JPS61164178A - パルサー安定化照射線検出器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は照射線検出器回に関し、特に光電子増倍管（Ｐ
ＭＴ）に光連結されかつイオン化照射線への露出に呼応
して検出可能イ【光を放出づ−る無機シンチレーション
結晶に関するものである。ざらに詳細には、本発明は第
２１）　Ｍ　Ｔに連結された第２結晶に埋設して検出装
置に対し安定性をイ」与する照射線パルサーの使用に関
Ｊ“るものである。この種の検出装置ｕは、油ｊ１掘削
、高−Ｌネルキー物理学・、航空機開発などを含む各種
の工業おＪ：び４１１究用途に使用される。

［従来の技術１ ｉｉ（１！ＪＪ　２ｊｌ　エネルギーを検出しかつ測定
する装置は、永年にわたり知られている。−・般的に使
用されている装置ｉの・うら・種類の装置は、イオン化
照射線エネルギーを光」−ネルギーに変換する能力を備
えた物質を使用Ｊるシンブレーション燐光体である。

この種の燐光体は典型的には光電子増倍管Ｊ：た【３１
光ダイＡ−ドに連結され、これらは、光エネルギーを電
気パルスもしくは電流に変換する。この電流は、さらに
増幅されかつ電子処理されて、照射線エネルギーの種類
、強度などの特性に関する有用なデータを供給する。

多数の天然の月利および合成材おＩは、イオン化照射線
−［ネルギーを光のパルスに変換する＋！１買を有する
ことが判明している。これらのうら゛、たとえ（Ｊアン
］・ラセン、各１手の合成プラスチックおよび天然物質
のようなイ」１幾物質、並びにたどえばタリウムでドー
プされｌζビスンスゲルマネート、タングステン酸カル
シウムｄ、５　Ｊ、びカドミウム、沃化すＩ・リウムや
ヨ［二１ピウムでドープされた弗化カルシウムのＪ：う
４１ドープされた無機結晶がある。

最も−・般的（７種類のイＡン化照ｑ」線はγ−線又は
Ｘ線とα粒子どβ粒子（電子）とＣあって、数千電子ポ
ル１−（ＫｅＶ）乃至敬白ノｊポルｌ−（ＭｅＶ）の範
囲のエネルギーをイｊリ−る種々 異なる種類のシンチレータ−は広範囲に異なる特１１、
Ｉことえば密庶、崩壊定数、シンチレ−シヨン効率、物
理強１良、吸湿性などを１する。シンチレーシヨン操作
の際に放出される光のパルスは一般に、燐光体に蓄積し
たエネル１１−に比例Ｊる。

これらパルスは、たとえば光電子増倍管または光ダイオ
ードなどの光検出器により検出かつ計数され、強い磁場
が存在する揚台に空間が制約されている際、或いは高エ
ルギーの照射線が測定されてバックグシウンドノイズが
重大な問題とならない揚台には光ダイオードが使用され
る。各光電子増倍管は独自の特性を有し、目的とする各
用途には適切なチューブを選択することが肝要Ｃある。

光電子増倍管の電流出力は、検定基準の使用を必要どす
るＪ、うな成る種の変動を受１ｊる。これら変動としＣ
（ま、温度、電子部品などの老化もしくは欠陥、或いは
電力供給における変動がある。

シンチレーション検出器を安定化させるだめの従来の試
みは、フラッシュ光源または光検出器に一 対向Ｊる位置にお【′Ｉるシンチレータに隣接したたと
えば△、丁１２４１のようなα放出黒用光源、或いはシ
ンチレーシヨン結晶全体に分配されたα源の使用を伴う
。他の方法は、照射線源を基準結晶中にｑ− 組み込んＣ′パル４Ｊ−を形成すると共に、□このパル
サーを光検出器に対向り−るシンチレーシヨン結晶に連
結Ｊ−ることで゛あり、これｆ、Ｌ１！’１６２年４月
１７日付り発行の米１η４’ｊｉ　’Ｉｒ第３，０３０
．！ｉ０９弓公報に示されている。ｌ　ｔｌＣ化におｔ
プるこれらの試みは全Ｃ１熱不安定竹、変動多くかつ低
いα組数効率、外部光源を与える必要性などを含む諸欠
点をＩｉ′１Ｊ′る。

［発明が解決しようと１−る問題点］ 本発明は、シンブレーシ三りン照射線検出器の安定化に
有用である新規／２バルリ−一装置Ｊ３よびこのパルリ
ー装冒を含む新規な検出装置を提供することである。

Ｅ問題点を解決Ｊるための手段］ 本発明によれば、照射線検出器はハウジング内に収納さ
れかつたとえば光電子増倍管のような、第１光検出器に
光連結された第１シンチレーシヨン結晶を備える。光検
出器に対向する結晶の後部にお【ノるハウジングは、安
定化用パルサー装置を収容づるのに適づ゛る。。

安定化用パルサー装置は第２無機シンチレーターと、こ
のシンデレーターに光連結されただどえＦ１子を同ｎ４
に放出する照側線パル勺−とを備える。

照口」線源は、第２シンチレータ−がパル４ノー光検出
器の方向に放出されたα粒子もしくはβ粒子のほぼ全部
おＪ、びＸ線の全部と相互作用するが、前用線検出器へ
向う方向と反対方向に放出されたＸ線とは相互作用し４
ｊ・いように位置決めされる。かくして、Ｘ線ｔ３Ｌ検
出器のハウジングを通過し、かつ第１シンヂレーシ」ン
結晶と相互作用する。

パルサーと共に使用り−るシンチレータ−は光検出器に
光１重＃、８された前部結晶と同じ月利の後部結晶とか
ら４了り、これら結晶は厳密に一致する研磨係合表面に
沿っ一τＬｊいに光連結される１、照射線源（ま、前記
係含表面間の空間に位ｌ？？づ′る。

２個の光検出器からの出力は、合致し一ドよＩごは反合
致モードのいずれかで２種の信号を処１１Ｊ！　”する
グー１〜回路に同時に伝送される。第１検出器を通過づ
る信号パルスをパルサー結晶に連結された第２検出器か
ら得られるパルスど比較り−ることにより、前用線検出
器を検定Ｊる目的で合致モードを使用する。反合致モー
ドにおいて、ゲートが第１検出器からの環境信号を通過
さ１ま℃、パルサーからの信号を以下詳細に説明するよ
うに効果的に選別づる。

［実施例］ 以下、添ト１図面を参照して本発明を実施例につき詳細
に説明する。

図面を参照り゛ると、第１図は、環境的に発生するイオ
ン生前０４線を検出−づるＩこめの装！！１１の略記同
図であり、この装置ｒ１は新規なパル１ノーに、Ｊ、り
安定化（される。この装置は、無機シンチレーシヨン結
晶１１を内蔵する結晶ハウジング３と、この結晶に光連
結された光電子増倍管５とを備える。この実施例にａ５
いて、結晶ハウジングは光電子増倍管に対向して穴部６
を備え、かつこの穴部には第２光電了増イ８管９に光連
結されたパル４ノー装置７を設【する１、２つの光電子
増倍管からの出力８および１０は、・般的にゲー１へ１
１、増幅器１３およびアナライＩＪ”−１５どして示す
信号処理器に伝送される。

第２図を参照すると、パル４ノー装「）７は結晶ハウジ
ング３の穴部６内に位置し、たとえば溶接、接着または
フラノンを使用するなどの適当な手段にＪ二つ°（所定
位置に固定されている。このパルサー装置番ま無機シン
チレータ−を備え、このシンチレータ−は好適実施例に
おいてそれぞれ対向したり１１訊係合表面２３．２５を
右する後部シンチレータョン結晶１９おＪ：び面部シン
チレーシヨン結晶２１と、これら研凰表面間に介装され
たたどえばＡｍ２４１のにうな前用１！ｌドープ材の１
層２７どからなっている。前部結晶２１を、たどえばシ
リ−１−ングリースのような適当な連結相を使用して光
電子増倍管９に光連結する。パル４Ｊ−装置全体をハウ
ジング３１内に封入し、その詳細を第３図に示寸１、検
出器ハウジング３は、イＡン化ｌ■用線を検出する！こ
めに−・般的に使用される種類のシンチレーシヨン結晶
１７を内蔵づる。例としてはタリウム賦活した沃化）［
・リウムもしくは沃化セシウム、ナトリウム賦活した沃
化カルシウム、或いは各種の自己賦活したシンチレータ
−１たとえばビスマスゲルマネー１−、タングステン酸
カルシウム、タングステン酸カドミウムおよび弗化バリ
ウムが挙げられる。

第３図において、ハウジング３１は、間口部３７に終端
！ｌ−る截頭円鉗部分３５を備えたアルミニウムなどの
円筒缶３；３からなっている。前部結晶２１は、）内当
に位置決めＬノｌＪＯリング３９まｌこはぞの他の■ラ
スｌ−７−〇しくは樹脂月利と１に触させてｒ＋、３：
＋中に嵌合する。Ａｍ２４１の薄層を、たどえばΔ１１
１２４１０ρの溶液からの蒸発により前部結晶２１の仙
１８表面２ｊ）へ、或いは後部結晶１９の？ｌ１１磨表
面２３１＼イ・１着さける。いずれの場合にも、これら
２つの６１１１ｆ’ｉ表面はぞれらの間に挟持されたＡ
ｍ２４１の庖２７どｈいに緊密に接触リ−る。、２種の
結晶を光速結するだめのこれら２つの研磨表面間にお【
−ノる空気界面の使用は、極め−Ｃ高いα粒子伝達効率
を確保り”る。界面にお（）る接着剤もしくは（の他の
結合剤の使用は、この結合剤によるα粒子の吸収により
伝達効率を不利に低トさせるので回避される。

後部結晶１９は、Ｘ線の伝達を圀害しないにうに充分薄
くＪる。］−ロピウムでドープしに弗化カルシウムの場
合、Ａｍ２４１により放出される低エネルギーのα粒子
の通過を阻ＩＬするど」（に（ｉｏＫｅＶのγ線を照射
線検出器の結晶１７中へ通過さ［るには、１／１６イン
ヂ〜１／８インチの厚さで充分である。

ｌことえばケイ素７１〜リツクスにおする酸化アルミニ
ウムもしくは酸化マグネシウムのような適当な反則Ｈか
らなる反則装置４１を、発泡ゴムもしくは合成■ラス１
〜マーなどｌ成された圧縮性圧力パッド４３により、後
部結晶１９に対し接触保持Ｊ“る。

結晶装置仝体をカップ状の端部１０・ツブ４ｊｉにより
ハウジング３１内に設冒し、前記−１−ｔ１ツブの壁部
４６を結晶どハウジング３１どの間の環状空間４９中へ
突入させる。、ボリテ１〜ラフル；４’　１−「ｒ、、
ヂレンなどの適当な不活性プラスブックＪ、りなる１個
もしくはぞれ以上のＲ９いパッド２６を充１［’ｔＡど
して使用し、ハウジング内への結晶おＪ：びでの他部品
の適ｌ、Ｉｊな整列ａ３よび嵌合を確保する。端部キシ
ツブ４５を、■ボキシ樹脂４７すどの適当な接着剤を用
いてハウジングに固定する。

パル′ｌｌ−５ｌｙは光電子増（０管とは反対側の後部
結晶１９の表面に反射器４１を備えるが、パル１す一結
晶の側部とハウジング３１どの間の環状空間４９には対
応の反射層が存在しない。前部結晶２１の円筒状および
截頭円錐状側部、並びに後部結晶１９の非研磨表面は砂
吹処即或いはその他の処理が施されて、高度の拡散表面
を与える。この拡散表面と、結晶周囲に反射器が存在し
ないことが連携して、γ線スペクトルにおける望ましく
ない二重ピークの発生庖防ｌトする。シンチレーション
現象が後部結晶１９にて生ずる際、光が２種の結晶間の
空気界面を通過し−Ｃ強ｊ島を減少しながらＰＭＴに到
達する時、成る邑の光ｂｔ、＜はエネルギーを失なう。

前部結晶の周囲に反射器を使用しなければ、前部結晶に
生ずるシンチレーションの強度が後部結晶の強度と均衡
し、２つの別々のエネルギ′−ピークの発生を防止する
。

操作に際し、検出装置１を、照射線１ノベルおよび秤類
を定量化し、かつ固定し、」、うとＪ８環境内に設置す
る５、典型的な用途は油月掘削操作であって、この場合
検出器を油月中へ降下ざＵ、」環構成から生ずる環境照
射線を記録゛するどＩｔに、石油層を位置決定しかつ特
性化する。

掘削データを収集しかつ処理Ｊ“る際、ゲート１１（第
１図参照）を反合致モードとして、環境信号のみを増幅
器および信号処ｌｌｌ器に通過さける一方、Ａｍ２４１
照射線源から発生づ−るγ信号を選別する。

この場合、照射線スベク１−ルｔま６０ＫｅＶ安定化ピ
ークを含まない。

装置を検定り゛ることが望ましければ、グー１〜１１を
合致モードに切り換えた後、信号を両光電子増イ８管の
出力から受信した揚台のみ通過ざＵる。上配したように
、Ａｍ２４１は５４ＨＯνのピークを右する（λ′顆粒
子Ｇ　ＯＫ　ｅ　Ｖのピークを有するＸ線とを同■、−
に放出する。比較的低Ｔネルギーのα粒子は、Ｃａ「−
２（［ｕ）結晶にて９８％以上の高度の効率で停止１−
され、決して検出器にお（）るシンチレーシ・ｊン結晶
１７に到達しない。かくして、α粒子の相７７伯用を伴
う現象はパルリ゛−光電子増倍管９に記録されるが、こ
の種の現象は結晶１７に観察も記録−ｂされずかつ光電
子増イ８管７を介しグー１へへ伝達されｔ３い。両デユ
ープからの合致現象が存右しなりれば、α粒子の相互作
用はゲートを通過しないので記録されない。

他方、α粒子ど同時に放出された６０にｅＶのＸ線は６
０部パルＩＪ−結晶２１に入って、シンチレーションを
発生し、Ｐ　Ｍ　Ｔ　９により記録され、ＰＭ７９は、
ゲートへ別個の信号を送信する。他のＸ線は、その伝達
を■害しないよう充分薄い後部結晶１９を＝　１９− 通過して主検出器結晶１７に入り、この結晶、ど相η作
用して結晶内にお（ＪるイＡン化を示−づ“信号を発生
り−る。この４Ｆ’；　”−３はＩ）　Ｍ　”ｒ　７に
Ｊ：り検出されてグー１〜」、でリレーされ、パルサー
からの信Ｈｑと合致して既知のパルス高さを有り−る合
致信号を発生で−る。次いで、この信号を論理回路に供
給して、検出器結晶からの光ピークの位置を電子調整す
ることにより、検出器７の前用線結晶１７と電子部品と
を安定化さｔ！る。

本発明の好適実施例においては、ＣａＦ２（Ｆｕ）およ
びＡｍ２４１をパルサーの製〕告に使用Ｊる。Ｃａ　ｒ
’２　　（ＦＴ　ＬＪ　）は、たとえ数にｅＶの低エネ
ルギー範囲においても帯電粒子の優秀な検出器である。

この無機結晶は硬質、不活性かつノ１°吸湿ＩＩＵであ
る。これは熱および機械衝撃に対し良好な耐性を右し、
各種の検出器形状に加ＴＪることができる。これは４３
５ｎｍの最大放出の波長ど０．９４ミー　２〇　− リ秒の崩ｊ内定数どを有づる。４３５ｎｍに；１３１Ｊ
る屈折率は１４４であり、その密度は３１９である。

八ｍ２４１は、冒８　Ｋ　ｅ　Ｖの低−「ネルギーを有
するα粒子どＧ　Ｏｌ（ｅ　Ｖの工ンルギーを有Ｊ−る
αもしくはＸ線とを１ｄ秒５０”−２０００カウンＩ−
の■１数にて同時放出するので、本発明の優秀な照射線
源Ｃ′ある。

Δｍ　　は、Ａｍ２４１Ｃρの溶液から結晶の研磨表面
にへば４４着される。

Ｃａ　Ｆ２　　＜　＃　ＬＪ　）の２個の結晶間に介装
したＡｍ２４１源につきパルサーを説明したが、本発明
の範囲から逸脱することなく他の材料もパルサー中に使
用することができる。ＣａＦ２（Ｅｕ）おＪ：びＡｍ２
４１の使用は、たどえば次のような幾つかの利点を有す
る：（ａ）このパルサ−−は一５５℃へ・１５０℃の広
い温度範囲にわたって安定であり、（ｂ）ｃａＦ２　（
Ｅｕ）は３１吸湿性であるため、パルサーを乾燥箱中に
絹み込ｌυだり、或いは蒸気を含まないまたは気密ｔＪ
結品川用容器を設（）る、必要がなく、ＦＣ）このパル
サーは、９８％以上のα粒子の検出効率を右し、かつ（
ｄ）ハウジング内におｃ−するパルサーの配置、９１−
びにハウジング内の反則および拡散表面の配置はｌ１１
−の容易に固定される光ビークを発生する。

ＣａＦ２　（Ｆｕ）が本発明の好適を丁シンチレーシヨ
ン結晶であるが、その代りに低い回折率を右する他めＪ
ｌ吸湿竹結晶も使用することがＣきる。

例としてはＣＩ（Ｔ１）およびＢａＦ２が挙げられる。

上記したように、低屈折率は２個の結晶の研磨表面間に
おする空気連結を可能にし、それにり連結媒体中へのα
粒子放出の損失を最小にする。しかしながら、上記のＪ
：うに、非吸湿性と低屈折率と比較的高い変換効率どの
組み合Ｉにより、ＣａＦ２（Ｅｕ）が好適なシンチレー
タである。

Ｘ線とα粒子もしくはβ粒子とを同１１Ｎ放出する他の
照射線ｌｌＡｍ２”の代りに使用Ｊ゛ることがで込゛る
。この神の１例は、１．１７および１　、３３ＭｅＶの
１オル１ニーを有する２つのγ線と３２０にＯｖの１ネ
ル１！−をイＪす“るβ粒子とを同時放出するー」パル
トロ０て゛ある。パルサー結晶の阻止能力は、α粒子の
場合よりもβ粒子の場合にずっと低い。この理由で、好
ましくは２種の結晶を逆転させて、接部結晶を充分厚く
することにより粒子を停止させると共に、これら粒子が
環境検出器のシンブレーション結晶に到達するのを防止
し、前部結晶の厚さは臨界的でない。

・　環境検出器のハウジングには、パルサーを収容Ｊる
ｌこめの穴部を設（Ｊる必要がない。むしろ、適当な電
子部品と共に包装したパルサーをプ【１−ブどして使用
し、環境検出器に対しこれを安定化ざＵるにう近接ざぜ
ることができる。事実、これを使用して２個−ｂｔ、＜
はそれ以上の検出器を同時に安定化させることができる
。或いは、パルサーを溶接などによりハウジングへ永久
固定づることもできる。検出器のハウジングにフランジ
を使用覆れば、携帯性および／または交換性が望ましい
場合迅速へ連結／解体が可能どなる。

安定化のｌこめ−・定のパルス高さを与えることにより
シンブレーション結晶と光電子増倍管との両者における
温度おＪ：び光増倍管ゲインとを自動補償するパル」ノ
ーを形成するという思想から逸脱することなく、本発明
の範囲内で多くの段組変更が可能である。たどえば、パ
ルサーに使用するシンデレーターの寸法おＪ：び形状、
並びにパルサー内の照削悄物質の分配を本発明から逸脱
づ”ることなく変更することができる。前側線源は、適
当な手段により単一パルサー結晶内に位置された点源も
しくは数個の点源、或いは拡散源どすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の操作原理を示す照射線検出装置の略部
分断面図、第２図は第１図に示した領域７の拡大詳細図
、第３図は本発明に有用なパルサー−の断面図である。 １・・・・・・検出装置、３・・・・・・結晶ハウジン
グ、５・・・・・・光電子増倍管、１・・・・・・パル
サー装置、９・・・・・・光電子増倍管。 手続′４ｔ１ｉ　、１−１−書 昭和６１年４月１０Ｆ］ １、事ｆ＋の表示　　　昭和６０イ「特許順相２９９６
８８号２、発明の名称　　　パル１ノー安定化照射線検
出器３、補■をづる当 事件どの関係　　特許出願人 名　称　　　　フィル１〜ロール・コーポレイション４
、代　理　人　　　東京都新宿区新宿１丁［１１番１４
号　山８１ビル（郵便番号１６０）電話（０３）　　３
５４−８６２３５、拒絶理由通知の１」角　　　自　発
６、補正ににり増加する発明の数 ８、補正の内容 （１）明細山中、特許請求の範囲を別紙の通り補正する
。 ■間中、第１１頁第５行目、第１０行目、第１１行目、
第１３行目、第１５頁第１６行目、第１９頁第２行目、
第１３行１」、第１６行目、第２１頁第５行目及び第２
２頁最下行に［×−１どあるをそれぞれ「γ」と補正す
る。 （３）間中、第２１頁第４行目に［αもしくは１とある
を、これを削除する。 ２、特許請求の節［１１＋ （１）　（ａ）無機シンブレーターと、（ｂ）このシン
デレーターに光連結された光検出器と、 （ｃ）１線ｌｅα粒子もしくはβ粒子を含む２種の別々
の照射線粒子を同時に放射すると共に、前記シンチレー
タ−Ｂぼ全部のα粒子ＩＥ＞Ｌ＜はβ粒子と相方作用し
、光検出装置された照射線源と を備えることを特徴とする照射線検出器用の安定化パル
サー装置。 （２）　　シンデレーターが２種の部品、すなわち光検
出器に光連結された前部シンチレーシヨン結晶ど後部シ
ンチレーシヨン結晶とで構成され、これらの結晶が厳密
に一致する係合部に沿って互いに光連結されると共に、
前記照射線源が前記２つの厳密に一致する結晶の間の空
間の少なくとも１部を占める特許請求の範囲第１「１に
記載のパルサー装置。 （３）　　照射線源が、５．４８Ｈｅｖのエネルギーを
有するα粒子ど６０ＫｃＶのエネルギーを有するＬ線と
を同時に放出しうるＡｍ２４１である特許請求の範囲第
２項に記載のパル丈−装置。 （４）　　シンチＬ／−シＥ／結晶がＣａＦ２　　（Ｅ
ｕ）で構成された特許請求の範囲第２項に記載のバルサ
゛　−装　製　。 （５）　（ａ）α粒子に対する高吸収効率を有し、かつ
（１）　　光検出手段に光連結するようにした第１の扁
平研磨表面と前記第１表面に対しほぼ平行な第２の扁平
研磨表面とを備える前記シンチレーション結晶と、 ■　はぼ平行な２つの表面を備え、これら表面の一方が
前記前部結晶の第２の扁平研磨表面に光連結された研磨
表面である後部シンチレーシヨン結晶 とで構成された非吸湿性無機シンブレーターと、 （ｂ）これらの結晶の連結表面間にお番プる界面に沿っ
て存在し、約５．４８ＭｅＶのエネルギーを有するα粒
子と約６０にｅＶのエネルギーを有するγ線どを同時に
放出Ｊる少晴のＡｍ２４１と からなることを特徴とする安定化パルサー装置。 （６）　　非吸湿性シンブル−ターがＣａＦ２（Ｅｕ）
で構成された特許請求の範囲第５項に記載の安定化パル
４ノー装置。 （７）　　前部結晶が光電子増倍管に光連結された特許
請求の範囲第６項に記載のパルサー装置。 （８）　　後部結晶の第２の平行表面が光学反Ｑ＝Ｉ材
と接触している特許請求の範囲第７項に記載のパル１ノ
　−装瞼イ　。 （９）　（ａ）−・方の表面が第１光電子増倍管に光連
結されたシンチレータ−からなる環境検出器と、 （ｈ）第１光電子増倍管から一般に離間してシンチレー
ション結晶の第２表面に近接し、かつ （１）　　一方がγ線であり他方がα粒子もしくはβ粒
子である２種のエネル１＝−粒子を同時に放出する照Ｉ
）ＩＩｉｌ源と、 ■　α粒子ｂ＋、、＜ばβ粒子と相ｎ作用すると共に環
境検出器の方向に放出されたγ線の１部を第１シンデレ
ージヨン結晶中に通″す“ようにした前記照射線源を包
囲する非吸湿性無機シンチレーション結晶と、（３）　
　前記シンチレーション結晶に光連結された第２光電子
増倍管と からなるパルサー装置と、 （ｃ）合致モードおＪ：び反合致モードを有しかつ第１
光電子増倍管Ｊ３よび第２光電子増倍管の出力からの信
号を受信り−るようにしたゲート回路とからなり、前記
ゲート回路は合致モードにある際環境検出器を１線放出
と無機シンチレーション結晶との相ｎ作用により発生し
たパルリーーからの信号と比較することにより環境検出
器を基準化づることが可能であり、かつ前記ゲート回路
は反合致モードにある際環境照射線源と第１シンチレー
シヨン結晶との相互作用により発生した現象から生ずる
信号を安定化信号との干渉なしに通過させるように構成
したことを特徴とＪ−る安定化照射線検出装置。 （１０）　　Ａ　ｍ　２”が、パルサーとして使用され
る照射線源である特許請求の範囲第９項に記載の検出装
置。 （１１）パルサーと共に使用する非吸湿性無機シンチレ
ーシヨン結晶がＣａＦ２　　（Ｅｌ）である特許請求の
範囲第１０項に記載の照射線検出器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）（ａ）無機シンチレーターと、 （ｂ）このシンチレーターに光連結された光検出器と、 （ｃ）Ｘ線およびα粒子もしくはβ粒子を含む２種の別
   々の照射線粒子を同時に放射すると共に、前記シンチレ
   ーターが光検出器のれ向に放出されたほぼ全部のα粒子
   もしくはβ粒子およびＸ線と相互作用するように位置せ
   しめるが反対方向に放出されたＸ線とは相互作用しない
   ような照射線源とを備えることを特徴とする照射線検出
   器用の安定化パルサー装置。 （２）シンチレーターが２種の部品、すなわち光検出器
   に光連結された前部シンチレーシヨン結晶ど後部シンチ
   レーシヨン結晶とで構成され、これらの結晶が厳密に一
   致する係合面に沿って互いに光連結されると共に、前記
   照射線源が前記２つの厳密に一致する結晶の間の空間の
   少なくとも１部を占める特許請求の範囲第１項に記載の
   パルサー装置。 （３）照射線源が、５．４８ＭｅＶのエネルギーを有す
   るα粒子と６０ＫｃＶのエネルギーを有するＸ線とを同
   時に放出しうるＡｍ＾２＾４＾１である特許請求の範囲
   第２項に記載のパルサー装置。 （４）シンチレーシヨン結晶がＣａＦ＿２（Ｅｕ）で構
   成された特許請求の範囲第２項に記載のパルサー装置。 （５）（ａ）α粒子に対する高吸収効率を有し、かつ（
   １）光検出手段に光連結するようにした第１の扁平研磨
   表面と前記第１表面に対し ほぼ平行な第２の扁平研磨表面とを備える前記シンチレ
   ーシヨン結晶と、 （２）ほぼ平行な２つの表面を備え、これら表面の一方
   が前記前部結晶の第２の扁平研磨表面に光連結された研
   磨表面である後部シンチレーシヨン結晶とで構成された
   非吸湿性無機シンチレーターと、 （ｂ）これらの結晶の連結表面間における界面に沿って
   存在し、約５．４８ＭｅＶのエネルギーを有するα粒子
   と約６０ＫｅＶのエネルギーを有するＸ線とを同時に放
   出する少量のＡｍ＾２＾４＾１とからなることを特徴と
   する安定化パルサー装置。 （６）非吸湿性シンチレーターがＣａＦ＿２（Ｅｕ）で
   構成された特許請求の範囲第５項に記載の安定化パルサ
   一装置。 （７）前部結晶が光電子増倍管に光連結された特許請求
   の範囲第６項に記載のパルサー装置。 （８）後部結晶の第２の平行表面が光学反射材と接触し
   ている特許請求の範囲第７項に記載のパルサー装置。 （９）（ａ）一方の表面が第１光電子増倍管に光連結さ
   れたシンチレーターからなる環境検出器と、 （ｂ）第１光電子増倍管から一般に離間してシンチレー
   シヨン結晶の第２表面に近接し、かつ （１）一方がＸ線であり他方がα粒もしくはβ粒子であ
   る２種のエネルギー粒子を同時に放出する照射線源と、 （２）α粒子もしくはβ粒子と相互作用すると共に環境
   検出器の方向に放出されたＸ線の１部を第１シンチレー
   シヨン結晶中に通すようにした前記照射線源を包囲する
   非吸湿性無機シンチレーシヨン結晶と、 （３）前記シンチレーシヨン結晶に光連結された第２光
   電子増倍管とからなるパルサー装置と、 （ｃ）合致モードおよび反合致モードを有しかつ第１光
   電子増倍管および第２光電子増倍管の出力からの信号を
   受信するようにしたゲート回路とからなり、前記ゲート
   回路は合致モードにある際環境検出器をＸ線放出と無機
   シンチレーシヨン結晶との相互作用により発生したパル
   サーからの信号と比較することにより環境検出器を基準
   化することが可能であり、かつ前記ゲート回路は反合致
   モードにある際環境照射線源と第１シンチレーシヨン結
   晶との相互作用により発生した現象から生ずる信号を安
   定化信号との干渉なしに通過させるように構成したこと
   を特徴とする安定化照射線検出装置。 （１０）Ａｍ＾２＾４＾１が、パルサーとして使用され
   る照射線源である特許請求の範囲第９項に記載の検出装
   置。 （１１）パルサーと共に使用する非吸湿性無機シンチレ
   ーシヨン結晶がＣａＦ＿２（Ｅｕ）である特許請求の範
   囲第１０項に記載の照射線検出器。