JPS61165657A - 超音波顕微鏡 - Google Patents

超音波顕微鏡

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JPS61165657A
JPS61165657A JP61011947A JP1194786A JPS61165657A JP S61165657 A JPS61165657 A JP S61165657A JP 61011947 A JP61011947 A JP 61011947A JP 1194786 A JP1194786 A JP 1194786A JP S61165657 A JPS61165657 A JP S61165657A
Authority
JP
Japan
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specimen
sample
magnetic field
magnetic
ultrasonic
Prior art date
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Pending
Application number
JP61011947A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Ishikawa
潔 石川
Hiroyuki Takeuchi
裕之 竹内
Hiroshi Kanda
浩 神田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61011947A priority Critical patent/JPS61165657A/ja
Publication of JPS61165657A publication Critical patent/JPS61165657A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波顕微鏡、特に所定試料を研摩すること
のできる超音波顕微鏡等に関する。
〔従来の技術〕
近年I G Hzに及ぶ超高周波の音波の発生検出が可
能しなったので、水中で約1μmの青波長が・実現でき
ることになり、その結果、高い分解能の音波撮像装置が
得られるようになった。即ち、凹面レンズを用いて集束
音波ビームを作り、1μmに及ぶ高い分解能を実現する
のである。
上記ビーム中に試料をそう人し、試料による反射超音波
を検出して試料の微細領域の弾性的性質を解明したり、
或は試料を機械的に2次元に走査しながら、この信号の
強度をブラウン管の輝度信号として表示すれば、試料の
微細構造を拡大してみることができる。
第1図は、その超音波顕微鏡の主要構成部を示す図であ
る。超音波の集束及び送受は球面レンズ1により行って
いるが、その構造は円柱状の熔融石英等をもちいた物質
の一面を光学研磨し、その上に圧電薄膜(ZnO)2を
上下電極3によりはさむ、このようにサンドウィッチ構
造になっている圧電薄膜2に、パルス発振器4から発生
されたパルス5を印加して、超音波6を発生させる。ま
た、他端部は口径0.1mmφ〜1 、0 m mφ程
度の凹面状の半球穴が形成されており、この半球穴と試
料との間には、超音波6を試料7に伝播させるための媒
質(例えば水)8が満されている。
圧電薄膜2によって発生した超音波6は円柱の中を平面
波となって伝播する。この平面波が半球穴に達する石英
(音速6000 m / s )と水(音速1500m
/s)との音速の差により屈折作用が生じ、試料7面上
に集束した超音波6を照射することができる。逆に試料
7から反射されてくる超音波は球面レンズにより集音整
相され、平面波となって圧電薄膜2に達し、ここでRF
信号9に変換される。このRF信号9を受信器10で受
信器10で受信し、ここでダイオード検波してビデオ信
号11に変換し、CRTディスプレイ12の入力信号と
して用いている。
この様に構成された装置において、試料7が試料台駆動
電源13によりz −y平面内で2次元に走査している
と試料の走査にともなう試料面からの反射の強弱が2次
元的にCRT面12に開示される。
而して、一般に超音波は物体の表面で一部分は反射する
が、かなりの部分は物体が光学的に透明かどうかに関係
なく、その中にはいってゆき、物体内部に存在する硬さ
や、密度、粘性の違いや欠陥などを反映したエコーとな
って返ってくる。この性質を利用して試料内部の様相を
検出できるのが超音波顕微鏡である。
一方、一般に1強磁性体の超音波吸収の主原因は磁歪と
の相互作用により異なると云う報告がある。例えば、ジ
ャーナル・オブ・アプライド・フィジックス(J、 A
ppl、 Phys )誌、第21巻(1950)第1
067頁、やレビャー・オブ・モダン・フィジックス(
Rev、 Modarn Phys、)誌ν第25巻(
1953)第140頁には、キューリ点以下で磁区の移
動による吸収があることを示している。
また1強磁性体と超音波との相互作用のうち顕著なもの
に、第2図に示すような分域構成の変化があり、相隣る
分域は分極(図の矢印R2で示す)の方向が90°また
は180′異っている磁性材料において磁場が作用する
と、各分域には磁歪効果が現れる。これは磁場Hに平行
な方向と垂直な方向では伸びの方向が異なる。したがっ
て90°分域の境界では(図の矢印R1で示す)を加え
ると分域境界の移動(実線から点線への移動)が起るが
180a分域では影響されない、それは、磁場の方向を
逆にしても磁歪に変化はないためである。
磁歪の■の物質(磁場に平行な方向に伸びる物質)に−
ぼう向きの圧力を加えると、応用を減らすために圧力の
方向の磁区の体積が減り、これに直角な方向の磁区の体
積が増すような方向に磁区の移動が起きる。
応力による磁壁の移動はひずみを増加させる方向に生ず
るので、ヤング率は弾性的ひずみだけによる場合よりは
減少する。飽和まで磁化した試料では磁区が1つになり
応力により磁壁の移動がないからヤング率は高い。飽和
磁化の場合と消磁された場合とのヤング率の差がΔE効
果と呼ばれているもので、ΔE効果に伴って同じ温度範
囲で超音波の吸収が生ずる。
これらの現象の詳細な報告は例えば、ジャーナル・オブ
・アプライド・フィジックス(J、 Appl。
Phys、 )誌、第33巻(1962)第914頁。
もしくはフィジカル・レビュー(Rhys、 Rev、
 )誌、第75巻(1949)第1954頁などにある
〔発明が解決しようとする問題点〕
このように超音波吸収と磁性体との間には密接な関係が
あるが、このような現像を容易に観察できる装置の実現
が要求されている。
したがって本発明の目的は磁性体もしくは誘電体の分域
(ドメイン)の微少な変化を容易に観察できる装置を提
供するにある。
〔問題点を解決するための手段、及び作用〕本発明にお
いては、集束超音波ビームと試料の相対位置の移動によ
り試料内部の超音波像を得る超音波顕微鏡の試料台に、
試料に磁場もしくは電場を印加する手段を具備し、磁場
、もしくは電場の印加によるドメインの微少な変化を超
音波像にて観察できるようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下1図にもとづいて、本発明の実施例について述べる
第3図は本発明の実施例の要部を示したものである、X
−Y面上で走査されている、試料7に対して、4個の磁
石14a、14b、14c、及び14dが図のように配
置されている。この磁石をもちいて、それぞれの励磁の
仕方を組合せると。
第4図の矢印で示したように種々の方向の磁場を試料7
に印加することができる。すなわち、それは試料7に対
して垂直、水平、斜めであり、かつ極性を変えることに
より正負の方向を逆転することができる。
図では省略したが磁石14a〜14dの励磁はコイルに
流れる電流を調節することにより行い。
その磁場の強弱は自由に調節できる。
以上は試料に磁場を印加し、磁性体の性質を調べる一例
について述べたが、強誘電体試料の電場との相互作用を
調べるには、第3図に述べた磁石14を電極におきかえ
ることにより容易に観察することができる。
以上は、超音波顕微鏡に磁石を具備せしめる場合につい
て述べたが本発明はこれに限らず、非接触試料台の軸受
部を磁極として使用する場合にも適用できるものである
第5図は、その非接触試料台として静圧空気軸受を用い
た試料台の一実施例を示す。
即ち、試料台の両側面に配置された2個の軸受と試流台
との間に圧縮空気を流し、この静圧力で試料台を支持す
る。なお第6図は第5図の静圧軸受部(図の円で示す部
分)の拡大図である。この図からあきらかなように試料
台は非接触であるために、従来一般に用いられている軸
受支持の場合のように摩擦抵抗がなく、各部の摩耗がな
いことや、テーブルとガイド面の静圧空気層が緩衝材と
して作用し、ガイド面や試料台の対向面にわずかな凹凸
があっても影響されることなく平滑に移動させることが
できる。
第5図及び第6図において100はガイド部である6ガ
イド部には、圧縮空気吐出口101が所定の位置に取り
つけられており、この圧縮空気により、試料台103を
保持する。102は圧縮空気取入口である。また107
は試料台駆動軸である。
上記のような構成の試料台を使用することにより、試料
台の上下動を0.03μ以下が実測され、極めて安定に
動作することができる。
かかる試料台において本実施例では、第7に示す如く、
軸受部を磁極として使用する6即ち、軸受部を軸受11
0とスペーサ111の三つの部分に分割し、軸受110
は断面構造がコ字形にし、その中心部に磁石励磁用コイ
ル112を配置する。
そして試料台103を非磁性材料で作り、コイル112
電流を流すと、軸受110には点線で示すような方向の
磁場が発生する。
さらに、試料に磁場印加法の一実施例として第8図に示
すような構成も考えられる6すなわち、静圧空気軸受部
の外側を磁石で包囲するような構造のもので、その詳細
を図にしたがって述べる。
図において、静圧空気軸受100は第2図に示した構造
と同一であるが、この静圧空気軸受を包むような形状で
磁石200が配置されている。この磁石200はコイル
201により励磁され、その磁場強度も調節されている
ようになっている。
磁石の先端部は試料7および試料台103を上下からは
さむような状態に磁極がなっており、試料7に対して磁
場を印加が可能となる。
〔発明の効果〕
上述の試料台を使用することにより、試料に容易に磁場
を印加できるとともにその強度も観察中自由に変化する
も、試料の走査にはなん等支障されることなく安定した
試料台を実現でき、その効果には著といものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は超音波顕微鏡の概略構成を示す図、第2図は材
料中の磁壁の構造を示す概念図、第3図には本発明の一
実施例の構成を示す図、第4図は、その動作説明図、第
5図及び第6図は、第3図の実施例の試料台の概略構成
図、第7及び第8図は本発明の他の実施例の構成を示す
図である。 ′\ 代理人 弁理士 小川勝男 〜” ¥J 3  図 万5図 OO %  7  図 第 2j   図 2ρl

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、音波伝搬体と、この伝搬体の端部に形成され、かつ
    所定焦点を有する音波レンズとからなり、上記焦点近傍
    に設けられた所定試料からのじよう乱音波により、上記
    試料を撮影する超音波顕微鏡において、上記試料に磁場
    及び電場を印加する手段を具備したことを特徴とした超
    音波顕微鏡。
JP61011947A 1986-01-24 1986-01-24 超音波顕微鏡 Pending JPS61165657A (ja)

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JP61011947A JPS61165657A (ja) 1986-01-24 1986-01-24 超音波顕微鏡

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JP61011947A JPS61165657A (ja) 1986-01-24 1986-01-24 超音波顕微鏡

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JPS61165657A true JPS61165657A (ja) 1986-07-26

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