JPS61109179A - 撮像歪測定装置 - Google Patents
撮像歪測定装置Info
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- JPS61109179A JPS61109179A JP59229310A JP22931084A JPS61109179A JP S61109179 A JPS61109179 A JP S61109179A JP 59229310 A JP59229310 A JP 59229310A JP 22931084 A JP22931084 A JP 22931084A JP S61109179 A JPS61109179 A JP S61109179A
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- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N (1s,3r,4e,6e,8e,10e,12e,14e,16e,18s,19r,20r,21s,25r,27r,30r,31r,33s,35r,37s,38r)-3-[(2r,3s,4s,5s,6r)-4-amino-3,5-dihydroxy-6-methyloxan-2-yl]oxy-19,25,27,30,31,33,35,37-octahydroxy-18,20,21-trimethyl-23-oxo-22,39-dioxabicyclo[33.3.1]nonatriaconta-4,6,8,10 Chemical compound C1C=C2C[C@@H](OS(O)(=O)=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2.O[C@H]1[C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](C)O[C@H]1O[C@H]1/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/[C@H](C)[C@@H](O)[C@@H](C)[C@H](C)OC(=O)C[C@H](O)C[C@H](O)CC[C@@H](O)[C@H](O)C[C@H](O)C[C@](O)(C[C@H](O)[C@H]2C(O)=O)O[C@H]2C1 PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は５文字認識装置あるいは画像認識装置等におい
て３文字あるいは画像の入力用もしくは撮像用として利
用される撮像装置の検査装置、特に撮像歪の測定に用い
る撮像歪測定装置に関する。
て３文字あるいは画像の入力用もしくは撮像用として利
用される撮像装置の検査装置、特に撮像歪の測定に用い
る撮像歪測定装置に関する。
例えば文字認識装置は、被認識文字パターンを観測する
撮像装置と、前記撮像装置による観測によって得られた
観測パターンから所定の特徴を抽出する特徴抽出部と２
文字種毎に予め標準のパターンから抽出した標準特徴を
記憶して置（特徴辞書とを備え、特徴抽出部によって抽
出した入力特徴と特徴辞書に記憶する標準特徴との類似
度によって、被認識文字パターンの文字種を決定する装
置である。
撮像装置と、前記撮像装置による観測によって得られた
観測パターンから所定の特徴を抽出する特徴抽出部と２
文字種毎に予め標準のパターンから抽出した標準特徴を
記憶して置（特徴辞書とを備え、特徴抽出部によって抽
出した入力特徴と特徴辞書に記憶する標準特徴との類似
度によって、被認識文字パターンの文字種を決定する装
置である。
したがって２文字認識装置に用いる撮像装置に観測歪が
あれば、観測パターンにも歪が生じ、このため、観測パ
ターンから抽出される特徴は被認識文字パターンが持っ
ている特徴とは異なることになり、その結果１文字認識
精度が低下することるなる。
あれば、観測パターンにも歪が生じ、このため、観測パ
ターンから抽出される特徴は被認識文字パターンが持っ
ている特徴とは異なることになり、その結果１文字認識
精度が低下することるなる。
この際、撮像装置としては、観測歪が許容値以下である
こと、あるいは、歪量が既知であることが望ましく、観
測歪を定量的に測定できる装置の提供が望まれている。
こと、あるいは、歪量が既知であることが望ましく、観
測歪を定量的に測定できる装置の提供が望まれている。
第２図は従来例の説明図であり、１は検査パターン、２
は検査の対象とする撮像装置、また３はモニタ用の表示
装置である。
は検査の対象とする撮像装置、また３はモニタ用の表示
装置である。
すなわち、従来は、撮像装置２によって検査パターン１
を観測し、観測結果を表示装置３に表示して人間の目視
によって歪の量を測定するという方法が用いられていた
。
を観測し、観測結果を表示装置３に表示して人間の目視
によって歪の量を測定するという方法が用いられていた
。
上記従来例によると２表示装置の表示歪を除去しなけれ
ばならないという問題点、および定量化に労力と時間を
要するという問題点があった。
ばならないという問題点、および定量化に労力と時間を
要するという問題点があった。
本発明になる撮像歪測定装置は、所定ピッチの平行な直
線縞によって構成され該縞の方向が相互に直交する二つ
の検査パターンを撮像装置によって観測して得られる観
測データをそれぞれ各検査パターンの座標に対応させて
格納する画像メモリと、前記画像メモリに格納された観
測データを前記各検査パターンの縞と交わる方向にラス
タ走査により読み取って前記検査パターンの縞の縁線を
検出する縁線検出モジュールと、前記二つの検査パター
ンの各々に対し前記縁線検出モジュールによって検出さ
れる縁線の交点の座標を検出する交点検出モジュールと
を備えることにより、前記問題点の解消を図ったもので
ある。
線縞によって構成され該縞の方向が相互に直交する二つ
の検査パターンを撮像装置によって観測して得られる観
測データをそれぞれ各検査パターンの座標に対応させて
格納する画像メモリと、前記画像メモリに格納された観
測データを前記各検査パターンの縞と交わる方向にラス
タ走査により読み取って前記検査パターンの縞の縁線を
検出する縁線検出モジュールと、前記二つの検査パター
ンの各々に対し前記縁線検出モジュールによって検出さ
れる縁線の交点の座標を検出する交点検出モジュールと
を備えることにより、前記問題点の解消を図ったもので
ある。
すなわち、第１図（′ｂ）および（Ｃ１に例示するよう
に。
に。
等ピッチで平行な黒白の直線縞によって構成され。
縞の方向が相互に直交する二つの検査パターンを。
それぞれ被検査用の撮像装置によって観測し、それぞれ
検査パターンと同じ座標を用いて画像メモリに−たん格
納する。
検査パターンと同じ座標を用いて画像メモリに−たん格
納する。
この′あと２画像メモリの内容を、それぞれ、縞と交わ
る方向にラスタ走査によって読取り、縞の縁線に対応す
る部分、すなわち、黒から白に変わる部分および白から
黒に変化する部分を検出することによって、それぞれ、
第１図（ｄ＋および（ｅ）のような線図形を求める。
る方向にラスタ走査によって読取り、縞の縁線に対応す
る部分、すなわち、黒から白に変わる部分および白から
黒に変化する部分を検出することによって、それぞれ、
第１図（ｄ＋および（ｅ）のような線図形を求める。
次に、第１図（ｄ）および（ｅ）のような線図形の交点
（第１図（ｆ）参照）の座標値を求め、それぞれの点を
、観測歪が無い場合に得られる筈の点、すなわち第１図
（ｂ）のように置いた検査パターンと同（Ｃ）のように
置いた検査パターンとを重ねたときの各縁線の交点とし
て与えられる各点（第１図（ｇｌ参照）とを結び、その
結果得られる第２図（ｈ）に示すような歪ベクトルによ
って、各部における観測歪を定量的に表すようにしたも
のである。
（第１図（ｆ）参照）の座標値を求め、それぞれの点を
、観測歪が無い場合に得られる筈の点、すなわち第１図
（ｂ）のように置いた検査パターンと同（Ｃ）のように
置いた検査パターンとを重ねたときの各縁線の交点とし
て与えられる各点（第１図（ｇｌ参照）とを結び、その
結果得られる第２図（ｈ）に示すような歪ベクトルによ
って、各部における観測歪を定量的に表すようにしたも
のである。
以下に本発明の要旨を第１図（ａ）に示す実施例によっ
て具体的に説明する。
て具体的に説明する。
第１図（ａｌは本発明−実施例の構成を示すブロック図
であり、第２図と共通する符号は同一対象を指す他、４
はラスタ走査によって得られる撮像装置２の出力を２値
化する２値化モジユール、５は２値化モジユール４の出
力を後記第一の画像メモリ６１と第二の画像メモリ６２
との何れかに切り換える切換えスイッチ、６１は第１図
（ｂ）の検査パターンを撮像装置２によって観測して得
られる観測データを第１図（ｂ）の検査パターンの座標
に対応させて格納する第一の画像メモリ、６２は第１図
（Ｃ１の検査パターンを撮像装置２によって観測して得
られる観測データを第１図（Ｃ）の検査パターンの座標
に対応させて格納する第二の画像メモリである。
であり、第２図と共通する符号は同一対象を指す他、４
はラスタ走査によって得られる撮像装置２の出力を２値
化する２値化モジユール、５は２値化モジユール４の出
力を後記第一の画像メモリ６１と第二の画像メモリ６２
との何れかに切り換える切換えスイッチ、６１は第１図
（ｂ）の検査パターンを撮像装置２によって観測して得
られる観測データを第１図（ｂ）の検査パターンの座標
に対応させて格納する第一の画像メモリ、６２は第１図
（Ｃ１の検査パターンを撮像装置２によって観測して得
られる観測データを第１図（Ｃ）の検査パターンの座標
に対応させて格納する第二の画像メモリである。
７１および７２は、それぞれ１画像メモリ６１および画
像メモリ６２に格納された観測データを検査パターンの
縞と交わる方向にラスタ走査により読み取って検査パタ
ーンの縞の縁線を検出する縁線検出モジュール、また、
８１および８２は、それぞれ縁線検出モジュール７１お
よび同７２の出力を、それぞれ第１図山）および（Ｃ１
の検査パターンの座標に対応させて格納する画像メモリ
である。
像メモリ６２に格納された観測データを検査パターンの
縞と交わる方向にラスタ走査により読み取って検査パタ
ーンの縞の縁線を検出する縁線検出モジュール、また、
８１および８２は、それぞれ縁線検出モジュール７１お
よび同７２の出力を、それぞれ第１図山）および（Ｃ１
の検査パターンの座標に対応させて格納する画像メモリ
である。
９は２画像メモリ８１に格納された縁線と画像メモリ８
２に格納された縁線との交点の座標を検出する交点検出
モジュール、また１０は、交点検出モジュール９によっ
て得られる各交点の座標を、それぞれ撮像装置２に観測
歪が無い場合に得られる筈の各交点の座標と結ぶことに
よって歪ベクトルを求める歪算出モジュールである。
２に格納された縁線との交点の座標を検出する交点検出
モジュール、また１０は、交点検出モジュール９によっ
て得られる各交点の座標を、それぞれ撮像装置２に観測
歪が無い場合に得られる筈の各交点の座標と結ぶことに
よって歪ベクトルを求める歪算出モジュールである。
すなわち２画像メモリ６１および同６２には、それぞれ
第１図（′ｂ）および（Ｃ１のような検査パターンを観
測したときに得られる観測データが２値データとして格
納され２画像メモリ８１および同８２には、Ｊｃれぞれ
第１図（ｄｌおよび（ｅ）のような縁線のパターンが格
納される。
第１図（′ｂ）および（Ｃ１のような検査パターンを観
測したときに得られる観測データが２値データとして格
納され２画像メモリ８１および同８２には、Ｊｃれぞれ
第１図（ｄｌおよび（ｅ）のような縁線のパターンが格
納される。
また、交点検出モジュール９では、第１図（ｆ）のよう
な１画像メモリ８１に格納される縁線のパターンと８画
像メモリ８２に格納される縁線のパターンとの各交点が
得られ、歪算出モジュール１０では。
な１画像メモリ８１に格納される縁線のパターンと８画
像メモリ８２に格納される縁線のパターンとの各交点が
得られ、歪算出モジュール１０では。
これらを第１図（尊のようなパターンの各交点とを比較
することによって、第１図（ｈ）に例示するような歪ベ
クトルが得られる。
することによって、第１図（ｈ）に例示するような歪ベ
クトルが得られる。
なお、交点検出モジエール９では、第１図（１）に例示
するように、第１図（ｆ）のパターンの座標上に。
するように、第１図（ｆ）のパターンの座標上に。
第１図（ｇｌのパターンの中の互いに交差する一つ置き
の２本の線によって構成される正方形ＡＢＣＤを設定し
、その範囲内で交差する縁線パターンＸおよびＹを、そ
れぞれ端点を結ぶことによって鎖線のように直線に近似
し、これらの直線の交点を求めることにより、簡単な処
理によって各縁線パターンの交点を求めることができる
。
の２本の線によって構成される正方形ＡＢＣＤを設定し
、その範囲内で交差する縁線パターンＸおよびＹを、そ
れぞれ端点を結ぶことによって鎖線のように直線に近似
し、これらの直線の交点を求めることにより、簡単な処
理によって各縁線パターンの交点を求めることができる
。
また、上記実施例では２組の縁線検出モジュール７１お
よび同７２を設けているが、これらを一つにして共用す
ることも出来る。
よび同７２を設けているが、これらを一つにして共用す
ることも出来る。
以上説明したように９本発明によれば、従来例例に比し
て労力および時間を要することなく、撮像装置の企を平
面上の多数の点で定量化して求めることができる。
て労力および時間を要することなく、撮像装置の企を平
面上の多数の点で定量化して求めることができる。
第１図（ａ）は本発明一実施例のブロック図。
図中。
２は撮像装置、６１と６２は画像メモリ。
７１と７２は縁線検出モジュール。
第 （図
ｃｄ） （ｅ）
第 （図
Claims (1)
- 所定ピッチの平行な直線縞によって構成され該縞の方向
が相互に直交する二つの検査パターンを撮像装置によっ
て観測して得られる観測データをそれぞれ各検査パター
ンの座標に対応させて格納する画像メモリと、前記画像
メモリに格納された観測データを前記各検査パターンの
縞と交わる方向にラスタ走査により読み取って前記検査
パターンの縞の縁線を検出する縁線検出モジュールと、
前記二つの検査パターンの各々に対し前記縁線検出モジ
ュールによって検出される縁線の交点の座標を検出する
交点検出モジュールとを備えることを特徴とする撮像歪
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59229310A JPS61109179A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 撮像歪測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59229310A JPS61109179A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 撮像歪測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61109179A true JPS61109179A (ja) | 1986-05-27 |
Family
ID=16890132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59229310A Pending JPS61109179A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 撮像歪測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61109179A (ja) |
-
1984
- 1984-10-31 JP JP59229310A patent/JPS61109179A/ja active Pending
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