JPS6086272A - スパツタ装置 - Google Patents
スパツタ装置Info
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- JPS6086272A JPS6086272A JP19334583A JP19334583A JPS6086272A JP S6086272 A JPS6086272 A JP S6086272A JP 19334583 A JP19334583 A JP 19334583A JP 19334583 A JP19334583 A JP 19334583A JP S6086272 A JPS6086272 A JP S6086272A
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- JP
- Japan
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- electrodes
- substrate
- sputtering
- electrons
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
- H01J37/3408—Planar magnetron sputtering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、真空中で薄膜を作製するだめのス・やツク装
置、特に、基板の温度上昇及び損傷を防止することので
きるスノクツ、り装置に関する。
置、特に、基板の温度上昇及び損傷を防止することので
きるスノクツ、り装置に関する。
従来、薄膜を大量に作製するためのス・り、ツタ装置は
、第1図の構成例に見られるように、薄膜イ乍製を行う
ためのス・ぐツタ室10及び基板トレー挿入室20と基
板トレー取出室30の合計3イ固の独立に排気して真空
を維持することが可能な真空室を持っている。3個の真
空室は間にケ゛−ト・ぐルブ22及び32を介して接続
されており1通常、ス/j ツタ室10は真空保管され
、基板トレーの出し入れのだめに基板トレー挿入室20
と基板トレーj[t[3oとがり一/)ぐル少24及び
34によシ犬気開放されたり、排気口23及び33を経
て図示されていないポンプにより矢印e及びfの方向に
真空排気されたりする。基板を挿着した基板l・レー1
1は、先ず基板トレー挿入室20へ収納されて2次いで
入口扉21及びケゞ−トパルブ22を閉じた状態で、排
気口23から図示されていないポンプにより矢印eの方
向へ損気される。基板トレー挿入室20の圧力が充分低
くなった時点でケ゛−トパルプ22が開かれ、基板トレ
ー11は図示されていないレールに載って矢印aの方向
に順次スパッタ室に送シ込まれる。ここで、基板上に薄
膜が形成され、/f+−1−バルブ32を経て矢印すの
方向に送られる。移送された基板は最後に基板トレー取
出室30に送シ込まれ、そこにため込まれる。最初に基
板トレー挿入室20にため込捷れていたすべての基板ト
レー11がスバ、り室10を経由して基板トレー取出室
30に移送された後に。
、第1図の構成例に見られるように、薄膜イ乍製を行う
ためのス・ぐツタ室10及び基板トレー挿入室20と基
板トレー取出室30の合計3イ固の独立に排気して真空
を維持することが可能な真空室を持っている。3個の真
空室は間にケ゛−ト・ぐルブ22及び32を介して接続
されており1通常、ス/j ツタ室10は真空保管され
、基板トレーの出し入れのだめに基板トレー挿入室20
と基板トレーj[t[3oとがり一/)ぐル少24及び
34によシ犬気開放されたり、排気口23及び33を経
て図示されていないポンプにより矢印e及びfの方向に
真空排気されたりする。基板を挿着した基板l・レー1
1は、先ず基板トレー挿入室20へ収納されて2次いで
入口扉21及びケゞ−トパルブ22を閉じた状態で、排
気口23から図示されていないポンプにより矢印eの方
向へ損気される。基板トレー挿入室20の圧力が充分低
くなった時点でケ゛−トパルプ22が開かれ、基板トレ
ー11は図示されていないレールに載って矢印aの方向
に順次スパッタ室に送シ込まれる。ここで、基板上に薄
膜が形成され、/f+−1−バルブ32を経て矢印すの
方向に送られる。移送された基板は最後に基板トレー取
出室30に送シ込まれ、そこにため込まれる。最初に基
板トレー挿入室20にため込捷れていたすべての基板ト
レー11がスバ、り室10を経由して基板トレー取出室
30に移送された後に。
ク
グートバルプ32が閉じられる。さらにリークバルブ3
4が開らかれて大気中におかれる。そして。
4が開らかれて大気中におかれる。そして。
扉31が開かれて基板トレー11を取出すことができる
。スバ、り室lOには7図示されてい々いボンベより矢
印Cの方向にガス尋人孔12を経てガスが導入され、他
方で図示されていないポンプにより排気口13を経て矢
印dの方向に排気される。こめ結果、導入ガス流量と排
気ガス流量が均衡した状態でスパック室内は放電状態を
維持し。
。スバ、り室lOには7図示されてい々いボンベより矢
印Cの方向にガス尋人孔12を経てガスが導入され、他
方で図示されていないポンプにより排気口13を経て矢
印dの方向に排気される。こめ結果、導入ガス流量と排
気ガス流量が均衡した状態でスパック室内は放電状態を
維持し。
スパッタリングを行うのに適した1O−3Torr乃至
2 10 Torrの範囲の予め決められた一定圧力に保た
れる。また、必要によV、スパッタ室内には基板加熱ラ
ンプ17が設けられ、薄膜が形成される前段階で基板ト
レーは熱線の照射を受けて基板の温度が上昇される。ス
パッタ室内には、基板トレーの進行方向に清って3個の
スパッタ電極14!14 ’ 、 14“がその上部に
それぞれターケゞット15゜15’、 15“を取付け
た状態で絶縁体16 + i6’+16“を介して組込
まれ、配置されている。各電極には、それぞれスパッタ
電源41 、41’、、、 41“と電源と電極間の給
電線42 、42’ 、 42“及び電源とアース間の
結線43 、43’ 、 43“からなるスパッタ電源
系が接続され、電力が供給される。基板トレー11は3
個のクーケゞット15 、 i5’ 15“に対面して
順次移動することにより、それぞれのターケ゛ットから
飛来するスパッタ粒子の堆積を受けて基板上に薄膜が形
成される。各ターゲットの材質は用途によシ同質の場合
と異質の場合といずれにしてもよい。なお2図において
、電極数は3個であるが2本発明が有効となるのは2個
以上であって特に数の」二限を定めるものではない。
2 10 Torrの範囲の予め決められた一定圧力に保た
れる。また、必要によV、スパッタ室内には基板加熱ラ
ンプ17が設けられ、薄膜が形成される前段階で基板ト
レーは熱線の照射を受けて基板の温度が上昇される。ス
パッタ室内には、基板トレーの進行方向に清って3個の
スパッタ電極14!14 ’ 、 14“がその上部に
それぞれターケゞット15゜15’、 15“を取付け
た状態で絶縁体16 + i6’+16“を介して組込
まれ、配置されている。各電極には、それぞれスパッタ
電源41 、41’、、、 41“と電源と電極間の給
電線42 、42’ 、 42“及び電源とアース間の
結線43 、43’ 、 43“からなるスパッタ電源
系が接続され、電力が供給される。基板トレー11は3
個のクーケゞット15 、 i5’ 15“に対面して
順次移動することにより、それぞれのターケ゛ットから
飛来するスパッタ粒子の堆積を受けて基板上に薄膜が形
成される。各ターゲットの材質は用途によシ同質の場合
と異質の場合といずれにしてもよい。なお2図において
、電極数は3個であるが2本発明が有効となるのは2個
以上であって特に数の」二限を定めるものではない。
第2図は、第1図におけるス・Q7タ電極14の具体的
な構成を複数のスパッタ電極の代表として示したもので
ある。電極14は電極ハウジング140とその内部に組
込まれた磁石組立50及びターケ゛ット組立15から成
シ、絶縁体16を介してスパッタ室内壁面101に設け
られた開口102から真空側にターケ8ット面151が
露出されるような形状をとり5図示されていない複数の
ネジ類を用いたクランプ機構により取付は固定されてい
る。ターゲット15はターケゞット板1.51及びター
ゲット押え治具152.ターゲット裏板153から成り
1図示されていないボルトによす電極ハウジング140
に固定されている。電極ハウジング内の凹状空間141
内には中心部磁石52.外周磁石53及びヨーク51か
ら成る磁石組立50が組込まれている。更に図示されて
いないが、空間141内にはハウジングの外部から冷却
水を導入、かつ排出してターゲット裏板153に接触せ
しめ、放電を行う際にターグツ、) 151表面に発生
する熱を冷却水を媒介として外部に放出することが望ま
しい。ハウジング140とターゲット裏板153の間の
気密は0リング142によって保たれ、また電極14と
絶縁体16との間の気密は0リング143により、絶縁
体16と真空容器壁】01との間の気密は0リング14
4によってそれぞれ保持される。一方、ターゲット15
の真空側に露出する面のうち5本来ス・ぐツタすべきタ
ーケ゛ット面151以外の面が望ましくないイオン衝撃
を受け、スパッタされるのを防止するだめにシールド】
44が開口1020周辺に設けられ1図示されていない
ボルトによシ真空容器壁101の真空側に固定されてい
る。
な構成を複数のスパッタ電極の代表として示したもので
ある。電極14は電極ハウジング140とその内部に組
込まれた磁石組立50及びターケ゛ット組立15から成
シ、絶縁体16を介してスパッタ室内壁面101に設け
られた開口102から真空側にターケ8ット面151が
露出されるような形状をとり5図示されていない複数の
ネジ類を用いたクランプ機構により取付は固定されてい
る。ターゲット15はターケゞット板1.51及びター
ゲット押え治具152.ターゲット裏板153から成り
1図示されていないボルトによす電極ハウジング140
に固定されている。電極ハウジング内の凹状空間141
内には中心部磁石52.外周磁石53及びヨーク51か
ら成る磁石組立50が組込まれている。更に図示されて
いないが、空間141内にはハウジングの外部から冷却
水を導入、かつ排出してターゲット裏板153に接触せ
しめ、放電を行う際にターグツ、) 151表面に発生
する熱を冷却水を媒介として外部に放出することが望ま
しい。ハウジング140とターゲット裏板153の間の
気密は0リング142によって保たれ、また電極14と
絶縁体16との間の気密は0リング143により、絶縁
体16と真空容器壁】01との間の気密は0リング14
4によってそれぞれ保持される。一方、ターゲット15
の真空側に露出する面のうち5本来ス・ぐツタすべきタ
ーケ゛ット面151以外の面が望ましくないイオン衝撃
を受け、スパッタされるのを防止するだめにシールド】
44が開口1020周辺に設けられ1図示されていない
ボルトによシ真空容器壁101の真空側に固定されてい
る。
第3図(a) + (b)および(c)は、第2図のハ
ウジング内に設けられた磁石組立50の動作を説明する
ためのそれぞれ断面図、平面図および斜視図である。こ
れ等の図において′、中心磁石52のターゲット裏板1
53に近い方の磁極はN極とされ、外周磁石53のター
ゲット裏板に近い方の磁極はS極とされる。従って、中
心磁極から出発して外周磁極へ達°する矢印54で示す
磁力線が形成される。図では磁力線の数は有限にしか示
すことができないが。
ウジング内に設けられた磁石組立50の動作を説明する
ためのそれぞれ断面図、平面図および斜視図である。こ
れ等の図において′、中心磁石52のターゲット裏板1
53に近い方の磁極はN極とされ、外周磁石53のター
ゲット裏板に近い方の磁極はS極とされる。従って、中
心磁極から出発して外周磁極へ達°する矢印54で示す
磁力線が形成される。図では磁力線の数は有限にしか示
すことができないが。
実際は無限である。この結果、磁石組立を設けたス・母
ツタ電極においては、第2図のターゲット15の表面上
に中心から出て外周に入る無数の磁力線力が環状に配置
される。このような状態で。
ツタ電極においては、第2図のターゲット15の表面上
に中心から出て外周に入る無数の磁力線力が環状に配置
される。このような状態で。
ス・やツタ電極にアース電位に対して負の高電圧を印加
すると、ターゲット表面に垂直な電界と前述のよう々形
状の磁界との組合わせにより、電子はクーグツト表面を
磁力線の環状配置に清って環状のドリフト運動を行う。
すると、ターゲット表面に垂直な電界と前述のよう々形
状の磁界との組合わせにより、電子はクーグツト表面を
磁力線の環状配置に清って環状のドリフト運動を行う。
その結果、低電圧大電流の放電が達成され、高速でス・
やツタ膜の作製を行うことが可能となる。!、た。第4
図は、ターゲット表面上における電子のドリフト運動の
軌道を示す。図において、電子は環状線5−5に清って
矢印の方向にドリフト運動を行う。
やツタ膜の作製を行うことが可能となる。!、た。第4
図は、ターゲット表面上における電子のドリフト運動の
軌道を示す。図において、電子は環状線5−5に清って
矢印の方向にドリフト運動を行う。
第5図(、)は、第1図の従来例における3個のスパッ
タ電極に同時に電力を供給してスパッタリングを行うと
きのそれぞれのターゲット表面上における電子のドリフ
ト運動の軌跡を示す。図に見られるように、全く同じ構
成の磁石組立を内蔵するス・ぐツタ電極を3個並列配置
する結果、隣りあうクーグツト15と15′の接近して
並行しているドリフト電子の軌跡αとβは、その電子の
走行方向が反対になる。同じく隣りあうターケ8ット1
5′と15“の接近して並行しているドリフト電子の軌
跡γとδは、その電子の走行方向が反対向きになる。
タ電極に同時に電力を供給してスパッタリングを行うと
きのそれぞれのターゲット表面上における電子のドリフ
ト運動の軌跡を示す。図に見られるように、全く同じ構
成の磁石組立を内蔵するス・ぐツタ電極を3個並列配置
する結果、隣りあうクーグツト15と15′の接近して
並行しているドリフト電子の軌跡αとβは、その電子の
走行方向が反対になる。同じく隣りあうターケ8ット1
5′と15“の接近して並行しているドリフト電子の軌
跡γとδは、その電子の走行方向が反対向きになる。
この結果、隣シあって走行する軌跡内の電子は互に反撥
しあい、結果として回転する電子の集団は相互に他の電
子集団をターケ8ット15.、15’ 。
しあい、結果として回転する電子の集団は相互に他の電
子集団をターケ8ット15.、15’ 。
15”の表面から基板トレー11の方向に接近せしめる
ような作用をもたらす。それ故、このような状態で薄膜
を作製すると、基板トレーは電子の強い衝撃を受けて温
度が上昇するばかりでなく、薄膜素子機能にも重大な損
傷を受ける。その温度上昇及び損傷の程度は、第1図に
おいて1個のス・やツタ電極14にだけ電力を供給して
薄膜を作製した場合から推定されるよシもはるかに大き
い。また、第5図(b)は、第5図(、)の電極配置に
おける3個の磁石組立と、それによって発生する磁力線
の相対的位置関係を示す。この図から判るように。
ような作用をもたらす。それ故、このような状態で薄膜
を作製すると、基板トレーは電子の強い衝撃を受けて温
度が上昇するばかりでなく、薄膜素子機能にも重大な損
傷を受ける。その温度上昇及び損傷の程度は、第1図に
おいて1個のス・やツタ電極14にだけ電力を供給して
薄膜を作製した場合から推定されるよシもはるかに大き
い。また、第5図(b)は、第5図(、)の電極配置に
おける3個の磁石組立と、それによって発生する磁力線
の相対的位置関係を示す。この図から判るように。
第3図(a)における磁石組立が1つの場合と異υ。
同じ磁石組立50 、50’ 、 50“が並列に配さ
れると、磁力線は相互に影響を及ぼしあって隣りあう磁
石組立の間の空間A及びA′に生ずる磁力線が反撥しあ
う。この結果、ス・ぐツタ装置の内部の空間A 、 A
’にはターゲット表面から基板トレーの間を結ぶような
磁力m56,56’が生じて、放電を行う際に電子はど
れらの磁力線に沿って基板トレー側に入射しやす<−h
v 、弊害の生ずることが判るであろう。
れると、磁力線は相互に影響を及ぼしあって隣りあう磁
石組立の間の空間A及びA′に生ずる磁力線が反撥しあ
う。この結果、ス・ぐツタ装置の内部の空間A 、 A
’にはターゲット表面から基板トレーの間を結ぶような
磁力m56,56’が生じて、放電を行う際に電子はど
れらの磁力線に沿って基板トレー側に入射しやす<−h
v 、弊害の生ずることが判るであろう。
そこで9本発明の目的は、」二記の問題を解決するため
に、複数個のスパッタ電極内に配置される磁石組立の構
成を全て同一にせずに=II)J’)合うス・母ツタ電
極内の磁石組立を中心磁石と外周磁石の磁極の方向を反
対にすることによって、ス/<”、7タリングを行う際
の基板面にプラズマから入射する電子のエネルギーを低
め、電子の基板面衝撃に起因する基板の温度上昇および
損傷を防止することのできるスパッタ装置を提供するこ
とにある。
に、複数個のスパッタ電極内に配置される磁石組立の構
成を全て同一にせずに=II)J’)合うス・母ツタ電
極内の磁石組立を中心磁石と外周磁石の磁極の方向を反
対にすることによって、ス/<”、7タリングを行う際
の基板面にプラズマから入射する電子のエネルギーを低
め、電子の基板面衝撃に起因する基板の温度上昇および
損傷を防止することのできるスパッタ装置を提供するこ
とにある。
本発明によれば、真空に排気するためのポンプを備え、
た真空容器と、該真空容器内にあって薄膜を処理するだ
めの基体を取付ける基体ホルダーと。
た真空容器と、該真空容器内にあって薄膜を処理するだ
めの基体を取付ける基体ホルダーと。
前記真空容器内において基体に対向して該基体上に成膜
するだめに配設された平面状ターゲットを備えだ複数の
スパッタ電極と、前記真空容器にガスを供給し、他方で
排気し表から真空容器内の圧力を適切に維持するガス制
御系と、前記複数のスバ、り電極に電力を供給するスパ
ッタ電源系とからなるスパッタ装置において、前記平面
状ターゲットをそれぞれ有する複数のスパッタ電極には
。
するだめに配設された平面状ターゲットを備えだ複数の
スパッタ電極と、前記真空容器にガスを供給し、他方で
排気し表から真空容器内の圧力を適切に維持するガス制
御系と、前記複数のスバ、り電極に電力を供給するスパ
ッタ電源系とからなるスパッタ装置において、前記平面
状ターゲットをそれぞれ有する複数のスパッタ電極には
。
それぞれその平面上に電磁界による電子の拘束力によっ
て環状の閉じだ電子のドリフト運動の軌跡が形成され、
かつそれぞれのスパッタ電極がターゲツト面上における
電子のドリフト運動の方向が。
て環状の閉じだ電子のドリフト運動の軌跡が形成され、
かつそれぞれのスパッタ電極がターゲツト面上における
電子のドリフト運動の方向が。
隣シあう電極の最も近い場所において同方向で平行する
ように配列されたことを特徴とするスパッタ装置が得ら
れる。
ように配列されたことを特徴とするスパッタ装置が得ら
れる。
次に1本発明によるスフ9ツタ装置について実施例を挙
げ2図面を参照して説明する。
げ2図面を参照して説明する。
本実施例においては、第1図のス・やツタ装置における
3個のス・ぐツタ電極14 、14’および14“に対
応して、それぞれス・ぐツタ電極’ 4 + 14’a
および14″が用いられる。このうち2両側の電極14
および14“には、第3図(a)に示すものと同じ構成
の磁石組立50および5o〃が内蔵されるが。
3個のス・ぐツタ電極14 、14’および14“に対
応して、それぞれス・ぐツタ電極’ 4 + 14’a
および14″が用いられる。このうち2両側の電極14
および14“には、第3図(a)に示すものと同じ構成
の磁石組立50および5o〃が内蔵されるが。
中央のスパッタ電極14′aには、第6図(a)に示す
ごとき構成の磁石組立50′aが内蔵されている。その
他の構成は第1図と同じであり、以降ス・母ツタ電極1
4’aを除き、それぞれ第1図と同じ符号を参照して説
明を行う。さて、磁石組立50’aの構成を示す第6図
(a)において、ヨーク51′a上における中心磁石5
2′aのターゲット基板に近接する側の磁極はS極、外
周磁石53′aのターゲット裏板に近接する側の磁極は
N極である。従って、第3図(a)の磁石組立の場合と
比較すると、磁力線の方向は逆に外周磁極より出発して
中心磁極へ達する。なお、第6図(b)は、第6図(a
)の磁石組立の平面図を示す。
ごとき構成の磁石組立50′aが内蔵されている。その
他の構成は第1図と同じであり、以降ス・母ツタ電極1
4’aを除き、それぞれ第1図と同じ符号を参照して説
明を行う。さて、磁石組立50’aの構成を示す第6図
(a)において、ヨーク51′a上における中心磁石5
2′aのターゲット基板に近接する側の磁極はS極、外
周磁石53′aのターゲット裏板に近接する側の磁極は
N極である。従って、第3図(a)の磁石組立の場合と
比較すると、磁力線の方向は逆に外周磁極より出発して
中心磁極へ達する。なお、第6図(b)は、第6図(a
)の磁石組立の平面図を示す。
まだ第7図は、第6図(a)、(b)に示す磁石組立5
0′aをスパッタ電極14′aのノーウジング140a
内に内蔵して放電を行うときの、ターゲット裏板におけ
る電子のドリフト運動の軌道を示す。図において、電子
の走行する方向を示す矢印が第4図の場合と逆方向であ
る点に注目されたい。
0′aをスパッタ電極14′aのノーウジング140a
内に内蔵して放電を行うときの、ターゲット裏板におけ
る電子のドリフト運動の軌道を示す。図において、電子
の走行する方向を示す矢印が第4図の場合と逆方向であ
る点に注目されたい。
第8図(a)は、上記3個のスパッタ電極14う14’
aおよび14″の配置によ93個の電極に同時に電力を
供給してスパッタリングを行うときのそれぞれのターケ
ゝット表面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す
。第5図(a)と比較して、3個のターケ8ノドの中の
中央部のターケゝット15’aの上のドリフトの軌跡5
5′aの電子の走行方向を示す矢印の向きが反対になっ
ている点に注目されたい。この結果、隣シあうターケ゛
ット15と151とが接近して並行しているドリフト電
子の軌跡αとβ′とはその電子の走行方向が同一となシ
、同じく隣シあうターケゝy ト15’aと15“との
接近して並行しているドリフト電子の軌跡γ′とδとは
その走行方向が同一となる。従って、生じていた回転す
る電子の集団の相互反撥は抑制せしめられ、複数の電極
に同時に電力を投入してスパッタリングを行っても。
aおよび14″の配置によ93個の電極に同時に電力を
供給してスパッタリングを行うときのそれぞれのターケ
ゝット表面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す
。第5図(a)と比較して、3個のターケ8ノドの中の
中央部のターケゝット15’aの上のドリフトの軌跡5
5′aの電子の走行方向を示す矢印の向きが反対になっ
ている点に注目されたい。この結果、隣シあうターケ゛
ット15と151とが接近して並行しているドリフト電
子の軌跡αとβ′とはその電子の走行方向が同一となシ
、同じく隣シあうターケゝy ト15’aと15“との
接近して並行しているドリフト電子の軌跡γ′とδとは
その走行方向が同一となる。従って、生じていた回転す
る電子の集団の相互反撥は抑制せしめられ、複数の電極
に同時に電力を投入してスパッタリングを行っても。
基板の温度上昇及び電子衝撃に起因する損傷は充分低く
保つことができる。第8図(b)は、第8図(a)の電
極配置、における3個の磁石組立と、それにより発生す
る磁力線の相対的表関係を示す図である。
保つことができる。第8図(b)は、第8図(a)の電
極配置、における3個の磁石組立と、それにより発生す
る磁力線の相対的表関係を示す図である。
第5図(b)の場合とは異シ、隣シあう磁石組立の間の
空間A及びA′に生ずる磁力線は反撥しあわずに一方の
磁極か6出て他方の磁極に入る。この結果。
空間A及びA′に生ずる磁力線は反撥しあわずに一方の
磁極か6出て他方の磁極に入る。この結果。
スパック装置内において空間A、A’にはタークー゛ッ
ト表面と基板トレーの間を結ぶような磁力線は殆んど形
成されない。従って、3個のスバ、り電極を並べても、
そのために電子が基板トレーに極めて多く入射するとい
うような現象は起こらない。
ト表面と基板トレーの間を結ぶような磁力線は殆んど形
成されない。従って、3個のスバ、り電極を並べても、
そのために電子が基板トレーに極めて多く入射するとい
うような現象は起こらない。
なお、」二記の実施例においては、3個のスパッタ電極
を配置した場合を例にして示しであるが。
を配置した場合を例にして示しであるが。
ス・ぐツタ電極の数はそれに限らない。寸だ、スパッタ
電極の形状も矩形に限らず5例えば、第9図のクーグツ
) 15 b 、 15’bおよび15“bに示すとと
く2円形のものに対応して配置することができる。
電極の形状も矩形に限らず5例えば、第9図のクーグツ
) 15 b 、 15’bおよび15“bに示すとと
く2円形のものに対応して配置することができる。
第10図は9本発明によるスパッタ電極の他の例を説明
するだめのターケゝットの配置を斜視図により示したも
のである。との図において、基板を挿着した2点鎖線で
示す円筒形基板ホルダー111は、その中心軸112の
・まわりに回転する。基板ホルダーの外側に配置された
3個のターゲット15 c 、 15’c 、 15″
cの表面上では、それぞれ矢印をもつ環状線55c 、
55’c 、 55“Cによシ示されるよう・社軌跡
をもつ電子のドリフト運動が行われる。
するだめのターケゝットの配置を斜視図により示したも
のである。との図において、基板を挿着した2点鎖線で
示す円筒形基板ホルダー111は、その中心軸112の
・まわりに回転する。基板ホルダーの外側に配置された
3個のターゲット15 c 、 15’c 、 15″
cの表面上では、それぞれ矢印をもつ環状線55c 、
55’c 、 55“Cによシ示されるよう・社軌跡
をもつ電子のドリフト運動が行われる。
まだ、第11図は2本発明によるス・ぐツタ電極のさら
に他の例を説明するためのターゲットの配置を平面図に
より示したものである。この例によれば、6個の円形タ
ーグz)15 1〜15−6が中心点Aのまわシに同一
平面上に等間隔で配置されている。各ターケ゛ット面上
にはそれぞれ矢印をもつtつの環状線55−1〜55−
6により示されるような軌跡をもつ電子のドリフト運動
が行われる。なお1本図に示されていない基板は、ター
ケゝットの配置された面から離れて平行に配置された基
板ホルダー」二に取付けられており、中応点Aに垂直な
軸のまわりに回転しながら6個のターケ゛ットに順次対
面していき、そのス・ぐツタ粒子を自身の」二に堆積す
る。これによって基板上に薄膜が形成される。
に他の例を説明するためのターゲットの配置を平面図に
より示したものである。この例によれば、6個の円形タ
ーグz)15 1〜15−6が中心点Aのまわシに同一
平面上に等間隔で配置されている。各ターケ゛ット面上
にはそれぞれ矢印をもつtつの環状線55−1〜55−
6により示されるような軌跡をもつ電子のドリフト運動
が行われる。なお1本図に示されていない基板は、ター
ケゝットの配置された面から離れて平行に配置された基
板ホルダー」二に取付けられており、中応点Aに垂直な
軸のまわりに回転しながら6個のターケ゛ットに順次対
面していき、そのス・ぐツタ粒子を自身の」二に堆積す
る。これによって基板上に薄膜が形成される。
以上の説明により明らかなように7本発明によれば、複
数個のスパッタ電極のうち、隣り合うス・ぐツタ電極内
の磁石組立を中心磁石と外周磁石の磁極の方向を反対に
することによって、基板面にプラズマから入射する電子
エネルギーを抑制することが可能となり、これによって
基板の不要な温度上昇や損傷を防止でき、薄膜処理に対
する良品率の向上が得られる点においてその効果は大き
い。
数個のスパッタ電極のうち、隣り合うス・ぐツタ電極内
の磁石組立を中心磁石と外周磁石の磁極の方向を反対に
することによって、基板面にプラズマから入射する電子
エネルギーを抑制することが可能となり、これによって
基板の不要な温度上昇や損傷を防止でき、薄膜処理に対
する良品率の向上が得られる点においてその効果は大き
い。
第1図は複数のス・、p ツタ磁極を組入れた従来のス
・′Pツタ装置の構成例を示す側断面図、第2図は。 第1図におけるスパッタ電極14の具体的な構成を複数
のスパッタ電極の代表として示す断面図。 第3図(a) 、 (b)および(c)は、第2図のハ
ウジング内に設けられた磁石組立50の動作を説明する
だめのそれぞれ断面図、平面図および斜視図、第4図は
、第2図のターケ゛ット表面上における電子のドリフト
運動の軌道を示す図、第5図(a)は、第1図の従来例
における3個のス・母ツタ電極に同時に電力を供給して
スパッタリングを行うときのそれぞれのターケ゛ット表
面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す図、第5
図(b)は、第5図(、)の電極配置における3個の磁
石組立と、それによって発生する磁力線の相対的位置関
係を示す図、第6図(a)および(b)は9本発明の実
施例として、第1図における3個のうちの中央のスパッ
タ電極に代えて適用される磁石組立の構成を示すそれぞ
れ断面図および平面図、第7図は、第6図(a)および
(b)の磁石組立をス・やツタ電極14’aのハウジン
グに内蔵して放電を行うときの、ターダット表面におけ
るドリフト運動の軌道を示す図、第8図(、)は3個の
スパック電極14 t 14’aおよび14″の配置に
よシ。 3個の電極に同時に電力を供給したときに生ずるターケ
゛ット表面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す
図、第8図(b)は、第8図(a)の電極配置における
3個の磁石組立と、それにより発生する磁力線の相対的
な関係を示す図、第9図は本発明の実施例における3個
のスパッタ電極の形状を円形にした場合のそれぞれ対応
するターケ゛ット表面−ヒにおける電子のトリプト運動
の軌跡を示す図。 第10図は本発明によるスバ、り電極の他の例を説明す
るためのターケ゛ットの形状および配置を示す斜視図、
第11図は本発明によるスパッタ電極のさらに他の例を
説明するためのターケ゛7トの形状および配置を示す平
面図である。 図において、10はスパッタ室、11は基板トレー、1
4.1.4’ 、14’a + 14“はスパック電極
。 ]、 5 、1.5’ 、 1.5’a 、 1.5″
はターゲラl−、50。 50’ 、 50′a 、 50“は磁石組立+ 51
.51’aはヨーク= 52 + 52’aは中心磁石
、53,53′aは外周磁千1図 弗2図 第6図(の 第6図(b) 第7図 第9図 第10図 壓月図
・′Pツタ装置の構成例を示す側断面図、第2図は。 第1図におけるスパッタ電極14の具体的な構成を複数
のスパッタ電極の代表として示す断面図。 第3図(a) 、 (b)および(c)は、第2図のハ
ウジング内に設けられた磁石組立50の動作を説明する
だめのそれぞれ断面図、平面図および斜視図、第4図は
、第2図のターケ゛ット表面上における電子のドリフト
運動の軌道を示す図、第5図(a)は、第1図の従来例
における3個のス・母ツタ電極に同時に電力を供給して
スパッタリングを行うときのそれぞれのターケ゛ット表
面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す図、第5
図(b)は、第5図(、)の電極配置における3個の磁
石組立と、それによって発生する磁力線の相対的位置関
係を示す図、第6図(a)および(b)は9本発明の実
施例として、第1図における3個のうちの中央のスパッ
タ電極に代えて適用される磁石組立の構成を示すそれぞ
れ断面図および平面図、第7図は、第6図(a)および
(b)の磁石組立をス・やツタ電極14’aのハウジン
グに内蔵して放電を行うときの、ターダット表面におけ
るドリフト運動の軌道を示す図、第8図(、)は3個の
スパック電極14 t 14’aおよび14″の配置に
よシ。 3個の電極に同時に電力を供給したときに生ずるターケ
゛ット表面上における電子のドリフト運動の軌跡を示す
図、第8図(b)は、第8図(a)の電極配置における
3個の磁石組立と、それにより発生する磁力線の相対的
な関係を示す図、第9図は本発明の実施例における3個
のスパッタ電極の形状を円形にした場合のそれぞれ対応
するターケ゛ット表面−ヒにおける電子のトリプト運動
の軌跡を示す図。 第10図は本発明によるスバ、り電極の他の例を説明す
るためのターケ゛ットの形状および配置を示す斜視図、
第11図は本発明によるスパッタ電極のさらに他の例を
説明するためのターケ゛7トの形状および配置を示す平
面図である。 図において、10はスパッタ室、11は基板トレー、1
4.1.4’ 、14’a + 14“はスパック電極
。 ]、 5 、1.5’ 、 1.5’a 、 1.5″
はターゲラl−、50。 50’ 、 50′a 、 50“は磁石組立+ 51
.51’aはヨーク= 52 + 52’aは中心磁石
、53,53′aは外周磁千1図 弗2図 第6図(の 第6図(b) 第7図 第9図 第10図 壓月図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 11f、空に排気するだめのポンプを備えだ真空容器と
、該真空容器内にあって薄膜を処理するだめの基体を取
付ける基体ホルダーと、前記真空容器内において基体に
対向して該基体」二に成膜するために配設された平面状
ターケゞットを備えた複数のス・ぐツタ電極と、前記真
空容器にガスを供給し。 他方で排気しながら真空容器内の圧力を適切に維持する
ガス制御系と、前記複数のス・ぐツタ電極に電力を供給
するス・ぐツタ電源系とからなるス・ぐ。 夕装置において、前記平面状ターケ゛ットをそれぞれ有
する複数のス・ぐツタ電極には、それぞれその平面状に
電磁界による電子の拘束力によって環状の閉じだ電子の
ドリフト運動の軌跡が形成され。 かつそれぞれのス/やツタ電極がターケ″ット面上にお
ける電子のドリフト運動の方向が、隣りあう電極の最も
近い場所において同方向で平行するように配列されたこ
とを特徴とするス・怖夕装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19334583A JPS6086272A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | スパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19334583A JPS6086272A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | スパツタ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6086272A true JPS6086272A (ja) | 1985-05-15 |
JPS6365754B2 JPS6365754B2 (ja) | 1988-12-16 |
Family
ID=16306350
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19334583A Granted JPS6086272A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | スパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6086272A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4826584A (en) * | 1986-04-17 | 1989-05-02 | Dos Santos Pereiro Ribeiro Car | Magnetron sputtering cathode |
US5458759A (en) * | 1991-08-02 | 1995-10-17 | Anelva Corporation | Magnetron sputtering cathode apparatus |
WO2006113170A2 (en) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Tango Systems, Inc. | Sputtering system |
US7682495B2 (en) | 2005-04-14 | 2010-03-23 | Tango Systems, Inc. | Oscillating magnet in sputtering system |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3403550B2 (ja) * | 1995-06-29 | 2003-05-06 | 松下電器産業株式会社 | スパッタリング装置とスパッタリング方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59133370A (ja) * | 1983-01-21 | 1984-07-31 | Seiko Instr & Electronics Ltd | マグネトロンスパツタ−装置 |
-
1983
- 1983-10-18 JP JP19334583A patent/JPS6086272A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59133370A (ja) * | 1983-01-21 | 1984-07-31 | Seiko Instr & Electronics Ltd | マグネトロンスパツタ−装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4826584A (en) * | 1986-04-17 | 1989-05-02 | Dos Santos Pereiro Ribeiro Car | Magnetron sputtering cathode |
US5458759A (en) * | 1991-08-02 | 1995-10-17 | Anelva Corporation | Magnetron sputtering cathode apparatus |
WO2006113170A2 (en) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Tango Systems, Inc. | Sputtering system |
WO2006113170A3 (en) * | 2005-04-14 | 2007-05-03 | Tango Systems Inc | Sputtering system |
US7682495B2 (en) | 2005-04-14 | 2010-03-23 | Tango Systems, Inc. | Oscillating magnet in sputtering system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6365754B2 (ja) | 1988-12-16 |
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