JPS61159103A - 板状体の孔検出装置 - Google Patents

板状体の孔検出装置

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JPS61159103A
JPS61159103A JP19016684A JP19016684A JPS61159103A JP S61159103 A JPS61159103 A JP S61159103A JP 19016684 A JP19016684 A JP 19016684A JP 19016684 A JP19016684 A JP 19016684A JP S61159103 A JPS61159103 A JP S61159103A
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JP
Japan
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light
hole
veneer
light source
plate
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Application number
JP19016684A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirohiko Iwamoto
裕彦 岩本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meinan Machinery Works Inc
Original Assignee
Meinan Machinery Works Inc
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Publication date
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Publication of JPS61159103A publication Critical patent/JPS61159103A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8986Wood

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)産業上の利用分野 この発明は、相対移動の直交方向幅が比較的長尺状から
なる板状体における孔検出装置に関する。
(b)従来技術 近年、板状体におけるピンホール等の孔を検出する方法
として、所謂形状認識方法が各種提案されている。
この種の検出方法は、板状体表面からの反射光量に基づ
く画像データと予めメモリに記憶された欠点がない板状
体に対応する基本画像データとを比較照合し、両者の不
一致箇所を孔とNi1lシていた。
(C)発明が解決しようとする問題点 然し乍、板状体表面に応じた画像データを得る例えばC
CD (Charoe Coupled Device
 )等の各種イメージセンサは板状体表面の面積に較べ
その画素数が極めて少なく、例えば数−/−程度の孔に
あっては有効に検出出来なかった。また、画像データと
基本画像データとの比較照合に時間がかかるため、この
イメージセンサと板状体とを高速度で相対移動させなが
ら、孔検出を行なうことが困雌であり、検出時間が長く
なる問題を有していた。
(d)問題点を解決するための手段 この発明の目的は、上記した従来の欠点に鑑み、板状体
と光源及び受光素子とを高速度で相対移動させながら板
状体における孔を高分解能でかつ迅速に検出し得る板状
体における孔検出装置を提供することにある。
このため本発明は、板状体の一方面側に配置され、該板
状体の相対移動方向と直交方向幅全体に亘って光を照射
する光源と、前記板状体を介して前記光源と対向し、所
要の検出弁−能に応じた間隔をおいて配置される多数の
受光素子と、前記板状体と光源及び受光素子とを相対移
動させる移動機構と、板状体と光源及び受光素子との相
対移動にともなって、板状体における孔が受光素子に位
置した際に眼孔を通過する光源からの光が受光素子に照
射されることにより板状体における孔を検出する制御回
路とにより板状体における孔検出装置を構成している。
(e)発明の作用 本発明によれば、移動機構の駆動に従って板状体と該板
状体を介して対向的に配置された光源及び受光素子とを
相対移動させる。また、前記光源から板状体の移動直交
方向幅全体に亘りて路地−な光量の光を板状体へ照射す
る。この状態において欠点のない板状体が受光素子に位
置している場合には、光源から照射された光は板状体に
より遮蔽され、受光素子への入射が#11#される。反
対に輪受光素子に板状体における孔が位置した場合には
、光源から照射された光は眼孔を通過して受光素子に入
射される。そして制御回路はこれら受光素子からの電気
信号に基づいて板状体における孔を検出することが出来
る。
(【)発明の効果 このように本発明は、板状体と光源及び受光素子とを高
速度で相対移動させながら板状体における孔を高分解能
でかつ迅速に検出し得る板状体における孔検出装置を提
供することが可能である。
(0)実施例 以下、本発明をベニヤ単板の良否を選別する工程におい
て節穴等の孔検出装置に実施した第1乃至第4実施例に
従って説明する。
(第1実施例) 孔検出装置の概略を示す第1図において、ローラ形式の
移動機構10には板状体としての単板12が載置され、
該単板12は移動機構10の回転駆動に従って図中実線
矢印方向へ定速移動する。
前記移動機構10の移動面下方には発光ダイオード、半
導体レーザ、蛍光灯、キセノンランプ等の単−若しくは
複数の光[114が取付けられ、該光源14は前記単板
12の下面に対しその移動直交方向幅全体に亘りて路地
−な光量からなるrを照射する。また、前記光源14に
対応する単板12の上面側にはホルダ16が単板12の
移動直交方向へ取付けられ、該ホルダ16には多数の光
ファイバー18が単板12の移動直交方向幅全体に亘っ
て所要の孔検出精度に応じた間隔をおいて配列されてい
る。これら光ファイバー18は前記所要の間隔をおいて
形成された多数のブロック内に少なくとも1本以上の光
ファイバーが設けられたシート状に形成されている。こ
のシートには例えば孔検出精度を1−とし、単板12の
移動直交方向幅を10100Oとした場合、1000本
の光ファイバー18が配列されている。そしてこれら1
000本の光ファイバー18は所要のピッチ毎にシート
状に形成された光フアイバーシートを使用することによ
り各光ファイバー18を高い精度で位置決め出来る。ま
た、該光ファイバー18の配列ピッチは輪動直交方向に
対する孔12aの検出精度に応じて適宜設定されるもの
であり、該ピッチを細くした場合には移動直交方向幅が
狭い孔12aをも検出出来る。そしてこれら光ファイバ
ー18にはフォトダイオード、フォトトランジスタ、フ
ォトセル、太陽電池等の受光素子20が夫々光学的に接
続され、これら受光素子20は光源14からの光が光フ
ァイバー18を介して入射された際にHIGHの電気信
号を出力する。尚、これら光源14と受光素子20とは
移動する単板12の検出器としても使用される。
上記構成からなる孔検出装置の制御回路を示す第2図に
おいて、中央処理装置(以下、CPUという)30はタ
イマ32を有し、該タイマ32は前記移動機構10の駆
動に従って移動する単板12の前端が光ファイバー18
を通過した際に受光素子20からの電気信号が例えば全
てHIGHからLOWへ変化したタイミングで起動され
る。そしてCPU30は単板12の移動方向幅に応じた
所要の孔検出精度にタイマ32のカウント毎に、即ち単
板12の対応した移動量に応じてラッチ信号を順次出力
し、インターフェイス34を介して入力される受光素子
20からの電気信号を読込む。
また、前記CPU30には書換え可能なRAM36が接
続され、該RAM36には所要のカウント毎に読込まれ
た電気信号が単板12の移動量に応じた記憶位置に記憶
される。これによりCPU30は単板12における孔1
2aの二次元位置及びその大きさに関するデータをRA
M36へ記憶させる。また、CPU30は前記受光素子
20からの電気信号が例えば全てLOWからHTGHへ
変化した際にRAM36から単板12における孔12a
のデータをアクセスし、該データを例えば孔12aを有
する単板部分を載嵌除去するためのクリッパー等の外部
装置38へ出力する。
次に第3図(A)・(B)に従って孔12aの検出動作
を説明する。
第3図(A)に示すように単板12の定速移動に従って
光ファイバー18に対応する検出位Iiaに欠点のない
単板12が位置すると、光源14から照射された光は単
板12により遮蔽され、光ファイバー18に対する入射
が規制される。この状態において各受光素子20からの
電気信号は全てLOWである。そしてCPU30はこれ
らの電気信号に基づいて検出位itaに孔12aのない
単板12が位置していると判断すると共に移IIIに応
じた単板12のデータをRAM36に記憶させる。
次に、第3図(B)に示すように単板12の定速移動に
伴って検出位!aに単板12における孔12aが位置す
ると、光源14から照射された光は孔12aを介して眼
孔12aに対応する光ファイバー18に入射される。尚
、孔12a以外の箇・  所に照射された光は単板12
により遮蔽され、対応する光ファイバー18への入射が
MW4される。
この孔12aに対応する光ファイバー18に光が入射さ
れると、該光ファイバー18に応じた受光素子20の電
気信号がLOWからHIGHに変化する。これによりC
PU30はLOWからHIGHに変化した受光素子20
の位置及びタイマ32のカウント数に応じた単板12の
移動に基づいて単板12における孔12aの二次元位置
及びその大きさを検出すると共にこのデータをRAM3
6に記憶させる。
上記説明は、光源14と光ファイバー18及び受光素子
20とを固定的に取付けると共に移動機構10の駆動に
従って単板12を移動させて光源14と光ファイバー1
8及び受光素子20とを相対移動させる構成としたが、
単板12を固定的に支持すると共に光ファイバー18及
び受光素子20とを送りねじ(図示せず)の回転駆動に
従って単板12全体に亘って定速移動させることも可能
である。
また、移動機構10をローラ形式としたが、移動方向に
複数条のベルトが張設されたベルト形式の移動機構であ
ってもよい。この場合、複数の移動機構を移動方向へ連
設し、各移動機構の接続部における空間位置に板状体を
介して光源及び受光素子を対向的に配置することにより
、移動する板状体に対しその移動直交幅全体に亘って光
を照射することが可能である。
更に、上記説明は単板12における孔12aを検出する
装置としたが、単板12以外の例えば樹脂シート、紐体
等における各種板状体のピンホール等の孔を検出する場
合であっても実施可能である。
(第2実施例) 孔12aの検出精度を1■■、また単板12の移動直交
方向幅を1000mmとした場合に第1実施例が100
0個の受光素子20を必要とするのに対し、第2実施例
は受光素子数を低減して所要の目的を達成するものであ
る。尚、他の構成は第1実施例と同様であり、その説明
を省略する。
光フアイバーシートにおける各ブロック内の光フアイバ
ー配列状態を示す第4図、各光ファイバーと受光素子と
の接続状態を示す第5図乃至第7図において、光フアイ
バーシート42は単板12の移動直交方向幅及び孔12
aの検出精度に応じて、例えば1000ブロツクに区画
されるとともに各ブロック内には第4図に示すように少
なくとも3本の光ファイバー18a〜18cが設けられ
ている。そして各ブロックにおける光ファイバー18a
〜18Gの内、第5図に示すように先ず1〜100ブロ
ツク、101〜200ブロツク、・・・・・・901〜
1000ブロツク内の各光ファイバー18aが束ねられ
て受光素子PTO〜PT9に夫々接続されている。次に
、第6図に示すように1〜10ブロツク、101〜11
0ブロツク、・・・・・・901〜910ブロツクにお
ける各光ファイバー18bが束ねられて受光素子PT1
Gに、11〜20ブロツク、111〜120ブロツク、
・・・・・・911〜920ブロツクの各光フフイバー
18bが束ねられて受光素子PT11に、21〜30ブ
ロツク、121〜130ブロツク、・・・・・・921
〜930ブロツクの各光ファイバー18bが束ねられて
受光素子PT12に、・・・・・・同様にして91〜1
0010ツク、191〜200ブロツク、・・・・・・
991〜1000ブロツクの各光ファイバー18bが束
ねられて受光素子PT19に夫々接続されている。更に
、第7図に示すように各1ブロツク目の各光ファイバー
18Gが束ねられて受光素子PT2Gに、各2ブロツク
目の各光ファイバー18cが束ねられて受光素子PT2
1に、・・・・・・同様にして各9ブロツク目の各光フ
ァイバー180が束ねられて受光素子PT29に夫々接
続されている。
そして前述した動作と同様に例えば256番目の光ファ
イバー18a〜18Cに対応する単板12に孔12aが
ある場合、光源14から照射された光は孔12aを通過
し、対応するブロック内の光ファイバー188を介して
受光素子PT2へ、    ・光ファイバー18bを介
して受光素子PT15へ、及び光ファイバー180を介
して受光素子PT26へ夫々入射され、これら受光素子
PT2 、受光素子PT15、受光素子PT26からH
IGHの電気信号が出力される。
これによりCPU30はHIGHに変化した受光素子P
T2 、受光素子PT15、受光素子PT2Bからの電
気信号に基づいて256番目に位置する光ファイバー1
8a〜18Gと対向する単板12に孔12aがあると判
断し、孔12aの二次元位置及び大きさに関するデータ
をRAM36に記憶させる。
このように第2実施例は多数の光ファイバー18a〜1
8Cを介して入射される光を、10進単位毎にまとめら
れた受光素子PTO〜PT9、受光素子P T 10〜
PT19、受光素子PT20〜PT29に受光させるこ
とにより第1実施例に較べ少ない受光素子で単板12に
おける孔12aの二次元位置及び大きさを検出すること
が出来る。
(第3実施例) 第2実施例が10進単位にまとめられた受光素子PTO
〜PT9 、受光素子PTIO〜PT19、受光素子P
T20〜PT29により単板12における孔12aの二
次元位置及び大きさを検出する装置であるのに対し、第
3実施例は2進軍位毎にまとめられた受光素子により単
板12の孔12aを検出するものである。
光フアイバーシートにおける各ブロック内の光フアイバ
ー配列状態を示す第8図、各光ファイバーと受光素子と
の接続状態を示す第9図(A)〜(J)において、光フ
アイバーシート42は単板12の移動直交方向全体に亘
って1−024ブロツクに区画され、各ブロック内には
第8図に示すように10本の光ファイバー18a〜18
jが配列されている。その内、第9図(A)に示すよう
に図示右半分の1〜512ブロツク目における各光ファ
イバー188が束ねられて第1受光素子PT50に、同
図(B)に示すように1〜256.513〜768ブロ
ツク目における各光ファイバー18bが束ねられて第2
受光素子PT51に、同図(C)に示すように1〜12
8.257〜384゜513〜640,769〜896
ブロツク目における各光ファイバー180が束ねられて
第3受光素子PT52に夫々接続されている。同様にし
て2進軍位毎にまとめられた各ブロックにおける各光フ
ァイバー18d〜18jが夫々束ねられて第4〜第10
受光素子PT53〜PT59に接続されている。モして
CPu30は各受光素子PT5G−PT59から出力さ
れ、1Qbitに構成された電気信号により単板12に
おける孔12aの二次元位置及びその大きさを検出する
上記した第2実施例及び第3実施例の説明において、光
フアイバーシートを単板12の移動直交方向幅及び孔1
2aの検出精度に応じて所要数のブロックに区画し、各
ブロック内に複数の光ファイバー18a〜18G、18
a〜18Jを設けるものとしたが、各ブロック内に単一
の光ファイバーが設けられた光フフイバーシートを所要
数重ね、同一位置において複数の光ファイバーを配列す
るものであっても実施し得る。
(第4実施例) 上記した第1実施例乃至第3実施例は単板12における
孔12aの二次元位置及びその大きさを検出するもので
あるが、第4実施例は単板12の相対移動方向に対する
孔12aの一次元位置のみを検出するものである。
孔12aの検出精度及び単板12の移動直交方向幅に応
じた所要の間隔をおいて配列された多数の光ファイバー
18は一本に束ねられて単一の受光素子20に対し光学
的に接続されている。そして単板12の定速移動に従っ
て孔12aを介して光源14からの光が何れかの光ファ
イバー18に入射されると、CPU30はタイマ32の
カウント数及びHIGHに変化した受光素子20からの
電気信号に基づいて単板12の移動方向に対する゛孔1
2aの一次元位置を績出し、眼孔12aの位置をRAM
36に記憶させる。
これにより単一の受光素子20により孔12aの一次元
位置を検出することが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は孔検出装置の概略を示す斜視図、第2図は制御
回路を示すブロック図、第3図(A)・(B)は孔の検
出動作を示す説明図、第4図は第2実施例の光フアイバ
ーシートにおける各ブロックの光フアイバー配列状態を
示す説明図、第5図乃至第7図は各光ファイバーと受光
素子との接続状態を示す説明図、第8図は第3実施例の
光フアイバーシートにおける各ブロックの光フアイバー
配列状態を示す説明図、第9図(A7〜(J)は各光フ
ァイバーと受光素子との接続状態を示す説明図である。 図中10は移動機構、12は板状体としての単板、12
aは孔、14は光源、20は受光素子、30は制御回路
としてのCPUである。 特許出願人 株式会社 名南製作所 代理人 弁理士 伊 藤 研 − 手続補正書(方式) 昭和61年02月7 日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、板状体の一方面側に配置され、該板状体の相対移動
    方向と直交方向幅全体に亘って光を照射する光源と、 前記板状体を介して前記光源と対向し、所要の検出分解
    能に応じた間隔をおいて配置される多数の受光素子と、 前記板状体と光源及び受光素子とを相対移動させる移動
    機構と、 板状体と光源及び受光素子との相対移動にともなって、
    板状体における孔が受光素子に位置した際に該孔を通過
    する光源からの光が受光素子に照射されることにより板
    状体における孔を検出する制御回路とを備えたことを特
    徴とする板状体における孔検出装置。
JP19016684A 1984-09-10 1984-09-10 板状体の孔検出装置 Pending JPS61159103A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0495808A (ja) * 1990-08-13 1992-03-27 Toppan Printing Co Ltd 紙容器ブランクの検査方法
CN104345063A (zh) * 2014-09-10 2015-02-11 德清县传琪装饰材料有限公司 一种木皮检测装置
CN106018431A (zh) * 2016-05-23 2016-10-12 南京林业大学 一种实木板材表面裂纹的检测系统和检测方法

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