JPS61130808A - 光切断線検出装置 - Google Patents
光切断線検出装置Info
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- JPS61130808A JPS61130808A JP25185784A JP25185784A JPS61130808A JP S61130808 A JPS61130808 A JP S61130808A JP 25185784 A JP25185784 A JP 25185784A JP 25185784 A JP25185784 A JP 25185784A JP S61130808 A JPS61130808 A JP S61130808A
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- circuit
- signal
- cutting line
- video signal
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は光切断法によって光学的に検出された光切断像
から光切断線を検出する装置に関するものである。
から光切断線を検出する装置に関するものである。
従来、光切断検出装置としては、特願昭５４−１４６４
２７号に記載のように、検出された２次元的な光切断映
像信号から、光切断像を横切る方向の映像信号の、各走
査における最大値の位置、又は特定の設定値に等しい２
つの位置の中点位置を検出するものが知られていた。し
かし、光切断像を検出する対象の物体の表面の状態又は
形状Ｋ 、Ｊニーｙては、平板状の光線（以降スリット
光と呼ぶ）が対象物表面で反射し、本来スリット光が直
接当っている点以外にも光点が検出されるため、このよ
うな場合、上記した従来装置では必ずしも対象物形状の
正しい光切断線が検出できないことがあった。
２７号に記載のように、検出された２次元的な光切断映
像信号から、光切断像を横切る方向の映像信号の、各走
査における最大値の位置、又は特定の設定値に等しい２
つの位置の中点位置を検出するものが知られていた。し
かし、光切断像を検出する対象の物体の表面の状態又は
形状Ｋ 、Ｊニーｙては、平板状の光線（以降スリット
光と呼ぶ）が対象物表面で反射し、本来スリット光が直
接当っている点以外にも光点が検出されるため、このよ
うな場合、上記した従来装置では必ずしも対象物形状の
正しい光切断線が検出できないことがあった。
本発明の目的は、スリット光の対象物表面における２次
的な反射光の影響を受けずに、正しい形状の光切断線を
検出する装置を提供することにある。
的な反射光の影響を受けずに、正しい形状の光切断線を
検出する装置を提供することにある。
第２図に光切断法の光学系の構成例を示す。
同図において、１“が形状を検出したい対象物であり、
例としてプリント板上にはんだ付されたフラットパツケ
〜ＩＪＩＣのリードを示している。
例としてプリント板上にはんだ付されたフラットパツケ
〜ＩＪＩＣのリードを示している。
２はこれにスリット光３を投光するだめのスリット投光
器である。４はこの投光されたスリット光６を検出する
ための像検出器であり、例えばＷカメラである。像検出
器は検出される光切断光学像を２次元的に走査し電気信
号に変換するが、本発明においては、−次走査（ＴＶ左
カメラ水平走査）を光切断像を横切る方向になるよう取
付けられている。
器である。４はこの投光されたスリット光６を検出する
ための像検出器であり、例えばＷカメラである。像検出
器は検出される光切断光学像を２次元的に走査し電気信
号に変換するが、本発明においては、−次走査（ＴＶ左
カメラ水平走査）を光切断像を横切る方向になるよう取
付けられている。
第３図に、第２図の構成で検出された光切断像の一例を
示す。同図において黒い部分は、明るく検出された部分
を示す。対象物にスリット光が始めて当った部分のみを
示すと第４図のようになるはずであるが、第３図に示し
たように、必ずしもその部分のみが検出されるとは限ら
ない。本発明では、検出された光切断像から、第４図に
示したような正しい光切断線のみを抽出する装置を提供
することＫある。
示す。同図において黒い部分は、明るく検出された部分
を示す。対象物にスリット光が始めて当った部分のみを
示すと第４図のようになるはずであるが、第３図に示し
たように、必ずしもその部分のみが検出されるとは限ら
ない。本発明では、検出された光切断像から、第４図に
示したような正しい光切断線のみを抽出する装置を提供
することＫある。
第３図において、α−ｒ、ｂ−ｂ’に沿った信号波形は
第５図α、ｂのようになる。このような状態になる原因
は次のとおりである。すなわち、第３図α−α′におい
ては、第６図αに示すように、Ａの部分の光切断線が、
鏡面状のリード側面に正反射し、この虚像Ｂとして検出
されるためで、一般に、Ｃの部分の検出光量と同程度又
はそれ以上の場合が多い。−力筒３図ｂ −ｂ’におい
ては第６図すに示すように、リード上面りで反射した非
常に強い光線の乱反射成分が、リードの他の部分Ｅ又は
ＩＣＣ本体部分子乱反射し検出されるもので、この現象
は一般に本来の光切断線りが非常に明るく検出されるの
に対してＥ、Ｆでは弱い信号しか検出されないという特
性をもっている。ただし、このような場合、映像信号は
一般にＤで飽和しているので、そのピーク値よりこの状
態は検出できない。
第５図α、ｂのようになる。このような状態になる原因
は次のとおりである。すなわち、第３図α−α′におい
ては、第６図αに示すように、Ａの部分の光切断線が、
鏡面状のリード側面に正反射し、この虚像Ｂとして検出
されるためで、一般に、Ｃの部分の検出光量と同程度又
はそれ以上の場合が多い。−力筒３図ｂ −ｂ’におい
ては第６図すに示すように、リード上面りで反射した非
常に強い光線の乱反射成分が、リードの他の部分Ｅ又は
ＩＣＣ本体部分子乱反射し検出されるもので、この現象
は一般に本来の光切断線りが非常に明るく検出されるの
に対してＥ、Ｆでは弱い信号しか検出されないという特
性をもっている。ただし、このような場合、映像信号は
一般にＤで飽和しているので、そのピーク値よりこの状
態は検出できない。
以上に示した現象の定性的な性質より、本発明装置にお
いては、次のような手段により、正しい光切断線を検出
する。
いては、次のような手段により、正しい光切断線を検出
する。
（１１−走査信号内で設定値−以上の信号強度を持つ区
間のうち、最初又は最後の区間より最大値の位置を検出
する。
間のうち、最初又は最後の区間より最大値の位置を検出
する。
（２） −走査信号内に、設定値Ｖｓ （Ｖｔル＜Ｖ
Ｓ）以上の区間幅ｊがル以上であった場合、上記した靭
の値を’Ｖ’１７Ｌ （Ｖｍ ≧Ｖｍ ）とする。
Ｓ）以上の区間幅ｊがル以上であった場合、上記した靭
の値を’Ｖ’１７Ｌ （Ｖｍ ≧Ｖｍ ）とする。
本発明装置においては、＋１１に示した極大値を持つ区
間の検出には、設定値−以外にＶＬ（Ｖ、≦−）を設け
、第７図に示すような信号に乗ったノイズの影響によっ
て誤りた極大値を検出しないよう、ｈを越え、Ｖｔ以下
に下がる区間を−区間としている（第８図）。また、（
２）に示した機能を第９図に示す。さらに・、（１）に
示した各区間における最大値の検出においては、第１０
図に示すように、過大な入射光量により像検出器又は増
幅回路が飽和した場合、最大値をとる位置が不鮮明かつ
不安定圧なるのを防ぐため、設定値Ｖｎを越える部分が
ある場合、盲と等しくなる２点の位置の中点位置を最大
値をとる位置として出力する。また、（１）に示したＶ
ｍを越える区間が一走査内にない場合には、光切断線が
死角に入り見えないものと判断し、光切断線として出力
しない。もちろん、−を越え、ｋ以下の場合は、区間内
で最大値をとる位置を出力する。
間の検出には、設定値−以外にＶＬ（Ｖ、≦−）を設け
、第７図に示すような信号に乗ったノイズの影響によっ
て誤りた極大値を検出しないよう、ｈを越え、Ｖｔ以下
に下がる区間を−区間としている（第８図）。また、（
２）に示した機能を第９図に示す。さらに・、（１）に
示した各区間における最大値の検出においては、第１０
図に示すように、過大な入射光量により像検出器又は増
幅回路が飽和した場合、最大値をとる位置が不鮮明かつ
不安定圧なるのを防ぐため、設定値Ｖｎを越える部分が
ある場合、盲と等しくなる２点の位置の中点位置を最大
値をとる位置として出力する。また、（１）に示したＶ
ｍを越える区間が一走査内にない場合には、光切断線が
死角に入り見えないものと判断し、光切断線として出力
しない。もちろん、−を越え、ｋ以下の場合は、区間内
で最大値をとる位置を出力する。
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。本実
施例では装置は−をダイナミックに可変させる部分１０
と光切断線を検出する部分１１から成り、それぞれ、第
９図に示した７５以上の信号幅ｌを検出、ルと比較し、
ル以上であった場合、Ｖｍをち′く切換える機能と、第
８図に示したように入力信号と一９ｖｔとを比較、検出
区間を決定し、それらのうちの最初又は最後の区間から
ピーク位置を検出する機能を受は持っている。
施例では装置は−をダイナミックに可変させる部分１０
と光切断線を検出する部分１１から成り、それぞれ、第
９図に示した７５以上の信号幅ｌを検出、ルと比較し、
ル以上であった場合、Ｖｍをち′く切換える機能と、第
８図に示したように入力信号と一９ｖｔとを比較、検出
区間を決定し、それらのうちの最初又は最後の区間から
ピーク位置を検出する機能を受は持っている。
本実施例の入力は、光切断像を光Ｋｆ換した２次元アナ
ログ画像信号であり、第３図に示した一次走査方向に従
って検出された個々の信号波形に対してそのピーク位置
を検出する。入力信号は第５図に示したように二次走査
方向にも走査されるが、装置の動作は一次走査方向に溢
りた各信号波形に対して同一であるので、以下の動作の
説明では、−走置信号波形に対しての動作についてのみ
行なう。光切断線の形状は、このようにして出力された
ピーク位置を順次取り込むことによって検出される。
ログ画像信号であり、第３図に示した一次走査方向に従
って検出された個々の信号波形に対してそのピーク位置
を検出する。入力信号は第５図に示したように二次走査
方向にも走査されるが、装置の動作は一次走査方向に溢
りた各信号波形に対して同一であるので、以下の動作の
説明では、−走置信号波形に対しての動作についてのみ
行なう。光切断線の形状は、このようにして出力された
ピーク位置を順次取り込むことによって検出される。
まず、Ｖｍをダイナミックに可変させる部分１０につい
て説明する。この部分は、第９図に示したように、設定
値７３以上の区間長！を検出し、これが設定値ル以上で
あればＶｍをル未満であればＶｍを光切断線を検出する
部分１１に出力するものである。−走査信号波形検出後
でなげればＶｍ’かちかの決定はできないので、光切断
線を検出する部分１１に対する走査信号入力は、−走査
時間遅延回路３０で一走査時間遅延させて入力する。
て説明する。この部分は、第９図に示したように、設定
値７３以上の区間長！を検出し、これが設定値ル以上で
あればＶｍをル未満であればＶｍを光切断線を検出する
部分１１に出力するものである。−走査信号波形検出後
でなげればＶｍ’かちかの決定はできないので、光切断
線を検出する部分１１に対する走査信号入力は、−走査
時間遅延回路３０で一走査時間遅延させて入力する。
−走査時間遅延回路は具体的には、−走査時間に相当す
る段数を持ったシフトレジスタであり、クロックによっ
て駆動される。また、本部分においては、！＄９図に示
したｌの検出において、第１１図に示すように複数箇所
でｖｓを越えた場合、１、 、１２・・・・・・の最大
値を検出し、ルと比較する。
る段数を持ったシフトレジスタであり、クロックによっ
て駆動される。また、本部分においては、！＄９図に示
したｌの検出において、第１１図に示すように複数箇所
でｖｓを越えた場合、１、 、１２・・・・・・の最大
値を検出し、ルと比較する。
−走査アナログ信号は、Ａ／Ｄ変換器２０に入力され、
クロックによるサンプリング及びディジタル信号への変
換がなされる。本実施例において、以降の処理は全てデ
ィジタル処理である。
クロックによるサンプリング及びディジタル信号への変
換がなされる。本実施例において、以降の処理は全てデ
ィジタル処理である。
ディジタル化された信号はまずコンパレータ２１αに入
力され、設定値Ｖ、と比較される。入力信号が７３以上
であった場合、入力信号が■、以下になったことを立下
がり微分回路２６．が検出するまで、カウンタ２２αが
クロックをカウントし、ｌを計数する。次にラッチ２６
αの内容とコンパレータ２１１）で比較し、もし新たに
検出されたｌがラッチ２３αの内容よりも大きい場合は
ラッチ２３αにエネーブル信号（ト）が送信されノが記
憶される。
力され、設定値Ｖ、と比較される。入力信号が７３以上
であった場合、入力信号が■、以下になったことを立下
がり微分回路２６．が検出するまで、カウンタ２２αが
クロックをカウントし、ｌを計数する。次にラッチ２６
αの内容とコンパレータ２１１）で比較し、もし新たに
検出されたｌがラッチ２３αの内容よりも大きい場合は
ラッチ２３αにエネーブル信号（ト）が送信されノが記
憶される。
ラッチ２３αにはトリガ信号用が各−走査信号の処理終
了毎にリセット信号（８）として入力され内容が０クリ
アされるので、ラッチ２３αの出力からは、その時点ま
でに検出されたー走査信号内のｌの最大値が出力されて
いる。ここでトリガ信号用とは、−走査信号と次の走査
信号の間に出力される１パルスの信号である。さて、こ
のようにして検出されたｌの最大値はコンパレータ２１
Ｃでルと比較され、ル以上であった場合、トリガ信号用
によりラッチ２４に、１がラッチされる。この信号は切
換器３１を制御し、ラッチ２４の出力が１の場合次の一
走査信号時間に対して幅が、０の場合もが光切断線を検
出する部分１１に対して出力される。
了毎にリセット信号（８）として入力され内容が０クリ
アされるので、ラッチ２３αの出力からは、その時点ま
でに検出されたー走査信号内のｌの最大値が出力されて
いる。ここでトリガ信号用とは、−走査信号と次の走査
信号の間に出力される１パルスの信号である。さて、こ
のようにして検出されたｌの最大値はコンパレータ２１
Ｃでルと比較され、ル以上であった場合、トリガ信号用
によりラッチ２４に、１がラッチされる。この信号は切
換器３１を制御し、ラッチ２４の出力が１の場合次の一
走査信号時間に対して幅が、０の場合もが光切断線を検
出する部分１１に対して出力される。
さて、次に光切断線を検出する部分１１について説明す
る。本部分は、入′力された整又は−により極大値を検
出する区間を検出し、それらのうち一番最初または最後
の区間において最大値をとる位置をピーク位置と”して
出力するものである。もちろん、先に第１０図を用いて
説明したとクリ、信号がＶユを越える場合は、越えた位
置Ｙ＋ 、Ｙｔの中点位置を最大値をとる位置とする。
る。本部分は、入′力された整又は−により極大値を検
出する区間を検出し、それらのうち一番最初または最後
の区間において最大値をとる位置をピーク位置と”して
出力するものである。もちろん、先に第１０図を用いて
説明したとクリ、信号がＶユを越える場合は、越えた位
置Ｙ＋ 、Ｙｔの中点位置を最大値をとる位置とする。
さらに、第１２図に示すように、ピーク位置を検出すべ
き最初または最後の区間において２箇所以上でＶｎを越
えている場合、本実施例においては、極大値検出区間の
検出法に応じて、最初のピーク又は最後のピークからピ
ーク位置を検出する。
き最初または最後の区間において２箇所以上でＶｎを越
えている場合、本実施例においては、極大値検出区間の
検出法に応じて、最初のピーク又は最後のピークからピ
ーク位置を検出する。
一走査時間遅延回路５０より出力されたー走査信号波形
は、コンパレータ２１ｄ、２１６，２１ｆ、２１ｔに入
力され、最大値の検出、極大値検出区間の検出が行なわ
れる。コンパレータ２１ｅ、２１ｆのＡ入力に入力され
た信号は、それぞれ−又はＶｍ及びＶｔと比較され、輻
（又はＶｍ ）を越えた位置でフリップフロップ２５α
にセット信号パルス（Ｓ）、Ｖｔ以下になった位置でリ
セット信号パルス（２）をそれぞれ立上り微分回路２７
α、２７ｂで生成し、検出区間内で１となる信号を７１
Ｊツブフロツプ２５αかう出力させる。つぎに、最初の
区間のみを立下がり微分回路２６ｂフリツプ７０ツブ２
５ｂ、 ＡＮＤ回路３２１）で検出する。この部分の動
作は次のとおりである。−走査信号の処理開始前には、
トリガ信号用によって７リツプフロツプ２５ｂは１の状
態にある。７１Ｊツブ７０ツブ２５αから検出区間を表
わす信号が出力されると、その立下がりを立下がり微分
回路２６ｂにより検出し、フリップ７０ツブ２５ｂを０
０状態とする。フリップフロップ２５αの出力と７リツ
プ７０ツブ２５ｂの出力の論理積を、心の回路５２ｂで
とることによって、最初の検出区間のみが検出される。
は、コンパレータ２１ｄ、２１６，２１ｆ、２１ｔに入
力され、最大値の検出、極大値検出区間の検出が行なわ
れる。コンパレータ２１ｅ、２１ｆのＡ入力に入力され
た信号は、それぞれ−又はＶｍ及びＶｔと比較され、輻
（又はＶｍ ）を越えた位置でフリップフロップ２５α
にセット信号パルス（Ｓ）、Ｖｔ以下になった位置でリ
セット信号パルス（２）をそれぞれ立上り微分回路２７
α、２７ｂで生成し、検出区間内で１となる信号を７１
Ｊツブフロツプ２５αかう出力させる。つぎに、最初の
区間のみを立下がり微分回路２６ｂフリツプ７０ツブ２
５ｂ、 ＡＮＤ回路３２１）で検出する。この部分の動
作は次のとおりである。−走査信号の処理開始前には、
トリガ信号用によって７リツプフロツプ２５ｂは１の状
態にある。７１Ｊツブ７０ツブ２５αから検出区間を表
わす信号が出力されると、その立下がりを立下がり微分
回路２６ｂにより検出し、フリップ７０ツブ２５ｂを０
０状態とする。フリップフロップ２５αの出力と７リツ
プ７０ツブ２５ｂの出力の論理積を、心の回路５２ｂで
とることによって、最初の検出区間のみが検出される。
スイッチ３４αは、最初の区間を選択するか最後の区間
１を選択するかの切換スイッチであり、第１図中
、上側に倒されたとき最後の区間が、下側に倒された場
合、最初の区間が選択される。上側に倒された場合、す
べての区間での最大値の位置又は第１０図に示したＹｓ
、Ｙｓがラッチ２３ｂ、２５ｃに順次ラッチされるが
、最終的なピーク位置の出力は、トリガ信号用によるラ
ッチ２５ｅの出力として出力されるので、結果的に最後
の区間における極大値検出が選択されたことになる。
１を選択するかの切換スイッチであり、第１図中
、上側に倒されたとき最後の区間が、下側に倒された場
合、最初の区間が選択される。上側に倒された場合、す
べての区間での最大値の位置又は第１０図に示したＹｓ
、Ｙｓがラッチ２３ｂ、２５ｃに順次ラッチされるが
、最終的なピーク位置の出力は、トリガ信号用によるラ
ッチ２５ｅの出力として出力されるので、結果的に最後
の区間における極大値検出が選択されたことになる。
さて、コンパレータ２１１ＰのＡに入力された信号はｖ
ｎと比較され、スイッチ５４ａで選択された区間内でＶ
ｎを越えた区間がＭΦ回路５２ｄにより出力される。一
つの検出区間に複数このような区間があった場合、最初
のもののみが立下がり微分回路２６Ｃ，フリップフロッ
プ２５Ｃ１ＡＮＤ回路５２ｅにより検出される。動作は
、２６ｂ、２５ｂ、３２ｂについて説明したものと全く
同じである。最初のピーク位置を検出する場合はスイッ
チ５４ｂによりにの回路３２ｅの出力が、最後のピーク
位置を検出する場合は、ｖｎを越えるすべての区間がス
イッチ５４ｂにより選択される。Ｖｎを越えるすべての
区間が選択されても最後のピーク位置のみが検出される
理由は、スイッチ５４αを上側に倒した場合について先
に述べたとおりである。
ｎと比較され、スイッチ５４ａで選択された区間内でＶ
ｎを越えた区間がＭΦ回路５２ｄにより出力される。一
つの検出区間に複数このような区間があった場合、最初
のもののみが立下がり微分回路２６Ｃ，フリップフロッ
プ２５Ｃ１ＡＮＤ回路５２ｅにより検出される。動作は
、２６ｂ、２５ｂ、３２ｂについて説明したものと全く
同じである。最初のピーク位置を検出する場合はスイッ
チ５４ｂによりにの回路３２ｅの出力が、最後のピーク
位置を検出する場合は、ｖｎを越えるすべての区間がス
イッチ５４ｂにより選択される。Ｖｎを越えるすべての
区間が選択されても最後のピーク位置のみが検出される
理由は、スイッチ５４αを上側に倒した場合について先
に述べたとおりである。
このように検出されたＶｎを越える区間は、立上がり微
分回路２７ｃ、立下がり微分回路２６ｅに入力され、第
１０図に示したＹｔ ＝ Ｙｔの位置に相当するパルス
がそれぞれ生成され、ラッチ２５ｂ、２３ｃのイネーブ
ル信号Ｅとして出力される。カウンタ２２ｂは、−走査
信号内のトリガ信号用からの位置をカウントしており、
ラッチ２３ｂ、２５ｃにはそれぞれＹＩ、Ｙｔに相当す
る値がラッチされる。
分回路２７ｃ、立下がり微分回路２６ｅに入力され、第
１０図に示したＹｔ ＝ Ｙｔの位置に相当するパルス
がそれぞれ生成され、ラッチ２５ｂ、２３ｃのイネーブ
ル信号Ｅとして出力される。カウンタ２２ｂは、−走査
信号内のトリガ信号用からの位置をカウントしており、
ラッチ２３ｂ、２５ｃにはそれぞれＹＩ、Ｙｔに相当す
る値がラッチされる。
一方、コンパレータ２１ｄｆ）Ａに入力された信号は、
ラッチ２５ｄの出力と比較され、谷検出区間における最
大値が検出される。この部分の動作は２１ｂ、２５αと
全く同様である。コンパレータ２１ｄの出力は、入力信
号が極大値をとったとき１で、次の瞬間０となるので、
立下がり微分回路２６ｄからは極大値をとった時点でパ
ルスが出力される。、００回路５２ｃからは、検出区間
における極大値をとる位置に応じたパルス列が出力され
るが、入力信号が最大値をとった位置に相当するパルス
は最後のものである。さて、このパルスは、ラッチ２３
ｂ、２３ｃに同時に入力されカウンタ２２ｂの値が同時
にラッチされる。つまりＹ、−Ｙ、とする。
ラッチ２５ｄの出力と比較され、谷検出区間における最
大値が検出される。この部分の動作は２１ｂ、２５αと
全く同様である。コンパレータ２１ｄの出力は、入力信
号が極大値をとったとき１で、次の瞬間０となるので、
立下がり微分回路２６ｄからは極大値をとった時点でパ
ルスが出力される。、００回路５２ｃからは、検出区間
における極大値をとる位置に応じたパルス列が出力され
るが、入力信号が最大値をとった位置に相当するパルス
は最後のものである。さて、このパルスは、ラッチ２３
ｂ、２３ｃに同時に入力されカウンタ２２ｂの値が同時
にラッチされる。つまりＹ、−Ｙ、とする。
さて、ＶｒＬを越えた場合のＹ、とＹ２及び、検出区間
において検出された最大値をとる位置が、並行して、ラ
ッチ２５ｂ、２３ｃにラッチされることになるが、Ｖｎ
を越えた場合にはＮＯＴ回路３５ｂを介して、Ｖ■回路
３２ｆを閉じることにより、これらは選択制御される。
において検出された最大値をとる位置が、並行して、ラ
ッチ２５ｂ、２３ｃにラッチされることになるが、Ｖｎ
を越えた場合にはＮＯＴ回路３５ｂを介して、Ｖ■回路
３２ｆを閉じることにより、これらは選択制御される。
このようにして検出されたＹＩ、Ｙｔ （Ｖｎ ヲ越、
ｔ ７’Ｊ： イ場合Ｙ、−Ｙ、−最大位置）は、加算
器２８で加えられ、１ビツト下位シフト２９で２で割ら
れた後（−ｎ土り一の計算）、ラッチ２５ｅにトリガ信
号用でラッチされ出力される。
ｔ ７’Ｊ： イ場合Ｙ、−Ｙ、−最大位置）は、加算
器２８で加えられ、１ビツト下位シフト２９で２で割ら
れた後（−ｎ土り一の計算）、ラッチ２５ｅにトリガ信
号用でラッチされ出力される。
以上、本発明の一実施例について述べたが、本実施例に
おいては、本発明の概要に述べた機能をすべて実現して
−・る。もし必要がなゆれば一部分、たとえば、−を夕
°イナミックに可変させる部分１０をはぶ（ことは可能
であり、本発明の趣旨の範囲内でこのような種々の変形
が可能であることはいうまでもない。また、第１図に示
した構成についても、同等の機能を有する他の回路構成
を用いても良いことはもちろんである。
おいては、本発明の概要に述べた機能をすべて実現して
−・る。もし必要がなゆれば一部分、たとえば、−を夕
°イナミックに可変させる部分１０をはぶ（ことは可能
であり、本発明の趣旨の範囲内でこのような種々の変形
が可能であることはいうまでもない。また、第１図に示
した構成についても、同等の機能を有する他の回路構成
を用いても良いことはもちろんである。
なお、実施例では、像検出器４の詳細については触れな
かったが、Ｗカメラ、２次元面体撮像素子、１次元面体
撮像素子と光学的走査方式の組合せ、光電子増倍管、フ
ォトダイオードなど照光電変換素子と光学的走査方式の
組合せのいずれであっても良い。
かったが、Ｗカメラ、２次元面体撮像素子、１次元面体
撮像素子と光学的走査方式の組合せ、光電子増倍管、フ
ォトダイオードなど照光電変換素子と光学的走査方式の
組合せのいずれであっても良い。
また、光切断法の光学構成としては、第２図に垂直方向
照明、斜検出を例示したが、斜照明し、斜検出又は垂直
検出する等いかなる構成でも良い。さらに、同図でスリ
ット光は一平板状に図示したがスポット光と光学的走査
方式の組合せであっても良い。
照明、斜検出を例示したが、斜照明し、斜検出又は垂直
検出する等いかなる構成でも良い。さらに、同図でスリ
ット光は一平板状に図示したがスポット光と光学的走査
方式の組合せであっても良い。
更に、第１図における実施例では、各手段を達成する専
用ハードを有するものとして図示したが、これらの手段
は、いずれもマイクロコンビエータ等を用いて、そのプ
ログラムにて処理することができる。
用ハードを有するものとして図示したが、これらの手段
は、いずれもマイクロコンビエータ等を用いて、そのプ
ログラムにて処理することができる。
本発明によれば、検出対象物表面が金属光沢を持つ場合
のスリット光の２次的な反射の影響や、過大な反射光に
付随して発生する光切断線以外の光点の影響を受けるこ
となく、対象物の光切断線、すなわち立体形状を検出で
きるので、これを用いた自動形状測定、自動位置検出、
自動形状検査等を精度良くかつ誤りなく行なうことがで
きる。
のスリット光の２次的な反射の影響や、過大な反射光に
付随して発生する光切断線以外の光点の影響を受けるこ
となく、対象物の光切断線、すなわち立体形状を検出で
きるので、これを用いた自動形状測定、自動位置検出、
自動形状検査等を精度良くかつ誤りなく行なうことがで
きる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は光切断法
の光学系構成の一例を示す斜視図、第３図は第２図で検
出される光切断像の一例を示す図、第４図は第３図にお
いて本来検出されるべき正しい光切断線を示す図、第５
図は第６図において特定の直線に沿った信号強度変化を
示す図、第６図は光切断像に異常をおこす要因を示す図
、第７図はノイズを含む信号の一例を示す図、第８図は
本発明における極大値検出区間を決定する方法を示す図
、第９図は検出区間を決定する閾値をダイナミックに変
化させる方法を示す図、第１０図はピーク位置を決定す
る方法の一つを示す図である。 １・・・検出対象、 ２・・・スリット投光器
、３・・・スリット光、 ４・・・像検出器（Ｗカメ
ラ）、１０・・・Ｖｍをターイナミックに可変させる部
分、１１・・・光切断線を検出する部分、 ２０・・・Ａ７Ｄｆｆｉ換！、２１・・・コンパレータ
、２２・・・カウンタ、２５ 、２４・・・ラッチ、２
５・・・フリップフロップ、 ２６・・・立下がり微
分回路、２７・・・立上がり微分回路、２８・・・加算
器、２９・・・１ビツト下位シフト器、 ３０・・・−走査時間遅延回路、 ５１・・・切換器、
３２・・・にの回路、 ３３・・・ＯＲ回路、３
４・・・スイッチ、 Ｈｄ・・・トリガ信号、
３５・・・ＮＯＴ回路。 躬 １ 図 第 ２２ 躬３困 １ ：次ｆＥＪＬ７Ｊ向 躬４０ 躬５圀 ０− し躬す麿 第 ７に 第８０ 躬９幻 躬１０囚 躬／ｌ Ｉｌｎ 躬１２膿 手続補正書（方式） 事件の表示 昭和 ５９ 年特許願第 ２５１８５７ 号発明の
名称 光切断線検出装置 補正をする者 事件との関係 特 許 出 願 人名 称
（５１０１株式会社 日 立 製作折代 理
人 補正の対象 明細書の図面の簡単な説明の欄補正の内容 ｒべ ｔ 第１７頁第２０行を下記のとおり訂正する。 記 法の一つを示す図、第１１図は複数のピークがある場合
の区間長ｌの決定法を説明する図、第１２図はｒ、を越
えるピークが複数ある場合の一例を示す図である。 以上
の光学系構成の一例を示す斜視図、第３図は第２図で検
出される光切断像の一例を示す図、第４図は第３図にお
いて本来検出されるべき正しい光切断線を示す図、第５
図は第６図において特定の直線に沿った信号強度変化を
示す図、第６図は光切断像に異常をおこす要因を示す図
、第７図はノイズを含む信号の一例を示す図、第８図は
本発明における極大値検出区間を決定する方法を示す図
、第９図は検出区間を決定する閾値をダイナミックに変
化させる方法を示す図、第１０図はピーク位置を決定す
る方法の一つを示す図である。 １・・・検出対象、 ２・・・スリット投光器
、３・・・スリット光、 ４・・・像検出器（Ｗカメ
ラ）、１０・・・Ｖｍをターイナミックに可変させる部
分、１１・・・光切断線を検出する部分、 ２０・・・Ａ７Ｄｆｆｉ換！、２１・・・コンパレータ
、２２・・・カウンタ、２５ 、２４・・・ラッチ、２
５・・・フリップフロップ、 ２６・・・立下がり微
分回路、２７・・・立上がり微分回路、２８・・・加算
器、２９・・・１ビツト下位シフト器、 ３０・・・−走査時間遅延回路、 ５１・・・切換器、
３２・・・にの回路、 ３３・・・ＯＲ回路、３
４・・・スイッチ、 Ｈｄ・・・トリガ信号、
３５・・・ＮＯＴ回路。 躬 １ 図 第 ２２ 躬３困 １ ：次ｆＥＪＬ７Ｊ向 躬４０ 躬５圀 ０− し躬す麿 第 ７に 第８０ 躬９幻 躬１０囚 躬／ｌ Ｉｌｎ 躬１２膿 手続補正書（方式） 事件の表示 昭和 ５９ 年特許願第 ２５１８５７ 号発明の
名称 光切断線検出装置 補正をする者 事件との関係 特 許 出 願 人名 称
（５１０１株式会社 日 立 製作折代 理
人 補正の対象 明細書の図面の簡単な説明の欄補正の内容 ｒべ ｔ 第１７頁第２０行を下記のとおり訂正する。 記 法の一つを示す図、第１１図は複数のピークがある場合
の区間長ｌの決定法を説明する図、第１２図はｒ、を越
えるピークが複数ある場合の一例を示す図である。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、スリット光を照射された対象物の映像を走査して信
号を検出する手段と、 前記走査の一走査において、前記信号が最初に閾値を越
えたこと又は前記信号が最後に閾値を越えたことを判定
する比較手段と、 前記対象物に起因する前記スリット光の反射光であって
前記信号に現われたものの強度に応じて前記閾値を変化
させる閾値設定手段とを有する光切断線検出装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の光切断線検出装置にお
いて、 前記検出する手段は、前記スリット光による対象物の光
切断像の映像信号入力装置であって該光切断像を横切る
方向に走査するものを有し、前記比較手段は、前記映像
信号から極大位置を検出し、一走査内における最初又は
最後の極大位置のみを選択する回路を有する光切断線検
出装置。 ３、特許請求の範囲第１項記載の光切断線検出装置にお
いて、 前記比較手段は、前記映像信号が設定値Ｖｍを越え、次
に設定値Ｖｌ（Ｖｌ≦Ｖｍ）となる区間を検出する回路
と、該検出された区間内で極値を検出する回路を有する
光切断線検出装置。 ４、特許請求の範囲第３項記載の光切断線検出装置にお
いて、 前記極値を検出する回路は、前記映像信号が設定値Ｖｎ
（Ｖｎ≧Ｖｍ）を越えたとき、前記映像信号がＶｎに等
しくなる２点の位置Ｙ＿１、Ｙ＿２の中点（Ｙ＿１＋Ｙ
＿２）／２を出力する回路と、前記映像信号がＶｎを越
えないとき前記映像信号が最大値をとる位置を出力する
回路とを有する光切断線検出装置。 ５、特許請求の範囲第３項記載の光切断線検出装置にお
いて、 前記Ｖｍは前記映像信号が設定値Ｖｓを越えた区間長ｌ
を検出する回路と、該ｌが設定値ｎを越えたことを検出
する回路と、越えたときＶｍとしてＶｍ′を、越えない
とき従前のＶｍを選択する回路を有する光切断線検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25185784A JPS61130808A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 光切断線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25185784A JPS61130808A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 光切断線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61130808A true JPS61130808A (ja) | 1986-06-18 |
| JPH0554603B2 JPH0554603B2 (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=17228952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25185784A Granted JPS61130808A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 光切断線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61130808A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6478109A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPS6478104A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPH01142404A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-05 | Hitachi Ltd | 溶接装置 |
| FR2624601A1 (fr) * | 1987-12-11 | 1989-06-16 | Tech Bois Ameublement Centre | Dispositif de detection video-laser pour la determination de caracteristiques geometriques d'un objet |
| JPH0474911A (ja) * | 1990-07-14 | 1992-03-10 | Matsushita Electric Works Ltd | 物体形状検出方法 |
| EP0921370A2 (en) * | 1997-12-05 | 1999-06-09 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for determining distance |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5629112A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-23 | Minolta Camera Co Ltd | Distance measurement unit |
| JPS57208404A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Configuration detecting method |
-
1984
- 1984-11-30 JP JP25185784A patent/JPS61130808A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5629112A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-23 | Minolta Camera Co Ltd | Distance measurement unit |
| JPS57208404A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Configuration detecting method |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6478109A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPS6478104A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPH01142404A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-05 | Hitachi Ltd | 溶接装置 |
| FR2624601A1 (fr) * | 1987-12-11 | 1989-06-16 | Tech Bois Ameublement Centre | Dispositif de detection video-laser pour la determination de caracteristiques geometriques d'un objet |
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| EP0921370A2 (en) * | 1997-12-05 | 1999-06-09 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for determining distance |
| EP0921370A3 (en) * | 1997-12-05 | 2000-06-21 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for determining distance |
| US6166810A (en) * | 1997-12-05 | 2000-12-26 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for determining distance |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0554603B2 (ja) | 1993-08-13 |
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