JPS61151443A - クロマトスキヤナ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は薄層クロマトグラフィ　（Ｔ　Ｌ　Ｃ）の薄層
プレートや電気泳動ゲルなどの試料プレート上で分離さ
れた試料分画を光学的に定量するために使用されるクロ
マトスキャナに関するものである。

（従来の技術） 従来のクロマトスキャナでは、測定する試料プレートに
照射する光束を固定しておいて、試料プレートを載せた
ステージをＸ方向及びＹ方向に移動させることにより、
照射光束が試料プレート上をジクザク状に走査するよう
にして試料スポットの吸光度測定を行なっている。

（発明が解決しようとする問題点） ステージを移動させる方式では、ステージの慣性が大き
いため走査を高速化する上で限界がある。

本発明は試料プレート上に照射される光束を走査するこ
とにより高速走査可能なりロマトスキャナを提供するこ
とを目的とするものである。そして、このように光束を
走査すれば検出される光束が検出器上でも移動して、検
出器の受光面上の位置による感度のばらつき、所謂ロー
カリティが発生する。そこで１本発明のクロマト、スキ
ャナはまた、そのようなローカリティを補正できるよう
にすることをも目的とするものである。

（問題点を解決するための手段） 本発明のクロマトスキャナを実施例を示す第１図及び第
２図により説明すると１分光器８の出口スリット１０上
もしくはその結像位置又はそれらの近傍に、中心からの
距離が角度に応じて変化するスリット１４−１．・・目
・・を有する回転式スリット円板１２を出口スリット１
０の長手方向がこのスリット円板１２の半径方向となる
状態に設置し。

スリット円板１２のスリット１４．・・・・・・と出口
スリットｌＯとの交差位置の穴を通過した光束を試料面
２６に照射させ、かつ、スリット円板１２をパルスモー
タ（ステップモータともいう）１６又はシンクロナスモ
ータにより直轄駆動し、そのパルスモータ１６又はシン
クロナスモータの回転角と試料面２６上の光束照射位置
とを対応させている。

（作用） スリット円板１２が回転すると、出口スリット１０とス
リット円板１２のスリット１４−１．・・・との交差位
置の穴が出口スリット１０の長手方向に沿って移動して
行く。それに伴なって、試料面２６上の光束照射位置も
移動していく。

また、試料面２６上での光束の位置はスリット円板１２
の回転角θと対応しており、その回転角ｅはそれを駆動
するパルスモータ１６の駆動パルス数により、又はシン
クロナスモータの駆動時間により検出される。

（実施例） 第１図は一実施例のクロマスキャナの光学系と信号処理
系を示す、２，４は光源であり、広い測定波長域をカバ
ーするために２種類用意されてお・す１例えばキセノン
ランプ、タングステンランプ又は重水素ランプなどが使
用される。６は光源選択用の球面鏡であり、光源２又は
４からの光束を分光器８に入射させる。１０は分光器８
の出口スリットであり、分光された光束が出射してくる
。

分光器８の出口スリット１０上にはスリット円板１２が
設置されているにのスリット円板１２には、第２図に示
されるように例えば３個のスリット１４−１．１４−２
．１４−３が設けられ、各スリット１４−１．１４−２
．１４−３は中心Ｏからの距ＭＲが回転角ｅに応じて Ｒ＝Ｒｏ＋にθ に従って変化する形状に形成されている。ここで。

Ｒｏはスリット１４−１．１４−２．１４−３の最も内
側位置と中心Ｑとの距離である。このスリット円板１２
は中心０がパルスモータ１６の回転軸に固定されて直轄
駆動されるようになっている。

スリット円板１２と分光器８の出口スリット１０との関
係は、第２図に示されるように、出口スリットＩＯの長
手方向がスリット円板１２の半径方向になるようにスリ
ット円板１２が位置決めされている。スリット円板１２
上の六１８はスリット１４−１．１４−２．１４−３の
原点を検出するためのものであり、第１図の検出器２０
により検出される。

分光器８の出口スリット１０とスリット円板１２のスリ
ット１４−１．１４−２又は１４−３との交差位置の穴
を通過した光束は、球面鏡２２、平面鏡２４を経て試料
プレート２６上に照射される。試料プレート２６はＸ方
向及びＹ方向に移動可能なステージ（図示時）上に支持
されている。

２８は試料プレート２６を透過した光束を検出する検出
器で、例えば光電子増倍管が使用されており、ポリテト
ラフルオルエチレン板のような拡散板２９を経て透過光
束を受光する。　３０はその検出器２８の検出信号を増
幅するプリアンプ（前置増幅器）、３２はプリアンプ３
０の出力信号を対数値に変換するＬＯＧアンプ（対数変
換増幅器）、３４はＬＯＧアンプ３２の出力信号をディ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、３６はそのディジ
タル信号を入力して吸光度を算出するとともに、パルス
モータ１６の回転を制御するＣＰＵである。ＣＰＵはま
た。スリット円板１２の原点検出用検出器２０からの信
号とスリット円板１２の回転角とから試料プレート２６
上の光束照射位置を判断するとともに、ローカリティ補
正を行なう。

いま、スリット円板１２が第２図に示される状態から矢
印方向に回転したとすると、出口スリット１０とスリッ
ト１４−１との交差位置の穴は出口スリット１０の長手
方向に沿ってスリット円板１２の中心Ｏから遠ざかるよ
うに移動していく。

これに伴なって試料プレート２６上での光束照射位置は
、第３図に示されるように（ａ）→（ｂ）→（ｃ）→・
・・・・・→（ｄ）のように移動していく。

更にスリット円板１２が回転して次のスリット１４−２
が出口スリット１０と交差すると、試料プレート２６上
の光束照射位置は再び第３図（ａ）に戻る。そして、１
個のスリット１４−１．１４−２．又は１４−３による
試料プレート２６上の走査が完了するごとに、試料プレ
ート２６はステージの移動により所定ピッチだけＹ方向
に移動させられる。このようにしてＹ方向の１個のレー
ンの走査が完了すると、ステージをＸ方向に移動させて
次のレーンの走査を行なう６ 次に、本実施例におけるローカリティ補正を第４図及び
第５図を参照して説明する。

まず、イニシャライ・ズルーチンとして、ステージを動
かして試料プレートのない状態を作り、その状態でスリ
ット円板１２を回転させて位置Ｘ＋。

Ｘ２　ｔ　Ｘ３．　・−・−Ｘｎごとの吸光度ａｌ、ａ
２゜ａ３・・・・・・ａｎを測定し、記憶しておく。位
［Ｘ＋。

Ｘ　２　、・・・・・・Ｘｎは、原点検出用検出器２０
からの信号と、パルスモータ１６の回転角すなわちパル
スモータ１６の駆動パルス数とからＣＰＵ３６により検
出される。

次に、ステージを動かして試料プレート２６を測定位置
に移動させ、測定を行なってローカリティ補正を行なう
が、その工程は第５図のように行なう。試料プレート２
６上のある点Ｘｉでの測定を行なうと、ＣＰＵ３６はＡ
／Ｄ変換器３４からその吸光度Ａｉを取り込み（ステッ
プＳ１）、イニシャライズルーチンで測定して記憶して
いる位置Ｘｉでの吸光度ａｉを呼び出し、両眼光度の差
１−ａｉ を算出する（ステップＳ　２．Ｓ　３）。これがローカ
リティ補正である。

その算出値をメモリに記憶した後（ステップＳ４）、パ
ルスモータ１６に駆動パルスを１パルス（又は所定のパ
ルス数）送って試料プレート２６上での光束照射位置を
移動させる（ステップＳ５）。

以下、同様にして各測定点でのロアカリティ補正を行な
っていく。

なお、上記の実施例において、スリット原点検出用の穴
１８は実施例のように１個でもよく、またはスリット１
４−１〜１４−３の数だけ設けてもよい。

また、スリット円板１２上のスリットは実施例のような
ものに限定されるものではない。例えばスリット数を４
個以上としてもよく、又はスリット数を１個とし、パル
スモータ１６を往復回転させることによりその１個のス
リットを往復動させることにより、そのスリットと出口
スリット１０との交差位置の穴を出口スリット１０の長
手方向に沿って往復動させるようにすることもできる。

スリット円板１２のスリットの形状も実施例のものに限
られるものではなく、中心からの距離が回転角θと対応
するように変化するものであればよい。

第１図ではスリット円板１２を出口スリット１０上に設
置しているが、このような状態は、例えば出ロスリット
ｌＯ上にＸ方向の結像を行なわせ、スリット円板１２上
にＹ方向の結像を行なわせることにより実現できる。ま
た、スリット円板１２を分光器８の出口スリット１０を
結像した位置に設置してもよい、さらに、スリット円板
１２は、厳密に出口スリット位置でなくても実用上差し
支えない程度に離れた近傍に設置してもよい。

スリット円板１２の駆動をパルスモータに代えてシンク
ロナスモータで行なうこともできる。その場合は原点検
出からの時間によりスリット円板１２の回転角を検出す
ることができる。

（発明の効果） 本発明によれば、スリット円板を一方向に回転させ、又
は往復方向に回転させることにより光束を試料プレート
上で走査させることができるので、構造が簡単で、しか
も高速走査が可能である。

また、スリット円板がパルスモータ又はシンクロナスモ
ータにより直轄駆動されるので耐久性が高く、かつ、モ
ータの回転角から試料面上の光束照射位置が検出できる
ので、ローカリティ補正も容易になる。

そして、本発明におけるスリット円板のスリットの形式
から、スリット円板を小さくすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は一実施例を、光学系を概略斜視図として示し信
号処理系をブロック図として示した図である。第２図は
主としてスリット円板を示す平面図、第３図は同実施例
における試料面上での光束照射位置の移動状態を示す図
、第４図及び第５図は同実施例におけるローカリティ補
正の動作を示すフローチャートである。 ８・・・・・・分光器、　　１０・・・・・・出口スリ
ット、１２・・・・・・スリット円板、　　１４−１．
１４−２゜１４−３・・・・・・スリット、　　１６・
・・・・・パルスモータ、１８・・・・・・原点検出用
穴、　２０・・・・・・原点検出用検出器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）分光器出口スリット上もしくはその結像位置又は
   それらの近傍に、中心からの距離が角度に応じて変化す
   るスリットを有する回転式スリット円板を前記出口スリ
   ットの長手方向がこのスリット円板の半径方向となる状
   態に設置し、このスリット円板のスリットと前記出口ス
   リットとの交差位置の穴を通過した光束を試料面に照射
   させ、かつ、このスリット円板をパルスモータ又はシン
   クロナスモータにより直軸駆動し、そのパルスモータ又
   はシンクロナスモータの回転角と前記試料面上の光束照
   射位置とを対応させたクロマトスキャナ。