JPS61167028A - 繊維俵の高さを検知するように開俵機を操作する方法と装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は開俵機のストリッパが水平方向に俵列の俵の上
方を順次移動し、高さ測定のため例えばセンサ、光障壁
などが利用され、俵に対して複数回の高さ測定を行い、
平均値を求め、個々の測定後に測定装置を装備したデリ
ックが所定距離だけ自動的に次の測定位置へ移動する特
に繊維俵の高さを検知するように開俵機を操作する方法
に係わシ、この方法を実施するための装置にも係わる。

〈従来の技術〉 公知の方法ではス）　ＩＪ　、ｙ　ツクが俵上面から間
隔を保つ高さを俵に沿って移動し、繊維俵までの距離が
反射光障壁によって測定される。繊維俵の高さは光障壁
の高さと光障壁から俵頂面までの距離との差から求めら
れる。この行程は測定行程（から行程）でしかなく、俵
から繊維材料は全く掻取られない。また、俵の高さが間
接的に、即ち、測定装置から俵頂面までの距離を介して
求められるという点でも不便である。

〈発明が解決しようとする問題点〉 本発明の目的は特に単位時間当シの繊維材料生産量を高
め、繊維俵の高さを簡単に求めることのできる頭書のよ
うな方法を提供して上記間ｍ１点を解消することにある
。

以下余白 く問題点を解決するための手段〉 本発明の目的は俵高測定が俵頂面からの繊維材料損１取
フと同時に行われ、俵の上端がセンサにより直接検知さ
れることを特徴とする開俵機の操作方法によって達成さ
れる。

本発明では繊維俵の高さ測定が繊維材料の掻取シと同時
に行われる。即ち、測定のためのから行程が回避され、
一定の時間インターバルで繊維材料掻取シと測定の両作
業が同時に行われる。測定作業中にス）　ＩＪツバ装置
が繊維俵と間隔を保つのではなく、俵頂蘭と咬合してい
る。従って、俵上端がセンサによって直接検知され、繊
維俵の高さが簡単に直接測定される。俵頂面のあらゆる
凹凸がセンサによってほとんど直接的に追従される。

測定動作中にすでに俵から繊維材料が掻取られ、直ちに
生産される。高さ検知のため、俵上端が２個のセ／す間
を走行することが好ましい。

本発明は本発明の方法を実施するための装置にも係わり
、この装置においては、移動可能な台車がタワーと共に
一連の無拘束状態に設置された繊維俵に沿って、またス
トリッパ装置、例えば高速回転研削装置が前記繊維俵列
上をそれぞれ往復移動し、前記ストリヤ／４’装置が俵
頂面から繊維材料を掻取り、俵列の高さを求めるため移
動自在なセンサ、先陣壁などが電気信号を発し、この信
号が制御装置に供給される。本発明装置はデリックまた
はタワーガ少なくとも２個の垂直方向に互いに間隔を保
つセンサを具備することと、デリックの長手方向位置を
検知するための行程または時間依存装置を設けたことを
特徴とする。俵上端が両センサの上方または下方を通過
するとセンサ位置が自動修正され、降下または上昇する
。このセンサは送信機及び受信機で構成すればよく、可
視光。

赤外線光、超音波などを利用することができる。

行程または時間依存装置はデリックの長手方向寸法を考
慮するためのものである。例えば比較的高い俵の次にこ
れよりもはるかに低い俵が現われた場合、デリックの全
幅がこの低い俵の上方位置に達した時に初めてデリック
を低い俵へ降下させることができる。

センサは研削装置と平行に配置した２組の先陣壁である
ことが好ましく、この場合、各党障壁は発光器と受光器
とから成る。俵境界が両党障壁間を通過すると下方の受
光器が遮断され、上方受光器が解放される。先陣壁のこ
の位置関係から俵高が得られる。ところが両方の先陣壁
が共に俵境界の上方または下方に位置する場合には、俵
境界が再び先陣壁間に位置するように光障壁位置を修正
しなければならない。先陣壁はデリックの前面に配置す
ることが好ましい。また、先陣壁間の距離は調節できる
ことが好ましい。他の好ましい実施態様では上方の先陣
壁を作業方向に下方光障壁よりも前方に配置する。デリ
ックの長手方向位置を検知する装置としては先陣壁を利
用することが好ましい。この先陣壁はデリックの背面に
配置することが好ましい。高さ方向の光障壁位置を検知
する測定装置を設けることが好ましく、この場合、゛（
先陣壁を制御装置または測定装置と、測定装置を制御装
置とそれぞれ接続する。他の好ましい実施態様では制御
装置を記憶装置と接続する。記憶装置としてはバッファ
メモリを使用することが好ましい。先陣壁の長手方向位
置を検知する測定装置を制御装置に接続することが好ま
しい。

〈実施例〉 以下添付図面に示す実施例に基づいて本発明をさらに詳
細に説明する。

第１図において、繊維俵列２，３から繊維材料を掻取る
ための装置、例えばトリュ、チュラー・ブレンドマート
は移動可能な台車５上に回転自在に支持され、台車と共
に車輪を介して往復移動可能なタワー４を含む。タワー
４は上下方向に移動自在な（第２ａ図、デリック７に記
入の双頭矢印）ス）　ＩＪツバ装置７を装備したデリッ
クを一方の側に具備する。例えば研削装置（９）を含む
ことのできるストリッツ９装置７は繊維俵２．３の頂面
から繊維材料を掻取る。タワー４及び台車５の下には掻
取られた繊維材料を収容して搬出するためのダクト８を
設けである。

運転時に台車５はタワー４と共に一連の無拘束状態に設
置された繊維俵２．３に沿って、また、ストリ、ノ々装
置７はこの繊維俵列の上方をそれぞれ往復移動する。俵
列２の始端Ａ１から台車５は終端Ｅ１まで移動する（往
路）。この位置Ｅ１でタワー４及びストリ、ノ々装置７
が垂直軸を中心に第１図上時計方向に１８０°だけ回転
する。その結果、ス）　ＩＪツノ臂装置７は俵列３の始
端Ａ２に達する。俵列３の始端Ａ２から台車５は終端Ｅ
２まで移動する（復路）。

デリック７の前面７ａには発光器１２及び受光器１３か
ら成る第１光障壁及び研削ローラ９と平行な発光器１４
及び受光器１５から成る第２光障壁を設ける。第２ｍ、
３ａ図から明らかなように、先陣壁１２．１３及び１４
．１５は垂直方向に互いに間隔１を保つ。また、上方の
先陣壁１４゜１５は作業方向に（第２ａ図、タワー４に
記入した水平矢印）下方光障壁１２．１３よシも前方に
配置する。デリック７の長手方向位置を検知する行程依
存装置として、デリック７の背面７ｂに発光器１６及び
受光器１７から成る先陣壁を配置する。

第２ｂ図はそれぞれが同一種類の複数繊維俵を含む２つ
のグループに１．に２（成分）から成る俵列２を示す。

両グループＫｌ、に２間に繊維材料のない空隙が介在し
ている。

＠３図に示すように、受光器１３，１５．１７はインタ
ーフェース１８を介して制御装置１９、例えば、マイク
ロプロセッサを含むマイクロコンピュータと接続する。

デリック７の高さ方向位置（ｙ軸）を検知する測定装置
２０はインターフェース２１を介して制御装置１９と接
続している。

制御装置１９は記憶装置２２と接続する。さらに、制御
装置１９にはインターフェース２３を介して、台車５の
長手方向位置（Ｘ軸）を検知する測定装置２４を接続す
る。

運転時にス）　ＩＪ　、ノＺ装置７は先ず俵列の始端を
越えて移動させ、ストリッパ装置７をその全幅に亘って
降下させて少なくとも前方支持ローラ１０を俵列の頂面
と接触させる。次いで第１光障壁１２．１３の光線が遮
断されるまでストリッパ装置７を俵列へ降下させる。こ
の動作を受光器１３がコンビ、−夕１９に通報すると、
コンピュータはストリッパ測定装置２０からストリッパ
装置７の高さ値を求め、これを記憶装＠２２に記憶させ
る。これと同時に台車５が俵列の終端Ｅ１にむかって移
動する。俵頂面２ａの状態例えば凹みによって光線の遮
断が解かれると、デリック７は光線が再び遮断されるま
で降下する。この新しい高さ値も記憶装置２２に記憶さ
れる。ただしこの降下は後方光障壁１６．１７の光線が
遮断されない範囲で可能である。比較的高い俵により前
方の、即ち上方光障壁１４．１５の光線が遮断されると
、台車５は停止状態のｔｆ、デリック７が光障壁１４．
１５の光線は遮断されないが光障壁１２゜１３の光線が
遮断される範囲まで上昇する。この新しい高さ値が記憶
され、台車移動と測定動作が継続される。このように構
成したから、全成分Ｋｌ、に２、即ち、俵列の頂面凹凸
が走査され、記憶される。俵列の始端Ｅ１に達すると、
成分に１１に２において測定された高さについて平均値
が計算され、成分Ｋｌ、に２の初期高さとして記憶され
る。よシ適正な平均値を得るため、デリック位置に変化
がなくても一定間隔で値を記憶する。平均値は測定値の
数と密接に関連するから、測定値の数が多ければ多いほ
ど、平均値は適正かつ正確になる。また多少の誤差があ
っても重大な問題ではない。平均値を表わす式は下記の
通シである。

成分に１またはに２内に所定量以上の高さの差が検知さ
れたら、オイレータは（通信により）補正を指令される
。所定量以上の差でなければ全成分Ｋｌまたはに２の平
均値は自動的に上限位置から所定量だけ低い高さに設定
される。これにより、俵の立て方が悪くても開綿機１に
過剰な負荷はかからない。

測定は１回だけ、即ち、開綿プロセス開始時に行われる
。

以下余白

【図面の簡単な説明】

第１図はデリックに３組の光障壁を設置しである開俵機
を略示する傭黴図；第２ａ図は第１図に示した開俵機の
側面図；第２ｂ図は光障壁の受光器、俵上端及び２つの
繊維俵グループを示す詳細図；第３図は繊維俵の高さを
求める電気回路のプロ、クダイヤグラムである。 １・・・開俵機、２，３・・・俵列、４・・・タワー、
５・・・台車、７・・・ストリッパ装置またはデリック
、１２゜１３：１４，１５；１６．１７・・・光障壁、
１８゜２１・・・インターフェース、１９・・・制御装
置、２０゜２４・・・測定装置、２２・・・記憶装置以
下余白

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、開俵機のストリッパが水平方向に俵列の俵の上方を
   順次移動し、高さを測定するため例えばサンサ、光障壁
   などが利用され、俵に対して複数回の高さ測定を行い、
   平均値を求め、個々の測定後に測定装置を装備したデリ
   ックが所定距離だけ自動的に次の測定位置へ移動する特
   に繊維俵の高さを検知するように開俵機を操作する方法
   において、俵高測定が俵頂面からの繊維材料掻取りと同
   時に行われ、俵の上端がセンサにより直接検知されるこ
   とを特徴とする開俵機の操作方法。 ２、高さ検知のため俵の上端がセンサ間を通過すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の方法。 ３、移動可能な台車がタワーと共に一連の無拘束状態に
   設置された繊維俵に沿って、またストリッパ装置、例え
   ば高速回転研削装置が前記繊維俵列上をそれぞれ往復移
   動し、前記ストリッパ装置が俵頂面から繊維材料を掻取
   り、俵列の高さを求めるため移動自在なセンサ、光障壁
   などが電気信号を発し、この信号が制御装置に供給され
   るように構成した、特に綿、化繊などから成る繊維俵の
   高さを検知するように開俵機を操作するための装置にお
   いて、デリック（７）またはタワー（４）が少なくとも
   ２個の垂直方向に互いに間隔（ａ）を保つセンサを具備
   することと、デリックの長手方向位置を検知するための
   行程または時間依存装置を設けたことを特徴とする開俵
   機操作装置。 ４、センサが研削装置（９）と平行に設けた２個の光障
   壁（１２、１３；１４、１５）であることを特徴とする
   特許請求の範囲第３項に記載の装置。 ５、光障壁（１２、１３；１４、１５）をデリック（７
   ）の前面（７ａ）に配置したことを特徴とする特許請求
   の範囲第３項または第４項に記載の装置。 ６、光障壁（１２、１３；１４、１５）間の距離（ａ）
   を調節できることを特徴とする特許請求の範囲第３項か
   ら第５項までのいずれか１項に記載の装置。 ７、上方の光障壁（１４、１５）を作業方向に下方光障
   壁（１２、１３）よりも前方に設けたことを特徴とする
   特許請求の範囲第３項から第６項までのいずれか１項に
   記載の装置。 ８、デリック（７）の長手方向位置を検知する装置が光
   障壁（１６、１７）であることを特徴とする特許請求の
   範囲第３項から第７項までのいずれか１項に記載の装置
   。 ９、光障壁（１６、１７）をデリック（７）の背面（７
   ｂ）に配置したことを特徴とする特許請求の範囲第３項
   から第８項までのいずれか１項に記載の装置。 １０、高さ方向の光障壁（１２、１３；１４、１５；１
   ６、１７）の位置検知のため測定装置（２０）を設け、
   光障壁を制御装置（１９）または測定装置（２０）と、
   測定装置（２０）を制御装置（１９）とそれぞれ接続し
   たことを特徴とする特許請求の範囲第３項から第９項ま
   でのいずれか１項に記載の装置。 １１、制御装置（１９）を記憶装置（２２）と接続した
   ことを特徴とする特許請求の範囲第３項から第１０項ま
   でのいずれか１項に記載の装置。 １２、バッファ・メモリ（２２）を使用することを特徴
   とする特許請求の範囲第３項から第１１項までのいずれ
   か１項に記載の装置。 １３、制御装置（１９）に、光障壁（１２、１３；１４
   、１５；１６、１７）の長手方向位置を検知する測定装
   置（２４）を接続したことを特徴とする特許請求の範囲
   第３項から第１２項までのいずれか１項に記載の装置。