JPS61159123A - 温度センサ - Google Patents

温度センサ

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Publication number
JPS61159123A
JPS61159123A JP28128184A JP28128184A JPS61159123A JP S61159123 A JPS61159123 A JP S61159123A JP 28128184 A JP28128184 A JP 28128184A JP 28128184 A JP28128184 A JP 28128184A JP S61159123 A JPS61159123 A JP S61159123A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
end surface
deposited
temperature sensor
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP28128184A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiji Iri
井利 英二
Hiroaki Murata
博昭 村田
Masatoshi Tahira
昌俊 田平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainichi Nippon Cables Ltd
Original Assignee
Dainichi Nippon Cables Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainichi Nippon Cables Ltd filed Critical Dainichi Nippon Cables Ltd
Priority to JP28128184A priority Critical patent/JPS61159123A/ja
Publication of JPS61159123A publication Critical patent/JPS61159123A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/12Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in colour, translucency or reflectance
    • G01K11/14Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in colour, translucency or reflectance of inorganic materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ファイバと、温度によって光透過特性が変化
する半導体とを組合わせた温度センサに関するものであ
る。
〔従来技術〕
GaAs、GaP等の半導体は温度が変化すると光透過
率の変曲点が移動する性質を備えており、これを利用し
た温度センサとして従来、例えば第5図に示す如きもの
が知られている(特開昭56−137236号)、第5
図は従来の温度センサを示す部分破砕側面図であり、光
ファイバ10の一端面に接着剤13aを用いて、例えば
GaAs等の半導体片11を接着し、更にこの半導体片
11の前端面に接着剤13bを用いて反射板12を接着
し、そしてこれらを覆うべく一端を閉じた保護キャップ
14を反射板12、半導体片11から光ファイバ10の
端部周面にわたるよう外嵌固定して構成してある。
光ファイバIOの他端面には発光素子を臨ませてあり、
この発光素子からの光はハーフミラを経て光ファイバl
Oに入射され、光ファイバIO内を伝播され、半導体片
11を透過して反射板12で反射され、再び半導体片1
1を透過し、光フアイバ10内を伝播され、ハーフミラ
で反射されて受光素子に入射せしめられ、温度測定が行
われるようになっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで上述た如き従来の温度センサにあってはGaA
s等の半導体片11を光ファイバlOの端面に合゛わせ
て切断し、これを接着剤にて接着せしめる構成となって
いるから、量産が難しいうえ品質が安定せず、また半導
体11は取扱い易さを配慮して機能上は不必要な厚さで
ある0、4〜1.Ofi度のものが利用されており、無
駄が多く熱容量も高いため、感度、応答性が悪いなどの
問題があった。更に20中では光ファイバlO1半導体
片11、反射板12相崖゛の間の接着剤成分が気化する
おそれがあって使用出来ないなど、通用雰囲気が限定さ
れるという問題点もある。
また反射板と保護するキャンプを使用しているため、こ
のキャップの熱容量が無視できず、センサ部分の感度、
応答性が悪い等の問題点があった。
C問題点を解決するための手段〕 本発明はかかる事情に鑑みなされたものであって、その
目的とするところは光フアイバ端面に半導体を蒸着、又
はエピタキシャル形成せしめることにより、製造工程が
簡略化され品質が安定し、しかも応答性に優れ、高い測
定精度が得られる温度センサを提供するにある。
本発明に係る温度センサは、温度により光透過特性が変
化する半導体膜を一端面に蒸着、又はエピタキシャル形
成した光ファイバを具備することを基本的な特徴とする
〔実施例〕
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき具体的に説
明する。第1図は本発明に係る温度センサ(以下本発明
品という)の模式図、第2図は光ファイバの端部の拡大
断面図であり、図中21は光ファイバを示している。光
ファイバ21の先端面には半導体膜22、反射y423
が蒸着、又はエピタキシャル形成され、また基端面倒に
はその延長上にレンズ24、ハーフミラ25、光源たる
発光素子26がこの順序で配設され、更にハーフミラ2
5と対向させてその側方に受光素子27が配設されてい
る。
光ファイバ21は石英製のコアの周囲にクラッド層を形
成して構成され、その外周にはプリコート層が形成され
るが高真空の槽内温度の測定用とする場合には金属或い
はセラミックをコーティングしたものが望ましい、また
光ファイバ21としては細いファイバ状に代えて太いロ
ンド状のものを用いてもよい。
半導体y422用の素材としてはGaAs+ GaP+
 Zn5e+CdS、 ZnTe、 CdSe、^I 
Sb、 CdTe、 TnP、 Si等が用いられ、こ
れらを厚さ0.001〜0.300m5、望ましくは0
.O1〜0.10nの厚さに蒸着法、又はエピタキシャ
ル法等によって光ファイバ21の先端面に直接蒸着、又
は成長形成せしめである。
半導体III!22の厚さを0.001〜0.300鶴
としたのは0.001fi未満では膜にむらが形成され
、温度特性が不安定になるためであり、また0、300
 mを越えると透過光に対する減衰が大きくなり、また
熱容量が大きくなるため、応答性が低く、しかも製造コ
ストも高くなることによる。
また反射111123用の素材としてはAg+ Cr+
An、 A 1等が用いられ、これらを0.001〜Q
、1m、望ましくは0.01〜0.001〜0.1mm
の厚さで前記半導体膜22の前面及び周面、並びに光フ
ァイバ21の端部周面にわたって直接蒸着形成せしめる
0反射膜23の厚さを0゜001−0.01flとした
のは0.001未満では膜にむらが生し、反射作用が不
安定となるためであり、またQ、lawを越えると製造
コストが高くなり、剥離を生じるおそれがあることとか
、この部分の熱容量により温度センサの感度、応答性が
悪くなること等による。
なお半導体膜22、反射膜23の形成方法には抵抗加熱
蒸着法、電子ビーム蒸着法、イオンブレーティング法、
スパッタ法、気相成長法、又はエピタキシャル法等光フ
ァイバ21の端面に接着剤を介在させることなく半導体
材料を一旦蒸発せしめた後、これを結晶又は非晶質の状
態で付着せしめる方法等いずれの方法を採用してもよい
第3図は本発明の他の実bi例を示す要部の模式的拡大
断面図であり、2本の光ファイバ31.32のうちの一
方の光ファイバ31の端面にGaAs等の半導体1m!
!33を所要厚さに形成し、これら両光ファイバ31.
32をスリーブ33に挿通してその両端面をスリーブ3
3の先端開口部にこれと路面−に覗かせ、この状態で内
奥部に90°の開き角で反射!135a、35bを配置
した保護管3bを外嵌固定して構成されている0反射1
135aは光ファイバ31の先端面と、また反射鏡35
bは光ファイバ32の先端面と夫々45°の角度で対向
した状態で保護管3bの内奥に固定したホルダ37に配
置されている。
光ファイバ31の基端面は発光素子(図示せず)にまた
光ファイバ32の基端面は受光素子(図示せず)に夫々
臨ませてあり、発光素子からの光は光フアイバ3■内を
伝播され、その先端面から出射され、半導体1133を
透過し、反射鏡35a、35bで反射され、光ファイバ
32の先端面に入射せしめられ、光フアイバ32内を伝
播され、受光素子に捉えられ温度が測定されるようにな
っている。
第4図は本発明の更に他の実施例を示す模式的拡大断面
図であり、2本の光ファイバ41.42のうちの一方の
光ファイバ41の先端面にGaAs等の半導体膜43を
所要厚さに直接形成すると共に、この半導体膜43を形
成した光ファイバ41の先端面と、光ファイバ42の先
端面とをスリーブ44の両端から嵌拝し、スリーブ44
内の略中央部で微小の間隙を隔てて対向させて構成して
ある。
光ファイバ41の基端面には発光素子(図示せず)が、
また光ファイバ42の基端面には受光素子(図示せず)
が夫々配設せしめられており、発光素子からの光は光フ
アイバ41内を伝播し、半導体膜43を透過して光フア
イバ42内を伝播され、受光素子に導かれ、温度が測定
されるようになっている。
〔数値例〕
コア直径=200μm、クラッド層直径:250μ−の
ステソブインデソクス型石英系光ファイバの端面にGa
Asを約0.05mmの厚さに蒸着させ、その外面に八
gを材料とする反射膜を0.01mmの厚さに蒸着せし
め、波長0.85μlのパルス光を用いて温度測定した
ところ極めて良好な結果を得た。
〔効果〕
叙上の如く本発明品にあっては光ファイバの端面に半導
体膜を直接形成せしめであるから接着剤が不要で高温域
、高真空域での使用が可能であることは勿論、接着に手
作業を必要とせず、省力化が図れ、また半導体膜は薄く
形成できることから、熱容量が小さく応答性に優れ、光
の透過損失も大幅に低減出来、膜質も安定し、品質のば
らつきも少なく、またこの半導体膜を覆う反射膜も蒸着
にて形成するから手作業を必要とせず無駄のない厚さに
形成出来て、全体の大幅な小型化が図れるなど本発明は
優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明品の模式図、第2図は光フアイバ先端部
の拡大断面図、第3.4図は夫々本発明品の他の実施例
を示す模式図、第5図は従来の温度センサを示す部分破
砕側面図である。 10.21.31.32.41.42・・・光ファイバ
  23・・・反射膜  22.33.43・・・半導
体 膜 許 出願人 大日日本電線株式会社代理人 弁理士
 河  野  登  夫纂 1 l 第 21i] 纂 4 図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. 温度により光透過特性が変化する半導体膜を一端
    面に蒸着、又はエピタキシャル形成した光ファイバを具
    備することを特徴とする温度センサ。
  2. 2. 温度により光透過特性が変化する半導体膜を一端
    面に蒸着、又はエピタキシャル形成すると共に、この外
    周面を覆って反射膜を蒸着形成した光ファイバを具備す
    ることを特徴とする温度センサ。
  3. 3. 前記半導体膜は0.001〜0.3mmの厚さに
    、また反射膜は0.001〜0.1mmの厚さに蒸着、
    又はエピタキシャル形成してある特許請求の範囲第2項
    記載の温度センサ。
  4. 4. 温度により光透過特性が変化する半導体を一端面
    に蒸着、又はエピタキシャル形成した第1の光ファイバ
    の前記一端面を、第2の光ファイバの一端面と同心に対
    向させ、第1、第2の光ファイバの他端面の一方に光源
    を、他方に受光部を夫々臨ませたことを特徴する温度セ
    ンサ。
  5. 5. 温度により光透過特性が変化する半導体膜を一端
    面に蒸着、又はエピタキシャル形成した第1の光ファイ
    バと、第2の光ファイバと、第1、第2の光ファイバの
    一端面に対向し、一方の光ファイバの一端面から出射さ
    れた光を他方の光ファイバの一端面に入射せしめる反射
    板と、前記第1、第2の光ファイバの他端面の一方に臨
    ませた光源及び他方に臨ませた受光部とを具備すること
    を特徴とする温度センサ。
JP28128184A 1984-12-28 1984-12-28 温度センサ Pending JPS61159123A (ja)

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JP28128184A JPS61159123A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 温度センサ

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JPS61159123A true JPS61159123A (ja) 1986-07-18

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ID=17636883

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JP (1) JPS61159123A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1691154A1 (en) * 2005-01-13 2006-08-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Refrigerator and method for controlling the same
JP2009286388A (ja) * 2008-05-30 2009-12-10 Fiat Group Automobiles Spa 加熱回路に結合可能な空気冷却2次回路を有する自動車用空調システム

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EP1691154A1 (en) * 2005-01-13 2006-08-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Refrigerator and method for controlling the same
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