JPS6077273A - パタ−ン位置ずれ検出装置 - Google Patents

パタ−ン位置ずれ検出装置

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JPS6077273A
JPS6077273A JP18540183A JP18540183A JPS6077273A JP S6077273 A JPS6077273 A JP S6077273A JP 18540183 A JP18540183 A JP 18540183A JP 18540183 A JP18540183 A JP 18540183A JP S6077273 A JPS6077273 A JP S6077273A
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JP
Japan
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pattern
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image
centroid
storage device
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JP18540183A
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English (en)
Inventor
Hiroko Shimosato
下郷 博子
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、パターン照合装置に関し、詳しくは画像入
力装置により登録パターンとしてあらかじめ入力され標
準パターンファイル中に蓄えられた標準パターンと、画
像入力装置により入力された被照合パターンとを位置合
せするための位置ずれ検出装置に関する。
金融機関では契約者の本人確認手段の1つとして印鑑の
照合が行われている。これは契約時に契約者に契約者の
印鑑の印影を登録させ、以降は登録された印影と契約者
が持参した印鑑の印影を照合し、同一のものであるか否
かを判定する事により本人の確認を行うものである。現
在、このような場合における印影の照合を機械により自
動的に行うもので、有効なものが無いため、通常は、人
間が目視により両者を比較照合したり、一方を折り曲げ
て重ね境界部分の各線分のつながり具合を見る事により
判定を行っている。
この比較照合処理をデジタルパターン認識技術を用いて
機械で行う場合、通常次のような方法が・考えられる。
すなわち画像入力装置で入力された被照合印影パターン
と登録されfc#l準パターンとを2値化し位置の正規
化を行って重ね合せ、パターン全体に渡って標準パター
ンが“1″であって被照合パターンがO′″であるか、
または標準パターンがO”であって被照合パターンが1
”である面積、すなわち両パターンが不一致である面積
をめ、この不一致面積と標準パターンの全面積との比を
とり、ある設定値の範囲内であれば一致とし、そうでな
げれば不一致とする方法である。
このような重ね合せKよる照合を行う場合、被照合、標
準画パターンの位置の正規化を行う必要がある。ここで
位置の正規化は平行・回転移動の2つに分けられる。平
行移動に関しては、パターンを直交座標軸上へ投影した
ときのプルファイルの両端から、中心をめるか、あるい
はプルファイルを積分し、重心をめるなどして、基準点
をめ、これを用いて位置の正規化を行う方法が考えられ
ている。また回転に関しては、だとえげ一方のパターン
を固定とし他方のパターンを中心、または重心を回転中
心として微小角度ずつ回転させ、各回転毎に重ね合せを
行い、不一致面積が最小となる角度をめその角度での不
一致面積の値により判定を行うことが考えられる。
しかしながら、この方法には次のような欠点がある。平
行移動の正規化のだめの中心、あるいは重心を検出する
際、印影パターンのふちの部分がわずかに欠損している
場合でも、プルファイルをとる直交座標のとり方によっ
ては、中心、重心をうまくめられない場合がある。また
重心、中心の検出ができないと平行移動がうまく行われ
ないばかりか、その後の回転ずれ量の検出にも悪影響を
及ぼし、回転角もめられない。
この発明の目的は照合パターンに多少の欠損部分や不鮮
明な部分があった場合にも、照合パターン、標準パター
ンの両パターン中で情報量の多いパターン部分を抽出し
、標準と照合の両パターン間で、各パターン部分を比較
し、それぞれのパターン部分に最も対応するバ′ターy
部分を見つげ、この各パターン部分毎の一致度を総合的
に判断する事により、より正確な位置正規化ができるパ
ターン位置ずれ検出装置を提供する事である。
この発明によれば、画像入力手段と、これにより入力さ
れた画像を蓄える第1の記憶装置と、入力された画像を
太線化処理する手段と、太線化処理後の画像をさらに細
線化処理する手段と、余白線化処理後の画像中、背景部
分でまわりを囲まれた一mのパターン部分の各々につい
て重心座標をめる手段と、あらかじめ登録された標準パ
ターン及びその太線化、細線化処理後の一塊のパターン
部分の各々の重心座標を蓄えている標準パターンファイ
ルと、標準パターンファイルから読み出した画像を蓄え
る第2の記憶装置と照合パターンとli!準パターンで
各々求められた重心座標を用いて両パターンの回転ずれ
量を検出する手段と、これKよりめられた回転ずれti
び両パターンの対応する重心により、平行ずれ量を検出
する手段とを含むパターン位置ずれ検出装置が侮られる
次にこの発明について図面を参照して説明する。
始めK、第1図、第2図、第3図を用いて、この発明の
原理について説明する。第1図(a)は標準印影パター
ン、同図(b)は同図(alを太線化処理し、た画像、
同図(c)は同図(b)を細線化処理した画像である。
また同図(c)中のA、B、C,Dは背景部分により周
囲を囲まれた一塊のパターン部分の重心をそれぞれ表す
。第2図(、)は被照合印影パターンを表し、同図(b
)は同図(a)を太線化処理した画像、同図(c)は同
図(b)を細線化処理した画像で、同図(c)中のE。
F、G、H,Iはパターン部分の各々の重心を表す。第
1図(、)の標準印影パターン及び同図(c)のA。
B、C,Dの重心座標は、あらかじめ標準ファイルに蓄
えられている。今、画像入力装置により入力された被照
合パターンは第2図fa)とする。これが太線化処理手
段を経ると、第2図(b)のように表され、さらに細線
化処理手段を経ると第2図(c)のようになる。また同
図(c)の画像について、重心を検出する処理を施すこ
とにより、それぞれのパターン部分についての重心B 
、 F 、、 G 、 H、Iがめられる。
次に、標準パターンの重心A、B、C,Dと被照合パタ
ーンの重心B F G HIの組すべてについて一致度
を検出する。具体的には標準パターンの重心の1つ、A
と被照合パターンの重心Eとft選び、A及びEを中心
としてあらかじめ設定された領域部分に対応する原パタ
ーン、すなわち第1図(、)の標準パターン、と第2図
(a)の被照合パターンの中で対応する領域部分を抽出
し重ね合せ、A。
Eをそれぞれ回転の中心として一方を固定とし他方を微
小角度ずつ回転させ、不一致面積を検出する。不一致面
積が最小となった時の角度、及びその角度での標本パタ
ーン中の前述したあらかじめ定められた領域のパターン
部分の面積に対する、不一致面積の値の比を蓄えた後、
さらに次の重心の組み合せ例えばAとFについて、同様
な処理を行う。AについてE、F、G、)(、Iのすべ
ての最小不一致面積比、角度をめた後、Bについて同様
な処理を行う。このような処理を繰り返す事により、最
終的にはA、B、C,Dと■う、 F 、 、G。
I(、Iのすべての組についての最小不一致面積比とそ
の時の角度をめる。この結果はflX 3 a (a)
のように表される。mij、θi j(+ −A 、 
B 、 C、D 。
j=E、F、G、H,I) はそれぞれ標本重心のiと
被照合重心jとの組での最小不一致面積比と、その時の
角度を表す。次に、不一致面積比がある設定値以上ある
部分パターン同志は異るものである可能性が太きいとい
うことで、第3図(、)の表から削除し、第3図(b)
のように候補をしぼる。次に、しばられた同図(b)の
候補の一致角度について平均値をめ、ある設定値以上平
均値から異なるものは、取り除き、さらに第3図(c)
のように候補をしぼる。そして、この角度の平均値を回
転ずれ量として出力する。
一般に平行・回転移動を行う際の座標変換式は(])式
で表される。
但し、 θは回転ずれ量 a、bは平行ずれ量を示す。
前述の処理によりめた回転ずれ量と、第3図(cl中で
選ばれた対応する標本重心と被照合重心との座標をそれ
ぞれ(x’、y’) (’x 、 y )、θに代入し
、(a、b)Kついての方程式を解けば、(a、b)が
められる。fJf、3図の(c)K表されたそれぞれの
標本重心、被+ta合重心のすべての組について、方程
式を解き、abをめ、得られたすべてのa、liの値に
ついて平均をとり、この値を平行ずれ量として出力する
次にこの発明の一実施例について説明する。第4図はこ
の発明の一実施例を示すブロック図である。図において
、0はシートに押印された被照合印影、10は画像入力
装置でシート0の被照合印影を読み取り、2値化したデ
ータを第1記憶装置20へ入力する。第1記憶装置20
へ被照合印影パターンの読み込みが終了すると、この被
照合パターンに対して、太線化処理回路30が、太線化
処理を行う。パターンが11#で背景部が“0″の場合
、太線化処理は、たとえば3×3のマスクオペレータに
より2値パターンを順次走査し、マスク中心の値が10
″であってかつその近傍8点の条件がある条件を満した
時その中心の値を”ビに置き換える操作を繰り返す事に
より得られる事が一般に知られている。従っである太さ
を持ったパターンをあらかじめ定められた大宮にまで太
線化するためには複数回の処理を繰り返す必要があり、
この実施例では太線化処理回路30は、複数回の処理を
行うため、ワークメモリ100を用いる。太線化処理を
終了すると、さらに、太線化処理後の画像を入力として
、細線化処理回路40により、細線化処理が行われる。
細線化処理も前述の太線化処理と同様に、たとえば3×
3のマスクオペレータを用い、マスク中心の値が1″で
あってかつ、その近傍8点の条件がある条件を溝だした
時に、その中心の値を”o”VC置きかえる事により得
られる。細線化処理回路40も処理の際にワークメモリ
100を用いる。さらに細線化処理終了後、ワークメモ
リ100中の細線化処理された画像は、重心検出回路5
0により読み出され、これにより、背景部分で囲まれた
パターン部分を抽出し、それぞれの重心がめられる。
ここで、背景部分で囲まれた一塊のパターン部分(以後
−塊のパターン部分と呼ぶ)の抽出、及び重心検出につ
いて説明する。第4図中重心検出回路50は、ラベリン
グ回路及び、重心座標算出回路の2つに大きくわける事
ができる。ラベリング回路は例えば第2図(C)のよう
な細線処理波の画像が蓄えられたワークメモリ100の
左上はしから順次走査してデータを読み出し、lライン
毎にデータが°0”から″ビヘ変化する点及び11″か
らθ′へ変化する点を検出する事により11″データの
線図形の検出を行う。この時、線図形の出現類に線図形
に番号をつけ、ワークメモ9100中の線図形をその番
号で書きかえておき、さらに、各線図形毎に左端、右端
の座標を一時的に保持しておく。次のラインも同様に走
査して線図形の検出を行い、1ライン前に検出1.て保
持しておいだ左端、右端の座標と現在のライン上で検出
した各ラインの左端、右端の座標とを比較し線図形に重
りがあれば、すなわち両座標間でオーバーラツプする部
分があれは重った線図形(1ライン前の線図形)と同じ
番号で、どの1ライン前の線図形とも重りがない場合は
、新しい番号でワークメモリ]flOを脅きかえていく
。このような順次走査をワークメモリ100全体に対し
行うと、第2図(C)の−塊のパターン部分毎に異った
番号でラベリングされ検出される。
次に、重心座標算出回路はこのワークメモリ100をも
う一度順次走査を行い、同じ番号nをつけられた画素に
対し、1ライン毎にデータがOnから@n″へ変化する
点及びn″からo″へ変化する点を検出し、この2つの
座標から線図形の長さとその中点座標をめる。これを(
2)式に代入し、さらに次のラインについて同様に線図
形の長さと中点座標をめ、順次(2)式へ足しこんでい
く。これを繰り返し sn”データのパターン部分すべ
てについて走査が終ると(3)式により、このパターン
部分の重心がめられる。
ただし 8 : 第1番と番号が利された一塊のパター
ン部分の″n″データ の総数 仙 : 第1番と番号が付された一塊 のパターン部分のi番目のラ インまでの重みつきx重心塵 標の総和 B、: 第1番と番号が付された一塊 のパターン部分のi番目のラ インまでの重みつきy重心塵 標の総和 t!、:i番目のラインの長さく線図 形の面積) 、 : ライン番号(i−1〜m) x Ir y r ’ r a目のラインの中点座標(
線図形の重心) xn+Yn’ 第1番と番号が付された一塊のパターン
部分の重心座標 第5図は重心検出回路50を具体的に実現したブロック
図である。
エアドレスカウンタ511.yフドレスカクンタ512
、により順次走査のだめのアドレスが生成され、ワーク
メモリ100へ送られる。ワークメモリ100から読み
出されたデータは比較器515で現在重心をめようとし
ている、−塊のパターン部分のラベル番号を保持してい
るラベルカウンタ516の内容と比較され、その番号で
あった場合は、その時のXアドレスがスタートアドレス
ラッチ513 ・にラッチされる。このラッチは比較器
515かもの出力信号の立ち上がりでラッチされる。ま
た反対に、ラベルカウンタ516の内容と異った場合は
比較器515の出力信号が立ち下がるので、インパーク
527fr:通し、立上がり信号としてエンドアドレス
ラ、す514に入力し、この時のXアドレスをラッチす
る。これによりメモリから読み出されたデータが0”か
らn”へ変化した時のアドレスをスタートアドレス、I
InIIから0”へ変化した時のアドレスをエンドアド
レスとして保持できる。この2つの7ドレスから6n″
である線図形の長さをl を減算器517によりめる。
一方この2つのアドレスの中点アドレスを加算器518
によりめる。すなわち加算された値の下位1ビツトを落
とし、1ビツト下位にシフトした形で次のマルチプレク
サ519に結合する事により、2で除算を行い、rp点
アドレスXi をめる。次にめられた中点アドレスX・
 と線図形の長さ1.全乗算し、加算器522及びA 
レジスタ524により、検出されたn″である線図形の
重みづけられたアドレストx−1 を次々に足しこみ、式(2)中の重心座標の総和人・を
める。また同様の処理をyアドレスについても行う。こ
れはマルチプレクサ519 、523 ffきりかえ、
時分割し、加算器522とB、レジスタ525により行
うことが出来る。すべての領域について順次走査が終了
するとyアドレスカウンタ511のキャリーが出力され
除算器526がイネーブルとなり請求められたAn、B
nを、パターン部分の”n″である画素数の総和である
8nで除算し、式(3)の演算を行う。この5nFi、
総和カウンタ521により、比較器515と7ドレスカ
ウントクp、りにより、カウントされた値である。
次に第4図中の回転ずれ量検出回路60について説明す
る。重心検出回路50でめた被照合パターンの重心と標
準パターンファイルから読み出した重心を、それぞれ対
角線の交点としてもち一辺があらかじめ定められた値r
である正方形領域を被照合パターン、及び標準パターン
から読み出して重ね合せ、微小角度ずつ、一方のパター
ンを、重心を回転中心として回転させ、不一致面積をめ
る。この不一致面積をこの正方形領域に含まれる標準パ
ターンの11“の面積で割り、不一致度をこの比として
表す。この不一致面積比が最小の時の値とそのときの角
度を保持し、この処理を標準パターンの重心と被照合パ
ターンの重心とのすべての組について行い、第3図(a
)のような表を作成する。さらに、不一致度の比がある
設定値Mア□以上のものを表から除き、残った候補につ
いての一致角度について平均をめる。この中で平均に対
し、ある設定値θT、I以上角度が異っているものは取
り除く。あるいは平均、及び標準偏差をめ、標準偏差が
ある設定値以1になっているものをとり除く。この後、
残った候補の一致角度の平均を、回転ずれ量θとして出
力する。
第6図は回転ずれ量検出回路60の具体的な回路の機能
1177図である。正方形アドレス生成部61は与えら
れた3番目の標準重心アドレス”j+Yjと1番目の被
照合重心アドレス” i + ’I iから、この点を
中心にもつ一辺rの正方形領域の1ドレスを順次生成す
る。この内、被照合重心x、y 、から生成されたアド
レスは回転アドレス化t 酸部63に送られる。回転角度生成部62では微小角度
ずつ回転させるための角度を生成する。回転アドレス生
成部63では回転角度生成部62から受けとった角度θ
と、正方形アドレス生成部61から送られてきたアドレ
スから、被照合重心xi r 3’ iを中心としてθ
回転したときのアドレスを生成し、第1記憶装置20へ
送る。一方J7:At4Kt心アドレスxj r Y 
jから生成された正方形アドレス生成部61の出力アド
レスは、そのまま第2記憶装置90へ送られる。これに
より、第1記憶装置20からは被照合パターンデータが
、第2記憶装置90からは標準パターンデータが読み出
され、不一致面積比検出部64へ送られる。
不一致面積比検出部64では、入力されたa準、被照合
の2つのパターンデータのEXOR,をとり、不一致面
積をめ、かつ標準パターンの正方形部分領域中のパター
ン部分の面積で除算し、不一致面積比m=を検出する。
nl、j はさら、角度候補J テーブル生成部65に送られる。角度候補テープル生酸
部65では、微小角度回転されるごとに入力される不一
致面積比m、のうち、最小値をみつiJ け、この値とその時のθの値を、1番目の標準ノ寸ター
ン重心とi番目の被照合、fターン重・已・の特徴量と
して保持する。同様にすべての標本及び被照合の重心の
組み合せについて、この特徴itt検出し、保持する。
これにより第3図(、)に対応する候補テーブルを得る
。次に、zsらかしめ定められだ値MT□と優られた各
組の最小不一致面積比m t jを比較し1MMoa<
 m 、jであるものを削除し、第3図(b)に対応す
る候補テーブルを生成する。さらに生成された各組の一
致角度θ1.の平均θをめ、これとあらかじめ定められ
た値θヶ、とにより、7十〇to (01J −または
0−θ、Hンθ1j であるものを削除し、第3図(C
)に対応する候補テーブルを生成する。最後に、各組で
選ばれた候補のθ、jの平均をめて、これを一致角度θ
として出力する。
回転ずれ量検出回路60′t″求め九〇は、さらに平行
ずれ量検出回路70へ導かれ、一致するとして選び出さ
れた標準パターンの重心座標と被照合パターンの重心座
標と共K、それぞれθ+ ” r Y’L(x、y) 
として+1)式に代入されて、a、bがめられる。a、
bはそれぞれの重心の組につき、1組求まるので、いく
つかまったa、bについて平均をとり、これを平行ずれ
量として出力す−る。
第7図は平行ずれ1i−検出回路70の一部を具体的に
示した図である。同図(a)け各部の波形図、同図(b
)はブロック図である。これは(1)式をa、bについ
て解くための回路である。回転ずれit検出回路60か
ら送られたずれ回転角θカによりROM701゜R10
M702から8和θ、邸θ を読み出し・フルチプ′ク
サ703によりどちらかを選択してマルチプライヤ70
5へ送る。一方回転ずれ量検出回路60から同様に送ら
れてきた被照合パターンの重心xi。
y、もマルチプレクサ704によりどちらかを選択して
マルチプライヤ705へ送る。マルチプライヤ705は
入力信号を乗算し、インバータ706とフル ′チプレ
クサ708に出力信号を送る。インバータ706反びハ
ーフアダー707は、マルチプライヤ705の出力値を
2の補数にするだめの回路である。
マルチプレクサ708は、ノ・−ファダー707から出
力された2の補数、すなわち負値がマルチプライヤ70
5から出力された正値かどちらかを選択する。
マルチプライヤ705の出力はフルアダー709へ導か
れる。まだ回転ずれ検出回路60から入力された標本パ
ターンの重心xj、yjはマルチプレクサ711により
どちらかが選択されて、マルチプライヤ710へ送うれ
る。マルチプレクサ710は標本パターンの重心X、あ
るいはy、かフル7ダー709」 J の出力値人かのどちらかを選択し、フルアダー709へ
入力する、フルアダー709は入力値を加算する。この
時のマルチプレクサ703 、704 、708 。
711 、710のセレクト信号と、マルチプライヤ7
06とフルアダー709の出力データとのタイミングの
波形図を第7図(a)に示す。第7図(b)は回転すれ
量検出回路60か・ら出力された角度θと、最終的に候
補テーブルで残された標準パターンの重心x3.yjと
被照合パターンの重心x1 + Y iO組をそれぞれ
(1)式のXt 、 y’1. x r Yに代入しa
 + j+ b I Jをめる回路であるので、この回
路の出力段にめ九a iJ l b t sについてそ
れぞれ平均をめる回路を付加すれば、平行ずれ量a、b
がめられる一以上は、太線化処理手段、細線化処理手段
、重心検出手段及び回転ずれ量検出手段、平行ずれ量検
出手段を各々、曲別の回路、ハードフェアで実現した実
施例であるが、これらの機能をプログラムにより記述す
る事により、マイクロプルセッサを用いて実現する事も
できる。この場合のプログラムの処理ツー−チャートを
第8図(、) 、 (blに示す。
図中ステップ■は画像入力手段に、ステップ■。
■、■、■は太線化処理手段に、ステップ■、■。
■、■は細線化処理手段に、ステップ@l 、 @ 、
 @は重心検出手段に、ステップ◎、o、o、o、o。
[相]、@、[相]、@、@、@、@、[相]は回転ず
れ量検出手段に、ステップ@ 、 ei 、 @は平行
ずれ量検出手段に相当する。また第1の記憶装置、第2
の記憶装置はマイクルプルセッサの主記憶メモリの一部
、あるいは外部メモリに相当する。また標準ファイルは
ディスクなどの外部メモリに相当する。
以上、実施例について説明した。このように被照合パタ
ーンに対し、太め、細め処理をして残ったいくつかの部
分について1.心座標をめ、この重心座標と、あらかじ
め登録された標本パターンの重心座標との間で比較を行
い、その最大頻度を検出して、回転ずれ量、平行すれ量
としているので、印影パターンなどに起りがちな、ふち
の欠け、にじみ、かすれ等に強い位置位置ずれ検出装置
が慢られる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 fb) 、 (c)はそれぞれ標準
パターンについて、入力画像太線化処理後の画像、細線
化処理後のml像について示しだ図である。第2図(a
) 、 (b)。 (c)はそれぞれMp、<を合パターンについて、入力
画像、太線処理後の画像、細線化処理後の画像を示した
図である。第3図は回転ずれ量検出回路で行われる動作
を詐明づるための図である。第4図は、本発明の一実施
例を示す、機能ブp2り図である。 第5図は重心検出回路50の具体的な機能ブロック図で
ある。第6図は回転ずれ検出回路60の具体的な機能ブ
ロック図である。第7図(a) 、 (1))は平行す
れ量検出回路の一部を示した図で、同図(a)は波形図
、同図(b)tjニブロック丙である。第8図(a)。 (b)はマイクロプロセッサを用いた場合のプログラム
処理フローチャートである。 図中、Oは被照合印影、10は画像入力装置d、20は
第1記憶装置、30は太線化処理回路、40は細線化処
理回路、50は重心検出回路、60は回転ずれ量検出回
路、70は平行ずれ量検出回路、80は標準ファイル、
90は第2記憶装置、100はワークメモリである。 ♀1 口 亭Z図 (CI) (CI) (b) (b) 処 3 口 (c) ギ8図(a) ¥ 8 図 (b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 画像入力手段と、入力された画像を蓄える第1の記憶装
    置と、前記記憶装置から入力された画像を読み出し太線
    化処理する手段と、前記太線化処理手段を施された画像
    に対しさらに細線化処理をする手段と、前記細線化処理
    後の画像中に存在する背景部分′T:まわりを囲まれた
    複数の部分パターンの各々について重心座標を検出する
    手段と、あらかじめ標準パターンとして前記画像入力手
    段により入力された画像に対し前記太線化処理、細線化
    処理、重心検出処理を施してめた標準パターンの複数の
    重心座標とこの時の標準パターン画像を蓄えている標準
    パターンファイルと、前記標準パターンファイルから読
    み出した画像を蓄える第2の記憶装置と、前記重心座標
    を検出する手段により得られた被照合パターンの複数の
    重心座標と前記標本パターンファイルから読み出した標
    本パターンの複数の重心座標と、前記第1記憶装置に蓄
    えられた被照合パターンと前記第2記憶装置に蓄えられ
    た標準パターンとにより被照合パターンと標本パターン
    の回転ずれ量をめる手段と、前記被照合パターンの複数
    の重心座標と前記標本パターンの複数の重心座標と前記
    回転ずれ量検出手段によりめた回転ずれ量から平行ずれ
    量を検出する手段とを備えてなることを特徴とするパタ
    ーン位置ずれ検出装置。
JP18540183A 1983-10-04 1983-10-04 パタ−ン位置ずれ検出装置 Pending JPS6077273A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5550635A (en) * 1993-10-29 1996-08-27 Canon Kabushiki Kaisha Rotational deviation detecting method and system using a periodic pattern

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5550635A (en) * 1993-10-29 1996-08-27 Canon Kabushiki Kaisha Rotational deviation detecting method and system using a periodic pattern

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