JPS6116928B2 - - Google Patents

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JPS6116928B2
JPS6116928B2 JP55077187A JP7718780A JPS6116928B2 JP S6116928 B2 JPS6116928 B2 JP S6116928B2 JP 55077187 A JP55077187 A JP 55077187A JP 7718780 A JP7718780 A JP 7718780A JP S6116928 B2 JPS6116928 B2 JP S6116928B2
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JP
Japan
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gas
hydrogen
piping
oxygen
section
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JP55077187A
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JPS574534A (en
Inventor
Kenji Murata
Yoichi Seta
Tamotsu Shirogami
Masataka Masuda
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/36Analysing materials by measuring the density or specific gravity, e.g. determining quantity of moisture

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば原子炉格納容器内の雰囲気中
の水素濃度,酸素濃度の測定に利用できる水素お
よび酸素濃度測定装置に関するものである。 従来例えば原子炉格納容器内の雰囲気中の水素
濃度,酸素濃度の測定は、測定装置の概要を第1
図に示すように、格納容器1内に直接水素検出器
2と酸素検出器3を設置して検知し、各分析部
4,5で分析し指示を行なつている。しかしなが
ら、格納容器内は温度が50℃〜170℃,湿度が10
%〜100%,圧力が1〜5Kg/cm3と変化するた
め、検出器の温度ドリフト,湿度変化による影響
を受け、この装置では精度の良い測定が困難であ
つた。 このため、第2図に示す冷却方式による測定装
置が考案されている。 これは、格納容器1に両端が接続された配管6
を設け、測定試料ガス導入端7側に減圧冷却装置
8を設置し、試料ガスを冷却,除湿することによ
り、格納容器1内の温度変化,圧力変化,湿度変
化を検出器2a,3aが受けることなく、精度の
良い測定を行おうとしている。なお試料ガスは水
素および酸素の測定部9,10に導かれてそれぞ
れの検出器2a,3aで水素および酸素が検出さ
れ、各分析部4a,5aで分析指示される。 符号11は配管6に挿入された試料ガスの循環
ポンプである。しかしながら、この測定装置で
は、次の2つの欠点を持つている。 ひとつは、除湿されるため、格納容器1内の水
素および酸素の体積濃度に対して、、測定部9,
10の体積濃度が上昇しており、正確な格納容器
1内の濃度測定を行なえない。 また、測定部9,10の水素濃度,酸素濃度が
上昇するため、爆鳴気となり爆発する虞がある。 本発明は上記の問題を鑑みてなされたもので、
第1の目的は容器内の水素の体積濃度及び酸素の
体積濃度を、除湿による濃度変化なしに精度良く
測定する装置を得る事にある。第2の目的は、爆
発の恐れの無い防爆型測定装置を得る事にある。
第3の目的は、水素濃度分析系と酸素濃度分析系
とを配管内の試料ガスとは別の温度圧力のガスを
分析して元の試料ガス中の濃度を算出できるよう
に設置することにより、使用可能な分析機器の選
択の範囲を広くさせる事にある。 即ち本発明は、容器から採取した試料ガスを還
流させる水素および酸素ガスの各採取部を有する
配管系と、この配管系を採取試料ガス中に含有さ
れる水蒸気が凝縮しない温度及び圧力に保つ配管
温度調節系と、配管系の各採取部から各ガスの測
定容器に水素及び酸素を導入し、ガス中に含まれ
る水蒸気成分が凝縮しない状態で滞留させてそれ
ぞれの測定容器に取り付けた水素濃度検出器と酸
素濃度検出器により得た信号から水素および酸素
濃度を算出指示する温度調節部および/または圧
力調節部を有する各濃度分析系とを具えて成るこ
とを特徴とする水素および酸素濃度測定装置であ
る。 以下図面を参照して、本発明の一実施例を説明
する。 第3図において、本発明に係る装置は原子炉格
納容器1内の試料ガスを採取し、分析済ガスを格
納容器1内に戻すまでの配管系20と、この配管
20の温度を調節する配管温度調節系30と、
水素濃度分析系40と、酸素濃度分析系50と、
較正系60ととから構成される。 ガス配管系20は、格納容器1に両端が取り付
けられた配管21と、この配管21に格納容器1
に取り付けた配管21の試料ガス採取口21aか
ら順に接続されたガス配管系に導入するガスを較
正ガスと試料ガスとの間で切り換える切換部2
3,採取口22直後の試料ガスの温度と圧力を検
出器24aで検出して標準状態換算で定流量に制
御できる。 採取試料ガス流量制御部24,水素ガスを選択
的に透過させるポリクロロトリフロロエチレンの
薄膜で内面を覆つたパラジウム銀合金管による水
素ガス透過膜25aを有す水素ガス採取部25,
シリコンゴム製の薄膜25aを有する酸素ガス採
取部26および流量制御部23から酸素ガス採取
部26を経過するまでの配管21内部の圧力を一
定値に保持するための圧力調節弁27,圧力調節
弁27から断続的に噴出されたガスと水素濃度分
析系40からの分析済ガスと酸素濃度分析系50
からの分析済ガスとを各分析系のガス排出口が接
続されて導入し、真空状態で滞留させておく真空
室28と、この真空室28の真空度を充分高く保
ちながら流量制御部24で採取された全量のガス
を格納容器1に配管21の戻入口21bを通じて
戻すのに充分な排気量を有する真空ポンプ29と
で構成されている。 配管温度調節系30は、ガス流量制御部24か
ら圧力調節弁27に至るガス配管系20の温度
を、採取試料ガス中に含まれる水蒸気成分を凝縮
させない所定温度、例えば170℃に保つために配
管系20の所定部位を加熱する位置に取り付けら
れた加熱源31と、この加熱源31の出力を制御
する配管系20に取り付けられた温度検出器32
aと、温度制御部32で構成されている。 水素濃度分析系40は、水素ガス採取部25に
より採取された水素ガスを導入して滞留させてお
く水素濃度測定容器41,この測定容器41の内
部又は壁部に設置されてこの容器中の水素濃度を
検出するイオンゲージ型の水素濃度検出器42,
この測定容器と真空室28の間に接続され真空室
28へ断続的に測定容器中のガスを排出させる開
閉弁43,水素濃度検出器42及び水素濃度測定
容器41をこの濃度検出器42の最適動作温度に
調節するための温度検出器44aと温度制御部4
4と加熱及び冷却部45,水素濃度検出器42の
出力信号と温度検出器44aの出力と開閉弁43
の開閉度と採取試料ガス流量制御部24の設定信
号とから採取試料ガス中の水素の体積濃度を算出
し指示する水素濃度分析部46とで構成されてい
る。 酸素濃度分析系50は、酸素ガス採取部26に
より採取された酸素ガスを導入して滞留させてお
く酸素濃度測定容器51,この測定容器51の内
部又は壁部に設置されてこの測定容器中の酸素濃
度を検出するガルバニ型の酸素濃度検出器52,
この測定容器内の圧力を一定に保持するために測
定容器51と真空室28との間に設けた圧力制御
弁53,酸素濃度検出器52及び酸素濃度測定容
器51をこの濃度検出器52の最適動作温度に調
節するための温度検出器54aと温度制御部54
と加熱及び冷却装置55,酸素濃度検出器52の
出力信号と温度検出器54aの出力と採取試料ガ
ス流量制御部24の設定信号と水素濃度分析部4
6の出力とから採取試料ガス中の酸素の体積濃度
を算出し指示する酸素濃度分析部56とで構成さ
れている。 較正系60は、窒素ガス100%のガス容器6
1,窒素94%酸素4%水素2%のガス容器62,
窒素94%水素4%酸素2%のガス容器63,と各
ガス容器に取り付けられた圧力調節弁および配管
20に較正ガスを切換部23を通じて流す電磁
開閉弁64,65,66、切換部23直前に設置
された温度圧力検出器24bとで構成されてい
る。 次に上記の通り構成された本発明の作用につい
て説明する。まず水素濃度分析系40につき説明
する。格納容器1内のガスは、温度が50〜170
℃,圧力が1〜5Kg/cm2,湿度が10%〜100%
RH:と変動するので、採取試料ガスは、その中
に含まれている水蒸気成分が凝縮しないように配
管温度調節系30により例えば170℃に保温加熱
され圧力調節弁27で1Kg/cm2の圧力に保たれた
配管21に採取口21aから導入される。導入さ
れた試料ガスは配管21を通流し一部が内面をポ
リクロロトリフロロエチレンの薄膜で覆つたパラ
ジウム銀合金の管となつている水素ガス採取部2
5で試料ガス中の水素ガス成分のみが選択的に透
過して水素濃度測定容器41内に蓄積されてい
く。この水素ガスの透過量は、配管21中の水素
ガス分圧と、測定容器41内の水素分圧との差に
比例するが、測定容器41内に滞留した水素ガス
は断続的に開閉する開閉弁43により真空室28
へ排出されるので、測定容器41内の水素分圧は
配管21中の水素ガス分圧に比較して無視でき、
水素透過量はほぼ配管21中の水素ガス分圧に比
例する。一方、開閉弁43が閉の時の測定容器4
1内の平均圧力と水素透過量とは一対一の対応関
係を有している。このようにして、水素濃度測定
容器41内部又は壁部に設けられた水素濃度検出
器42の出力は配管中の採取試料ガス中の水素分
圧と一対一の対応関係を示す。一方採取ガスの全
圧は圧力調節弁27によつて常に一定であり、採
取ガス量は採取試料ガス流量制御部24によつて
常に一定であり、また配管中の水素分圧と水素濃
度検出器42の出力との関係は組成,濃度があら
かじめ既知の較正ガスを切換部23を通じて配管
21に流して得られた較正曲線によつて得られ
る。このようにして、較正曲線と水素濃度検出器
42の出力とから、配管中の試料ガス中の水素分
圧及び水素の体積濃度が算出される。このように
本発明の装置では除湿によつて水素の体積濃度を
変化させる事がなく、従つて水素濃度範囲が爆発
限界に入る事なく採取試料ガス中の水素体積濃度
を測定することが出来る。また、水素濃度測定容
器41は、水素ガス以外の水蒸気や酸素を含んで
いないので配管21とは無関係な、最適温度で、
すなわち精度の高い温度で使用することが出来
る。 酸素濃度分析系50の作用について説明する。 水素ガス採取部25を通過した配管21中の試
料ガスの一部は、シリコンゴム製の薄膜26aを
有する酸素ガス採取装置26で該薄膜を透過して
酸素濃度測定容器51に導入される。この測定容
器内の圧力P1は圧力制御弁53によつて配管21
中の圧力P2と比較して以下の2条件を満たす様に
設定される。 酸素濃度測定容器へ導入される酸素ガス量
は、配管21と容器51の酸素分圧の差圧に比
例するが、これを配管21酸素分圧に比例する
として取り扱える。すなわちP1≪P2。 一方、測定容器51内の温度における飽和水
蒸気圧Pwよりは大きく、水蒸気の凝縮を起こ
さない。すなわちP1>Pw。 この様にして、ガルバニ型の酸素濃度検出器52
は試料ガス中の酸素分圧に比例した出力を有す。
水素濃度分析系と同様な較正ガスによる較正曲線
と、水素ガス採取部25によつて配管21から取
り去られた水素ガス分の補正と、温度補償とによ
り酸素の体積濃度を測定することができる。この
ように本発明の装置を用いると、除湿によつて酸
素の体積濃度を増大させることなく、試料ガス中
の酸素体積濃度を測定でき、又単に温度を下げる
と凝縮を起す様な高濃度の水蒸気の存在する試料
ガス中の酸素濃度を除湿せずに、ガルバニ型酸素
濃度検出器52の最適動作温度である10〜40℃で
測定する事が出来る。 このように本発明の水素及び酸素濃度測定装置
においては、水素濃度検出器42,酸素濃度検出
器52は、各々その最適動作温度に保たれた状態
で濃度検出を行う事が出来るので、精度が高く、
安定性の良い、信頼性のある測定を行う事が出来
る。特に、ガルバン型酸素濃度検出器52は、温
度が低くかつ水蒸気分圧の低いガスの検出を行う
ことになるので、電解液の漏出による断線や出力
低下の事故が起らない。また試料ガス中の水分を
除去しないために特別な補正を必要とせず、除湿
による水素濃度,酸素濃度の上昇がないので爆鳴
気となる恐れが無く安全な測定装置となる。さら
に、水素濃度分析系,酸素濃度分析系とも配管2
1の経路中に直接設置されていないので、水素濃
度検出器及び酸素濃度検出器の交換が容易とな
る。 次に第4図に示す本発明の水素及び酸素濃度測
定装置の他の実施例について説明する。 本実施例では、第3図に示した第1の実施例と
比較して、以下の構成上の差異を有す。 本実施例の配管系20′は、格納容器1の試料
ガスを採取し、分析し、分析済ガスを格納容器1
に戻す試料ガス分析用配管21に加えて、この配
管に取り込まれる試料ガス量より多量の試料ガス
を格納容器1より取り込んでこれを格納容器に戻
す循環用配管81が追加されている。循環用配管
81の経路途上には、試料ガス採取口21aから
順に、試料ガス中に混入してくる気相でない水,
水滴の水滴除去部82,循環ポンプ83が配置さ
れ、この水滴除去部位で試料ガス分析用配管21
が循環用配管81から枝分れし、循環ポンプ83
の入口側で配管21が循環用配管81と合流す
る。試料ガス分析用配管21の途上に設けられ
る。水素ガス採取部25′には、水素ガス選択透
過型合金複合膜に変えて、高分子多孔質膜25b
が、酸素ガス採取部26′には、高分子透過膜に
変えて、キヤピラリー26bが用いられている。
また、圧力調節弁27の入口側には、この弁から
断続的に試料ガスが噴出することによる配管21
内部の圧変動を緩和する圧力変動調整室70が設
けられている。 本実施例の水素濃度分析系40′では、水素濃
度検出器42にガルバニ型を、開閉弁に変えて圧
力調節弁43′を用いた。 本実施例の酸素濃度分析系50では酸素濃度検
出器52に磁気風型を用いた。 上記した他の実施例の第1の実施例に追加する
効果は次の通りである。 分析用配管21に加えて、循環用配管81を追
加した事により、採取試料ガス量を大幅に増加で
きるので、格納容器1内のガス組成が急激に変動
している場合及びガス組成に局所的な分布がある
場合に、組成変動に対する追随速度を上げる事が
出来、又より平均的な濃度を測定できる。また、
水適除去部82を追加した事により、格納容器内
部で急激な水蒸気発生が起つている際これに伴つ
て発生し、採取試料ガス中に混入してくる水滴を
除去できるので、この水滴除去部がない場合加熱
保温された配管21で水滴が蒸発して水素及び酸
素の体積濃度を真の濃度より小さく指示してしま
う危険性を排除できる。また、圧力調変動調整室
70を設ける事により、水素濃度分析部46及び
酸素濃度分析装置56の指示が脈動するのを防止
できる。 上述の2つの実施例では、格納容器中の水素及
び酸素濃度の両者を測定する装置について記述し
たが、いずれか一方の濃度を測定する場合には、
測定しないガスの分析系を除去して測定装置を構
成できる。また較正ガスとして、3種類使用する
こととしたが、これは3種類に限定されるもので
はない。水素濃度分析系,酸素濃度分析系の各々
には、温度制御部及び加熱冷却部を含めたが、こ
れは必ずしも必要でない。水素濃度検出器として
イオンゲージ型,ガルバン型を使用したが、他に
熱伝導度セル型,接触燃焼型,気体の密度変化を
屈接率変化に変換する光学型を使用する事が出来
る。酸素濃度検出器として、ガルバニ型,磁気風
型以外に、ジルコニア固体電解質型を使用する事
が出来る。水素濃度分析部及び酸素濃度分析部に
は、指示値があらかじめ設定した設定値を越えた
場合警報を発する機能を持たせても良い。 水素採取部の水素ガス透過膜には、ポリクロロ
メリフロロエチレン薄膜をパラジウム銀合金管上
に被覆した水素選択性透過膜以外に、配管の加熱
保温温度に耐えるポリフエニレンオキサイト,ポ
リフエニレンサルフアイド,ポリビニルフルオラ
イトの無孔又は多孔の膜を用いても良い。酸素採
取部の酸素ガス採取口には、シリコンゴム薄膜,
キヤピラリー以外に、配管の加熱保温温度に耐え
る無孔又は多孔の高分子膜でも良い。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の水素濃度検出器及び酸素濃度
検出器を格納容器内に直付けする水素及び酸素濃
度検出装置の構成を示すブロツク図、第2図は、
従来の試料ガスを冷却除湿して水素濃度検出容
器,酸素濃度検出容器に導入する水素及び酸素濃
度測定装置の構成を示すブロツク図、第3図は、
本発明に係る水素及び酸素濃度測定装置の一実施
例の構成を示すブロツク図、第4図は、本発明に
係る水素及び酸素濃度測定装置の他の実施例の構
成を示すブロツク図である。 1……格納容器、20……配管系、21……配
管、24……ガス流量制御部、25……水素ガス
採取部、26……酸素ガス採取部、27……圧力
調節弁、30……配管温度調節系、31……加熱
源、32……加熱源制御部、40……水素濃度分
析系、44……温度制御部、45……加熱及び冷
却部、50……酸素濃度分析系、54……温度制
御部、55……加熱及び冷却部、60……較正
系。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 容器に両端が接続され一端から導入した試料
    ガスを通流させて他端から戻す配管とこの配管の
    中間にガスの流れにしたがつて直列に接続された
    ガス流量制御部,水素ガス採取部,酸素ガス採取
    部および前記各部の圧力を所定値に調節する圧力
    調節弁とを有する配管系と、この配管系を試料ガ
    ス中の水蒸気成分が凝縮しない温度に保持する加
    熱源とこの加熱源の制御部とを有する配管温度調
    節系と、前記水素ガス採取部に接続して採取され
    た水素ガスを導入し水蒸気成分が凝縮しない状態
    で滞留させて水素濃度を測定指示する温度調節部
    および/または圧力調節部を有する水素濃度分析
    系と、前記酸素ガス採取部に接続して採取された
    酸素ガスを導入し水蒸気成分が凝縮しない状態で
    滞留させて酸素濃度を測定指示する温度調節部お
    よび/または圧力調節部を有する酸素濃度分析系
    とを具えて成ることを特徴とする水素および酸素
    濃度測定装置。 2 容器に接続された配管の一端にガス切換部を
    設けこの切換部に切換弁を介して較正ガス容器を
    接続して成り、試料ガスに換えて較正ガスを前記
    配管内に通流可能とした較正系を具えて成ること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の水素お
    よび酸素濃度測定装置。 3 容器に接続された配管の他端に真空室および
    真空ポンプを設け前記真空室に水素濃度分析系お
    よび酸素濃度分析系からの分析済ガスの各排出口
    を接続して成ることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の水素および酸素濃度測定装置。 4 容器と配管のガス採取口の間に水滴除去部を
    設け、かつ容器と配管のガス戻入口の間に循環ポ
    ンプを設け、前記水滴除去部と前記循環ポンプと
    を循環用配管でつなぎ、この循環用配管に前記配
    管より多量のガスを通流させることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の水素および酸素濃度
    測定装置。
JP7718780A 1980-06-10 1980-06-10 Measuring apparatus for concentration of hydrogen and oxygen Granted JPS574534A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03277101A (ja) * 1990-03-26 1991-12-09 Toyota Motor Corp 電気自動車のモータ制御装置

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