JPS6117964A - 点検方式 - Google Patents
点検方式Info
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- JPS6117964A JPS6117964A JP13967184A JP13967184A JPS6117964A JP S6117964 A JPS6117964 A JP S6117964A JP 13967184 A JP13967184 A JP 13967184A JP 13967184 A JP13967184 A JP 13967184A JP S6117964 A JPS6117964 A JP S6117964A
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- Japan
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- test signal
- transmission line
- waveform
- processing device
- waveform processing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、送電線の故障点を標定するシステムの点検方
式の改良に関する。
式の改良に関する。
従来、送電線の故障点を標定するシステムとして、例え
ば第1図に示す如く、送電線1の事故サージ電圧波形を
コンデンサ分圧回路2で分圧して駆動回路3を駆動し、
これによシ発光素子4を発光させてその出力光を光ファ
イバ5を介して伝送し、上記出力光を受光素子6で光電
変換したのち増幅回路7で増幅して波形処理装置8に導
き、この波形処理装置8で所定の波形解析を行なってそ
の結果から送電線1の故障点標定を行なうようにしたも
のがある。そして、この種のシステムでは、従来よシ例
えば、波形処理装置8から定期的に試験信号を発して増
幅回路7に供給し、この増幅回路7を介して波形処理装
置8に入力される試験信号の波形を解析して異常の有無
を検出することにより、増幅回路7の動作点検を行なっ
ている。
ば第1図に示す如く、送電線1の事故サージ電圧波形を
コンデンサ分圧回路2で分圧して駆動回路3を駆動し、
これによシ発光素子4を発光させてその出力光を光ファ
イバ5を介して伝送し、上記出力光を受光素子6で光電
変換したのち増幅回路7で増幅して波形処理装置8に導
き、この波形処理装置8で所定の波形解析を行なってそ
の結果から送電線1の故障点標定を行なうようにしたも
のがある。そして、この種のシステムでは、従来よシ例
えば、波形処理装置8から定期的に試験信号を発して増
幅回路7に供給し、この増幅回路7を介して波形処理装
置8に入力される試験信号の波形を解析して異常の有無
を検出することにより、増幅回路7の動作点検を行なっ
ている。
ところが、このような従来の点検方式にあっては、確か
に増幅回路7以降の回路の動作点検は行なえるが、↓故
信号波形を送信する側の駆動回路3や光伝送系の動作状
態を点検することができず、点検個所の盲点が多く点検
性能が低かった。
に増幅回路7以降の回路の動作点検は行なえるが、↓故
信号波形を送信する側の駆動回路3や光伝送系の動作状
態を点検することができず、点検個所の盲点が多く点検
性能が低かった。
また、光伝送系の発光素子4から出力される信号の直流
バイアス成分を検出することによシ点検を行なう方式が
提唱されているが、この方式にあっても、依然として駆
動回路3のダイナミックな点検を行なうことができなか
った。
バイアス成分を検出することによシ点検を行なう方式が
提唱されているが、この方式にあっても、依然として駆
動回路3のダイナミックな点検を行なうことができなか
った。
本発明は、電力線の故障点像価システム各部の動作状態
をもれなくダイナミックに点検し得、点検性能の高い点
検方式を提供することを目的とする。
をもれなくダイナミックに点検し得、点検性能の高い点
検方式を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成するために、波形処理装置と
事故信号波形検出部との間に試験信号伝送路を設け、こ
の伝送路を介して波形処理装置から検出部へ試験信号を
送υその事故信号波形入力端へ供給し、これによシ波形
処理装置に帰還する試験信号の波形を解析することによ
シ、システムの動作点検を行なうようにしたものである
。
事故信号波形検出部との間に試験信号伝送路を設け、こ
の伝送路を介して波形処理装置から検出部へ試験信号を
送υその事故信号波形入力端へ供給し、これによシ波形
処理装置に帰還する試験信号の波形を解析することによ
シ、システムの動作点検を行なうようにしたものである
。
第2図は、本発明の一実施例における点検方式を適用し
た故障点標定システムの概略構成図で、前記第1図と同
一部分には同一符号を付しである。
た故障点標定システムの概略構成図で、前記第1図と同
一部分には同一符号を付しである。
同図において、波形処理装置8と事故サージ電圧波形を
検出するコンデンサ分圧回路2との間には、試験信号伝
送路11が設けである。この試験信号伝送路11は、波
形処理装置8から発生される試験信号によシ駆動回路1
2を駆動して発光素子13を発光させ、この発光信号、
つまシ試験信号を光ファイバ14を介して伝送して受光
素子15で受光し、その受光信号を増幅器16で増幅し
てその出力を再生試験信号として、事故サージ電圧波形
伝送用の駆動回路170入力端に供給するように構成し
たものである。
検出するコンデンサ分圧回路2との間には、試験信号伝
送路11が設けである。この試験信号伝送路11は、波
形処理装置8から発生される試験信号によシ駆動回路1
2を駆動して発光素子13を発光させ、この発光信号、
つまシ試験信号を光ファイバ14を介して伝送して受光
素子15で受光し、その受光信号を増幅器16で増幅し
てその出力を再生試験信号として、事故サージ電圧波形
伝送用の駆動回路170入力端に供給するように構成し
たものである。
このような構成であるから、波形処理装置8で試験信号
を発すると、この試験信号は試験信号伝送路10を介し
て事故サージ電圧波形検出側の駆動回路3の入力端に供
給される。そして、上記試験信号は駆動回路3および発
光素子4によ受光信号に変換されたのち、光ファイバ5
を介して事故サージ電圧波形の場合と同様に伝送されて
受光素子6および増幅回路7によシ光電変換され、波形
処理装置8に供給される。つまシ、試験信号は事故サー
ジ電圧波形を伝送□するための全回路をもれなく通過す
ることになる。
を発すると、この試験信号は試験信号伝送路10を介し
て事故サージ電圧波形検出側の駆動回路3の入力端に供
給される。そして、上記試験信号は駆動回路3および発
光素子4によ受光信号に変換されたのち、光ファイバ5
を介して事故サージ電圧波形の場合と同様に伝送されて
受光素子6および増幅回路7によシ光電変換され、波形
処理装置8に供給される。つまシ、試験信号は事故サー
ジ電圧波形を伝送□するための全回路をもれなく通過す
ることになる。
したがって、波形処理装置8で帰還した試験信号の波形
を解析し、その異常の有無を検出することによシ、上記
事故サージ電圧波形を伝送するだめの全回路の動作状態
をチェックすることができる。また、本実施例では、試
験信号伝送路1ノを光ファイバ14を用いた光伝送路と
しているので、送電線1側と波形処理装置8側との間の
電気的絶縁状態を確実に保持できる。
を解析し、その異常の有無を検出することによシ、上記
事故サージ電圧波形を伝送するだめの全回路の動作状態
をチェックすることができる。また、本実施例では、試
験信号伝送路1ノを光ファイバ14を用いた光伝送路と
しているので、送電線1側と波形処理装置8側との間の
電気的絶縁状態を確実に保持できる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
例えば、送電線1が第3図に示す如く三相線路1*、I
b、lcの場合には、波形処理装置8から発生される試
験信号を、駆動回路12、発光素子13および1本の光
ファイバ14を介して事故サージ電圧波形検出側に送り
、ここで光カプラ18によシ3方向に分配してそれぞれ
受光素子15 a、 15 b、 15 cに導き
、その受光出力を増幅器16 a、 16 b、 1
6 cを介してそれぞれ駆動回路3a、3b、3Cに供
給するように構成すればよい。またこの場合、試験信号
は時分割で各駆動回路、9m、3b。
b、lcの場合には、波形処理装置8から発生される試
験信号を、駆動回路12、発光素子13および1本の光
ファイバ14を介して事故サージ電圧波形検出側に送り
、ここで光カプラ18によシ3方向に分配してそれぞれ
受光素子15 a、 15 b、 15 cに導き
、その受光出力を増幅器16 a、 16 b、 1
6 cを介してそれぞれ駆動回路3a、3b、3Cに供
給するように構成すればよい。またこの場合、試験信号
は時分割で各駆動回路、9m、3b。
3Cに供給することによって、3系統とも各別に確実に
点検できる。以上の構成であれば、試験信号の伝送路を
1系統だけ設ければよいので3系統設ける場合に比べて
構成を簡単にできる利点がある。また、試験信号伝送路
は、場合によっては光ファイバを用いずに電気伝送路を
用いてもよく、その他伝送路の構成については本発明の
要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
点検できる。以上の構成であれば、試験信号の伝送路を
1系統だけ設ければよいので3系統設ける場合に比べて
構成を簡単にできる利点がある。また、試験信号伝送路
は、場合によっては光ファイバを用いずに電気伝送路を
用いてもよく、その他伝送路の構成については本発明の
要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
以上詳述したように本発明は、波形処理装置と事故信号
検出部との間に試験信号伝送路を設けて、これによシ試
験信号を検出部側に伝送して供給し、その受信信号を波
形処理装置で解析することによシシステム各部の動作点
検を行なうようにしたものである。
検出部との間に試験信号伝送路を設けて、これによシ試
験信号を検出部側に伝送して供給し、その受信信号を波
形処理装置で解析することによシシステム各部の動作点
検を行なうようにしたものである。
したがって、本発明によれば、電力線の故障点標定シス
テム各部の動作状態をもれなくダイナミックに点検し得
、点検性能の高い点検方式を提供することができる。
テム各部の動作状態をもれなくダイナミックに点検し得
、点検性能の高い点検方式を提供することができる。
第1図は従来における点検方式を適用した故障点検価シ
ステムの概略構成図、第2図は本発明の一実施例におけ
る点検方式を適用した故障点検価システムの概略構成図
、第3図は本発明の他の実施例における点検方式を適用
したシステムの概略構成図である。 1・・・送電線、2・・・コンデンサ分圧回路、3゜5
ILr3b、3c+12−・・駆動回路、4,4a。 4 b 、 4 c 、 13 ・−発光素子、5 、
14−・・光ファイバ、6,15,15a、15b、1
5cm・−受光累子、7.16.16&、16b、16
c・・・増幅回路、11・・・試験信号伝送路、18・
・・光カプラ。
ステムの概略構成図、第2図は本発明の一実施例におけ
る点検方式を適用した故障点検価システムの概略構成図
、第3図は本発明の他の実施例における点検方式を適用
したシステムの概略構成図である。 1・・・送電線、2・・・コンデンサ分圧回路、3゜5
ILr3b、3c+12−・・駆動回路、4,4a。 4 b 、 4 c 、 13 ・−発光素子、5 、
14−・・光ファイバ、6,15,15a、15b、1
5cm・−受光累子、7.16.16&、16b、16
c・・・増幅回路、11・・・試験信号伝送路、18・
・・光カプラ。
Claims (1)
- 電力線の事故信号波形を検出部で検出して得られた検出
信号を光伝送路を介して波形処理装置へ送り、この波形
処理装置で波形処理するシステムにおいて、前記波形処
理装置と前記検出部との間に試験信号伝送路を設け、上
記波形処理装置から試験信号を発してこの試験信号を上
記試験信号伝送路を介して前記検出部の事故信号入力端
に供給し、その後前記光伝送路を介して前記波形処理装
置で受信される上記試験信号に基づいてシステムの点検
を行なうようにしたことを特徴とする点検方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59139671A JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59139671A JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6117964A true JPS6117964A (ja) | 1986-01-25 |
JPH0614090B2 JPH0614090B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=15250706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59139671A Expired - Lifetime JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0614090B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011058178A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Tokai Univ | 防波堤 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5033230U (ja) * | 1973-07-20 | 1975-04-10 | ||
JPS57162535A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-06 | Fujitsu Ltd | Detecting system of cable fault |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP59139671A patent/JPH0614090B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5033230U (ja) * | 1973-07-20 | 1975-04-10 | ||
JPS57162535A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-06 | Fujitsu Ltd | Detecting system of cable fault |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011058178A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Tokai Univ | 防波堤 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0614090B2 (ja) | 1994-02-23 |
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