JPS61190790A - Semi-conductor memory device - Google Patents
Semi-conductor memory deviceInfo
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- JPS61190790A JPS61190790A JP60030346A JP3034685A JPS61190790A JP S61190790 A JPS61190790 A JP S61190790A JP 60030346 A JP60030346 A JP 60030346A JP 3034685 A JP3034685 A JP 3034685A JP S61190790 A JPS61190790 A JP S61190790A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
周辺回路がECL回路を含み、メモリアレイが0M03
回路によって構成されたスタティック型RAM (ラン
ダム・アクセス・メモリ)に利用して有効な技術に関す
るものである。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field] The present invention relates to a semiconductor memory device, for example,
Peripheral circuit includes ECL circuit, memory array is 0M03
The present invention relates to a technique that is effective for use in static RAM (random access memory) configured by circuits.
CMOSスタティック型RAM (ランダム アクセス
メモリ)をECL (エミッタ カップルド ロジッ
ク)回路により直接アクセスするよう月号、 pp24
8〜249.によって公知である。また、CMOSスタ
ティック型RAMの高速化のために、バイポーラ型トラ
ンジスタを用いたものが特開昭56−58193号公報
、日経マグロウヒル社1984年5月21日付「日経エ
レクトロニスク」頁198等により提案されている。Monthly issue, pp24 to allow direct access to CMOS static RAM (Random Access Memory) using ECL (emitter coupled logic) circuits.
8-249. It is known by In addition, in order to increase the speed of CMOS static type RAM, one using bipolar type transistors was proposed in Japanese Patent Application Laid-open No. 56-58193, Nikkei McGraw-Hill Publishing, "Nikkei Electronics", May 21, 1984, page 198, etc. ing.
本願出願人においては、CMOSスタティック型RAM
の高速化のために、アドレスバッファ及びデータ入出力
回路の一部にバイポーラ型トランジスタにより構成され
たECL回路を組み込んだRAMを既に開発した。この
ようなECL回路と0M03回路とを組み合わせたRA
Mおいては、ECLレベルをCMOSレベルに変換する
レベル変換回路が必要とされる。また、多数のゲート回
路によって構成されるアドレスデコーダは、その入力容
量が比較的大きくなる。したがって、アドレスバッファ
の出力回路は、高速動作化のためには比較的大きな電流
駆動能力を持つことが必要とされる。このような理由に
よって、上記レベル変換回路や出力回路は、その回路が
比較的複雑になってしまう。The applicant of this application uses CMOS static type RAM.
In order to increase the speed of processing, we have already developed a RAM that incorporates an ECL circuit made up of bipolar transistors in part of the address buffer and data input/output circuit. RA that combines such ECL circuit and 0M03 circuit
In M, a level conversion circuit is required to convert the ECL level to the CMOS level. Further, an address decoder configured with a large number of gate circuits has a relatively large input capacitance. Therefore, the output circuit of the address buffer is required to have a relatively large current driving capability for high-speed operation. For these reasons, the level conversion circuit and output circuit described above are relatively complicated.
この発明の目的は、簡単な回路構成によって、高速動作
化を実現できる半導体記憶装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide a semiconductor memory device that can realize high-speed operation with a simple circuit configuration.
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。The above and other objects and novel features of this invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、CMOSレベルに変換された相補信号の内の
一方の信号は、出力負荷容量を充電させる出力トランジ
スタのベースに直接供給し、出力負荷容量を放電させる
出力トランジスタのベースに供給される他方の信号は、
上記出力トランジスタの出力信号を受けて動作する伝送
ゲー)MOSFETを介して供給するものである。That is, one of the complementary signals converted to a CMOS level is directly supplied to the base of the output transistor that charges the output load capacitance, and the other signal is supplied to the base of the output transistor that discharges the output load capacitance. teeth,
The signal is supplied via a transmission gate (MOSFET) which operates upon receiving the output signal of the output transistor.
第1図には、この発明の一実施例の回路図が示されてい
る。特に制限されないが、同図のRAMは、公知の集積
回路技術によって1(!lの単結晶シリコンのような半
導体基板上に形成される。なお、同図において、Pチャ
ンネルMO3FETは、そのソース・ドレイン間に直線
を付加することによってNチャンネル型と区別している
。FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of the present invention. Although not particularly limited, the RAM shown in the figure is formed on a semiconductor substrate such as single crystal silicon using known integrated circuit technology. In the figure, the P-channel MO3FET is It is distinguished from the N-channel type by adding a straight line between the drains.
メモリセルMCは、その1つの具体的回路が代表として
示されており、Nチャンネル型の記憶用MO3FETQ
I、Q2のゲートとドレインは、互いに交差結線される
。特に制限されないが、上記MO3FETQI、Q2の
ドレインと電源電圧Vccとの間には、情報保持用のポ
リ (多結晶)シリコン層で形成された高抵抗R1,R
2が設けられる。上記MO3FETQI、Q2の共通接
続点と相補データ線D 0.10との間にNチャンネル
型伝送ゲートMO3FETQ3.Q4が設けられる。他
のメモリセルMCも相互において同様な回路構成にされ
ている。これらのメモリセルは、マトリックス状に配置
されている。同じ行に配置されたメモリセルの伝送ゲー
トMO3FETQ3゜Q4等のゲートは、それぞれ例示
的に示された対応するワード線WO,Wn等に共通に接
続され、同じ列に配置されたメモリセルの入出力端子は
、それぞれ例示的に示された対応する一対の相補データ
(又はビット)線DO,DO及びDi、DI等に接続さ
れる。One specific circuit of the memory cell MC is shown as a representative, and is an N-channel storage MO3FETQ.
The gates and drains of I, Q2 are cross-wired together. Although not particularly limited, between the drains of the MO3FETs QI and Q2 and the power supply voltage Vcc, there are high resistances R1 and R formed of a polysilicon layer for information retention.
2 is provided. An N-channel type transmission gate MO3FETQ3. Q4 is provided. Other memory cells MC also have similar circuit configurations. These memory cells are arranged in a matrix. The gates of the transmission gates MO3FETQ3゜Q4, etc. of the memory cells arranged in the same row are commonly connected to the corresponding word lines WO, Wn, etc. shown by way of example, and are connected to the inputs of the memory cells arranged in the same column. The output terminals are connected to a corresponding pair of complementary data (or bit) lines DO, DO and Di, DI, etc., respectively, which are exemplarily shown.
上記メモリセルMCにおいて、それを低消費電力にさせ
るため、その抵抗R1は、MO3FETQ1がオフ状態
にされているときのMOS F ETQ2のゲート電圧
をしきい値電圧以上に維持させることができる程度の高
抵抗値にされる。同様に抵抗R2も高抵抗値にされる。In the memory cell MC, in order to reduce power consumption, the resistor R1 is set to a level that allows the gate voltage of MOS FETQ2 to be maintained above the threshold voltage when MO3FETQ1 is turned off. It is made to have a high resistance value. Similarly, the resistor R2 is also made to have a high resistance value.
言い換えると、上記抵抗R1は、MO3FETQIのド
レインリーク電流によってMO3FETQ2のゲート容
N(図示しない)に蓄積されている情報電荷が放電させ
られてしまうのを防ぐ程度の電流供給能力を持つように
される。なお、上記抵抗R1,R2に代え、Pチャンネ
ルMOS F ETを用いるものであってもよい。In other words, the resistor R1 has enough current supply ability to prevent the information charge stored in the gate capacitor N (not shown) of MO3FET Q2 from being discharged due to the drain leakage current of MO3FET QI. . Note that a P-channel MOS FET may be used instead of the resistors R1 and R2.
上記メモリアレイM−ARYにおける代表として示され
た一対の相補データ#IADO2DOと電源電圧Vcc
との間には、特に制限されないが、Nチャンネル負荷M
O3FETQ5.Q6が設けられる。他の代表として示
された相補データ線DI。A pair of complementary data #IADO2DO and power supply voltage Vcc shown as a representative in the above memory array M-ARY
There is no particular restriction between N channel load M
O3FETQ5. Q6 is provided. Complementary data line DI is shown as another representative.
DIにも同様なMO3FETQ?、G8が設けられる。Similar MO3FETQ for DI? , G8 are provided.
同図において、ワード線WOは、XアドレスデコーダX
DCRを構成するノア(NOR)ゲート回路G1で形成
された出力信号によって選択される。このことは、他の
ワード線Wnについても同様である。In the figure, the word line WO is connected to the X address decoder
The selection is made by the output signal formed by the NOR gate circuit G1 forming the DCR. This also applies to other word lines Wn.
上記XアドレスデコーダXDCRは、相互において類似
のノアゲート回路G1.G2等により構成される。これ
らのノアゲート回路Gl、G2等の入力端子には、後述
するように複数ビットからなる外部アドレス信号AO〜
At(図示しない適当な回路装置から出力されたアドレ
ス信号)を受けるXアドレスバンファXADBで形成さ
れた内部相補アドレス信号が所定の組合せにより印加さ
れる。なお、上記XアドレスデコーダXDCRの単位回
路は、それぞれ1つのノアゲート回路Gl。The X address decoders XDCR are mutually similar NOR gate circuits G1. Consists of G2 etc. The input terminals of these NOR gate circuits Gl, G2, etc. are supplied with external address signals AO to AO consisting of multiple bits as described later.
Internal complementary address signals formed by an X address buffer XADB receiving At (an address signal output from an appropriate circuit device not shown) are applied in a predetermined combination. Note that each unit circuit of the X address decoder XDCR is one NOR gate circuit Gl.
02等によって示しているが、アドレスデコーダ全体の
ゲート数を減少させること、及び寄生入力容量を減らす
こと等のため、プレデコーダを配置する等のように複数
段に分割して構成することが望ましい。02, etc., but in order to reduce the number of gates in the entire address decoder and to reduce parasitic input capacitance, it is desirable to configure the address decoder by dividing it into multiple stages, such as by arranging a pre-decoder. .
上記メモリアレイにおける一対の相補データ線Do、D
O及びDl、Dlは、それぞれデータ線選択のための伝
送ゲートMO3FETQ9.QlO及びQll、G12
から構成されたカラムスイッチ回路を介してコモン相補
データ線CD、CDに接続される。A pair of complementary data lines Do, D in the memory array
O, Dl, and Dl are transmission gates MO3FETQ9.0 and D1 for data line selection, respectively. QlO and Qll, G12
It is connected to the common complementary data lines CD, CD through a column switch circuit composed of the following.
上記カラムスイッチ回路を構成するMO3FEi:TQ
9.QIO及びQll、G12のゲートには、それぞれ
YアドレスデコーダYDCRによって形成さた選択信号
が供給される。このYアドレスデコーダYDCRは、上
記同様な相互において類似のノアゲート回路G3.G4
等により構成される。MO3FEi:TQ that constitutes the above column switch circuit
9. A selection signal formed by a Y address decoder YDCR is supplied to the gates of QIO, Qll, and G12, respectively. This Y address decoder YDCR is a mutually similar NOR gate circuit G3. G4
It is composed of etc.
これらのノアゲート回路G3.G4等には、複数ビット
からなる外部アドレス信号AO〜Aj(図示しない適当
な回路装置から出力されたアドレス信号)を受けるYア
ドレスバッファY−ADHで形成された内部相補アドレ
ス信号が所定の組合せにより印加される。These NOR gate circuits G3. In G4, etc., an internal complementary address signal formed by a Y address buffer Y-ADH that receives external address signals AO to Aj (address signals output from an appropriate circuit device not shown) consisting of multiple bits is output by a predetermined combination. applied.
上記コモン相補データ線CD、τ百は、読み出し回路R
Aの入力端子と、書込み回路WAの出力端子に接続され
る。上記読み出し回路RAは、共通相補データ線CD、
CDの読み出し信号を増幅するセンスアンプと、ECL
出力回路とを含みECLレベルの読み出し信号を出力端
子Doutへ送出する。書込み回路WAは、入力端子D
inから入力されるECLレベルの書込みデータ信号を
増幅して、CMOSレベルの書き込み信号を形成して上
記共通相補データ線CD、CDに送出する。The common complementary data line CD, τ100 is the readout circuit R
It is connected to the input terminal of A and the output terminal of write circuit WA. The readout circuit RA includes a common complementary data line CD,
A sense amplifier that amplifies the CD read signal and an ECL
It includes an output circuit and sends out an ECL level read signal to the output terminal Dout. The write circuit WA has an input terminal D
The write data signal at the ECL level inputted from the in is amplified to form a write signal at the CMOS level and sent to the common complementary data lines CD, CD.
タイミング制御回路TCは、外部端子WE、Cτから供
給されたチップ選択信号とライトイネーブル信号を受け
て、上記読み出し回路RA、書込み回路WAの動作制御
信号等を形成する。The timing control circuit TC receives chip selection signals and write enable signals supplied from external terminals WE and Cτ, and forms operation control signals for the read circuit RA and write circuit WA.
上記XアドレスデコーダXDCRは、その1つの回路(
単位回路)が代表として示されている。The above-mentioned X address decoder XDCR is one of the circuits (
unit circuit) is shown as a representative.
すなわち、外部端子AOからのアドレス信号は、バイポ
ーラ型トランジスタT1、レベルシフトダイオードDI
と、その動作電流を形成する電流源としてのMO3FE
TQI 3からなるエミッタフォロワ回路を介して、次
のECL回路に供給される。ECL回路は、差動トラン
ジスタT2.T3と、その共通エミッタに設けられ、そ
の動作電流を形成する電流源としてのMO3FETQI
4と、上記差動トランジスタT2.T3のコレクタに
設けられた負荷抵抗R3,R4とにより構成される。That is, the address signal from the external terminal AO is transmitted through the bipolar transistor T1 and the level shift diode DI.
and MO3FE as a current source that forms its operating current.
It is supplied to the next ECL circuit via an emitter follower circuit consisting of TQI 3. The ECL circuit includes differential transistors T2. T3 and MO3FETQI as a current source provided at its common emitter and forming its operating current.
4, and the differential transistor T2. It is composed of load resistors R3 and R4 provided at the collector of T3.
上記電流源としてのMO3FETQI 3.Ql 4は
、そのゲートに定電圧Voが供給されることによって定
電流源として動作する。上記一方の差動トランジスタT
2のベースには、上記エミッタフォロワ回路の出力信号
が供給され、他方の差動トランジスタT3のベースには
、ロジックスレソシッルド電圧としての基準電圧vbb
が供給される。MO3FETQI as the above current source 3. Ql 4 operates as a constant current source by supplying a constant voltage Vo to its gate. One of the differential transistors T
The base of the differential transistor T3 is supplied with the output signal of the emitter follower circuit, and the base of the other differential transistor T3 is supplied with a reference voltage vbb as a logic threshold voltage.
is supplied.
以上の各回路素子により、入力回路IBが構成される。Each of the above circuit elements constitutes an input circuit IB.
上記入力回路IBO差動増幅トランジスタT2゜T3の
コレクタから導出され、外部端子AOから供給されたア
ドレス信号と同相のアドレス信号と逆相のアドレス信号
とからなるECLレベルの相補信号は、次のレベル変換
回路LVCによってCMOSレベルに変換される。すな
わち、上記相補信号は、PチャンネルMO3FETQ1
5.Q16のゲートに供給される。これらのMOSFE
TQI5.Q16のドレインには、電流ミラー形態にさ
れたNチャンネルMO3FETQ17.Q18が設けら
れる。このようなMO3増幅回路は、上記Pチャンネル
MO3FETQ15とQ16のゲートに互いに逆相の相
補信号が供給されるので、MOSFETQI5.Q16
のドレイン電流が差動的に流れる0例えば、MOSFE
TQI5の電流が相対的太き(されると、MOSFET
QI6の電流は相対的に小さくされる。この場合には上
記MO3FETQI 5を通して大きな電流が電流ミラ
ー形態のMOSFETQI 7に供給されるので、これ
に従ってMOSFETQI Bの電流も大きくされる。The complementary signal at the ECL level, which is derived from the collector of the input circuit IBO differential amplification transistor T2゜T3 and consists of an address signal in phase with the address signal supplied from the external terminal AO and an address signal in opposite phase, is at the next level. It is converted to CMOS level by a conversion circuit LVC. That is, the above complementary signal is transmitted to the P channel MO3FETQ1.
5. Supplied to the gate of Q16. These MOSFEs
TQI5. The drain of Q16 is connected to an N-channel MO3FET Q17. in a current mirror configuration. Q18 is provided. In this MO3 amplifier circuit, complementary signals having opposite phases to each other are supplied to the gates of the P-channel MO3FETs Q15 and Q16. Q16
For example, if the drain current flows differentially in a MOSFE
If the current of TQI5 is relatively thick (if it is, the MOSFET
The current in QI6 is made relatively small. In this case, a large current is supplied to the current mirror type MOSFET QI 7 through the MO3FET QI 5, so that the current of the MOSFET QI B is also increased accordingly.
したがって、相補的にPチャンネルMOSFETQI
6とNチャンネルMO3FETQ1Bが動作させられる
ので、その出力Nlからははゾ回路の接地電位のような
ロウレベルの出力信号が得られる。また、逆の入力信号
によってMOSFETQI6の電流が相対的に大きくさ
れると、MOSFETQI5の電流が相対的に小さくさ
れる結果、上記電流ミラー形態のMO3FETQ1?、
Q18の動作電流が小さくなり、出力N1からははソ°
電源電圧Vccのようなハイレベルの出力信号が得られ
る。Therefore, complementary P-channel MOSFETQI
6 and the N-channel MO3FET Q1B are operated, so that a low level output signal like the ground potential of the Z circuit is obtained from the output Nl. Moreover, when the current of MOSFETQI6 is made relatively large by the opposite input signal, the current of MOSFETQI5 is made relatively small, and as a result, the current mirror type MO3FETQ1? ,
The operating current of Q18 becomes smaller, and the output N1 becomes less
A high level output signal like the power supply voltage Vcc can be obtained.
以上のレベル変換回路によって形成された内部アドレス
信号と逆相のアドレス信号(N2)を形成するため、上
記類似のMOSFETQI 9〜Q22により構成され
たレベル変換回路が設けられる。このレベル変換回路の
入力であるMOSFETQI9.Q20のゲートには、
上記の場合と逆相のECLレベルの相補信号が供給され
る。In order to form an address signal (N2) having a phase opposite to the internal address signal formed by the above level conversion circuit, a level conversion circuit constituted by MOSFETs QI9 to Q22 similar to those described above is provided. MOSFET QI9. which is the input of this level conversion circuit. At the gate of Q20,
A complementary signal having an ECL level opposite to that in the above case is supplied.
この実施例では、上記アドレスデコーダを構成する多数
のゲート回路の入力容量からなる比較的大きな容量値の
負荷容量を高速で駆動するため、次の出力回路OBが設
けられる。すなわち、上記レベル変換回路LVCによっ
て形成された相補信号のうちの一方の出力信号N2は、
バイポーラ型NPN出力トランジスタT4のベースに供
給される。この出力トランジスタT4は、容量性負荷の
充電を行う、上記出力トランジスタT4とカスケード接
続された上記同様な出力トランジスタT5は、上記容量
性負荷の放電を行う、この出力トランジスタT5を上記
出力トランジスタT4に対して相補的に動作させるため
、トランジスタT5のベースには、伝送ゲートMO3F
ETQ23を介して上記相補信号のうちの他方の出力信
号N1−が供給される。この伝送ゲートMO3FETQ
23は、NチャンネルM OS F E Tにより構成
され、このゲートには、出力信号aOが供給される。In this embodiment, the following output circuit OB is provided in order to drive at high speed a load capacitance having a relatively large capacitance value consisting of the input capacitances of a large number of gate circuits constituting the address decoder. That is, one output signal N2 of the complementary signals formed by the level conversion circuit LVC is as follows.
It is supplied to the base of bipolar NPN output transistor T4. This output transistor T4 charges the capacitive load. A similar output transistor T5, connected in cascade with the output transistor T4, discharges the capacitive load. In order to operate complementary to the transmission gate MO3F, the base of the transistor T5 is connected to the transmission gate MO3F.
The other output signal N1- of the complementary signals is supplied via ETQ23. This transmission gate MO3FETQ
23 is constituted by an N-channel MOS FET, and the output signal aO is supplied to the gate thereof.
上記出力信号aOと逆相の出力信号丁0を形成する出力
回路も上記類似のトランジスタT6.T7及び伝送ゲー
トMO3FETQ24から構成される。ただし、容量性
負荷の充電を行う出力トランジスタT6のベースには、
上記他方のレベル変換出力信号Nlが供給され、容量性
負荷の放電を行う出力トランジスタT7のベースには、
上記伝送ゲートMO3FETQ24を通して上記一方の
レベル変換出力信号N2が供給される。The output circuit that forms the output signal 0 having the opposite phase to the output signal aO is also the transistor T6 similar to the above. It consists of T7 and transmission gate MO3FETQ24. However, at the base of the output transistor T6 that charges the capacitive load,
The base of the output transistor T7, to which the other level-converted output signal Nl is supplied, discharges the capacitive load.
The one level conversion output signal N2 is supplied through the transmission gate MO3FETQ24.
この出力回路OBの動作は、次の通りである。The operation of this output circuit OB is as follows.
上記一方のレベル変換出力信号N2がハイレベル(回路
の接地電位)なら、出力トランジスタT4はオン状態に
されて、出力信号aOをハイレベルにする。この時、他
方のレベル変換出力信号N1はロウレベル(負の電源電
圧−Vee)であるため、上記出力aOのハイレベルに
よってオン状態にされたMOSFETQ23を通してト
ランジスタT5のベースはロウレベルにされる。これに
よってトランジスタT5はオフ状態にされる。このよう
なトランジスタT4とT5の動作によって、容量性負荷
が高速に充電され、出力信号aOは高速にハイレベルに
充電される。When the one level-converted output signal N2 is at a high level (ground potential of the circuit), the output transistor T4 is turned on and the output signal aO is set at a high level. At this time, since the other level conversion output signal N1 is at a low level (negative power supply voltage -Vee), the base of the transistor T5 is brought to a low level through the MOSFET Q23 turned on by the high level of the output aO. This turns transistor T5 off. Due to such operations of transistors T4 and T5, the capacitive load is charged at high speed, and the output signal aO is charged to a high level at high speed.
上記状態から、上記一方のレベル変換出力信号N2がロ
ウレベルに、他方のレベル変換出力信号N1がハイレベ
ルに変化すると、上記一方のレベル変換出力N2のロウ
レベルによって出力トランジスタT4は、オフ状態にさ
れる。上記他方のレベル変換出力信号N1のハイレベル
は、上記出力信号aOのハイレベルによってオン状態に
されているMO3FETQ23を通して出力トランジス
タT5のベースに伝えられるので、出力トランジスタT
5はオン状態にされる。これによって、ハイレベルの出
力信号aQを高速に放電させる。なお、この放電動作に
よってMO3FETQ23はオフ状態にされる。したが
って、上記放電動作とともに出力トランジスタT5もオ
フ状態にされる。From the above state, when the one level conversion output signal N2 changes to a low level and the other level conversion output signal N1 changes to a high level, the output transistor T4 is turned off by the low level of the one level conversion output N2. . The high level of the other level-converted output signal N1 is transmitted to the base of the output transistor T5 through the MO3FET Q23, which is turned on by the high level of the output signal aO.
5 is turned on. As a result, the high level output signal aQ is discharged at high speed. Note that MO3FETQ23 is turned off by this discharging operation. Therefore, along with the above-described discharging operation, the output transistor T5 is also turned off.
しかしながら、上記容量性負荷にはロウレベルが保持さ
れているので、出力信号aOをロウレベルのままにでき
る。However, since the capacitive load is held at a low level, the output signal aO can remain at a low level.
上記出力信号aQと逆相の出力信号TOを形成する出力
回路の動作は、上記レベル変換出力信号が逆相で供給さ
れることによりて、上記の場合とは出力トランジスタT
6.T7が逆にオン/オフ制御される。The operation of the output circuit that forms the output signal TO having a phase opposite to that of the output signal aQ is different from that in the above case because the level-converted output signal is supplied with the phase opposite.
6. T7 is controlled on/off in reverse.
この実施例では、アドレスバッファの出力部に電流駆動
能力の大きなバイポーラ型トランジスタを用いることに
よって、その負荷としてのアドレスデコーダを構成する
多数のMOSFETのゲートに付加されるゲート容量等
の比較的大きな容量値にされた寄生容量の充電/放電を
高速に行うことができる。このような出力回路OBは、
図示しないが上記第1図におけるアドレスデコーダXD
CR,YDCRの出力部、あるいはプレデコーダの出力
部にも設けることによって、メモリアレイの選択動作の
高速化を図ることができる。In this embodiment, by using a bipolar transistor with a large current driving capacity in the output section of the address buffer, a relatively large capacitance such as a gate capacitance is added to the gates of many MOSFETs that constitute the address decoder as a load. It is possible to charge/discharge the parasitic capacitance that has been set to a value at high speed. Such an output circuit OB is
Although not shown, the address decoder XD in FIG. 1 above
By also providing the output section of CR, YDCR, or the output section of the pre-decoder, it is possible to speed up the selection operation of the memory array.
+1ルベル変換された相補CMO3信号の一方によって
負荷容量の充電を行うトランジスタを制御するとともに
、負荷容量の放電を行うトランジス多のベースには、伝
送ゲー)MOSFETを介して上記相補CMO3信号の
他方の信号を供給することにより、このトランジスタの
動作タイミングを遅らせることができる。すなわち、充
電動作を行うトランジスタは、直接に一方のCMO3信
号が供給されることによって直ちにオン状態又はオフ状
態になる。これに対して、放電動作を行うトランジスタ
は、そのベースに出力信号を受けて動作する伝送ゲート
MO3FETを介して他方のCMO3信号が供給される
ため、放電動作が終了するとともにオフ状態にされる。One of the complementary CMO3 signals subjected to +1 level conversion controls the transistor that charges the load capacitance, and the base of the transistor that discharges the load capacitance is connected to the other one of the complementary CMO3 signals through a transmission gate MOSFET. By supplying a signal, the operation timing of this transistor can be delayed. That is, the transistor that performs the charging operation is immediately turned on or off by being directly supplied with one CMO3 signal. On the other hand, the transistor that performs the discharging operation is turned off upon completion of the discharging operation because the other CMO3 signal is supplied to its base via the transmission gate MO3FET which operates in response to the output signal.
また、オン状態になる時は遅れてオン状態にされる。こ
れによって、相補CMO5信号で直接カスケード接続さ
れた出力トランジスタを制御する場合のような大きな貫
通電流が発生することが防止できるという効果が得られ
る。Further, when the device is turned on, it is turned on with a delay. This has the effect that it is possible to prevent the generation of a large through current as would be the case when directly cascade-connected output transistors are controlled by the complementary CMO5 signal.
(2)上記(1)により、比較的大きな容量値を持つア
ドレスデコーダ等の容量性負荷の充放電を高速にできる
から、ワード線等の選択動作の高速化を図ることができ
るという効果が得られる。(2) With (1) above, it is possible to speed up the charging and discharging of capacitive loads such as address decoders with relatively large capacitance values, resulting in the effect of speeding up the selection operation of word lines, etc. It will be done.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を進展しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、ECLレベル
の信号をCMOSレベルに変換するレベル変換回路は、
複数段のCMo5インバ一タ回路等を利用するもの等積
々の実施形態を採ることができる。ECL回路の動作電
流を形成する定電流源は、バイポーラ型トランジスタに
より構成するものであってもよい。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on examples, it goes without saying that this invention is not limited to the above-mentioned examples, and can be modified in various ways without advancing the gist of the invention. For example, a level conversion circuit that converts an ECL level signal to a CMOS level is
Numerous embodiments can be adopted, such as those using multiple stages of CMo5 inverter circuits. The constant current source that generates the operating current of the ECL circuit may be constituted by a bipolar transistor.
この発明は、ECL回路と0M05回路との組み合わせ
で構成された半導体記憶装置に広く利用できるものであ
る。The present invention can be widely used in semiconductor memory devices configured by a combination of an ECL circuit and an 0M05 circuit.
第1図は、この発明の一実施例を示す回路図である。
XADB・・Xアドレスバッファ、YADB・・Yアド
レスバッファ、XDCR・・Xアドレスデコーダ、YD
CR・・Yアドレスデコーダ、MC・・メモリセル、W
A・・書込み回路、RA・・読み出し回路、TC・・タ
イミング制御回路、IB・入力回路、L、 v c・・
レベル変換回路、OB・・出力回路FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. XADB...X address buffer, YADB...Y address buffer, XDCR...X address decoder, YD
CR...Y address decoder, MC...memory cell, W
A: Write circuit, RA: Read circuit, TC: Timing control circuit, IB: Input circuit, L, v c...
Level conversion circuit, OB...output circuit
Claims (1)
入力回路の相補出力信号を受けて相補CMOS信号にレ
ベル変換する一対のレベル変換回路と、上記一対のレベ
ル変換回路のうちの一方の出力信号を受けて、出力負荷
容量の充電を行うバイポーラ型出力トランジスタT4と
、上記出力トランジスタT4にカスケード接続され、上
記出力負荷容量の放電を行うバイポーラ型出力トランジ
スタT5と、上記出力トランジスタT4、T5の接続点
から得られた出力信号を受け、上記一対のレベル変換回
路の他方の出力信号を上記出力トランジスタT5のベー
スに伝える伝送ゲートMOSFETとからなる出力回路
と、この出力回路を通したレベル変換出力を受けてCM
OSレベルの選択信号を形成するアドレスデコーダ回路
と、このアドレスデコーダ回路によって選択されるCM
OS構成のメモリアレイと、このメモリアレイからの読
み出し信号を受けて、外部端子へECLレベルの読み出
し信号を送出する出力回路とを含むことを特徴とする半
導体記憶装置。1. An input circuit that receives an external signal at an ECL level, a pair of level conversion circuits that receive a complementary output signal of this input circuit and convert the level into a complementary CMOS signal, and an output signal of one of the pair of level conversion circuits. a bipolar output transistor T4 that charges the output load capacitance in response to the output voltage, a bipolar output transistor T5 that is cascade-connected to the output transistor T4 and discharges the output load capacitance, and a connection between the output transistors T4 and T5. an output circuit consisting of a transmission gate MOSFET which receives the output signal obtained from the point and transmits the output signal of the other of the pair of level conversion circuits to the base of the output transistor T5; and a level conversion output through this output circuit. CM received
An address decoder circuit that forms an OS level selection signal and a CM selected by this address decoder circuit.
A semiconductor memory device comprising: a memory array having an OS configuration; and an output circuit that receives a read signal from the memory array and sends an ECL level read signal to an external terminal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030346A JPS61190790A (en) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | Semi-conductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60030346A JPS61190790A (en) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | Semi-conductor memory device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61190790A true JPS61190790A (en) | 1986-08-25 |
Family
ID=12301276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60030346A Pending JPS61190790A (en) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | Semi-conductor memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61190790A (en) |
-
1985
- 1985-02-20 JP JP60030346A patent/JPS61190790A/en active Pending
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