JPS61172344A - ワイヤボンデイング方法 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ワイヤボンディング方法に関し、例えばI
Cやトランジスタなどの製造において金属細線を接続す
る方法などに関する。
Cやトランジスタなどの製造において金属細線を接続す
る方法などに関する。
従来、ICやトランジスタなど1こ用いられるボンディ
ング用の金属細線としては金線が使用されているが、低
コスト化及び高強度化を図るため、金I:替えて他の高
強度ワイヤの使用が考えられる。
ング用の金属細線としては金線が使用されているが、低
コスト化及び高強度化を図るため、金I:替えて他の高
強度ワイヤの使用が考えられる。
従来のワイヤボンディング方法として、例えば超音波併
用熱圧着方式のポールボンディング方法を図について説
明する。第2図はボンディング後のボンディング部分の
構成図で、(11はワイヤで、例えば高強度ワイヤ、(
2)は電極で、例えばアルミ電極、(31は半導体チッ
プなどの基板で、例えばS:チップ、(4)はリード、
(51はボールポンド部、(6)はステッチボンド部を
示す。また、第3図はボンディングの工程を示すもので
ある。第3図(a)in示すようC:、円筒状キャピラ
リチップ(7)の軸(:沿った貫通孔からワイヤ(1)
を供給し、ワイヤ(11の先端をアーク入熱により溶融
後、凝固させて球状部(81を形成する。この後、第3
図(1)lに示すようCニキャピラリチップ(7)を超
音波振動させながら、球状部(8)を電極+21 C圧
着させて接合する。
用熱圧着方式のポールボンディング方法を図について説
明する。第2図はボンディング後のボンディング部分の
構成図で、(11はワイヤで、例えば高強度ワイヤ、(
2)は電極で、例えばアルミ電極、(31は半導体チッ
プなどの基板で、例えばS:チップ、(4)はリード、
(51はボールポンド部、(6)はステッチボンド部を
示す。また、第3図はボンディングの工程を示すもので
ある。第3図(a)in示すようC:、円筒状キャピラ
リチップ(7)の軸(:沿った貫通孔からワイヤ(1)
を供給し、ワイヤ(11の先端をアーク入熱により溶融
後、凝固させて球状部(81を形成する。この後、第3
図(1)lに示すようCニキャピラリチップ(7)を超
音波振動させながら、球状部(8)を電極+21 C圧
着させて接合する。
上記のような従来のワイヤボンディング方法1:右いて
、ワイヤとして金ではなく高強度ワイヤを用いると、高
強度ワイヤの硬度および加工硬化指数は金(:比べて高
いため、所望のボンディング強度を得ようとすれば超高
波の出力、即ち振動振幅を金の場合1:比べて大きく設
定することが必要となる。ところが、超音波の振動振幅
を大きくすれば、第3図(b) t:示すようにS:チ
ップ(3)にクラック(9]が発生しやすくなる。この
クラック(91は半導体素子の電気特性劣化の原因とな
るため、極力、発生を防止しなければならない。従来の
方法では、必要な接合強度を得ようとすると、5〜10
%の確率でクラック(9)が発生していた。
、ワイヤとして金ではなく高強度ワイヤを用いると、高
強度ワイヤの硬度および加工硬化指数は金(:比べて高
いため、所望のボンディング強度を得ようとすれば超高
波の出力、即ち振動振幅を金の場合1:比べて大きく設
定することが必要となる。ところが、超音波の振動振幅
を大きくすれば、第3図(b) t:示すようにS:チ
ップ(3)にクラック(9]が発生しやすくなる。この
クラック(91は半導体素子の電気特性劣化の原因とな
るため、極力、発生を防止しなければならない。従来の
方法では、必要な接合強度を得ようとすると、5〜10
%の確率でクラック(9)が発生していた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、基板C:クラックを発生させず、所望の接合
強度で高強度ワイヤと電極とを接合することのできるワ
イヤボンディング方法を提供することを目的とする。
たもので、基板C:クラックを発生させず、所望の接合
強度で高強度ワイヤと電極とを接合することのできるワ
イヤボンディング方法を提供することを目的とする。
この発明C:係るワイヤボンディング方法は、基板上C
二股けられた電極と、この電極に対向し、不活性ガスで
シールドされたワイヤ先端部との間に電圧を印加して放
電させ、ワイヤ先端部を半溶融又は溶融状態に保ち、こ
のワイヤ先端部と電極とを接合するよう1ニジたもので
ある。
二股けられた電極と、この電極に対向し、不活性ガスで
シールドされたワイヤ先端部との間に電圧を印加して放
電させ、ワイヤ先端部を半溶融又は溶融状態に保ち、こ
のワイヤ先端部と電極とを接合するよう1ニジたもので
ある。
この発明においては、ワイヤ先端部と電極との間の放電
によって、ワイヤ先端部を溶融し、形成されたワイヤの
球状部が溶融又は半溶融状態で電極と接合するので、接
合時の高強度ワイヤの硬度および加工硬化指数を低下で
き、基板への影響を軽減し、このためクラックの発生を
防止できる。
によって、ワイヤ先端部を溶融し、形成されたワイヤの
球状部が溶融又は半溶融状態で電極と接合するので、接
合時の高強度ワイヤの硬度および加工硬化指数を低下で
き、基板への影響を軽減し、このためクラックの発生を
防止できる。
また、ガスシールドが施されているため、ワイヤが酸化
されることもない。
されることもない。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例を工程順に示す構成図である。
図はこの発明の一実施例を工程順に示す構成図である。
![1図(a)に示すように、高強度ワイヤ、例えば0
u(11の先端部と半導体チップ(3)上に設けられた
電極(2)との間に電圧を印加して放電させ、アーク顛
を生じさせる。この時、ワイヤ(1)は酸化されやすい
のでArやN2などの不活性ガスaυでシールドを施す
。この時、印加する電圧は、例えばワイヤ先端部(1)
を陽極、電極(21を陰極として1Kvの電圧、5In
Aの電流を10 m5ec流す。アーク(IIを発生さ
せると、第1図(blに示すよう(:ワイヤ+11の先
端部は溶融して球状部(8)ができ、アーク凹は球状部
18)と電極(2)間に発生し、球状部(8)は溶融又
は半溶融状態に保たれる。この状態のまま超音波振動を
かけて球状部(8)と電極(2)とを接合すると第1図
(c)C示す接合が得られる。従来の方法においてキャ
ピラリチップ(7)の加熱によシ高強度ワイヤ球状部(
8)の硬度を室温(:詔ける硬度の約90%1:低下さ
せると、半導体チップ+31 Ckけるクラック発生が
ほぼ100%防止可能であった。
u(11の先端部と半導体チップ(3)上に設けられた
電極(2)との間に電圧を印加して放電させ、アーク顛
を生じさせる。この時、ワイヤ(1)は酸化されやすい
のでArやN2などの不活性ガスaυでシールドを施す
。この時、印加する電圧は、例えばワイヤ先端部(1)
を陽極、電極(21を陰極として1Kvの電圧、5In
Aの電流を10 m5ec流す。アーク(IIを発生さ
せると、第1図(blに示すよう(:ワイヤ+11の先
端部は溶融して球状部(8)ができ、アーク凹は球状部
18)と電極(2)間に発生し、球状部(8)は溶融又
は半溶融状態に保たれる。この状態のまま超音波振動を
かけて球状部(8)と電極(2)とを接合すると第1図
(c)C示す接合が得られる。従来の方法においてキャ
ピラリチップ(7)の加熱によシ高強度ワイヤ球状部(
8)の硬度を室温(:詔ける硬度の約90%1:低下さ
せると、半導体チップ+31 Ckけるクラック発生が
ほぼ100%防止可能であった。
この発明では、さらにワイヤ球状部181を溶融又は半
溶融状態C:保って接合するため、硬度が低下し、電極
(2)への接合時の変形に伴う加工硬化が防止できる。
溶融状態C:保って接合するため、硬度が低下し、電極
(2)への接合時の変形に伴う加工硬化が防止できる。
これ(:より、接合時の半導体チップ(3)への衝撃を
軽減し、クラック発生を有効!:防ぐことができる。
軽減し、クラック発生を有効!:防ぐことができる。
なあ、上記実施例では、ワイヤ+11として高強度な細
線ワイヤを使用した場合を示したが、高強度な太線にも
適用できる。
線ワイヤを使用した場合を示したが、高強度な太線にも
適用できる。
また、超音波振動をかけて接合した例C:ついて示した
が、場合によっては超音波振動をかけなくても十分な接
合が得られる。
が、場合によっては超音波振動をかけなくても十分な接
合が得られる。
以上のように、この発明C:よれば、基板上(:設けら
れた電極と、この電極に対向し、不活性ガスでシールド
されたワイヤ先端部との間に電圧を印加して放電させ、
ワイヤ先端部を半溶融又は溶融状態名:保ち、このワイ
ヤ先端部と電極とを接合することによシ、低コストで、
比較的高強度な金属ワイヤを用いた場合!=も、基板に
おけるクラック発生を防止し、健全な接合状態を得るこ
とができるワイドボンディング方法を提供できる効果が
ある。
れた電極と、この電極に対向し、不活性ガスでシールド
されたワイヤ先端部との間に電圧を印加して放電させ、
ワイヤ先端部を半溶融又は溶融状態名:保ち、このワイ
ヤ先端部と電極とを接合することによシ、低コストで、
比較的高強度な金属ワイヤを用いた場合!=も、基板に
おけるクラック発生を防止し、健全な接合状態を得るこ
とができるワイドボンディング方法を提供できる効果が
ある。
第1図ta)〜(0)はこの発明におけるワイヤボンデ
ィング方法の一実施例を工程順に示す構成図、第2図は
従来の方法CJけるワイヤボンディング部分の構成図、
第3図(a)、(b)は、従来の方法を工程順C二示す
断面図である。 (11・・・ワイヤ、(2)・・・電極、(31・・・
基板、(81・・・溶融又は灰溶融状態のワイヤ、凹・
・・アーク、(11)・・・不活性ガス。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。
ィング方法の一実施例を工程順に示す構成図、第2図は
従来の方法CJけるワイヤボンディング部分の構成図、
第3図(a)、(b)は、従来の方法を工程順C二示す
断面図である。 (11・・・ワイヤ、(2)・・・電極、(31・・・
基板、(81・・・溶融又は灰溶融状態のワイヤ、凹・
・・アーク、(11)・・・不活性ガス。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 基板上に設けられた電極と、この電極に対向し、不活
性ガスでシールドされたワイヤ先端部との間に電圧を印
加して放電され、上記ワイヤ先端部を半溶融又は溶融状
態に保ち、このワイヤ先端部と上記電極とを接合するよ
うにしたワイヤボンディング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60013025A JPS61172344A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ワイヤボンデイング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60013025A JPS61172344A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ワイヤボンデイング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61172344A true JPS61172344A (ja) | 1986-08-04 |
Family
ID=11821596
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60013025A Pending JPS61172344A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ワイヤボンデイング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61172344A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63283140A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ワイヤボンディング装置 |
JPH07183323A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Nec Yamagata Ltd | ワイヤボンディング方法 |
-
1985
- 1985-01-25 JP JP60013025A patent/JPS61172344A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63283140A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ワイヤボンディング装置 |
JPH07183323A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Nec Yamagata Ltd | ワイヤボンディング方法 |
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