JPS6088307A - 非接触長さ計測装置 - Google Patents

非接触長さ計測装置

Info

Publication number
JPS6088307A
JPS6088307A JP19527783A JP19527783A JPS6088307A JP S6088307 A JPS6088307 A JP S6088307A JP 19527783 A JP19527783 A JP 19527783A JP 19527783 A JP19527783 A JP 19527783A JP S6088307 A JPS6088307 A JP S6088307A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
camera
size
circuit
contact length
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP19527783A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0629699B2 (ja
Inventor
Hisayoshi Sato
壽芳 佐藤
Kazuhiko Takesa
竹佐 和彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Science and Technology Agency
Shingijutsu Kaihatsu Jigyodan
Original Assignee
Research Development Corp of Japan
Shingijutsu Kaihatsu Jigyodan
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Research Development Corp of Japan, Shingijutsu Kaihatsu Jigyodan filed Critical Research Development Corp of Japan
Priority to JP58195277A priority Critical patent/JPH0629699B2/ja
Publication of JPS6088307A publication Critical patent/JPS6088307A/ja
Publication of JPH0629699B2 publication Critical patent/JPH0629699B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/08Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は回転中の円板、円筒等の直圧を非接触測定す
る装置、特に光学縁によって測定する装置に関する。
機誠工作において円筒形状加工物の占める割合龜大きく
、その直圧を加工中に梢肚よく自動的に測定しうる技術
がめられている。
直圧測定法のうち、古くから険相されているノギス、マ
イクロメータは信頼性、精度の高い側矩法であるが、自
動化は困難である。直圧が既知の小さいローラー會測足
対象に押しつけ、回転数の比を用いて対象の直圧をめる
方法は、鞘区が尚く、自動化にも適すると考えられたが
、適切な咽擦力を維持することが困難であシ、実用化さ
れていない。レーザー光ケ円筒状別王物の軸に垂直な断
面内で走揄:し、光が加工物にあたって遮ぎられる区間
を検出して直圧をめることもヤ丁なわれているが、対象
にできる直圧り大きさが限られている。
レンズ糸によって光学縁をノし成し、そのはり大きさか
ら直圧をめる方法は、被測定物と光学系どの距離が変化
することにより結@倍率が疾化するという問題がある。
この発明は事態い開口絞シを自するki鐵レンズに対し
てCCD−次元イメージセンサをその焦点位置に固足し
、会焦時vil氷1h率を一定にした結1舘系を被測定
物に対して進退させ、イメージセンサからの信号を処理
することにより合焦嚇■像の大きさをに出することによ
って非接触で被測置物の大きさを測定しようとするもの
である。
更に、C0D−次元イメージセンサは、周知υように倣
小九翫笈換素子が一次元的に配列されたものであるため
、この素子の大きさによって測定精度に限界が生ずるが
、複数のイメージセン丈を用いることによシ、この限界
を超えた鞘変を得ようとするものである。
史にまた、信号処理によシ、自動的にカメラυ会焦位畝
を険出し、必安に応じてこV会焦位屓にカメラを再セン
トすることを可能にしようとするものである。
史にまた、回転体υ−一定角度位置長さを測定すること
によフ、非円形断面OIP!I暫体■形状を、回転を浮
止することなく、非接触で測定可能にしようとするもの
である。
以下、図面を参照して詐軸に説明する。
第1図は、この発明のバt m+4装置の基本的な構成
ケ示し、1はレンズ糸3v結隊位姐にCCL)−次元イ
メージセンサ2をレンズに対して固定して配置した診め
て率純な幇醒■カメラであシ、矢印Y方向に往復動が可
能な工其台等に載置され、被測定物4V)I!1!をイ
メージセンサ2上に結ぶように配設される。5は必替に
Lべ1−て破曲1窒物4の背後に飯かiすることりある
螢光燈であシ、被測定物4が列えは工作磯臥11L沫j
守された丸棒である場合、反射ブCで結除さぜれば被測
定物4■隊は周囲に対してψ」るいものとなり、螢光燈
5′(i−飯いた場合は妃に暗い作となるが、被測定物
4υ外縁を明確にする効果がある。
レンズ糸3υ開臼絞)dが被測定物4υ中心位置とレン
ズ糸3との距離を及び被測定物4の直圧りに比して充分
小さいとき、即ち、主光線による結像関係が近似的に成
立するとき、結謙fこ4=をnl、レンズ系3υ焦点距
輪をf啄■大きさ七Xとしたとき、扱611!足物4υ
L匝りは光学系の幾例学的関t°1、から次式でめらi
Lる。
このような装置においては、カメラlが止しくピントの
合った位歓に甑かれた場合にの会結魅倍率n1が得られ
、いわゆるヒンボケ状態では上式によシ正しい被測定物
4の大きさDをH[測することが出来ない。ピントの合
った状態の鍬の大きさX +−+: 、以下のようにし
て得られる。
CCI)−次元イメージセンサハ、絢知のように重速で
祁勤されるクロックパルスによって走査され、百〇輝度
レベルに準じて各素子からグイチオパルス侶号が発生さ
れる。図示のように虻測定物4の背後に螢光短5を欝い
た場合は、被測定物4の@は暗部、すなわちグイデオバ
ルス信号が発生しない状態、これをはずれた所で明部、
すなわちヴイデオパルスfg号が発生する状鵬としてと
らえられる。反射光による鐵ではその逆となることは云
う迄もない。このパルス信号は以下のように処理される
第2図(B) vハルス匍号はCCDイメージセン? 
2 (D走査クロックパルスが、その一端から走査を始
めるときに出されるパルスで、t□NTt=を走査のく
シ返し間隔を定める。Ii=」図(b)は走査クロック
パルスであり、これによって′2!r累子■ヴイテオ色
号が発生される。
同図(C)はヴイデ第1百号波形を示し、例えば被側足
物■隊区IMJに均してHレベル、木から外れる外縁部
では一般に傾斜部A、BをもちLレベルに移行する。
このグイデオ信号に対してしきい電圧Vtlを設定し、
とのVtlを越えるときに対応して同図(d)のような
矩形波を発生さぜ、Hレベルの継続時間tl内に計数さ
れる走査クロックパルスの数C1を計数する。イメージ
センサ2の素子間隔りは既知であ−るので、 X=、P
Gz からXがめられ、このXと、あらかじめ大きさの
わかっている対象で較正されている結鍬陪率mとから、
被測定物の大きさDがめられる。
上述のように、上記の関係はピントの会った状態でなけ
れば成立しない。この合焦の判断は以下のように行なわ
れる。
合焦時は第2図(e)のグイデオ信号の傾斜部A。
Bが最も急峻になる。そこで、同図(C)のヴイデ第1
h号にたいして先のVLIよυ尚いしきい電圧vt2を
直走し、同図(e)のように(d)とはレベルが反転す
る矩形波を発生させ、(d) (e)の両組1し波のA
NDをとることによって同図V)に示す2つのパルスf
N号を発生させる。そして、このパルス幅t5、L、v
:)f!tに含1れるクロックパルス数C2をδ1数す
る。カメラ1を被測定物4に対して遠さけ或いFi近づ
けながらパルス数02をδ1数し、これが最小になった
1fL置が合焦位置であυ、正しい倍率mを示す。
m31は、カメラの移動に伴い橡の大きさXを示すパル
ス数C1と会焦状噛を示すパルス数C2変化の状況を示
す。C2が最小となる位tRCcに対応するCXをめる
が、Ccの近傍ではC2の和性はカメラ1と被測定vL
J4との距離tの変化にたいして午担となり、最小匝C
cg)測定部に誤差が大きくなる。
このため、適当な呟Cthを設定し、 Cth ”2 >。
となる軸回t、〜t2のカメラ1の移動領域に対してC
1、C2■データをメそりに記憶し、′&−束めスこk
によh−cつの鹸小賄C1、に対する鐵の長さXを加重
平均的に精度よくめるととカ;ロ■罷になる。
このとき、Ci、hを適切に与えJtは加重乎均する区
間−7石心−が過大になるのを防ぎ、演算の効率を高め
、演算に要する時間も節減することができる。また、同
時に焦点位置も自動的に定めることができる。
第4123は、上述のような信号処理を行うための回路
V)1例である。
CCD−1メージセンサ2は駆動回li!iS6からの
走査クロックパルスによって16 mbされる一方、こ
のクロックパルスは肘畝回till、13の前のゲート
回路10.12に人力される。イメージセンサ2の出力
でをンるヴイデオ信号はしきい電圧■t1、Vt 22
殴定できる!Ii安だ回路7.8に送られ、これらの瞬
安定回路7.8の出力としてそれぞれ第2図(d) (
e)の矩;し談が得られる0準安定回路7の出力はゲー
ト回路10を1ltll帥し、(!!j!■大きさXを
示すクロックツくルス骸C1を計数回路11で行なう。
一方、晧安定回路7.8の出力はAND回路9に入力さ
れ、第2図り)に対応する2つのパルスを発生し、これ
によってゲート回路12を制御し、t3、t4間のクロ
ックツくルスFjy、C2の81数をカウンタ13によ
って行なう。
#1数回路11.13の出力はイメージセンサ2の全素
子の走査開始ごとに出される第2図(a)の間隔tIN
Tごとのパルスごとにインター7ェイス14を通してマ
イクμコンピュータ中央処理装[CPUとこれに附属す
るメモリ20にとυこまれ、市速演′に素子15、浮動
小数点演算素子16との−−によって前記の式によって
被測定物4の大きさを高速で梢寂よくめることが出来る
なお、図中17は操作用のキーボード、18は戎示用の
CRT、19は出力用のツーリンクである。
こV)発明は上記の構叫によって、工作機械等に保持さ
れた円筒Jし状のもの等の被測定物を非接触で測定出来
るので、回転中の工作物を回転を止めることなく高精度
で測定できる。カメラ■レンズ系とイメージセンサの位
置は互に固定されているので、拳純なカメラによって計
則を行うことが出来る。その上、カメラを前後させ、イ
メージセンサの出力1h号の処理によって1焦位置とそ
の像の大きさを自動的に得ることが出来るので、この種
のni側装置につきものの合焦誤差による測定誤差を除
くことか出来る。計速速度が早いので、<シ返し得られ
るデータtl−ヂ均化することによって測定精凹を高め
ることが出来る叫cv顕著な効果を奏する。
しかし、周知のように、CCL)−次元イメージセンサ
は一定長の微小な光電変換素子が配列している構造であ
るため、この1個υ元OA、素子の長さよシ小さい長さ
は分解出来ないこととなシ、特に結像倍率mが小さい場
合に測定n度に問題が生じる場合がある。
このような場合、複数のイメージセンサを互にずらして
配置することによって測定v*ritを上げることが出
来る。第5図は2つのイメージセンサを用いた場合を示
し、2.2のイメージセンサを1九電累子の長さの半分
たけずらして配置する。
@6図はこの1組のイメージセンサによる測定回路g)
i st+を示す。図中21はイメージセンサの駆動回
路、22は第4図に示した11号処理回路をまとめて1
つのブロックとして示したものである。また14は第4
図と同様のインターフェースである。
駆動回路によるクロツクバルヌ走食なまずイメージセン
サ2′に対して行なった後、スイッチS4、S2、S、
を切換えてイメージセンサ2”を走五する。これによっ
てCPUのメモリ中にはセンサ2と2のそれぞれについ
て、先にセンサが1つの場合について説明したと同じデ
ータを蓄積することができる。そして両センブリ測定結
果を乎均することによって光電素子の長さの半分に相当
する相変で測定できることになシ、分解能の向上と共に
合焦位置検出の1h頼aケも上けることができる。
本つとも、この方法が欧州p、I能なのは、センサ2.
2を互いに充分接近させ、測定対象の鐵葡両省の上にI
HJ喝に結ばせることが出来る場合に限られるが、CC
D−次元イメージセンサは充分に小さいので多くの測屋
対象に対して利用可能である。の秦ならず、向えば棒状
加工物件V場合には、必要に応じイメージセンサを更に
増して3不以上とし、分解能を梃に高めることも可能で
ある。
仮測定物に幻してカメラを進退させるため、工具むにカ
メラ′4c塔載するのが便利であるが、工へ台はNC装
置からの指令によシ加工物(被測夏物)に接近あるいは
これから離れる運動をすることが可能である。
第7図は工作機械ベット27上のクロスチーフル26上
υ工興台25上に塔載されたカメラ1v+A念図とこれ
につながる1を号処坦システムを示すONC装flk2
3からの指令によシ、カメラlを塔載した1具む25は
加工物4に接近或いは離れる運動をすることが可能であ
る。一方、1其む25を直朕躯鯛プるサーボモータ24
からNC装置媒23にもどされる工具台の位置対応信号
i、NC駁装23内の私に止めることなく、インターフ
ェース14、マイクロコンピュータバス葡Mb してC
PU内にと)こり、カメラ1■移動にともなって刻々計
算され、長式処理回路22から送られる長さデータと1
6J時にcpu。
ノモリに記憶する。そして、長さデータの拘止干均によ
って台−熱位置をめる際に、工具台の位置対応信号をC
PU内で簡畦な処理によって機−vt+7−散として永
めることを可能にするものである。
これによシ、向えは加工物4の交換等によシカメラを退
避させ、再肚1+す定な丹開する場合等、自動的に迅速
にカメラを前回Q合焦位置に戻し、その前後でカメラを
進退することによって、迎」定速e−’t(上けること
ができる。
梃に、上記実施し0においては、被測定物が回転体でお
る場合性、1転軸に垂直な断面形状が円jしであるとき
にのり測定可能である。しかし、回転体が非円彩υ#J
J会でも、回転角が360毎にυり測定を行なうように
すれは、一定のI!4度位九での長さを映出出来、測定
する角度位置をずらすことにより、非円形回転体の大き
さ、Iし状を測定することが出来る。
そ■−実施向r第8図に示す。被損:j定物である加工
h4の回転軸に設けられたロータリーエンコーダ29か
らは、加工物4の角度位置を示すパルス信号が出力され
る。キーボード17からCPUを介して長さを検出ずべ
き角度位置を入力指定する。こQ指定角にはインターフ
ェース14を/Jiシてパルスセット狐片回路28に与
えられる。U<A−回路28でね、ロータリーエンコー
ダの零位置から発1ム°される絢に位置パルス18号に
よって、セントされたパルスに対して減q、を始め、こ
の結果か零になった時点て枢動(ロ)路6からCCD 
K至る回路のスイッチ82、及びCCUから良さ処IM
Igl路22に至る回路02インチ85を閉じ、クロッ
クパルスによるCCDV)走査とこれに対する出力信号
υ処理迦・t〕なえるようにする。
一方、パルスセット演算回路には、CPUからの指定さ
れていた信号がリセットされる。
走査に対する出力16号は長さ処理回路22を介してC
PU内にとり込まれ記憶される。CODに対するクロッ
クパルスの1回の走査が終ると、走を終了V)信号によ
シ、上記2つのスイッチS4、S5は開かれ請求められ
た長さは加工物4Vある角度位置に対する長さとなる0
ロータリーエンコーダ29が零位置に至ると再び上記の
操作が〈シ返され、CPU=i介して指定された回数だ
け、指定角度位置の長さがめられ、これをCPUによっ
て干物することによシ、よシ高鞘度の長さの検出が可能
となる。
史に、これが終了した(i、CPUによって最初の指定
角直に対して増分の指定、あるいは新たな指定角直を与
えることによシ、上記と回じシ順によって新たな推定角
表位置に対する長さをめることが出来る〇 このようにして、回転中の加工物の任意の角めることが
出来るだけでなく、そのめ[面形状をも容易に得ること
ができる。
なお、円形断m」を結(8)させることによって直圧ヲ
求めるような場合には、二仄元イメージセンサによシ、
隙υ最長部をめることによって直圧を検出することも容
易である。また、イメージセンサはCCDに限られるも
のではなく、歇映出部の走査速度が一定であれは、走査
速度とクロックパルス数とから像の大きさ合決定するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の11測装置の偵成概念図、第2図は
18号処理のタイミングナヤート、第3図は合焦及び歇
の大きさの映出法の説明図、第4図はi11′1111
装徽の回路図、第5図は2つV)CC1)7用いた実施
向■CUD配愼図、第6図はその1ば号処理回路図、第
7図はカメラ位甑恢出機?Aの悔収砒念図、第8図は回
転体■一定角度位置の長さ検出装wi■栴収概念図であ
る。 3:レンズ糸 4:被測定物 5:螢光燈6.21;C
CD駆動回路 7.8:牟安定回蹟 9:AND回路 
10.12:ゲート回路11.13;計数回路 14:
インター7エイス 17:キーボード 22:長さ処理
回路23;NC装m 24ニー11−− ホー11ニー
、J25:工具台 26:クロステーブル 28:パルスセント演算回陥 29:ロータリーコーンコータ゛ 特B′1・出願人 絣技丙−発帛咳団 出願人代〕呈人 弁理士 佐 藤 文 9第1図 Ibl 1冊謂−〜−一一−−一一−−−−一−−−−
一−−−−−−−−第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l)レンズ糸と、これに対して一定位置に1mm出金固
    定したカメラ、被測定物に対し該カメラを合焦位置の前
    後に移動させる装置及び合焦位置における祿検出詣上Q
    1#ρ大きさを検出する装置とからなシ、該鐵の大きさ
    から、光学系V)幾何学的な関保から被測定物の大きさ
    を測定することを%欲とする非接触長さ計測装置 2) #検出器上り鍬の外縁における牌度変化が最大と
    なる位置を検出し、これを合焦位置と判断することt%
    敵とする特許請求の範囲第1項■長さH[副装置 3) カメラ7に合焦位置Q前後に移動させ、隊の外絃
    ■綽度変化が一定の範囲の隊の大きさを加凪平均するこ
    とによυ合焦時のgI(D大きさi得ることを特徴とす
    る特許話求O乾曲第1項の長さ計測装置 4) IMfQ出醋は複数の一次元イメージセンサから
    なり、各イメージセンサを1%成する光IL変換素が互
    にずれるように配置され、各イメージセンサから得られ
    る結果を干物するようにされたことを特徴とする特許請
    求V屹す第1項の非接触長さH1゛側装置 5) レンズ系き、これに対して一定位置に慮険出詣を
    固定したカメラ、該カメラを塔載し合焦位置の前後に被
    測定物に対して往伽勤する台からなシ、合焦位置におけ
    るは検出す上の謙り大きさから、光学系■幾何学的関係
    によって被測定物の大きさを測定すると共に、上記カメ
    ラを塔載した往復動台の位1ffilu号発生装置を設
    け、これによシ合焦位慟:をも炊出可能とした非接触長
    さ計測装置 6)レンズ糸と、これに対して一定位置に微検出に丼を
    一定したカメラ、回転する被測定物に対し該カメラを会
    焦位甑θ前後に移動させる装置、上記回転する被測定v
    lJの回転角検出睦置及び被測定物の一定回転角位置で
    上記e、検出器を駆動する装置からなシ、回転体の一定
    角度位置の大きさを測定することを特徴とする非接触長
    さ計測装置 7)4測する角度位置の指定を順次変艶できることを特
    徴とする特約請求の馳囲第6項の非接触長さ旧劇装置
JP58195277A 1983-10-20 1983-10-20 非接触長さ計測方法及び装置 Expired - Lifetime JPH0629699B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58195277A JPH0629699B2 (ja) 1983-10-20 1983-10-20 非接触長さ計測方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58195277A JPH0629699B2 (ja) 1983-10-20 1983-10-20 非接触長さ計測方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6088307A true JPS6088307A (ja) 1985-05-18
JPH0629699B2 JPH0629699B2 (ja) 1994-04-20

Family

ID=16338480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58195277A Expired - Lifetime JPH0629699B2 (ja) 1983-10-20 1983-10-20 非接触長さ計測方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0629699B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995019542A1 (de) * 1994-01-18 1995-07-20 Bmt Berührungslose Messtechnik Gmbh Verfahren und vorrichtung zur vermessung von exzenterdrehteilen

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53136159U (ja) * 1977-04-04 1978-10-27
JPS5537919A (en) * 1978-09-11 1980-03-17 Ngk Insulators Ltd Automatic outer configuration measurement device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53136159U (ja) * 1977-04-04 1978-10-27
JPS5537919A (en) * 1978-09-11 1980-03-17 Ngk Insulators Ltd Automatic outer configuration measurement device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995019542A1 (de) * 1994-01-18 1995-07-20 Bmt Berührungslose Messtechnik Gmbh Verfahren und vorrichtung zur vermessung von exzenterdrehteilen
US5796485A (en) * 1994-01-18 1998-08-18 Steinheil Industrielle Messtechnik Gmbh Method and device for the measurement of off-center rotating components

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0629699B2 (ja) 1994-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4705401A (en) Rapid three-dimensional surface digitizer
US5670787A (en) Method and apparatus for electro-optically determining the dimension, location and attitude of objects
US5164579A (en) Method and apparatus for electro-optically determining the dimension, location and attitude of objects including light spot centroid determination
JP2995707B2 (ja) 高精度構成要素整合センサ・システム
US4674869A (en) Method and apparatus for electro-optically determining dimension, location and altitude of objects
JPH0357402B2 (ja)
JPS5596406A (en) Device for determining roughness of surface
US10852122B2 (en) Method and arrangement for capturing an object using a movable sensor
US4521113A (en) Optical measuring device
JPS6088307A (ja) 非接触長さ計測装置
JP3098830B2 (ja) 物体形状測定装置
GB2117898A (en) Extracting normal incidence signals in surface roughness measurement
JPS6133442B2 (ja)
SU1508092A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
JPS60111906A (ja) 角度測定方法
SU651390A1 (ru) Фотоэлектрический преобразователь угла поворота вала в код
JPS6248163B2 (ja)
JPH0829131A (ja) 光学式測定装置
SU1221491A1 (ru) Устройство дл измерени плоских углов многогранных призм
JP3051199B2 (ja) 物体形状測定装置
JPS6230931A (ja) 結像光学系の光学性能測定装置
JP2002031509A (ja) 面取り寸法測定方法および測定装置
JPS60162907A (ja) 寸法測定装置
JPS62220802A (ja) 三次元座標測定装置
JPS6360321B2 (ja)