JPS606821A - レベル検出装置 - Google Patents
レベル検出装置Info
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- JPS606821A JPS606821A JP9097184A JP9097184A JPS606821A JP S606821 A JPS606821 A JP S606821A JP 9097184 A JP9097184 A JP 9097184A JP 9097184 A JP9097184 A JP 9097184A JP S606821 A JPS606821 A JP S606821A
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Links
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
- G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
- G01F23/28—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
- G01F23/284—Electromagnetic waves
- G01F23/292—Light, e.g. infrared or ultraviolet
- G01F23/2921—Light, e.g. infrared or ultraviolet for discrete levels
- G01F23/2928—Light, e.g. infrared or ultraviolet for discrete levels using light reflected on the material surface
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は物体の表面のレベルを無接触で精度良く検出測
定する奔寺にチΦ寺装置に関する。
定する奔寺にチΦ寺装置に関する。
物体の表面の位置、すなわちレベルを精度良くしかも無
接触で検出測定したいという要求は数多くあり、このよ
うな場合、光、超音波、物体が電気導体の場合には、静
電容量などが用いられる。
接触で検出測定したいという要求は数多くあり、このよ
うな場合、光、超音波、物体が電気導体の場合には、静
電容量などが用いられる。
しかしながらこれ等従来の方法では、物体の表面状態に
よりその精度が左右されることが多い。たとえば光を用
いる場合、表面の凹凸、光の反射音′、表面の傾斜等が
影響する。又物体か真空中にある場合には、超音波は役
に立ち得ない。
よりその精度が左右されることが多い。たとえば光を用
いる場合、表面の凹凸、光の反射音′、表面の傾斜等が
影響する。又物体か真空中にある場合には、超音波は役
に立ち得ない。
のである。
以下実施例に従い説明する。
第１図は１実施例の構成を示すもので、２は検出すべき
物体の表面、６はその検出する方向を示す軸線である。
物体の表面、６はその検出する方向を示す軸線である。
１はフィシメン１−ランプ等の線状光源、３はレンズで
、このレンズにより光源の像を物体の測定点ａに作るよ
うに構成さ４している。。
、このレンズにより光源の像を物体の測定点ａに作るよ
うに構成さ４している。。
なおａ点における光束は紙面に垂直な方向になるように
しである。４は同じくレンズ、５ば受光器であり、この
受光器は後述の如く光束の位置を倹出出来るように構成
されている。しかして光源ｌ、レンズ３、光像ａを通る
軸線と光像ａ、レンズ４、受光器５を通る軸線は、軸線
６を含む平面上に軸＃８６に対してほぼ対称に配置され
ている。」二記レンズは受光器５の面上に（ａ）により
反射散乱さＡした光の像（ｂ）を作るように構成されて
いる。
しである。４は同じくレンズ、５ば受光器であり、この
受光器は後述の如く光束の位置を倹出出来るように構成
されている。しかして光源ｌ、レンズ３、光像ａを通る
軸線と光像ａ、レンズ４、受光器５を通る軸線は、軸線
６を含む平面上に軸＃８６に対してほぼ対称に配置され
ている。」二記レンズは受光器５の面上に（ａ）により
反射散乱さＡした光の像（ｂ）を作るように構成されて
いる。
図の構成において物体の表面が２′まで移動すると光束
の照射点（、）は（ａ′）に移動する。したがって（ａ
′）を光源どしている受光撒上の像（ｂ） ｌ）： （
ｂ’）に移動することになる。また、レベルが２′′に
移動すると、（ａ）および（ｂ）はそＡしぞＪｔ（ａ”
）および（ｂ”）に移動する。すなわち物体のレベル２
の移８量は、受光器面上の像（１））の移動に置きかえ
られる。この場合、物体表面２に状態の変化、たとえば
反射率の変化があった場合、受光器の面に達する光景に
差異が生じるがその像の位置は変化しない。したがって
受光器５どしで光の位置のみにより出力が制御されるも
のを用い４しば、面の状態の変化の影響を受４Ｊること
はない。またこのことは光源の明るさの変化、また光路
中の光の吸収等の影響をも；Ｉ）ＢＱ視出来る。
の照射点（、）は（ａ′）に移動する。したがって（ａ
′）を光源どしている受光撒上の像（ｂ） ｌ）： （
ｂ’）に移動することになる。また、レベルが２′′に
移動すると、（ａ）および（ｂ）はそＡしぞＪｔ（ａ”
）および（ｂ”）に移動する。すなわち物体のレベル２
の移８量は、受光器面上の像（１））の移動に置きかえ
られる。この場合、物体表面２に状態の変化、たとえば
反射率の変化があった場合、受光器の面に達する光景に
差異が生じるがその像の位置は変化しない。したがって
受光器５どしで光の位置のみにより出力が制御されるも
のを用い４しば、面の状態の変化の影響を受４Ｊること
はない。またこのことは光源の明るさの変化、また光路
中の光の吸収等の影響をも；Ｉ）ＢＱ視出来る。
第２図は上記の如き特性を有する受光）１））の−例を
示すものて、７はｃｄｓ＊７の光導載体で短間形に形成
されている。８および９は、光導電７の長辺の両側にそ
Ａしそれ電気的に接続された、抵抗体および電極で、１
．０．ＩＩは抵抗体に電流を供給する端子、１２は、電
極の電圧を取り出す出力端子である。今端子１０．ＩＩ
間すなわち抵抗８に一定電流を％ｉ Ｌ／ ７’−状態
で、光導電体面に１図の］３で示す如き形状の光束を照
射すると、Ｉ！ｔ（ｆｌ（さ］した部分の抵抗値が低下
し、電極９すなわち出力端Ｔ−１２に１３の位置に対応
した１Ｋ（抗８にの電圧が出力される。この場合光束に
照射された部分の光導体の抵抗値は、光の量により変化
するが、出力にこのＪＩＮ抗値より充分に大きい人力イ
ンピーダンスを有する増＋ＩＪ器を接続して用いＡしば
、この１」（抗値の変化は出力に影響を！ｊえない。ず
なわら。
示すものて、７はｃｄｓ＊７の光導載体で短間形に形成
されている。８および９は、光導電７の長辺の両側にそ
Ａしそれ電気的に接続された、抵抗体および電極で、１
．０．ＩＩは抵抗体に電流を供給する端子、１２は、電
極の電圧を取り出す出力端子である。今端子１０．ＩＩ
間すなわち抵抗８に一定電流を％ｉ Ｌ／ ７’−状態
で、光導電体面に１図の］３で示す如き形状の光束を照
射すると、Ｉ！ｔ（ｆｌ（さ］した部分の抵抗値が低下
し、電極９すなわち出力端Ｔ−１２に１３の位置に対応
した１Ｋ（抗８にの電圧が出力される。この場合光束に
照射された部分の光導体の抵抗値は、光の量により変化
するが、出力にこのＪＩＮ抗値より充分に大きい人力イ
ンピーダンスを有する増＋ＩＪ器を接続して用いＡしば
、この１」（抗値の変化は出力に影響を！ｊえない。ず
なわら。
３１１束の位置のみにより出力が制御さｆｉシることと
なり、」二連のように、受光器５の出力は物体のレベル
と対応する。
なり、」二連のように、受光器５の出力は物体のレベル
と対応する。
第３図は受光器として異った実施例を示すもので、１４
．１４’ 、１４”・・・は、それぞれ一端に入射した
光を他端へ伝送する光ファイバーであり１．５．１５’
、１５“・・・は〕〕第１−ダイオーまたは、フ第１・
１〜ランシスター等の光検出器で、光ファイバーと光検
出器は−ＩＪ−に対応している。
．１４’ 、１４”・・・は、それぞれ一端に入射した
光を他端へ伝送する光ファイバーであり１．５．１５’
、１５“・・・は〕〕第１−ダイオーまたは、フ第１・
１〜ランシスター等の光検出器で、光ファイバーと光検
出器は−ＩＪ−に対応している。
しかして光ファイバーの一端は図示の如く、−列に形成
されその相互間隔は受光面に達する光束の＋１ｊより小
さく配置されている。この場合動作している光検出器が
、物体の表面レベルに対応していることはもちろんであ
る。しかしてレベルを階段状に検出して良いものであＡ
しば、これらの光検出のうち最も出力の大きいものに対
応するレベルが、検出すべきレベルである。又連続した
出力を得たい場合には、最も大きい出力の２個の光検出
器の平均値を取るように構成すれば良い。
されその相互間隔は受光面に達する光束の＋１ｊより小
さく配置されている。この場合動作している光検出器が
、物体の表面レベルに対応していることはもちろんであ
る。しかしてレベルを階段状に検出して良いものであＡ
しば、これらの光検出のうち最も出力の大きいものに対
応するレベルが、検出すべきレベルである。又連続した
出力を得たい場合には、最も大きい出力の２個の光検出
器の平均値を取るように構成すれば良い。
第４図は本発明を円筒状の直径又は偏心の４１す定番き
応用した１実施例を示すもので、１Ｇは測定すべき円筒
、１７．１７’は光源、１８，１．８’および２０．２
０’はそれぞＪし光源イ（ｊ！を物体上の１９．１９’
に投影するＬ／ンズおにび、物Ｉ４＜ ７ｃ反躬散乱
さ肛た光を受光８Ｆン２１．２ビに投影するレンズであ
り、物体−Ｌに投影さＪしる光ｉ）Ｘ ４ｍは円１．的
の母線の方向に長い綿状になるように構成されている。
応用した１実施例を示すもので、１Ｇは測定すべき円筒
、１７．１７’は光源、１８，１．８’および２０．２
０’はそれぞＪし光源イ（ｊ！を物体上の１９．１９’
に投影するＬ／ンズおにび、物Ｉ４＜ ７ｃ反躬散乱
さ肛た光を受光８Ｆン２１．２ビに投影するレンズであ
り、物体−Ｌに投影さＪしる光ｉ）Ｘ ４ｍは円１．的
の母線の方向に長い綿状になるように構成されている。
また５２つの投影点１９．［）’は力、に円筒の直径の
両端に位置するようになっている。このような構成にお
いて円１：’７４ ｌ ｂを１１・山系°式２２を中白
として回転せしめると測定点１９および１９′の変化に
ともない受光器２ ］ Ｊ：；よＵ： ２ ］ ］部（
１） 出力Ｍ ’ｌ化する。しかして２つの受光）（：
￥２］、２＋’の出力の差は円筒の直径の変化すなわち
真円度の最を示し、平均値の変化は中心の移動、Ｊ−な
わち偏心量を示す。
両端に位置するようになっている。このような構成にお
いて円１：’７４ ｌ ｂを１１・山系°式２２を中白
として回転せしめると測定点１９および１９′の変化に
ともない受光器２ ］ Ｊ：；よＵ： ２ ］ ］部（
１） 出力Ｍ ’ｌ化する。しかして２つの受光）（：
￥２］、２＋’の出力の差は円筒の直径の変化すなわち
真円度の最を示し、平均値の変化は中心の移動、Ｊ−な
わち偏心量を示す。
なお、第１図において光像ａと受光器トのＩ’ｌ（ｂの
大きさの比、すなわちレンズ１１の（、：２ Ｎ＋、：
を適当に選ぶことにより測定の感度を変えることが出来
る１゜今この倍率を１０倍とすると、物体表面」−σ）
ｎ ｉｌ ’の移動量は受光器」二のｂ１〕′におい
て１０（！’ｆ＆こ拡大されるため、物体の微小な変位
を容易に検出することか出来る。この場合光源側のレン
ズは光源を縮ノ］１して出来るだけ小さい光像ａを作る
ようにすることが望ましい。またレンズ４におけ□る倍
率を１１５とするとａａ’の動きはｂｂ’ において同
じく１１５に縮小せられるため物体の大きい範囲の変位
を測定することが出来る。この場合、光源側のレンズ３
は絞りを小さくして焦点深度を大きくすることが望まし
い。
大きさの比、すなわちレンズ１１の（、：２ Ｎ＋、：
を適当に選ぶことにより測定の感度を変えることが出来
る１゜今この倍率を１０倍とすると、物体表面」−σ）
ｎ ｉｌ ’の移動量は受光器」二のｂ１〕′におい
て１０（！’ｆ＆こ拡大されるため、物体の微小な変位
を容易に検出することか出来る。この場合光源側のレン
ズは光源を縮ノ］１して出来るだけ小さい光像ａを作る
ようにすることが望ましい。またレンズ４におけ□る倍
率を１１５とするとａａ’の動きはｂｂ’ において同
じく１１５に縮小せられるため物体の大きい範囲の変位
を測定することが出来る。この場合、光源側のレンズ３
は絞りを小さくして焦点深度を大きくすることが望まし
い。
以」二連ぺた如く本発明の方法によれば、光景の変化は
ｉｌｌ！Ｉ定に影響を与えないから、物体表面の反射率
、傾斜、光路中のレンズ窓等の汚れによる光の吸収、光
源の特性変化等従来の方法においては問題となったこと
は、いずれも無視出来る、しかも、検出光学系の倍率を
適当に選ぶことによって高い感度の測定から拡い範囲の
測定まで任意の目的に応じた検出測定の条件を設定出来
る。
ｉｌｌ！Ｉ定に影響を与えないから、物体表面の反射率
、傾斜、光路中のレンズ窓等の汚れによる光の吸収、光
源の特性変化等従来の方法においては問題となったこと
は、いずれも無視出来る、しかも、検出光学系の倍率を
適当に選ぶことによって高い感度の測定から拡い範囲の
測定まで任意の目的に応じた検出測定の条件を設定出来
る。
第１図は本発明の構成を示す５（ン明図、第２図は受光
器の一例を示す図、第３図は受光器の他の一例を示す図
、第４図は円筒の外径測定Ｌ−，Ｉ−ｒ、： １１１
Ｌ ｊと１実施例を示す図である。 第１Ｉ２１ 第２図 第、５図 第４区
器の一例を示す図、第３図は受光器の他の一例を示す図
、第４図は円筒の外径測定Ｌ−，Ｉ−ｒ、： １１１
Ｌ ｊと１実施例を示す図である。 第１Ｉ２１ 第２図 第、５図 第４区
Claims (1)
- 物体の測定すべき点を通り測定する方向軸線を含む平面
上に、前記軸線に対してほぼ対称に２組の光学系を配置
し、１組は前記物体上に前記平面と直角なスリット状の
光束を照射し、他の１組は前記物体から反射散乱された
光を受光器に集束投影する如く構成し、かつ前記受光器
を、その受光面に達する光束のＩＪよりも小さな間隔を
以て配列さｉシた光ファイバーとそれに対応する光検出
器とで構成したことを特徴とするレベル検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9097184A JPS606821A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | レベル検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9097184A JPS606821A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | レベル検出装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50133076A Division JPS5257842A (en) | 1975-11-07 | 1975-11-07 | Level detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS606821A true JPS606821A (ja) | 1985-01-14 |
Family
ID=14013386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9097184A Pending JPS606821A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | レベル検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606821A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4708483A (en) * | 1985-06-28 | 1987-11-24 | Rexnord Inc. | Optical measuring apparatus and method |
| JPH03150421A (ja) * | 1989-11-07 | 1991-06-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 液面測定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4896145A (ja) * | 1972-03-22 | 1973-12-08 |
-
1984
- 1984-05-09 JP JP9097184A patent/JPS606821A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4896145A (ja) * | 1972-03-22 | 1973-12-08 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4708483A (en) * | 1985-06-28 | 1987-11-24 | Rexnord Inc. | Optical measuring apparatus and method |
| JPH03150421A (ja) * | 1989-11-07 | 1991-06-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 液面測定方法 |
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