JPS61136150A - Memory circuit - Google Patents

Memory circuit

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Publication number
JPS61136150A
JPS61136150A JP59259527A JP25952784A JPS61136150A JP S61136150 A JPS61136150 A JP S61136150A JP 59259527 A JP59259527 A JP 59259527A JP 25952784 A JP25952784 A JP 25952784A JP S61136150 A JPS61136150 A JP S61136150A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
initial value
memory cell
signal line
high level
gate means
Prior art date
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Pending
Application number
JP59259527A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keisuke Tanaka
啓介 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP59259527A priority Critical patent/JPS61136150A/en
Publication of JPS61136150A publication Critical patent/JPS61136150A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To set the initial value without wasting the capacity of an ROM by designating previously the initial value to each memory. CONSTITUTION:The 2nd gate means is used to set the initial value is set previously to each memory cell by closing a switch 5 or 6. When the initial value is set at a high level, the switches 5 and 6 are opened and closed respectively and vice versa when the initial value is set at a low level. When a control signal line 4 is set at a high level after the initial value of each memory cell is designated previously. Thus transfer gates 11 and 12 contained in the 2nd gate means II conduct. Then the initial value set previously is written to a memory part I.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、1チツプに集積されたマイクロコンピュータ
−等の、FtAMを同一チノブ内に有する集積回路にお
いて、前記RAMの初期状態を設定する手段に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to means for setting the initial state of the RAM in an integrated circuit having an FtAM in the same chip, such as a microcomputer integrated on one chip.

従来の技術 集積回路に内蔵されたRAMの、電源投入時における各
メモリセルの初期状態は不定であり、必要に応じて各メ
モリセルの初期値を設定しなければならない。
The initial state of each memory cell of a RAM built in a conventional integrated circuit is undefined when the power is turned on, and the initial value of each memory cell must be set as necessary.

従来、1チツプに集積されたマイクロコンピュータ−の
場合には、初期状態を設定するために、内蔵されたRO
Mに、あらかじめ記憶させておき、電源投入後、プログ
ラムの実行により前記ROMに書かれた値を順次読み出
し、RAM内の所定のアドレスのメモリセルに書き込む
ことで初期値を設定していた。
Conventionally, in the case of a microcomputer integrated on a single chip, a built-in RO is used to set the initial state.
Initial values are set by storing the values in the ROM in advance, and after power is turned on, the values written in the ROM are sequentially read out by executing a program and written to memory cells at predetermined addresses in the RAM.

第4図に従来のRAMのメモリセルの例を示す。FIG. 4 shows an example of a conventional RAM memory cell.

従来、1ビツトのメモリセルは、インバータケート2個
で構成される記憶atと、トランスファーゲート2個で
構成される書き込み兼読み出しの第1ゲート手段「で構
成されている。記憶部1にRAM外部のデータを書き込
む場合には、外部データが、データ信号線1に、同外部
データの反転信号がデータ信号線2に入力される。この
とき指定のメモリセルのアドレス信号線3をハイレベル
にすると、第1ゲート手段のトランスファーゲート9,
10が導通状態となり、データ信号線1、及びデータ信
号線2に入力された外部データが、記憶部1に書き込ま
れる。
Conventionally, a 1-bit memory cell is composed of a memory at consisting of two inverters and a first gate means for writing and reading consisting of two transfer gates. When writing data, external data is input to data signal line 1, and an inverted signal of the external data is input to data signal line 2. At this time, when the address signal line 3 of the specified memory cell is set to high level, , a transfer gate 9 of the first gate means,
10 becomes conductive, and external data input to data signal line 1 and data signal line 2 is written into storage unit 1.

発明が解決しようとする問題点 1チツプに集積されたマイクロコンピュータ−等の集積
回路では、同一チップ内に内蔵できるROMの容量には
限度があり、このROMの容量内に命令プログラムを納
めるために、従来よりプログラムの圧縮に非常な努力が
払われている。前述したような従来例では、限りあるR
OM容量を浪費する。また、初期値の設定を要するメモ
リセルが多い場合は、各メモリセルの初期値設定に時間
を要する。
Problems to be Solved by the Invention In integrated circuits such as microcomputers integrated on one chip, there is a limit to the capacity of the ROM that can be built into the same chip. In the past, great efforts have been made to compress programs. In the conventional example as mentioned above, the limited R
Wastes OM capacity. Furthermore, if there are many memory cells that require setting of initial values, it takes time to set the initial values of each memory cell.

本発明は前述の問題点を除去し、容易にメモリセルの初
期値を設定する機能を有する集積回路を提供することを
目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned problems and provide an integrated circuit having a function of easily setting the initial value of a memory cell.

問題点を解決するための手段 本発明は、前記問題点を解決するため、RAMへのデー
タの書き込み手段として、RAM外部からのデータを指
定さnkアドレスのメモリセルに書き込む従来の第1の
ゲート手段以外に、RAM内部の各メモリセル毎に初期
値をハイレベル、又はロウレベルに指定するスイッチ手
段と、前記の指定した初期値を同メモリセルに書き込む
第2のゲート手段を備え、前記第2のゲート手段を用い
て、各メモリセルの初期値設定を行なうものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a means for writing data into the RAM using a conventional first gate that writes data from outside the RAM into a memory cell at a specified nk address. In addition to the means, the second gate means includes a switch means for specifying an initial value to a high level or a low level for each memory cell in the RAM, and a second gate means for writing the specified initial value to the memory cell. The gate means is used to set the initial value of each memory cell.

作用 本発明は前述した構成により、RAM内部で各メモリセ
ル毎に初期値を指定しておくため、ROMに初期値を記
憶させる必要がなく、限りあるROM容量を浪費しない
でRAMの初期値設定が行なえる。
Effect of the Invention With the above-described configuration, the present invention specifies an initial value for each memory cell within the RAM, so there is no need to store the initial value in the ROM, and the initial value of the RAM can be set without wasting the limited ROM capacity. can be done.

まだ、各メモリセル毎に指定した初期値を、第2のゲー
ト手段を用いて同時に各メモリセルに書き込むため、初
期値設定が必要なメモリセルの数に無関係に、短時間に
初期値設定が行なえる。
However, since the initial value specified for each memory cell is simultaneously written to each memory cell using the second gate means, the initial value can be set in a short time regardless of the number of memory cells that require initial value setting. I can do it.

実施例 第1図は、本発明の一実施例回路図を示す。第1図にお
いて、1は記憶部、■は書き込み兼読み出しのための第
1のゲート手段、■は書き込みのための第2のゲート手
段である。
Embodiment FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 indicates a storage section, 2 indicates a first gate means for writing and reading, and 2 indicates a second gate means for writing.

本発明におけるRAMの1ビ、トのメモリセルは、従来
のインバータゲート2個で構成される配設「を有し、さ
らに、トランス7アーゲート2個と、スイッチ2個で構
成される書き込みのだめの第2のゲート手段を有する。
The 1-bit memory cell of the RAM according to the present invention has a conventional arrangement consisting of two inverter gates, and a write-in memory cell consisting of two transformer gates and two switches. It has second gate means.

記憶部I VcRA M外部のデータを書き込む場合に
は、従来と同様に第1のゲート手段を用いる。
When writing data external to the memory section I VcRAM, the first gate means is used as in the conventional case.

すなわち外部データがデータ信号線1に、外部データの
反転信号がデータ信号線2に入力される。
That is, external data is input to the data signal line 1, and an inverted signal of the external data is input to the data signal line 2.

このとき指定のメモリセルのアドレス信号線をハイレベ
ルにすると、第1のゲート手段のトランス7アーゲート
9,1oが導通状態になり、データ信号線1、及びデー
タ信号線2に入力された外部データが、記憶mlに書き
込まれる 記憶部Iに初期値を設定する場合は、第2のゲート手段
を用いる。この場合、あらかじめ、各メモリセル毎に所
望の初期値を、スイッチ6、又はスイッチ6のどちらか
一方を閉じることで指定しておく、初期値をハイレベル
に指定する場合は、スイッチ6を閉じ、スイッチ5は開
けておく。逆にロウレベルに指定する場合はスイッチ6
を閉じ、スイッチ6を開けておく。第2図に初期値をハ
イレベルに指定する場合を示す。
At this time, when the address signal line of the designated memory cell is set to a high level, the transformer 7 gates 9 and 1o of the first gate means become conductive, and the external data input to the data signal line 1 and the data signal line 2 becomes conductive. However, when setting an initial value to the storage section I written in the storage ml, the second gate means is used. In this case, specify the desired initial value for each memory cell in advance by closing either the switch 6 or the switch 6. When specifying the initial value as a high level, close the switch 6. , leave switch 5 open. Conversely, if you want to specify low level, press switch 6.
, and leave switch 6 open. FIG. 2 shows a case where the initial value is designated as high level.

前述のように各メモリセルの初期値をあらかじめ指定し
た状態で、制御信号線4をハイレベルにすると、第2ゲ
ート手段■中のトランスファーゲート11,12が導通
状態となり、あらかじめ指定した初期値が記憶部Iに書
き込まれる。
As mentioned above, when the control signal line 4 is set to high level with the initial value of each memory cell specified in advance, the transfer gates 11 and 12 in the second gate means become conductive, and the initial value specified in advance is set. It is written to the storage section I.

すなわち、スイッチ5を閉じ、ロウレベルを指定した場
合は、データ信号線1からロウレベルを入力したのと等
価であり、スイッチ6を閉じ、・・イレベルを指定した
場合は、データ信号線2からロウレベルを入力したのと
等価であり、結果として、それぞれ記憶部lにロウレベ
ル、ハイレベルが書き込まれる。
In other words, when switch 5 is closed and a low level is specified, it is equivalent to inputting a low level from data signal line 1, and when switch 6 is closed and a low level is specified, a low level is input from data signal line 2. This is equivalent to inputting the signal, and as a result, a low level and a high level are respectively written to the storage section l.

第3図に本発明の別の実施例を示す。FIG. 3 shows another embodiment of the invention.

この実施例は、初期値の指定のしかたのみが、前述の第
1図の実施例と異なり、他は同じである。
This embodiment differs from the embodiment shown in FIG. 1 described above only in the method of specifying the initial value, and is otherwise the same.

すなわち、初期値を・・イレベルに指定する場合は、ス
イッチ7を閉じ、スイッチ8を開けておく。
That is, when specifying the initial value as . . . level, switch 7 is closed and switch 8 is opened.

逆にロウレベルを指定する場合は、スイッチ8を閉じ、
スイッチ7を開けておく。この場合、制御信号線4をハ
イレベルにし、第2のゲート手段■中のトランスファー
ゲー)11.12が導通状態になる吉、スイッチ7を閉
じ、−・イレベルを指定した場合は、データ信号線1か
らハイレベルを入力したのと等価であり、スイッチ8を
閉じロウレベルを指定した場合は、データ信号線2から
ハイレベルを入力したのと等価であり、結果としてそれ
ぞれ記憶部Iにハイレベル、ロウレベルのそれぞれの状
態が書き込まれる。
Conversely, if you want to specify a low level, close switch 8,
Leave switch 7 open. In this case, when the control signal line 4 is set to high level and the transfer gate (11.12) in the second gate means becomes conductive, the switch 7 is closed and the data signal line is set to high level. This is equivalent to inputting a high level from the data signal line 2, and when the switch 8 is closed and a low level is specified, it is equivalent to inputting a high level from the data signal line 2. As a result, a high level and a high level are input to the memory section I, respectively. Each low level state is written.

発明の効果 以上のように本発明によ九ば、あらかじめ各メモリセル
毎に初期値を指定しておくことで、ROM容量を浪費す
ることなく初期値を設定できる。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, by specifying an initial value for each memory cell in advance, the initial value can be set without wasting ROM capacity.

また制御信号線に入力するだけで各メモリセルの初期値
を同時に設定できるため、初期値設定が必要なメモリセ
ルの数に無関係に短時間に設定できる。
Furthermore, since the initial values of each memory cell can be set simultaneously by simply inputting them to the control signal line, the initial values can be set in a short time regardless of the number of memory cells that need to be set.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例メモリセル回路図、第2
図は本発明で、初期値をハイレベルに指定した場合の実
施例回路図、第3図は本発明の第2の実施例メモリセル
回路図、第4図は従来例のメモリセル回路図である。 1・・・・・・データ信号線、2・・・・・・データ信
号線、3・・・・・・アドレス信号線、4・・・・・・
制御信号線、5,6゜7.8・・・・・・スイッチ、9
,10,11.12・川・・トランスファーゲート。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名町 第  1  図                  
           f、、 デークイ8号、9に第
3図 第4図
FIG. 1 is a memory cell circuit diagram of a first embodiment of the present invention;
The figure is a circuit diagram of an embodiment of the present invention in which the initial value is specified as high level, Figure 3 is a memory cell circuit diagram of a second embodiment of the present invention, and Figure 4 is a memory cell circuit diagram of a conventional example. be. 1...Data signal line, 2...Data signal line, 3...Address signal line, 4...
Control signal line, 5, 6° 7.8...Switch, 9
,10,11.12・River...Transfer Gate. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and one other person
f,, Dekui No. 8, 9, Fig. 3, Fig. 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] RAM外部からのデータを指定されたアドレスのメモリ
セルに書き込む第1のゲート手段と、前記RAM内部の
各メモリセル毎に、初期値をあらかじめハイレベル又は
ロウレベルに指定するスイッチ手段と、前記初期値を同
メモリセルに書き込む第2のゲート手段を備え、前記第
2のゲート手段を用いて、前記RAM内部の各メモリセ
ルの初期状態を、あらかじめ指定されたハイレベル、又
はロウレベルに設定する機能を有することを特徴とする
メモリ回路。
a first gate means for writing data from outside the RAM into a memory cell at a designated address; a switch means for specifying an initial value to a high level or a low level in advance for each memory cell inside the RAM; and the initial value. and a function of setting the initial state of each memory cell inside the RAM to a pre-specified high level or low level using the second gate means. A memory circuit comprising:
JP59259527A 1984-12-07 1984-12-07 Memory circuit Pending JPS61136150A (en)

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