JPS608728A - 光学測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （４）発明の技術分野 不発ＥＩＪｔｒｆ、、コリメータ等によって得られた光
線束が平行光線束になっているか否かを調べるために用
いる光学測定装置に関する。

田）技術の背景 小形のレーザプリンタあるいは光デイスク装置などにお
いてはレーザ光源としてレーザダイオードを用いている
が、レーザダイオードのレーザ射出角度は約数十度あり
、したがって、一般にコリメータを用いて−たん直径数
ミリメートル程度の平行光線束に収束したのちに、記録
データによる変調をおこない、続いて像形成面に対し集
光および走査をおこなっている。

正１確な平行光線を得ることは、レーザエネルギの有効
利用・記録品質の安定化等のために重要であることは言
うまでもない。

そこで、正確な平行光線束を得るためにはレーザダイオ
ードの発光点をコリメータの焦点に対し正確に一致させ
ればよいのであるが、そのため、一般にコリメータによ
りて得られた光線束の平行性を調べなからレーザダイオ
ードの位置を微調整するという方法が用いられている。

（Ｑ　従来技術と問題点 光線束の平行性を調べるため、従来、光ビーム径測定装
置を用い、光線束の光軸上の２点における光線束の径を
測定していた。

しかし、前記光ビーム径測定装置は構造が犬がかりであ
って取扱いが不便であシ、また高価であるなどの欠点が
あった。

０〕）発明の目的 本発明の目的は、／ノ１形・軽量かつ安価であシ、光線
束の平行性を容易に調べることのできる光学測定装置を
得ることにある。

（Ｑ　発明の構成 本発明になる光学測定装置は、受光領域全直線によって
区切られ相互に平行な受光面を有する一対の平面受光素
子と、前記一対の平面受光素子を一体のま＼各々の受光
面に平行な方向に移動する手段と、前記一対の平面受光
素子の一方を他方に対し各々の受光面に垂直方向に相対
移動する手段と、前記一対の平面受光素子の各々の受光
面の受光領域を所定の形状に制限する手段とを備えるも
のである。

（６）発明の実施例 以下、本発明の要旨を実施例によって具体的に説明する
。

第１図（ａ）−（ｂ）および（Ｃ）は本発明一実施例の
構成図を示し、１と２は受光領域を直線ＡＢによって区
切られ相互に平行な受光面を有する一対の平面受光素子
を構成し、１は第一の平面受光素子、２は第二の平面受
光素子、３と４と５と６は一対の平面受光素子すなわち
第一の平面受光素子ｌと第二の平面受光素子２とを一体
のま＼その受光面に平行な方向に移動する手段を構成し
、３は固定テーブル、４は第一の移動テーブル、５は第
一の移動テーブル４を固定テーブル３に対し横方向に移
動する横方向送りねじ、６は第一の移動テーブル４を固
定テーブル３に対し上下方向に移動する上下方向送りね
じ、７と８は一対の平面受光素子の一方すなわち第一の
平面受光素子１を他方すなわち第二の平面受光素子２に
対し各々の受光１ｎ１に垂直方向に相対移動する手段全
構成し、７け第二の移動テーブル、８１−１１前後方向
送りねじ、９と１０は一対の平面受光素子すなわち第一
の平面受光素子１と第二の平面受光素子２の各々の受光
面の受光領域を制限する手段であシ、９は第一の平面受
光素子１に用いる第一のマスク、１０は第二の平面受光
素子２に用いる第二のマスクである。

第一の平面受光素子１は第一の移動テーブル７に固定し
て取付けられ、第二の受光素子２は第一の移動テーブル
４に固定して取９つけられている。

したがって、横方同送シねじ５および上下方向過多ねじ
６によって、第一の平面受光素子１と第二の平面受光素
子２とを一体のま＼、それぞれ横方向および上下方向に
移動することができるほか、前後方向過多ねじ８によっ
て、第２図に示すように、第一の平面受光素子１を第二
の平面受光素子２に対し各々の受光面に垂直方向に相対
移動することができる。

なお、第一の平面受光素子１と第二の平面受光素子２は
、それぞれ第１図（ａ）に示すように各々の受光面を同
一平面上に合わせた状態で、直ｆｉ！ＡＢと直交する直
線ＣＤによって２分されて−る。

また第３図は、第一の平面受光素子１および第二の平面
受光素子２の各々の受光面を前記のように同一平面上に
合わせた状態で、第一のマスク９および第二のマスク１
０を、それぞれ第一の平面受光素子ｌおよび第２の平面
受光素子２に取（”Ｊけた状態を示し、第一のマスク９
のマスク輪郭９−１と第二のマスク１０のマスクＭ郭１
０　１　Ｎ−、、直線ＡＢと直線ＣＤとの交点ＰＫ関し
点対称としている。

次に、前記実施例による光学測定装置ヲ用いて、光線束
が平行であるか・収束するかあるいは発散するかを調べ
る方法について説明する。々お、以下の説明において、
前記直線ＣＤによって２分された第一の平面受光素子１
および第二の平面受光素子２の各部分に対し第４図に示
すような符刊を用いる。

まず、第１図（ａ）に示すように第一の平面受光素子１
と第二の平面受光素子２の各々の受光ｉｆ＋を同一平面
上に合わせた状態で、横方向送ｐねじ５と上下方向送り
ねじ６とを調整し、第５図に示すよウニ、レーザダイオ
ード１１がら射出されコリメ−タ１２によって得らノ′
した光線束の中心を直線ＡＢと直線ＣＤとの交点Ｐに一
致させる。

そのためには、第一の平面受光素子１の１の部分の出力
と第二の平面受光素子２のｊの部分の出力との和が第二
の平面受光素子２のｋの部分の出力と第一の平面受光素
子１のｌの部分の出力との和に等しくなるように横方向
送りねじ５を調整し、このちと第一の平面受光素子１の
ｉの部分の出力と第一の平面受光素子１のｌの部分の出
力との和が第二の平面受光素子２のｊの部分の出力と第
二の平面受光素子２のｋの部分の出力との和に等しくな
るように上下方向送りねじ６を調整すればよい。

この状態のま３次に第一の平面受光素子１および第二の
平面受光素子２に、それぞれ、第一のマスク９および第
二のマスク１０をセゾトするとともに、前後方向送りね
じ８を操作１２、第一の平面受光素子１を第二の平面受
光素子２に対し各々の受光面に垂直方向に任意長相対移
動させる。

この状態で第一の平面受光素子Ｊの出力と第二の平面受
光素子２の出力とを比較し、両者が等しいか・前者が大
きいかあるいは後者が大きいかによって、コリメータ１
２によって得られる光線束は、平行する・収束するある
いは発散するとして判定できる０ レーザダイオード１１から射出されコリメータ１２によ
って得られる光線束の断１＋ｌｎ　Ｉｌ′ｉ、一般に光
軸に関し点対称（一般にはソ楕円）でぶ）るが、前記実
施例のように、紀−の平ａ１１受光素子１および第二〇
平面受光素子２をそれぞれ２分し、横方向送りねじ５を
設け、また第一のマスク９の輪郭９−１と第二のマスク
１０の輪郭１０〜１を点対称とすることによって、レー
ザ光線束が平行光線束か否かを容易に調べることができ
る。

また、レンズ等の光学部品を用いず、受光素早送９槻構
およびマスク等を主要構成品として用いるので、小形・
軽量かつ安価ＶＣ構成することかできる。

（Ｇ）　発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、小形−軽量ｌかつ
安価であり、光線束の平行性を容易に調べることのでき
る光学測定装植が得られる。　。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明一実施例の構成図、第２図は同実施例の
構造説明図、第３図はマスク輪郭に関する説明図、第４
図は千■Ｉ受光素子の構成に関するＭｉｌ明図、第５図
および第６図は用法に関する説明図である〇 図中、ＪＩｌ−ｊ：揶−の平面受光素子、２は第二の平
面受光素子、３は固定デープル、４け第一の移動テーブ
ル、５は横方向送りねじ、６は上下方向送りねじ、７は
第二の移動テーブル、８Ｉ′ｉ前後方向送りねじ、９杜
第−のマスク、１０は第二のマスクである。 υごゴ凹 ￥−１酊 （θ） （拘 峯２霧 准３に 唇−４−閉 秦ろ閉

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）受光領域を直線によって区切られ相互に平行な受
   光面を有する一対の平面受光素子と、前記一対の平面受
   光素子を一体のま＼各々の受光面に平行な方向に移動す
   る手段と、前記一対の平面受光素子の一方を他方に対し
   各々の受光面に垂直方向に相対移動する手段と、前記一
   対の平面受光素子の各々の受光面の受光領域を所定の形
   状に１ＪＩｌｌ＋ｆｆする手段とを備えることを特徴と
   する光学測定装置。
2. （２）前記各々の受光面の受光範囲を制限する形状は相
   互に点対称であることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の光学測定装置。