JPS61130593A - 余掘測定システム - Google Patents

余掘測定システム

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JPS61130593A
JPS61130593A JP25290084A JP25290084A JPS61130593A JP S61130593 A JPS61130593 A JP S61130593A JP 25290084 A JP25290084 A JP 25290084A JP 25290084 A JP25290084 A JP 25290084A JP S61130593 A JPS61130593 A JP S61130593A
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暁 吉田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、余掘測定システムに関し、特に、トンネル
の設計された断面に対して実際に掘削された内壁面につ
いての余掘量を知ることができるような余掘測定システ
ムに関するものである。
(従来の技術〕 一般に〜、トンネル掘削工事等にあっては、さく孔機に
て切羽面に発破孔をさく孔して、このさく孔Gコ、ダイ
ナマイト等を装薬して、発破をかけて岩盤を破砕する方
法が採られているが、この場合−1設計断面以上に掘れ
る余堀が発生する。
この余堀の量は、その時々の発破孔の位置とか、岩盤の
状態により変化するが、従来それを短時間で簡単に測定
できる適当な測定システムはなかった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
掘削の際、さく孔パターンが適正でないと余掘量は、大
きくなる傾向にあり1、この余堀がトンネルの設計断面
に対して太き(なると、コンクリートの使用量が多くな
り14問題となる。また、余掘量を少なくしようとする
と設計断面より岩盤が突出する部分を生じ、その修正作
業も手間がかかる。
余堀を小さく抑えかつ必要な断面の破砕を可能とするさ
く孔パターンを設定することはなかなか難しいことであ
る。このような適正なさく孔パターンを設定するために
は、−発破毎の余掘量の把握が不可欠であり、その測定
システムの開発が望まれていた。
〔発明の目的〕
この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、さく孔装置を利用することにより特別の測
定装置を要せず、安価で簡便にトンネルの設計された断
面に対して実際に掘削された内壁面についての余堀の量
を知ることができ、もって余掘量を小さくするようさく
孔パターンを修正できるような余掘測定システムを提供
することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
このような目的を達成するために、この発明は、トンネ
ルの設計された断面に対応する内壁面に対して掘削され
た実際の内壁面にさく孔機を位置決めして、その座標を
読取って、設計された断面に対するずれ量を算出して余
堀の状態を知るというものであって、その手段は、ブー
ムを介して台車に支持されたさく孔機とこのさく孔機の
X、Y。
Z方向の移動位置を台車の基準位置に対して算出するた
めの情報を発生する位置検出装置とこの位置検出装置か
らの情報を受ける処理装置とメモリとを有するさく孔装
置と、このさく孔装置の芯出しのための装置とを備えて
いて、処理装置は、このさく孔装置が芯出しされたとき
にトンネル断面上でのさく孔装置が設定された位置を算
出し、さく孔機の先端が掘削された内壁面に接触する状
態にされたときに位置検出装置の情報とさく孔装置が設
定された位置の算出情報とに基づき接触した状態にある
さく孔機先端の位置を算出することにより、掘削された
内壁面の状態を測定するというものである。
〔作用〕
このようにさく孔機先端が掘削された内壁面に接触する
状態になったときの位置検出装置の情報からの位置につ
いての情報を得て、さく孔装置の設定位置との関係から
その位置座標を算出することにより内壁面の状態を測定
できるので、余堀量を知ることができる。
したがって、次の切羽面のさく孔位置を適切なさく孔パ
ターンへと修正してさく孔すれば、余掘量をコントロー
ルできるので、岩盤等の質が変化しても適切な断面の掘
さくを行うことが可能となる。
その結果、トンネル内壁に打設されるコンクリートの使
用量を適切な値にすることができる。
〔実施例〕
次に、この発明の一実施例について図面を参照して、具
体的に説明する。
第1図は、この発明の一実施例である余掘測定システム
を適用した制御部の処理の流れ図、第2図は、その制御
部のブロック図、第3図は、その測定状態の説明図、第
4図は、さく孔装置の位置決め状態の説明図、第5図は
、自動測定の場合の測定におけるトンネル断面について
の説明図、そして第6図は、自動測定の場合のメモリに
おける記憶テーブルの説明図である。なお、これら各図
において、同一のものは、同一の符号で示す。
第2図において、10は、この制御部であって、処理装
置1)と入力装置12、メモリ13、さく化機16、さ
く化機16に対する位置決め作動機構14及びその位置
検出装置15、そしてカセットテープ記憶装置等からな
る外部記憶装置17等から構成されている。
ここで、処理装置1)は、マイクロプロセッサ。
インタフェース等を有していて、入力装置12は、操作
パネル上に配置され、各種のキーを有するキーボードと
コーグとを具えている。また、メモリ13は、トンネル
の設計断面に対応する内壁面に対応する座標データが記
憶されている。
一方、位置決め作動機構14は、位置検出装置15から
の検出信号と目標位置情報に応じて動作し、目標位置情
報に対応する座標位置等にさく化機16を位置決めする
。すなわちこれは、第3図に見るブーム6、ガイドシェ
ル5.さく化機16の移動機構(図示せず)等の角度又
は位置を選択的に制御するものであって、ブーム6、ガ
イドシェル5等をそれぞれ所定の角度に設定し、さく化
機16の移動機構を所定の位置に設定してさく化機16
を切羽面の座標基準位置から見た所定の座標位置に所定
の角度で位置決めする。
ここに、位置決め作動機構14は、所定の位置にさく化
機16を位置決めするために、比較器。
シリンダ装置、そしてこれを制御する油圧電磁バルブ及
びバルブ駆動回路等を備えていて、比較器にて、現在位
置と処理装置1)から得た目標位置とを比較して、その
結果得た差信号をバルブ駆動回路に供給して、油圧電磁
バルブを介してシリンダ装置を作動し、さく化機16を
目標位置に位置付ける。ここに前記比較器に与えられる
現在位置の情報は、位置検出装置15から、それぞれ与
えられ、目標位置情報は、処理装置1)から指令信号と
して受ける。そして各さく孔[16の位置決めが完了し
たときには、位置決め作動機構14は、それぞれ制御装
置1)に位置決め完了信号を送出する。
位置検出装置15は、さく化機16の現在の角度と位置
とを検出するものであって、さく化機16の移動機構、
ガイドシェル5.ブーム6、台車7等の可動部分に配置
されたロータリエンコーダと、このロータリエンコーダ
からの情報信号をデコードして所定のディジタル値に変
換する変換回路とを具えて構成され、所定の角度に設定
されたガイドシェル5.ブーム6の角度情報及びさく化
機16の進退の距離に対応する情報を処理装置1)と位
置決め作動機構14とに送出する。なお、この場合、位
置決め作動機構14に対しては、変換回路の出力信号が
その比較器に加えられて、現在位置を示す情報信号とし
て取り扱われる。
さて、処理装置1)は、入力装置12からの読込み指令
を示す入力信号に対応して、位置検出装置15からのデ
ータを読込み、そのデータからさく化機16の座標位置
をメモリ13に記憶する。
この場合の座標データとしては、第5図に見るトンネル
1の切羽面9に対応し、その中心Oを基準として採られ
た座標であって、前記基準位置0からX方向(水平方向
iX)、Y方向(垂直方向;Y)にとった座標位置、さ
く化機16のさく孔方向(Z)を1つの単位として、そ
れぞれが算出され、これらがメモリ13の所定番地に順
次テ:ジタル化した数値で記憶される。
次に、動作を説明すると、第4図に見るごとくトンネル
1の後方に配置されたレーザー装置3は、光線4を発生
して、さく孔装置1の切羽面9に対する座標基準位置の
芯出しを行うために利用される。
すなわち、芯出しとして、さく孔装置2のブーム6を制
御して、そのさく化機16を支持するガイドシェル5上
に設けられた第1.第2のターゲット8a、8bに光線
4に合わせて、その時のブーム6の移動量から逆算して
、トンネル1の中心に一致し、切羽面90手前に対応し
て設定され・るさく孔座標の原点位置Oを読込み、同時
に、切羽面9上に設定されるさく孔座標に対する台車7
の軸中心の座標位置(Xo 、 Yo )を算出して、
これら原点位置Oと軸中心座標位置(Xo、Yo)をそ
れぞれメモリI3の所定の記憶領域に記憶する。
そして、第5図に見る所定のさく孔パターンPに対応し
て切羽面9をさく孔して、さく孔装置2が後退し、さく
孔された孔に装薬して、発破が掛けられて、所定量の掘
削が行われる。
ここで、第1図に見るごとく、そのステップ■でさく孔
装置2が前進して、台車7を切羽面9に移動し、切羽面
9から所定の位置に対峙して設置する。そしてステップ
■で再び、前記芯出しが行われる。
次に、ステップ■にて、入力装置I2からさく孔方向で
あるZ方向の値が入力されて、さく孔線】6が台車7の
基準位置からさく孔方向に一定距離、例えば1mの位置
にセットされるように処理装置から位置決め作動機構1
4に制御信号が送出されて、常に、さく孔線16の先端
側がさく孔方向に対して1mの位置にあるように制御さ
れる。
次に、ステップ■で第4図に見るごと(、手動により、
掘削されたトンネル1内の内壁面に接するようにさく孔
線16をXY方向へ移動し、接触させる。そしてステッ
プ■にて入力装置12から座標読込みキーが押下された
時点で、その時の座標情報(X、Y、Z)の値を位置検
出装置15からのデータとして処理装置1)が読込み、
それをメモリ13に記憶する。
そして、ステップ■にて、測定が終了していないかを例
えば終了キーとかその測定数により判定し、ステップ■
からステップ■までの処理過程を測定が終了するまで循
環して、その処理を実行する。
このようにして、掘削されたトンネル1内の内壁面にお
いてほぼ所定間隔置きに、又はその凹凸の状態に応じて
必要な個所の座標を読取って行き、あるさく孔方向につ
いての余掘測定が終了すると、次に、Z方向の値を更新
して、同様な余掘測定を繰り返して、切羽面9の付近ま
で行う。
次に、入力装置12から余堀距離演算のキーを入力する
と、処理装置1)がこれを受付けて、ステップ■にてメ
モリ13から余掘測定した座標に対して、第3図に見る
設計断面パターンS(黒線部参照)のうち、測定点に対
してそれに最も近い設計上の断面パターン上の点の座標
値を読出して、これと測定点の座標との距離を算出して
、それを余掘量として、ステップ■にてその測定点に対
応してメモリ13に記憶して行く。
こうして得た測定座標値と余掘量のデータは、外部記憶
装置であるカセットテープ等の記憶装置17に記憶され
て、さく孔装置2に搭載されたコンピュータ又は他のコ
ンピュータで処理されてディスプレイ上に表示され、又
はX−Yプロッタ上にブロッテングされる。
そしてその結果から、切羽面9をさく孔するさく孔パタ
ーンPに修正が加えられて、より余掘量が少なくなる方
向へとさく孔位置を変更させることになる。
その結果、余堀が少なく、設計断面に近い形でトンネル
の掘削ができ、掘削された内壁面1aを打設するコンク
リート量も少な(で済むことになる。
ところで、前記は、手動でさく孔線16を位置決めして
いるが、これは、所定の余掘測定パターンに従って自動
で行うことができる。
第6図は、この場合の余掘測定パターンを記憶するメモ
リ13の記憶テーブルの状態である。
次に、この自動処理について説明すると、入力装置12
から入力された余掘測定パターン番号に従って、例えば
、メモリ13がアクセスされ、所定の余掘測定パターン
情報Tを続出して、演算処理等をした結果を位置決め作
動機構14に指令信号として送出して、さく孔線16を
所定の測定位置TI、T2.T3.−.Tnのうちの、
まず、TIに設定し、その位置決め完了信号を受け、次
にさく孔線16の移動機構を進退させる指令信号を送出
して、さく孔線16を前進させる。そしてさく孔4i1
6の前進距離を作動機構14から受けて、掘削された内
壁面に接触する状態になるまでさく孔線を前進させて、
余掘測定パターンから得た距離の情報に対し、接触した
状態で検出されるさく孔線16の距離のずれ量を余掘測
定番号位置について順次算出してメモリ13に記憶する
ここで、メモリ13には、切羽面9上にとられた基準位
置からX方向(水平方向iX)、Y方向(垂直方向;Y
)にとった座標位置、さく孔機16のさく孔方向(Z)
、さく孔機16の進退距離(L)、余掘測定角(θ)を
1つの単位として、余掘測定番号対応に、第6図に見る
記憶テーブル21の所定番地にデジタル化した数値で、
これらを記憶している。しかも、このような余掘測定番
号列は、余掘測定パターンに対応して、それぞれ特定番
地領域が割当られて記憶されているものである。
したがって、入力装置12から余掘測定パターンを入力
することによって、これを検索することができる。
なお、この余掘測定パターンTは、第5図に見るような
トンネルの設計上設定された断面に対して手前の位置に
所定の間隔で採られたものであって・、その設計上の断
面形状によってそれぞれ相違するものである。
まず、その第1バイト目である記憶位置22は、余掘測
定が完了したか否かを示すフラグビット(第1ピントが
Oのとき、測定が完了していない。
第1ビツトが1のとき、さく孔が完了していることを示
している)と余掘測定番号(残り、7ビツト)とを記憶
する位置である。この余掘測定番号は、余掘測定番号の
順番に記憶すれば、このメモリ13の番地をそのまま利
用して、省略してもよい。第2バイト目の記憶位置23
は、X座標の記憶位置であり、第3バイト目の記憶位置
24は、Y座標の記憶位置である。また、第4バイト目
の25は、余掘測定角(θ)を示していて、第5バイト
目の記憶位置26は、さく孔機16の設定距離(L)を
示しているものであって、第6バイト目の27は、設計
断面からの余堀の値を記憶する位置である。
ここで、余掘測定パターンの(X、Y)座標は、設計断
面から距離りだけ内側の位置に設定されているものであ
る。そしてこのLだけ移動した位置が余掘量のO点位置
となり、そこからの前後距離が余掘量として算出される
ものである。
次に、余掘測定パターンに従った測定動作にっいて説明
する。
まず、さく孔装置2の余掘測定パターン番号をとZ方向
の値とを入力すると、これらの情報を受けた処理装置1
)は、Z方向の値をメモリ13の所定位置に記憶して、
余掘測定パターン番号に基づきメモリ13の対応する記
憶領域をアクセスする。そのアクセスされた領域には、
第5図に示した対応する余掘測定パターンの記憶テーブ
ル21が記憶されていて、その一番目の余掘測定番号の
データがまず読出される。
ここで、処理装置1)は、さく孔機16の第1番目の余
掘測定番号TI(N[Ll)を記憶位置22をアクセス
して、探し、そこで、それに対応する記憶位置23,2
4.25を読出す。これらは、X、 Y座標情報、さく
孔周θである。これらX。
Y座標情報、さく孔周e、と先に記憶したZ方向の値と
を位置決め作動機構14に送出して、位置決め作動機構
14.によりさく孔機16を余掘測定番号TIに対応す
る所定の余掘測定位置に位置決めする。
そして、処理装置1)は、位置決め作動機構14のさく
孔機16に対する移動機構を制御して、トンネル1の内
壁面1aに接触する方向に駆動して、その時の移動量を
位置検出装置15から読取り、その値と、前記記憶テー
ブル21の余掘測定番号TIの記憶位置26からデータ
Lを読出して、その差値を余掘量として、その次の記憶
位置27の最初の欄27aに記憶する。
そして、余掘測定番号を更新して、N1)2に位置付け
て、同様な測定をする。
このような測定を余掘測定パターンの各番号について行
うことによりその余掘測定を実行する。
次に、Z方向の値を更新してこれをメモリ13の所定の
位置に順次記憶するとともに、同様な処理をして、同様
に、前記記憶テーブル21の余掘測定番号の記憶位置2
6からデータLを読出して、その差値を余堀量として、
その次の記憶位置27の次の欄27bに記憶する。
このようにして、Z方向に対応して、記憶位置27の区
分けされた欄に順次余掘測定データを記憶して行くもの
である。
こうして記憶されたデータは、前記実施例と同様に、次
のさく孔パターンの位置を修正するデータとして使用さ
れる。
この実施例では、自動的に直接余掘量についてのデータ
が得られるようにしているが、手動の例の場合と同様に
座標を自動的に読込み、そのデータから設計上の断面座
標情報と比較して、同様な余掘量についてのデータを得
るようにしてもよい。
さらに、これらの場合、設計断面から余掘量を算出して
いるが、これは、内壁面の測定データのみ算出するだけ
で、そのデータをもとにして、余掘量を別の計算機とか
、手計算等により算出してもよい。
実施例では、トンネル中心からさく孔装置の基準位置座
標を算出し、かつ接触点である位置をトンネルの中心か
ら見た座標を基準として得て、余掘量を算出しているが
、余掘量については、このような座標による算出に限定
されるものではな(、ブームが移動されさく孔機が掘削
された内壁面に接触する状態になったときの検出装置の
情報から、その接触点の位置とさく孔装置の基準位置と
の関係で算出するものであれば、その座標の採りかたを
問うものではない。
〔発明の効果〕
以上の説明から理解できるように、この発明は、ブーム
を介して台車に支持されたさく孔機とこのさく孔機のx
、y、z方向の移動位置を台車の基準位置に対して算出
するための情報を発生する位置検出装置とこの位置検出
装置からの情報を受ける処理装置とメモリとを有するさ
く孔装置と、このさく孔装置の芯出しのための装置とを
備えていて、処理装置は、このさく孔装置が芯出しされ
たときにトンネル断面上でのさく孔装置が設定された位
置を算出し、さく孔機の先端が掘削された内壁面に接触
する状態にされたときに位置検出装置の情報とさく孔装
置が設定された位置の算出情報とに基づき接触した状態
にあるさく孔機の位置を算出することにより、掘削され
た内壁面の状態を測定するというものであるので、さく
孔機が掘削された内壁面に接触する状態になったときの
位置検出装置の情報からの接触点の位置についての情報
を得ることができ、さく孔装置のを設定位置との関係か
らその位置を算出することにより、余掘量を知ることが
できる。
このようにさく孔装置を利用することにより、特別の測
定装置を要せず安価筒便に余掘量の測定ができるので、
その結果、さく孔パターンを適正なものへと修正でき、
余掘量をコントロールして岩盤等の質が変化しても適切
な掘さくを行うことが可能となり、トンネル内壁に打設
されるコンクリートの使用量を適切な値にすることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例である余掘測定システム
を適用した制御部の処理の流れ図、第2図は、その制御
部のブロック図、第3図は、その測定状態の説明図、第
4図は、さく孔装置の位置決め状態の説明図、第5図は
、自動測定の場合の測定におけるトンネル断面について
の説明図、そして第6図は、自動測定の場合のメモリに
おける記憶テーブルの説明図である。 1−−−−一トンネル、  2−  さく孔装置。 3−・レーザ発生装置、4 ・−・光線。 5.16−・−さく孔機、6−・ブーム。 7−・台車、8a、8b −ターゲット9 ・・−・切
羽面、  10 −  制御部。 1) −  処理装置、  l 2−・入力装置。 13−−−−メモリ、14−・−・作動機構。 15 −  位置検出装置、16−・−さく孔機。 17−一外部記憶装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ブームを介して台車に支持されたさく孔機とこの
    さく孔機のX、Y、Z方向の移動位置を前記台車の基準
    位置に対して算出するための情報を発生する位置検出装
    置とこの位置検出装置からの前記情報を受ける処理装置
    とメモリとを有するさく孔装置と、このさく孔装置の芯
    出しのための装置とを備え、前記処理装置は、このさく
    孔装置が芯出しされたときにトンネル断面上での前記さ
    く孔装置が設定された位置を算出し、前記さく孔機の先
    端が掘削された内壁面に接触する状態にされたときに前
    記位置検出装置の情報と前記さく孔装置が設定された位
    置の算出情報とに基づき前記接触した状態にあるさく孔
    機先端の位置を算出することにより、前記掘削された内
    壁面の状態を測定することを特徴とする余掘測定システ
    ム。
  2. (2)メモリにはトンネルの設計された断面に対応する
    内壁面に応じて所定間隔で採られた複数の測定点に対し
    、この測定点への位置決め情報が記憶されていて、処理
    装置は、さく孔装置が芯出しされたときにトンネル断面
    上でのさく孔装置が設定された位置を算出し、所定の測
    定位置に対応して前記メモリに記憶された対応する位置
    決め情報を読出して、そこにさく孔機を位置付け、かつ
    先端が内壁面に接触する状態になるまでさく孔機を移動
    する制御をし、前記設計された断面の形状に対する情報
    と前記さく孔装置が設定された位置の算出情報とに基づ
    き前記設計された断面の形状に対する距離のずれ量を前
    記測定点について算出して前記メモリに記憶することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の余掘測定システ
    ム。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025753A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 積水化学工業株式会社 埋設管路の計測装置、及び、埋設管路の計測方法
JP2015229831A (ja) * 2014-06-03 2015-12-21 株式会社鴻池組 穿孔ナビゲーション装置
JP2015229832A (ja) * 2014-06-03 2015-12-21 株式会社鴻池組 穿孔ナビゲーション装置
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