、再生、消去
の原理を示す、これらの動作のすべて、レーザ光42を
テープ状記録媒体の上にレーザビームスポットをレンズ
41で形成し、そこでの昇温加熱や、反射光等を利用し
て行う、テープ状記録媒体への情報記録は、テープの進
行方向と、幅方向それぞれになされる。このうちテープ
幅方向(矢印46で示される)はレーザビーム42の走
査により行われる。
の原理を示す、これらの動作のすべて、レーザ光42を
テープ状記録媒体の上にレーザビームスポットをレンズ
41で形成し、そこでの昇温加熱や、反射光等を利用し
て行う、テープ状記録媒体への情報記録は、テープの進
行方向と、幅方向それぞれになされる。このうちテープ
幅方向(矢印46で示される)はレーザビーム42の走
査により行われる。
しかしこの時も問題になるのが、レーザビームのテープ
幅方向走査による焦点位置すれと反射光の問題である。
幅方向走査による焦点位置すれと反射光の問題である。
このようすを第7図に示す、同図(a)はテープを幅方
向に切断した断面102と対物レンズ101を示してい
る。この場合テープと垂直なレーザビーム101が入射
された時はテープ上に焦点を結ぶが、レーザを走査する
(LiO2)とテープ面上に焦点は結ばず、かつ反射光
も対物レンズにもどらずに別方向に発散してしまう(L
i2S)、これまで情報再生は行えない、その対策とし
て第7図(b)の様にテープを円弧状(103)にする
、そしてこれにレーザビームを照射すれば焦点は必ずテ
ープ上に結び、かつ戻りも発散することはない。
向に切断した断面102と対物レンズ101を示してい
る。この場合テープと垂直なレーザビーム101が入射
された時はテープ上に焦点を結ぶが、レーザを走査する
(LiO2)とテープ面上に焦点は結ばず、かつ反射光
も対物レンズにもどらずに別方向に発散してしまう(L
i2S)、これまで情報再生は行えない、その対策とし
て第7図(b)の様にテープを円弧状(103)にする
、そしてこれにレーザビームを照射すれば焦点は必ずテ
ープ上に結び、かつ戻りも発散することはない。
第8図に具体的なヘッドの構成を示す。テープ状記録媒
体30は前述の円弧形状を保つために16および17の
ヘッドで上下から押えられる。
体30は前述の円弧形状を保つために16および17の
ヘッドで上下から押えられる。
これらのヘッドは光学的に透明で、L61で示される集
光されたレーザ光を通し、テープ上にビームスポットを
形成する。またこの時ビームスポットは矢印43で示様
れる方向に走査される。
光されたレーザ光を通し、テープ上にビームスポットを
形成する。またこの時ビームスポットは矢印43で示様
れる方向に走査される。
第9図にテープ状記録媒体の光学情報記録再生消去装置
の構成を示す、まず情報の記録、消去について説明する
。L21で示されるレーザ光は、偏光ビームスプリッタ
11、λ/4板12を通り。
の構成を示す、まず情報の記録、消去について説明する
。L21で示されるレーザ光は、偏光ビームスプリッタ
11、λ/4板12を通り。
対物レンズ13により絞られる。その後ガルバノミラ−
14に反射されて記録媒体30上に焦点をむすぶ、従っ
て記録媒体のスポット温度が上昇し記録もしくは消去が
可能となる。記録と消去のちがいはレーザビームの強度
の差である。情報の再生は、いままで述べてきた方式に
、記録媒体からの反射光をそのまま20で示す光検知機
でピックアップすることにより実現できる。
14に反射されて記録媒体30上に焦点をむすぶ、従っ
て記録媒体のスポット温度が上昇し記録もしくは消去が
可能となる。記録と消去のちがいはレーザビームの強度
の差である。情報の再生は、いままで述べてきた方式に
、記録媒体からの反射光をそのまま20で示す光検知機
でピックアップすることにより実現できる。
情報のテープ幅方向への記録は14のガルバノミラ−を
回転することによる行う、この時ガルバノミラ−14の
中心17と16で示すヘッドの円弧の中心を同一とし、
かつ対物レンズ13の焦点位置を円弧上に重なる位置構
成にしておけば、図中L14a、L14bで示す様に必
ず記録媒体上に焦点を結ぶことになる。従ってこの光学
系ではテープとヘッドを常に密着した状態で使用する限
り、焦点合わせ系は不用である。
回転することによる行う、この時ガルバノミラ−14の
中心17と16で示すヘッドの円弧の中心を同一とし、
かつ対物レンズ13の焦点位置を円弧上に重なる位置構
成にしておけば、図中L14a、L14bで示す様に必
ず記録媒体上に焦点を結ぶことになる。従ってこの光学
系ではテープとヘッドを常に密着した状態で使用する限
り、焦点合わせ系は不用である。
第9図に同様の光学系であるが、ガルバノミラ−の代り
に、AOモジュレータ51およびその変調器52を用い
たものである。その他の詳細は図8と同様である。また
他の方式として、ガルバノミラ−の代りにポリゴンミラ
ー等を利用する事も考えられる。
に、AOモジュレータ51およびその変調器52を用い
たものである。その他の詳細は図8と同様である。また
他の方式として、ガルバノミラ−の代りにポリゴンミラ
ー等を利用する事も考えられる。
スパッタリング法によってA g −40重量%Zn合
金膜を耐熱樹脂テープに形成した0合金膜の記録、消去
による加熱による酸化を防止するため及び基板から剥離
するのを防止するため、その表面にSiO□の保護膜(
厚さ30nm)を蒸着によって形成した。ガラス板上の
合金膜の蒸着にはDC−マグネトロン型を、Sin、膜
の形成にはRF型のスパッタ法をそれぞれ適用した。ス
パッタ出力は140〜200W、基板温度は200℃の
条件に設定した。容器内を10−’Torr程度まで真
空排気後、Arガスを5〜30 mTorr導入して薄
膜を作製した。膜厚は、S i O,膜厚を30nm程
度とし、合金膜厚を0.05〜10 μmの範囲内で種
々の厚さに変えた。このようにして製作した光ディスク
を使用して、記録及び消去、又それらの繰返しを行った
。Arガスレーザは連続発振させた。試料を手動移動ス
テージの上に設置し、試料を移動させて200mWレー
ザ光を該試料の膜表面に焦点を合せ走査させた。レーザ
光を照射させた部分はピンクに変化した0合金膜はあら
かじめ基板ごと銀白色になる熱処理を施しである。
金膜を耐熱樹脂テープに形成した0合金膜の記録、消去
による加熱による酸化を防止するため及び基板から剥離
するのを防止するため、その表面にSiO□の保護膜(
厚さ30nm)を蒸着によって形成した。ガラス板上の
合金膜の蒸着にはDC−マグネトロン型を、Sin、膜
の形成にはRF型のスパッタ法をそれぞれ適用した。ス
パッタ出力は140〜200W、基板温度は200℃の
条件に設定した。容器内を10−’Torr程度まで真
空排気後、Arガスを5〜30 mTorr導入して薄
膜を作製した。膜厚は、S i O,膜厚を30nm程
度とし、合金膜厚を0.05〜10 μmの範囲内で種
々の厚さに変えた。このようにして製作した光ディスク
を使用して、記録及び消去、又それらの繰返しを行った
。Arガスレーザは連続発振させた。試料を手動移動ス
テージの上に設置し、試料を移動させて200mWレー
ザ光を該試料の膜表面に焦点を合せ走査させた。レーザ
光を照射させた部分はピンクに変化した0合金膜はあら
かじめ基板ごと銀白色になる熱処理を施しである。
次にレーザ光の焦点を膜表面から若干ずらし、レーザの
出力密度を低くしてピン、り色の部分と交差する方向(
図の上下方向)に走査させた。その結果1元のピンク色
は消去され銀白色に変化した。
出力密度を低くしてピン、り色の部分と交差する方向(
図の上下方向)に走査させた。その結果1元のピンク色
は消去され銀白色に変化した。
これらの色の変化と同時にベース面に凹又は凸部が生じ
て記録でき、消去によって元の平坦な面に戻ることが確
認された。
て記録でき、消去によって元の平坦な面に戻ることが確
認された。
以上の結果から薄膜状態の合金による記録、消去が可能
であることを確認された。この書込み。
であることを確認された。この書込み。
消去は何回でも繰返しが可能であることが確認された。
本発明によれば、記録消去のくり返し使用が可能で、焦
点合せが簡単にできる光学情報記録再生装置が得られる
。
点合せが簡単にできる光学情報記録再生装置が得られる
。
第1図は本発明の主要部であるガルバノミラ−と円弧状
ヘッドによる光学情報記録再生消去装置の実施例の説明
図、第2図は従来の光デイスク装置の光学系の全体構成
図、第3図は従来の焦点位置検出用の検出器構成図、第
4図は従来の対物レンズ駆動部の構成図、第5図はテー
プ状情報記録媒体の概略図、第6図はテープ状情報記録
媒体の記録、再生、消去の原理図、第7図はテープ形状
と焦点位置の関係の説明図、第8図は円弧状ヘッドの説
明図、第9図はA○モジュレータ方式による本発明の実
施例を示すものである。 1・・・レーザダイオード、2・・・コリメーションレ
ンズ、3・・・偏光ビームスプリッタ、4・・・λ/4
板、5・・・対物レンズ、6・・・カップリングレンズ
、7・・・光検知器、9・・・ディスク、11・・・偏
光ビームスプリッタ、12・・・λ/4板、13・・・
対物レンズ。 14・・・ガルバノミラ−116・・・円弧状ヘッド、
30・・・テープ状情報記録媒体。 笛 2fE] 第 5 区 某乙図 論 7rEJ △i/
ヘッドによる光学情報記録再生消去装置の実施例の説明
図、第2図は従来の光デイスク装置の光学系の全体構成
図、第3図は従来の焦点位置検出用の検出器構成図、第
4図は従来の対物レンズ駆動部の構成図、第5図はテー
プ状情報記録媒体の概略図、第6図はテープ状情報記録
媒体の記録、再生、消去の原理図、第7図はテープ形状
と焦点位置の関係の説明図、第8図は円弧状ヘッドの説
明図、第9図はA○モジュレータ方式による本発明の実
施例を示すものである。 1・・・レーザダイオード、2・・・コリメーションレ
ンズ、3・・・偏光ビームスプリッタ、4・・・λ/4
板、5・・・対物レンズ、6・・・カップリングレンズ
、7・・・光検知器、9・・・ディスク、11・・・偏
光ビームスプリッタ、12・・・λ/4板、13・・・
対物レンズ。 14・・・ガルバノミラ−116・・・円弧状ヘッド、
30・・・テープ状情報記録媒体。 笛 2fE] 第 5 区 某乙図 論 7rEJ △i/
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、加熱急冷することにより光学濃度が変化し、また加
熱除冷することにより光学濃度が元にもどる可逆性を持
つ材料をテープ状に加工した情報記録媒体上に、光源か
らの光を可動ミラー、対物レンズを用いてビームスポッ
トを形成し情報の機録、再生をする装置において、可動
ミラーを移動しても常に該記録媒体上にビームスポット
を形成する様、テープ形状を円弧状にし可動ミラーの回
転中心と該円弧の中心を同一とし、前記記録媒体は固体
状態で少なくとも2種類の結晶構造を有し、一方の温度
領域での結晶構造を他方の温度領域で保持し及び/又は
結晶状態で互いに異なつた体積変化を生じる金属又は合
金からなることを特徴とする光学情報記録再生装置。 2、前記記録媒体は固体状態の高温における結晶構造が
高温から過冷によつて保持される金属又は合金からなる
特許請求の範囲第1項に記録の光学情報記録再生装置。 3、前記記録媒体は相変態を有する結晶質状態の金属あ
るいは合金にあつて、固相状態の少なくとも2つの温度
領域において結晶構造の異なつた相を有し、その相間の
変態に伴なう凹部又は凸部を形成してベース面との光の
反射状態を変化させて情報としての信号、文字、図形、
記号を識別できるように記憶させ又は前記凹部又は凸部
を元の状態に消去させる加熱手段及び前記情報再生させ
る手段を有する特許請求の範囲第1項に記載の光学情報
記録再生装置。 4、前記記録媒体は元素周期律表の I ・b族からVII・
b族及びVIII族の金属元素遷移金属元素を主成分とする
金属あるいは合金からなる特許請求の範囲第1項〜第3
項のいずれかに記載の光学情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60034743A JPS61194644A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 光学情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60034743A JPS61194644A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 光学情報記録再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61194644A true JPS61194644A (ja) | 1986-08-29 |
Family
ID=12422800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60034743A Pending JPS61194644A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 光学情報記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61194644A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003080883A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Mitsubishi Pencil Co Ltd | 中綿収納用カートリッジ |
US9051094B2 (en) | 2009-08-25 | 2015-06-09 | Scholle Corporation | Closure with obliquely angled cam surfaces on inner and outer parts |
US9802029B2 (en) | 2012-10-04 | 2017-10-31 | Sanofi-Aventis Deutschland Gmbh | Microneedle arrangement and adapter |
-
1985
- 1985-02-22 JP JP60034743A patent/JPS61194644A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003080883A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Mitsubishi Pencil Co Ltd | 中綿収納用カートリッジ |
US9051094B2 (en) | 2009-08-25 | 2015-06-09 | Scholle Corporation | Closure with obliquely angled cam surfaces on inner and outer parts |
US9802029B2 (en) | 2012-10-04 | 2017-10-31 | Sanofi-Aventis Deutschland Gmbh | Microneedle arrangement and adapter |
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