JPS61107120A - 輝度計測装置 - Google Patents

輝度計測装置

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JPS61107120A
JPS61107120A JP22940484A JP22940484A JPS61107120A JP S61107120 A JPS61107120 A JP S61107120A JP 22940484 A JP22940484 A JP 22940484A JP 22940484 A JP22940484 A JP 22940484A JP S61107120 A JPS61107120 A JP S61107120A
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brightness
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JP22940484A
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Shigeru Horii
滋 堀井
Teruaki Shigeta
照明 重田
Yoshiharu Osaki
吉晴 大崎
Hideo Nishiyama
西山 英夫
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レンズ式の輝度計測装置に関するものである
従来例の構成とその問題点 近年、輝度計測の分野においては、低輝度レベルの計測
が増大し、しかも計測対象にくらべその周辺輝度が大き
い計測対象の輝度を精度よく計測することが要求されて
いる。
以下、従来の輝度計測装置について説明する。
第3図は従来の輝度計測装置tの概略図を示すものであ
り、1は計測対象、2は対物レンズ、3は受光器、4は
計測視野を決めるアパーチャである。
計測対象1の像が対物レンズ2によりアパーチャ4面上
に形成され、アパーチャ4で制限された計測視野内の光
を受光器3に導き、光戒変換され計測対象の輝度を計測
する。しかしながら、上記のような構成の輝度計測装置
では、計測対象1の輝度L1が低い場合、計測対象10
周辺に存在する高譚度部分の影響が無視できなくなるこ
とがある。
第3図において、計測対象1の周辺に輝度Lnなる発光
面1aが存在したとする。結像系では、発光面1aの像
はアパーチャ4でカットされ、受光器3の出力には発光
面1aの影響を受けない。
しかし、対、吻レンズ2では対物レンズに入射した光が
何1図で5に示す矢印方向に対物レンズ表面で反射され
、さらに内部ではレンズ材料粒子により散乱される。そ
して、散乱光の一部はアパーチャ4を通って受光器3に
到達し、輝度計測時の誤差となる。計測対象1が対物レ
ンズ2によりアパーチャ4面上に結像されたときの像面
照度をEdlとし、発光面1aからの光で対物レンズ7
で散乱され、アパーチャ4面に到達する光による照度を
Ednとする。散乱光による像面照度は実際には、計測
対象1を含6周辺の発光面(2次発光面も含む)すべて
の合計値ΣEdn  となる。従来は、計測対象1の輝
度L1が視野内において比較的高い場合が多く、その結
果、Edl)ΣEdn−なる関係が成立し、この故物ン
ンズ2内の散乱による計測誤差は無視できる程度であっ
た。しかし、計測対象1の輝度L1が低くなシ、発光面
1aの輝度Luが高くなってくると、ΣEdn がEd
、  に対して無視できなくなり、正確な輝度計測がで
きなくなる。
この問題点を改善するために、対物レンズに遮光筒を取
り付は計測対象外からの入射光を低減することが行なわ
れていたが、この構成では、計測対象から遠くはなれた
発光面に対しては若干の効果があるものの、計測対象の
近傍に高輝度発光面があったときは、計測誤差を除去で
きなかった。
発明の目的 本発明は、上記従来の問題点を解消するものであり、計
測対象を含む周辺に発光面があった場合でも輝度値を正
確に計測できる輝度計測装置を提供することを目的とす
る。
発明の構成 本発明の輝度計測装置は、輝虻計測系の対物レンズに視
野内からの直接光を受光しないように配置した第2の受
光器と、第2の受光器出力から輝度計測光学系内で生ず
る先幕輝度値を求める光幕輝度変換部と、輝度計測系の
計測輝度値から先幕輝度値を減する減算@路とを備えた
構成であり、対物レンズ内の入射光による散乱光を第2
の受光器で計測し、この計測値をもとにして輝度計測値
を補正して正確な輝度計測ができるものである。
実施例の説明 第1図は本発明の実施例における輝度計測装置の構成図
であり、第2図は同受光部分の詳細図である。第1図、
第2図において、6は計測対象、7は対物レンズ、8は
対物レンズ7の側面に取付けられた遮光筒16に設けら
れた嬉2の゛受光器、9はアパーチャ、1oは第1の受
光器、11は第2の増幅器、12は第1の増幅器、13
は先幕輝度係数発生部13bと乗算器13aからなる光
幕輝度変換部、14は減算回路、15aは遮光スリット
である。
以上の構成要素からなる本実施例の輝度計測装置におい
て、以下その動作を説明する。
計測対象6は、対物レンズ了でアパーチャe上に結像さ
れ、アパーチャ9で制−された視野内の光のみが第1の
受光器1oで電気信号に変換される。ここで、計測対象
6の輝度をLl  とすると、計測対象6によるアパー
チャ9上の像面照度Ed1ば、 Ed4.=f (Ll)       ・・・・・・・
・・・・・(1)となり、輝度L1 の1関数として与
えられる。計測対象6の周辺に輝度Lnなる発光面が存
在するとき、この発光面から出た光が対物レンズ7内で
散乱し、アパーチャ9面上に先幕となって加算される。
すなわち、像面照度Edば Ed=Ed1+1Edn =f(Ll)十Σf(Ln)  ・・・・・・・・・・
・・(2)となる。(2)式で第2項目は計測対象の周
辺からの光のうち対物レンズ7に入射するものすべてに
ついて加算したものである。なお、計測対象6からの光
による先幕輝度も存在するが、この値は計測対象輝度に
くらべて十分小さく問題とならない。
対物レンズ7に入射した光は、対物レンズT内であらゆ
る方向へ散乱され、この散乱光により対物レンズ自体が
均一に輝いた状態、すなわち2次的な発光面(輝度面)
となる。この輝度面から出た光が、アパーチャ9゛、第
1の受光器10に到達して、(2)式の嬉2項を形式し
計測対象輝度の真の測定を妨げる。、第2図で、第2の
受光器8は、対物レンズ7の側面7aに複数個の遮光ス
リン)15aを有した遮光筒15を介して取付けられて
おり、第2図&で示すような視野周辺からの直接光が第
2の受光器8に直接入射しないように構成されている。
また、遮光筒15の長さや遮光スリットの数、第2の受
光器への入射光面積を制御したり、第2の受光器8の光
軸と輝度計測系の光軸とのなす角θをθ〈9o0 とす
れば、上記直接光の防止が確実にできる。この着果、第
2の受光器8への入射光は対物ンンズ7内で散乱により
生ずる先幕輝度面からの光のみを受光することができる
。すなわち、第2の受光器8では、対物レンズ7内光幕
輝度によって第1の受光器1o上に生ずる照度レベルに
比例した値を計測することができる。
次に、第1の受光器1oは第1の増幅器12で電圧信号
に変換される。実施例では、演算増幅器の電流−電圧変
換回路を用いた例を示している。
一方、第2の受光器8は第2の増幅器11で電圧信号に
変換される。実施例では、演算増幅器の電流−電圧変換
回路を用いた例を示している。第2の増幅器11の出力
は光幕輝度変換部13に送られる。光幕輝度変換部13
の先幕輝度係数発生部13bは第2の受光器8の出力値
を第1の受光器1Q上に生ずる先幕輝度に変換する比例
定数を発生する。そして光幕輝度変換部13は1.この
先幕輝度係数発生部13bからの信号と、第2の増幅器
11の出力とを乗算してΣEdn  を出力する。
このΣEdn は第1の受光610に入射する先幕輝度
値を表わすものである。
次に、減算回路14では、第1の増幅器12からの出力
、すなわち輝度計測系の輝度信号から先幕輝度信号を減
算する。第1の増幅器12の出力は計測対象の輝度真値
LTと、先幕輝度値LBとの加算値であり、一方光幕輝
度変換部13の出力が先幕輝度L33であることから減
算回路14の出力は計測対象輝度の真値L・rを表わす
。実施例では減算回路として演算増幅器の差動増幅回路
を用いた例を示している。
以上のように、本実施例によれば、輝度計測系内対物レ
ンズの側直に対物レンズ内の散乱光のみを計測する第2
の受光器と、この第2の受光器出力をもとに対物レンズ
内における先幕輝度を算出する光幕輝度変換部と、計測
輝度から先幕輝度を減算する減算回路とを設けることに
よシ、計測対象の周囲の発光面からの入射光による計測
誤差をなくすることができる。
なお、実施例において光幕輝度変換部13は乗算器13
aを用いた例を示したが、増幅度が変化するような増幅
器を用いても実現できる。この場合、第2の増幅器11
と光幕輝度変換部13を1つにまとめることができる。
発明の効果 本発明の輝度計測装置は、第2の受光器と、光幕輝度変
換部と、減算回路を設けることにより先幕輝度を第1の
受光器から得られる計測対象輝度から減算することがで
きるだめ、計測対象輝度がその周辺輝度よりも低い場合
、輝度計測光学系内で生ずる先幕輝度を除去し、計測対
象の輝度を正確だ計測することができその効果は大なる
ものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における輝度計測装置の構成図
、第2図は同受光部分の詳細図、第3図は従来の輝度計
測装置の概略図である。 7・・・・・・対物レンズ、8・・川・第2の受光器、
1゜・・・・・・第1の受光器、9・・・・・・アパー
チャ、11・・・・・・第2の増幅器、12・・・・・
・第1の増幅器、13・・・・・・光幕輝度変換部、1
4・・・・・・減算回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 対物レンズ、計測対象視野を制限するアパーチャ、第1
    の受光器および第1の増幅器からなる輝度計測系と、輝
    度計測系内対物レンズに視野内からの直接光を受光しな
    いように配置した第2の受光器と、第2の受光器からの
    信号を増幅する第2の増幅器と、第2の増幅器出力から
    対物レンズ内で生ずる散乱光幕を求める光幕輝度変換部
    と、前記輝度計測系出力から前記光幕輝度変換部出力を
    減算する減算回路とから構成した輝度計測装置。
JP22940484A 1984-10-31 1984-10-31 輝度計測装置 Granted JPS61107120A (ja)

Priority Applications (1)

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JP22940484A JPS61107120A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 輝度計測装置

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JP22940484A JPS61107120A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 輝度計測装置

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Publication Number Publication Date
JPS61107120A true JPS61107120A (ja) 1986-05-26
JPH042891B2 JPH042891B2 (ja) 1992-01-21

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ID=16891676

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JP22940484A Granted JPS61107120A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 輝度計測装置

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