JPS6077575A - シエ−デイング補正装置 - Google Patents

シエ−デイング補正装置

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JPS6077575A
JPS6077575A JP58187348A JP18734883A JPS6077575A JP S6077575 A JPS6077575 A JP S6077575A JP 58187348 A JP58187348 A JP 58187348A JP 18734883 A JP18734883 A JP 18734883A JP S6077575 A JPS6077575 A JP S6077575A
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JP
Japan
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data
memory
circuit
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photoelectric conversion
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Pending
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JP58187348A
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English (en)
Inventor
Yoshinori Abe
阿部 喜則
Masahiko Matsunawa
松縄 正彦
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Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野) 本発明は、CCI)等の光電変換素子のシl−デインク
特性を補正づるシェーディング補正装置に関ダる。
(従来技術) 記録ザベき原稿面をランプ等の光源で黒用し、その反射
光を光学系を介してCCD等の固体層像素子やフォトダ
イA−ドアレイ等の光電変換素子に導き、これら光電変
換素子の出力信号に基づき再生画像を1qる記録装置は
、既に広く知られている。この種の記録装置では、均−
及剣!瓜の原稿面を読み取っても、光電変換素子の出力
波形が平坦にならず、例えば単一の光電変換素子につい
て考えると、中央部の画素に比べて端部の画素の出力が
低下覆る所謂シェーディング現象がみられる。
この原因とし−では、次のよう41らのが挙げられる。
(1)光学系のレンズによる減光作用 光学系のレンズの通過づる光f?j lよ」す、イン4
乗則により周jηで低下し、例えば半画角が20°のと
き周辺部光h1は中央部の78%程度になる。
(2)充電変換素子の感度の不均一 CCD等の固体撮像素子やダイオードアレイ等の光71
f変換素子は、製造上の理由で感痘が不均一・−になる
ことがある。
(:3)照射ランプの照度むらと照度変化原稿照射ラン
プ?7の光源としては例えば蛍光幻が用いられるが、ラ
ンプ長は有限であり発光;幾構上中央部より両端部の発
光輝度が低いl、:め照fσは低T−づる。又、蛍光灯
は使用するにつれて両端部が黒化してきたり、取付方法
1、: 、J:つても照度分布が変化づる。
このシl−アインク現象を補正づるため、従来(・′E
々の補11:対策がとられている。例えば、白色拡11
に反用部(均−反01面)からの情報を検出りる光電変
1η県了と被1走査ライン(原稿面)からの情報苓(の
出する固体眼色素子との出力を演粋し又シ1、−− i
’−(ング補11−りるものがある。しかしながら、こ
の方法は均一反射面からの情報を検出する光電疫1匁県
子と神主走査ラインからの情報を検出する固体l1i1
(争MS了とが別個のものであるため、光源にIS’、
l lfiηるジエン−fインクは?lll iEでき
ても、固体撮像素子の不均一や周囲温度の変化による感
度変動までは補正することができない。
その他のシェルディング補j[対策としては、シ工−γ
イング波形をRA M等の記10素子に記憶させ、原稿
面の光電変換時に記憶素子の内容を読み出して補i1E
づるものがある。この場合、シI−−ディング波形を記
憶させるに際しC1よ、0回の光電変換走査によってず
ルベルのAID変換を行い補正データとして記憶してお
くようになっている。
この方法によれば、光電変換素子が補正操作時と実際の
読取操作時で同一であるのぐ、光電変換素子自体の感度
の不均一も含めて補正できるという長所はあるが、11
回走査してシ【−ディング波形を記憶づるため、これに
U=Jる時間が良くなり、この間に光電変換素子自体の
出力変動ヤ)、光源の出力変動がある場合には正しい補
j1−がでさないという欠点を右している。
(発明の目的) 本発明は、このような点に鑑みてなされたしので、その
目的は、正確なシI−’j′fング補正が可01′Xで
あるど共に、原稿情報読取時のタイミングを凸速化でさ
るシ1〜デrング補正装置を実現することにある。
(ずC明の構成) この目的を達成づる本発明は、均−反則面及び原稿面で
の各反射光を電気信号に変換づるための光電変操素子と
、該光電変換素子による前記均一及射面での反射光の光
電変換データを予め記憶づるためのメ干りとを有し、ま
ず前記光電変換素子により前記均一及射面の反射光を光
電変換して前記メ[りに記憶させ、次に該メモリに記憶
されたi゛′−タを1■jに取り出して各画素毎の補正
係数をめこれを前記メしりの該当アドレスに再記憶さ1
!るように構成づると共に、実際の原稿読取にあlこっ
ては、前に1光電変換素子で読み込んだ画像12−タを
前記メtりに記憶した補正係数を用いてhli jrり
るように構成したことを特徴とするづるものひある。
(実施例) 以−ト、図面を参照し本発明の実施例を詳細に説明゛す
る。
図は本発明の一実施例を示づ電気的構成図である。図に
おいて、1はD!稿情報を読み取って電気信号に変換づ
るC CD等の固体ll1i像素子、2は該固体撮像素
子1の光電変換出力を画素毎にディジタルデータに変換
づるA/D変換器、3は該A/D変換器2の出力や補正
係数を各画素毎にディジタルデータとして記憶づるメモ
リ、4は該メモリ3にアドレスを与えるアドレス制御回
路、ミ5は同じく舊込み・読出しのタイミングパルスを
与えるタイミング回路である。上記メtす3としては例
えばRAMが用いられる。更に、(3はりL1ツクパル
スを発生づるクロック発生回路、7は該り1」ツク発生
回路6の出力を受ジノ°C8種制御を行う制御回路、8
はメモリ3に記憶されているデータを制御回路7から出
力されるラッチパルスでラッチするラッチ回路、9は該
ラッチ回路E3の出力及びγ−タバスD B上のデータ
を受1)制御回路7からの制御信号で何れか一方を選択
しく出力するデータヒレクト回路である。尚、前ツ【1
り■ツク発1゛回路6の出力は前記アドレス制御回路4
にアドレス更!li信シ]としく与えられ、制御回路7
の出力は前記タイミング回路5に制御信号としても与え
られる。
10はデータ廿しクト回路9の出力をその一方の入力端
子Xi++で受【ノ、データバスDB上のデータを他方
の入力端子’1’illで受番ノて、所定の演算処理を
tjう演算処理回路、11は該演算処理回路10の出ノ
〕を基Iv;データと比較しその結果を前記制御回路7
に伝える比較回路、12はクロック発生回r86の出力
を受(プて固体撮像素子1の転送制御パルスφXを出力
づる転送制御回路である。尚、転j、2i I’l 1
0パルスとしてはその他にり1コック発生回路6からb
φ亀が出力され、固体撮像素子1に入ツノされている。
このように構成された実施例の動作は次の通りで(ちる
まり゛、補正係数を粋出する場合について説明する。均
一反射面(図示せず)からの反射光を固体撮像素子1に
当て【、その反射光を光電変換し、続くへ/D弯換器2
で各画素毎の充電変換信号をディジタルデータに変換し
た後、メ七り3に順次格納する。もし、シェーディング
現象が無いものとづれば、均一反射面からの反射光を受
()る各画素毎の光電変換データは全て等【ノい筈であ
るが、前述した埋山により異なつ/j値をとる。このと
きの変換データのビット数としでは、例えば8ビツトが
用いられる(8ビットあれは256通りの階調の試別が
可能となる)。
次に、メモリ3に記憶されたデータは、各画素毎に順次
取り出されデータバス1〕(3に送り出される。該デー
タバスD131−にデータが何「立しIにとを確認した
後、制御回路7はラッチ回路8にラッチパルスを出力し
メモリ3の出力アークをラッグづる。ラッチされたデー
タは、データセレク1−回路9により演算処理回路10
のXin入力端子に入力される。°しかる後、演算処理
回路10のYin入力端子には、Xin入力端子に!j
えもれているデータのビット数と同一ピッ1〜数のデー
タが!iえられ、以下の演算処理が1−jわれる。即ら
、M S [3を′1″にし他のビットは“°0°′に
し/、:Yin、r−タ(17/2ノルスクールの(N
号)と、xir+データとによるXi++・Ylnなる
演算が、演算処理回路10にて行1)れる。この演算結
果は、比較回路11に送られる。該比較量V811には
、均一反射面に対する基1%jデータが予めその一方の
入力端子に与えられており、演算処理回路10から送ら
れてきたデータと該l tpデータとを比較づる。もし
基準データの1iが演算処理回路10の出力データより
も大きい場合、固体撮像素子1の対応づる画素の感度不
足を意味しくいる。従って、この場合、制御回路7番、
1比較回路11からの信号を受1ノだ後、感度不足をン
1]1〕べくYinデータのM S Bを111 J+
に決定づる。逆に、基準I−夕の力が演算処理回路10
の出力データよりも小さい場合、固体Ifil像素子1
の対応りる画素の感yIA−バを意味し−【いる。従り
(、この場合、制御回路7は比較回路11からの+8月
を受りた後@痕A−バを補償づべく、YinデータのM
 S Bを0″に決定する。以上の操作でM S +3
を決定Jると、下位のビット−の決定に移る。
即も、次の(MSB−1)ピッ1−について、F述した
ような演算処理及び比較演算処理を行い、その結果によ
り、Yinデータの該当ビットが1″或いは“0”であ
るかを決定する。以下、同様の操作をL S Bまで行
う。この操作をデータのビット数だけ(例えば8ピツ1
〜のデータの場合は8回)繰り返づことにより、該当画
素にlする補正データ(補正係数)となるYinデータ
が1qられ、これがメモリ3に記憶される。以」、の操
作を固体撮像素子1の全画素数(例えば1ライン分)だ
1ノ繰り返りと、全画素についての補正係数がメ[す3
に記憶される。以上で補正係数訃出動作が終了りる。
次に、原稿読取時の動作について説明する。固体搬像素
子1から読み込まれた画像13号は、続くA/1〕変換
器2によっC各画素fiJにディジタルデータに変換さ
れ、データセレク!−回路9に入力する。このときデー
タセレク1−回路9は制御回路7からの制御信号により
データバス[)[3土のア゛−タ(A/D変換、器2の
出力)がセレクトされる。に)になっている。従って、
△/ i)変換器2の出ツノデータは演算処理回路10
のxi++入力端子に入/Jされイ)。一方、メモリ3
にし110されている該当画素に3・14る?+I i
、lE係数が、制御回路7からの制御信号により取り出
され、演算回路10のYin入力端子に人力される3、
このとき、ラッチ回路8には制御回路7からラップパル
スが出力されないので該ラッヂ同V88の動作は停止し
ている。尚、データバスI) B土には△/′1)変換
器2の出力データと補正係数データが送り出されること
になるが、両データが別突しないような時分割制御が、
制御回路71、二、J、すtiわれる。演算処理回路1
0は、><tn入力喘rに入ってさた「k取画像データ
とyin入力端子(、二人−)できた補11:係数デー
タとを受けUXin・Y111イ「る演’i7I’a:
 IJイ、ソ(7) 結果ヲ21fi′4化P’J 路
(1m 示(!ず)に出力する。例えば、ある画素の出
力感度か低い場合には、メモリ3に記憶されている補正
係数はこのIft感度を補正するような値になっている
。従つC,演n処理回路10の出力は感度不足が補11
−された値となる。逆に画素の感度が高すぎる場合は、
メLす3に配憶されている補正係数はこの高感度を補正
づるJ:うな値になっている。従っ“C1この場合にも
演算処理回路10からは感度補正された画像信号が出力
される。全画素についてこのような補正演算が行われる
結果、読み取られた画像信号は正確にシェーディング補
正されIJものとなって、2値化回路に送られ処理され
る。
従って、2値化回路では口;確な画像処理が(1われる
ことになる。
この構成によれば、通常の原稿読取時に()3いては特
別のシェーディング補正処理は不要となるの01クロッ
ク発9“回路6から出力されるり11ツク及び固体踊像
A1子1の転送制御パルスφ(、φ×を高速化り−るこ
とか可能になる1、即ら、補j1係数0出時よりも、図
に示づ回路を高速動作さけることができる。このことは
、シエーfイング補j1係数をn出するための時111
1で通常の11;1稿読取萌間が制約されることがない
ことを意味りる。
又、固体IM像素子1の感度のばらつき、光学系レンズ
の減光作用及び照射ランプの感度むら等、全ての原因に
よる出力の不均一を?ili ilE係数としくメ七り
に記憶させてJ3 <ことがでさる、、従つ−【、シェ
ーディング補正の効果も極めて顕著なものとなる。
尚、制御回路7や演算処理回路10等としてマrクロコ
ンビーL−夕を用いると、極めて簡単な回1′8構成を
実現することができる。又、上記構成では、演算処理回
路10として乗算回路を用い、画1j4B偕号を1接補
正づる場合について説明したが、例えは、ディリ゛法に
J:り中間調を表現する場合にIJ、)゛イリ゛悶値を
補正しでもよい。更に、演算処理量シ“810に゛(デ
ィジタル演算を行う場合を示したが、該演算をアナログ
で行うように構成づることbできる。
(51,明のりJ宋) 以1説明しkJ、うに、本発明によれば、均−反用向の
光電変換信号をまずメモリに記憶し、該メしりに記憶さ
れたデータから補正係数をめて、これら補正係数を前記
メモリに再記憶させ、通常σ月j;目^情報読取時には
、読み取った画像データを前記メtりに記憶しCJ5い
た補正係数で補正するため、補iL係数の塁礎となる読
取は短時間になされることになり、■確な補正係数を(
りることができる。又、通常の原稿読取時間が補iE演
停に要する時間に制約されることがないのe、り[1ツ
ク系統を速め(a速読取を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示′TJ電気的構成図である。 1・・・固体m画素子 2・・・△/D変換器3・・・
メモリ 4・・・アドレス制御回路5・・・タイミング
回路 6・・・りE1ツク発生回路7・・・制御回′路
 8・・・ラッチ回路9・・・データセレクト回路 10−・・演算処理回路 11・・・比較回路12・・
・転送制御回路 特h′1出願人 小西六′す゛貞工業株式会社代 理 
人 弁理士 月 島 控 泊

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 均−反則面及び原稿面での各反射光を電気信号(、二変
    模するIこめの光電変換素子と、該光電変換素子による
    前記均一反射面での反射光の光電変換データをYめ記憶
    するためのメモリとを有し、まず前記光電変換素子によ
    り前記均一反射面の反則光を光°市変換して前記メモリ
    に記憶させ、次に該メ七りに記10されたデータを画素
    毎に取り出して各画ホ毎の補正係数をめこれを前記メモ
    リの該当)Iト1ノスに再記1r3さぜるように構成づ
    ると共に、実際の原稿読取にあ/Cつ又は、前記光電変
    換素子で読み込んだ画像データを前記メtすに記10シ
    た?+ll if 1系数を用い(?11正するように
    構成したことを1!I徴とりるシ」−−ディング補正装
    置。
JP58187348A 1983-10-05 1983-10-05 シエ−デイング補正装置 Pending JPS6077575A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0353674A (ja) * 1989-07-20 1991-03-07 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd シェージング補正方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57121364A (en) * 1981-01-20 1982-07-28 Toshiba Corp Facsimile transmission system
JPS58121864A (ja) * 1982-01-14 1983-07-20 Konishiroku Photo Ind Co Ltd シエ−デイング補正装置

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