JPS607386B2 - semiconductor equipment - Google Patents

semiconductor equipment

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Publication number
JPS607386B2
JPS607386B2 JP13409476A JP13409476A JPS607386B2 JP S607386 B2 JPS607386 B2 JP S607386B2 JP 13409476 A JP13409476 A JP 13409476A JP 13409476 A JP13409476 A JP 13409476A JP S607386 B2 JPS607386 B2 JP S607386B2
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JP
Japan
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terminal
glass
pellet
semiconductor
semiconductor pellet
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Expired
Application number
JP13409476A
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Japanese (ja)
Other versions
JPS5360176A (en
Inventor
健介 鈴木
啓一 守田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5360176A publication Critical patent/JPS5360176A/en
Publication of JPS607386B2 publication Critical patent/JPS607386B2/en
Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電流制御用半導体装置に関し、特にガラスモー
ルドにより、半導体装置の電気的および機械的な安定性
を保ち、信頼性が高くかつ、安価な電流制御用半導体装
置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor device for current control, and more particularly to a semiconductor device for current control that maintains electrical and mechanical stability of the semiconductor device using a glass mold, is highly reliable, and is inexpensive. It is something.

一般にサィリス夕と呼ばれる電流制御用半導体装置は、
p−n−p−nの4つの不純物層よりなるシリコンペレ
ツトに、カソード端子、アノード端子、ゲート端子を取
りつけ、接合部にはガラス被膜またはワニスなどの電気
的に安定な絶縁物で覆い、さらに機械的な応力から装置
の破壊を防止するため、全体をレジンモールドまたはケ
ースの中に封じ込む方法がとられている。しかし、レジ
ンモールド形では、レジンと金属との熱膨脹係数の差に
より、モールドされた内部で接着部の剥離や断線などの
問題を生じると共に、金属としジンとの接着性が悪いた
め、その部分より水分が入り、端湿性に問題がある。
A semiconductor device for current control, generally called a sirensor, is
A cathode terminal, an anode terminal, and a gate terminal are attached to a silicon pellet consisting of four p-n-p-n impurity layers, and the joints are covered with an electrically stable insulator such as a glass film or varnish. Furthermore, in order to prevent the device from breaking due to mechanical stress, the entire device is enclosed in a resin mold or case. However, with the resin mold type, the difference in thermal expansion coefficient between the resin and the metal causes problems such as peeling of the adhesive part and disconnection inside the mold, and the poor adhesion between the metal and the resin causes Moisture gets in and there is a problem with edge humidity.

一方、ケースに封じ込むキャンタィプでは、部品の値段
が高く、製造工程も複雑となり、コスト的な問題がある
On the other hand, the Cantype, which is enclosed in a case, has high cost parts and a complicated manufacturing process, resulting in cost problems.

本発明は上記欠点を改善するためになされたもので、そ
の特徴とするところは、電気的な保護と機械的な保護を
半導体べレットをガラスモールドすることにより行った
ことにある。
The present invention was made to improve the above-mentioned drawbacks, and its feature lies in that electrical protection and mechanical protection are provided by glass molding a semiconductor pellet.

図は本発明により製造したガラスモールド型サイリスタ
の一実施例を示す概略構造図である。
The figure is a schematic structural diagram showing one embodiment of a glass mold type thyristor manufactured according to the present invention.

以下、図に従い発明の詳細を説明する。半導体べレット
5は、一般のサィリスタと同様不純物を拡散することに
よって、p形のヱミッタ層5一a,n形のベース層5−
b,p形のベース層5−c,n形のェミツタ層5一dよ
りなっている中央部よりゲート端子を取り出すセンター
ゲート方式と呼ばれる構造となっている。
The details of the invention will be explained below with reference to the drawings. The semiconductor pellet 5 has a p-type emitter layer 51a and an n-type base layer 5- by diffusing impurities as in a general thyristor.
The structure is called a center gate method in which the gate terminal is taken out from the center, which is made up of b- and p-type base layers 5-c and n-type emitter layers 5-d.

この半導体べレットのp形の層5一aにはMo,Wなど
のアノード端子2がアルミニウムなどのろう材4でろう
接され、そのァノード端子2の半導体べレット5と接し
ない反対側には、外部回路と接続するためのアノードリ
ードーが、溶接、ろう俵などによりつけられる。
An anode terminal 2 made of Mo, W, etc. is soldered to the p-type layer 51a of this semiconductor pellet with a brazing material 4 made of aluminum, and the other side of the anode terminal 2 that is not in contact with the semiconductor pellet 5 is , an anode lead for connection to an external circuit is attached by welding, wax bale, etc.

半導体べレット5の反対側のp形層5一cには、鉄・ニ
ッケル合金などのゲート端子8が鉛系の半田などのろう
材6aで接着する。
A gate terminal 8 made of iron-nickel alloy or the like is bonded to the p-type layer 51c on the opposite side of the semiconductor pellet 5 with a brazing material 6a such as lead-based solder.

又、n形層5−dには、鉄・ニッケル合金などのカソー
ド端子7が鉛系の半田などのろう村6bで接着する。こ
のゲート端子8とカソード端子7は、あらかじめガラス
・セラミックなどの高温の絶縁物9で同心的に一体化し
ておく。この絶縁物は、後で行うガラス3でモールドす
るとき即ち、スラリーガラスを巻付け、焼結して、モー
ルドガラスとするときのモ−ルド温度以上の端熱性を有
していることが望ましい。また、カソード端子7−、ゲ
ート端子8を半田でろう付する時、半田はシリコンとの
ぬれ性が低いので、半導体べレット5としてシリコンを
用いる時は、予め、半田付するシリコンペレットに金属
膜を設けておくと良い。半導体べレット5と合金化する
ろう材に例えば、アルミニウムを用いる時は、金属膜は
不用である。次に、化学的なエッチング液により、ベレ
ット端面をエッチングした後に、アノード端子2、半導
体べレット5、カソード端子7の部分に、モールド用ガ
ラス3を巻き、高温で焼成する。
Further, a cathode terminal 7 made of iron-nickel alloy or the like is bonded to the n-type layer 5-d with a solder layer 6b made of lead-based solder or the like. The gate terminal 8 and the cathode terminal 7 are concentrically integrated in advance with a high-temperature insulator 9 such as glass or ceramic. It is desirable that this insulator has an end heat property higher than the molding temperature when molding the glass 3 to be performed later, that is, when slurry glass is wound and sintered to form molded glass. Furthermore, when soldering the cathode terminal 7- and the gate terminal 8 with solder, solder has low wettability with silicon, so when using silicon as the semiconductor pellet 5, a metal film is applied to the silicon pellet to be soldered in advance. It is a good idea to set it up. For example, when aluminum is used as the brazing material to be alloyed with the semiconductor pellet 5, the metal film is unnecessary. Next, after etching the end face of the pellet with a chemical etching solution, molding glass 3 is wrapped around the anode terminal 2, semiconductor pellet 5, and cathode terminal 7, and fired at a high temperature.

モールド用ガラス3は、半導体べレット5およびMo,
Wなどのアノード端子2に熱膨脹係数の近いものを使用
することにより、半導体べレット5およびモールドガラ
ス3の破損を防止できる。一方、カソード端子7に、ガ
ラス3と熱膨脹係数が異なるものを使用するときは、カ
ソード端子7とモールドガラス3は接着させずに、ダブ
ルフランジ構造とすることで、熱膨咳腹係数差を利用し
て、ガラスを両フランジ間で圧着することにより、気密
性を向上する。このカソード端子7はMo,Wなどのガ
ラス3に熱膨脹係数の近い材質を使用するときは、ガラ
ス3と接着させることができる。
The molding glass 3 includes a semiconductor pellet 5 and Mo,
By using a material having a similar coefficient of thermal expansion to the anode terminal 2, such as W, damage to the semiconductor pellet 5 and the molded glass 3 can be prevented. On the other hand, when using a material with a different coefficient of thermal expansion than the glass 3 for the cathode terminal 7, the cathode terminal 7 and the molded glass 3 are not glued together, but have a double flange structure to take advantage of the difference in thermal expansion coefficient. By pressing the glass between both flanges, airtightness is improved. This cathode terminal 7 can be bonded to the glass 3 when using a material such as Mo or W that has a coefficient of thermal expansion similar to that of the glass 3.

図では、センターゲート型サィリスタを示したが、周辺
ゲート型サィリス夕、サイドゲート型サィリスタなどに
も適用できるものであり、サィリスタのみならず、トラ
ンジスタにも適用できる。
In the figure, a center gate type thyristor is shown, but it can also be applied to peripheral gate type thyristors, side gate type thyristors, etc., and can be applied not only to thyristors but also to transistors.

この場合、カソード端子を中心、ゲート端子が外側に位
置するように同0的に配置し、両端子を半導体べレット
5の所定個所をろう付し、その余の半導体べレットの表
面は、絶縁膜で覆っておけば両端子間の短絡の問題はな
い。本発明によれば、半導体べレット表面は電気的に特
性安定なガラス封止となるため、高信頼性であり、この
モールドガラスが機械的な保護もするため、組立工程が
容易となり、低コストの半導体装置を得ることができる
In this case, they are arranged uniformly with the cathode terminal in the center and the gate terminal on the outside, and both terminals are brazed to predetermined points on the semiconductor pellet 5, and the remaining surface of the semiconductor pellet is insulated. If it is covered with a film, there will be no problem of short circuit between both terminals. According to the present invention, the surface of the semiconductor pellet is sealed with glass that has stable electrical characteristics, resulting in high reliability.Since this molded glass also provides mechanical protection, the assembly process is easy and costs are reduced. A semiconductor device can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図は、本発明による電流制御用半導体装置の−実施例を
示す概略構造図である。 1・・・アノードリード、2・・・アノード端子、3・
・・モールドガラス、4・・・ろう材、5・・・半導体
べレット、6a,6b・・・ろう材、7・・・カソード
端子、8・・・ゲート端子、9・・・絶縁物。
The figure is a schematic structural diagram showing an embodiment of a current control semiconductor device according to the present invention. 1... Anode lead, 2... Anode terminal, 3...
...Mold glass, 4... Brazing material, 5... Semiconductor pellet, 6a, 6b... Brazing material, 7... Cathode terminal, 8... Gate terminal, 9... Insulator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 半導体ペレツトとそのペレツトにろう付されるカソ
ード端子、アノード端子、ゲート端子を有する半導体装
置において、カソード端子とゲート端子は絶縁物を介し
て同心的に一体構造を有しており、これと、半導体ペレ
ツト、およびアノード端子をろう付け後、一体化してい
るカソード端子とゲート端子のうちの外側の端子、アノ
ード端子、半導体ペレツト部をガラスでモールドしたこ
とを特徴とする半導体装置。
1. In a semiconductor device having a semiconductor pellet and a cathode terminal, an anode terminal, and a gate terminal soldered to the pellet, the cathode terminal and the gate terminal have a concentric integral structure with an insulator interposed therebetween, and A semiconductor device characterized in that after brazing a semiconductor pellet and an anode terminal, the outer terminal of the integrated cathode terminal and gate terminal, the anode terminal, and the semiconductor pellet portion are molded with glass.
JP13409476A 1976-11-10 1976-11-10 semiconductor equipment Expired JPS607386B2 (en)

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JP13409476A JPS607386B2 (en) 1976-11-10 1976-11-10 semiconductor equipment

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JPS5360176A JPS5360176A (en) 1978-05-30
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6053279A (en) * 1983-08-30 1985-03-26 Nippon Pisuko:Kk Resilient sleeve
JPS63172087A (en) * 1986-12-29 1988-07-15 株式会社 日本ピスコ Pipe joint

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6053279A (en) * 1983-08-30 1985-03-26 Nippon Pisuko:Kk Resilient sleeve
JPS63172087A (en) * 1986-12-29 1988-07-15 株式会社 日本ピスコ Pipe joint

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