JPS6110704A - 電子部品の異常品検出方法 - Google Patents
電子部品の異常品検出方法Info
- Publication number
- JPS6110704A JPS6110704A JP13276384A JP13276384A JPS6110704A JP S6110704 A JPS6110704 A JP S6110704A JP 13276384 A JP13276384 A JP 13276384A JP 13276384 A JP13276384 A JP 13276384A JP S6110704 A JPS6110704 A JP S6110704A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- pair
- electronic component
- capacities
- capacitance
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、コンデンサやバリスタ、サーミスタ等の一般
電子部品の、主として厚み不良を自動的に検出するため
の方法に関する。
電子部品の、主として厚み不良を自動的に検出するため
の方法に関する。
（従来波＃ｉ）
たとえばセラミックコンデンサなどの製造工程では、第
３図に示したように、先端部が交叉されたＵ字状リード
線１の前記交叉部にユニット２を自動機により挟み込む
ことが行なわれる。このユニット２は通常１個づつ挟ま
れるが＜ａ、３ときとして２個重なり合った状態で挟ま
れる（ｂ）ことがある。この２＠のユニットが挟まれた
ものは当然異常品であり、取り除く必要がある。
３図に示したように、先端部が交叉されたＵ字状リード
線１の前記交叉部にユニット２を自動機により挟み込む
ことが行なわれる。このユニット２は通常１個づつ挟ま
れるが＜ａ、３ときとして２個重なり合った状態で挟ま
れる（ｂ）ことがある。この２＠のユニットが挟まれた
ものは当然異常品であり、取り除く必要がある。
（発明が解決しようとする問題点）
ところで一般的に、電子部品の外観を選別するにはイメ
ージセンサ等の光学的自動外道装置を使用することが行
なわれるが、これは比較的３次元的識別能力が不足する
ため、上記のような厚み不良品を正確に選別することが
できなかった。このため目視による選別を余儀なくされ
、完全自動化が事実上できないという問題があった。
ージセンサ等の光学的自動外道装置を使用することが行
なわれるが、これは比較的３次元的識別能力が不足する
ため、上記のような厚み不良品を正確に選別することが
できなかった。このため目視による選別を余儀なくされ
、完全自動化が事実上できないという問題があった。
（問題点を解決するための手段）
て電子部品の厚み異常品を良好に選別できるものであっ
て、電子部品を、離隔して配置される一対の電極間にこ
の一対の電極に当接されないように設冒し、各電極と電
子部品間の静電容量をそれぞれ検出し、これらの静電容
量を一対の電極間において直列容量として認識するよう
にしたことを特徴とするものである。
て、電子部品を、離隔して配置される一対の電極間にこ
の一対の電極に当接されないように設冒し、各電極と電
子部品間の静電容量をそれぞれ検出し、これらの静電容
量を一対の電極間において直列容量として認識するよう
にしたことを特徴とするものである。
（作用）
その結果一対の電極間で認識された直列容量の値が、正
常な厚みの電子部品の場合と、異常な−厚みの場合とで
は異なり、所定の値から外れた値の電子部品を異常品と
して確実に選別できるのである。
常な厚みの電子部品の場合と、異常な−厚みの場合とで
は異なり、所定の値から外れた値の電子部品を異常品と
して確実に選別できるのである。
（実施例）
以下に本発明を図面を参照しつつ具体的に説明する。
第１図に示したものは、本発明に用いられる検出装置の
一例の概念図である。図において１０．１１は互いに一
定間隔を偏てて平行配置された一対の子部品で、誘電体
１３０両面・に電極１４．１４が付与され、電極１４．
１４にれぞそれリード線１５．１５が取り付けられたも
のである。このような状態で一対の電極１０．１１間に
電圧を印加し、各電極１０．１１と電子部品１２の対向
面との間の静電容量を検出する。
一例の概念図である。図において１０．１１は互いに一
定間隔を偏てて平行配置された一対の子部品で、誘電体
１３０両面・に電極１４．１４が付与され、電極１４．
１４にれぞそれリード線１５．１５が取り付けられたも
のである。このような状態で一対の電極１０．１１間に
電圧を印加し、各電極１０．１１と電子部品１２の対向
面との間の静電容量を検出する。
、て１５．１５は短絡されておることにより、電子部品
１２の両電極１４．１４および各リード線１５．１５は
同一電位となり、電子部品１２の誘電体１３内も同一電
位となる。結果として電子部品１２自体には静電容量が
発生しないため、一対の電極１０．１１間には、一方の
電極１０と電子部品１２の、対向面間の気体及び液体層
を誘電体とする容量Ｃ１と、他方の電極１１と電子部品
１２の他方の対向面間の気体及び液体層を誘電体とする
容量Ｃ２どの直列容量が検出されることになる。そして
この検出された直列容量の値によって正常晶、異常品を
選別するのである。
１２の両電極１４．１４および各リード線１５．１５は
同一電位となり、電子部品１２の誘電体１３内も同一電
位となる。結果として電子部品１２自体には静電容量が
発生しないため、一対の電極１０．１１間には、一方の
電極１０と電子部品１２の、対向面間の気体及び液体層
を誘電体とする容量Ｃ１と、他方の電極１１と電子部品
１２の他方の対向面間の気体及び液体層を誘電体とする
容量Ｃ２どの直列容量が検出されることになる。そして
この検出された直列容量の値によって正常晶、異常品を
選別するのである。
次に第２図に示したように、一対の電極１０．１１間に
２個の誘電体１３が重なり合った電子部品１２′が設置
されると、電子部品１２−と一対の電極１０．１１との
間隔が狭くなるため、結果として検出される直列容量（
Ｃ３＋０４ ）は第１図のものに比べて大きくなる。そ
して一定の容量値をあらかじめ設定しておけば、この容
量値を外れるものは異常品として認識でき、異常品の選
別を容易に行なえるのである。
２個の誘電体１３が重なり合った電子部品１２′が設置
されると、電子部品１２−と一対の電極１０．１１との
間隔が狭くなるため、結果として検出される直列容量（
Ｃ３＋０４ ）は第１図のものに比べて大きくなる。そ
して一定の容量値をあらかじめ設定しておけば、この容
量値を外れるものは異常品として認識でき、異常品の選
別を容易に行なえるのである。
本発明においては、一対の電極と電子部品閤の直列接続
される静電容量の大小によって異常品を検出するもので
あるから、電子部品の一対の電極間における相対位置が
多少変化しても、検出される容量は一定となるため、常
に安定な検出が行なえる。
される静電容量の大小によって異常品を検出するもので
あるから、電子部品の一対の電極間における相対位置が
多少変化しても、検出される容量は一定となるため、常
に安定な検出が行なえる。
なお上記の説明および図面には、正常晶と異常品とを、
誘電体の個数によって表わしたが、これに限らず、たと
えば誘電体の厚みが大きくばらついているものや、リー
ド線を取り付ける半田の盛り量が不均一なものの場合で
あっても、良好に検出できることが容易に理解できよう
。また前記一対の電極の表面に絶縁層１６を設けておき
、電子部品が設置されたときに誤って接触したりしても
正常に検出できるようにするようなことは適宜性ない得
る。
誘電体の個数によって表わしたが、これに限らず、たと
えば誘電体の厚みが大きくばらついているものや、リー
ド線を取り付ける半田の盛り量が不均一なものの場合で
あっても、良好に検出できることが容易に理解できよう
。また前記一対の電極の表面に絶縁層１６を設けておき
、電子部品が設置されたときに誤って接触したりしても
正常に検出できるようにするようなことは適宜性ない得
る。
（発明の効果）
以上のように本発明電子部品の異常品検出方法は、検査
される電子部品を設置する一対の電極間における直列容
量により、異常を検出できるようにしているので、連続
して自動的に検出を行なうことができ、製造ラインにお
ける完全自動化を達成できる。また直列容量の値による
検出を行なっているので、高速における連続検出も可能
となり、大幅なコストダウンが実現できる。さらに従来
のような目視による検出で生じるボカミスも完全になく
すことができ、品質向上が図れる等、効果多大である。
される電子部品を設置する一対の電極間における直列容
量により、異常を検出できるようにしているので、連続
して自動的に検出を行なうことができ、製造ラインにお
ける完全自動化を達成できる。また直列容量の値による
検出を行なっているので、高速における連続検出も可能
となり、大幅なコストダウンが実現できる。さらに従来
のような目視による検出で生じるボカミスも完全になく
すことができ、品質向上が図れる等、効果多大である。
第１図、第２図は本発明方法において用いる検出装置の
概念図、第３図はいずれも一般的な電子足 部品の形態をＩ！ｉ′を斜視図である。
概念図、第３図はいずれも一般的な電子足 部品の形態をＩ！ｉ′を斜視図である。
Claims (1)
- 気体及び液体空間に於て、一定間隔を隔てて互いに平
行配置してなる一対の電極間に、この一対の電極に当接
されないように電子部品を設置し、一対の電極のそれぞ
れと電子部品の対向面間の静電容量を検出し、これらの
静電容量を一対の電極間において直列容量として認識す
るようにしたことを特徴とする電子部品の異常品検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13276384A JPS6110704A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 電子部品の異常品検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13276384A JPS6110704A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 電子部品の異常品検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6110704A true JPS6110704A (ja) | 1986-01-18 |
Family
ID=15088980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13276384A Pending JPS6110704A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 電子部品の異常品検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6110704A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9821151B2 (en) | 2014-12-17 | 2017-11-21 | Zevex, Inc. | Infusion pump cassette having finger-bypassed in-line occluder |
-
1984
- 1984-06-26 JP JP13276384A patent/JPS6110704A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9821151B2 (en) | 2014-12-17 | 2017-11-21 | Zevex, Inc. | Infusion pump cassette having finger-bypassed in-line occluder |
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