JPS606747Y2 - デイジタル電子温度計 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、サーミスタ等の感温抵抗素子を用いて、温度
をデジタル表示する電子温度計に係り、特に測定時間を
短縮した電子温度計に関するものである。

本考案の目的は、ディジタル的に測定時間を短縮するこ
とである。

本考案の他の目的は、集積化が容易な回路構成で測定時
間を短縮することである。

サーミスタ等の感温抵抗素子を直接測定部に接触させる
ことは不可能で、一般に感温抵抗素子の表面を金属で被
ってプローブ状に威しであるために、感温抵抗素子が測
定温度に達するまでには数分間程度必要である。

この様なために、ディジタル温度計においては、測定時
間を短縮する樹皮が用いられている。

第１図は、従来の測定時間を短縮する方法を用いたディ
ジタル温度計のブロック図である。

感温部１は、サーミスタを一辺に有するブリッジ回路と
、このブリッジ回路の不平衡電圧を増幅する増幅回路か
らなり、Ａ−Ｄ変換回路２は、この増幅回路からの出力
をディジタル量に変換するものである。

測定時間短縮回路３は、コンデンサにより回路操作の各
１サイクル毎に１同項幅回路からの出力電圧を記憶して
、次に送られてくる増幅回路からの出力電圧とを演算増
幅器を比較器として働かせて、電圧差が設定値以下にな
った時に比較器より信号を出し、補正回路４を働かせて
Ａ−Ｄ変換器２より送られてくるディジタル量に変換さ
れた温度値に一定数を加算して、ディジタル表示部５に
より温度をディジタル表示している。

この様に、測定時間短縮回路３によりサーミスタの温度
変化状態を監視して、一定数を補正回路４により加算す
ることによって、測定時間を短縮することができる。

しかし、コンデンサなどによリ、アナログ的にサーミス
タ温度の変化状態を監視しているので、回路調整箇所も
多くなり、回路調整が複雑となるので、誤差の介入する
原因にもなってしまう。

又、演算増幅器は消費電力も大きく、正・負の電源を必
要とするので、電源回路も複雑になってしまう。

本考案は、上記の様な欠点をなくした測定時間を短縮す
る構成を提供するものである。

本考案は、測定時間短縮回路をディジタル的に行うので
、回路調整の必要もなく、誤差の介入する要因も少なく
することができ、消費電力も少なくすることができる。

集積化も容易にできるので、小型のディジタル電子温度
計を提供することができる。

第２図は本考案を用いたディジタル電子温度計の一実施
例のブロック図である。

感温部６は、サーミスタを一辺に有するブリッジ回路と
、このブリッジ回路の不平衡電圧を増幅する増幅回路か
ら戊り、Ａ−Ｄ変換回路７は、この増幅回路からの出力
をデジタル量に変換するものである。

測定時間短縮回路８は、２つの第１の記憶回路と比較判
定回路から戒り、Ａ−Ｄ変換回路７の出力のディジタル
量に変換された温度値を１つの記憶回路により記憶して
、次に送られてくる温度値をもう１つの記憶回路で記憶
し、２つの記憶回路の温度値を比較判定回路により比較
する。

温度差が設定値以下になった時に、補正回路９に信号を
送り、記憶回路に記憶された温度値に一定数を加算して
、ディジタル表示部１０により温度をディジタル表示す
る。

又、測定時間短縮回路８と補正回路９を入れ換えた構成
にすることにより、常に補正値が加算された温度値が、
測定時間短縮回路８に入ってくる様になって、記憶回路
の信号をそのままディジタル表示部１０に送ることもで
きる。

第３図は、本考案を用いた測定時間短縮回路の一実施例
の回路図であり、第４図は、第３図の各部の符号に対応
した部分の波形を示す図である。

１２は第１の記憶回路であり、Ａ−Ｄ変換器からの温度
信号が布線Ａより入力される。

１３は第２の記憶回路で、前回測定された温度信号が記
憶される。

１５は比較測定回路であり、第１の記憶回路１２及び第
２の記憶回路１３の上位４ビツトを比較し、一致信号を
出力する。

Ａ−Ｄ変換器からのディジタル量に変換された温度信号
は、布線Ａを通り、ＮＡＮＤゲート１１に供給される。

ＮＡＮＤゲート１１はフリップフロップＦ２のＱ２信号
とフリップフロップＦ４の補正信号Ｑ４とによりコント
ロールされ、通常はＱ４はハイレベルなので、Ｑ２信号
がハイレベルの時、布線Ａの反転信号がＮＡＮＤゲート
１１の出力により供給され、布線Ｂにより第１の記憶回
路１２に信号が供給される。

Ｑ２信号がローレベルになると、第１の記憶回路１２に
供給される信号は止まる。

また、Ｑ２信号がローレベルになると布線Ｃのレベルが
ハイレベルとなり、第１の記憶回路１２と第２の記憶回
路１３の温度値を比較した結果の信号をＮＡＮＤゲート
１４に供給する。

第１の記憶回路１２と第２の記憶回路１３の温度差が設
定値以上の場合、即ち、上位４ビツトが一致していない
場合には、ＮＡＮＤゲート１４の出力はハイレベルとな
り、布線Ｅのレベルはローレベルを保ったままになって
、フリップフロップＦ４のＱ、の出力はローレベルにな
ったままである。

布線Ｃのレベルがハイレベルからローレベルに変ワルト
、布線りのレベルがローレベルからハイレベルに変わる
。

布線りがハイレベルになると敷線Ｇがハイレベルとなり
、第１の記憶回路１２に記憶された信号を第２の記憶回
路１３が記憶する。

布線Ｇがハイレベルからローレベルに変わると、布線Ｈ
がローレベルからハイレベルに変わり、第１の記ｔｇ回
路１２をリセットする。

布線Ｈがハイレベルからローレベルに変わると、Ｑ２出
力がハイレベルとなり、布線Ａの信号が第１の記憶回路
１２に記憶される。

前記の様に、第１の記憶回路１２に記憶されると、第２
の記憶回路１３の温度値と比較判定して、温度差が設定
値以上の場合は、第２の記憶回路１３に第１の記憶回路
１２の温度値を記憶して、第１の記憶回路１２の温度値
をリセットし、次の温度値の記憶に備える。

温度差が設定値以下の場合、即ち、上位４ビツトの信号
が一致した場合は、布線Ｆがハイレベルとなり、記憶回
路１３をコントロールする布線Ｇの記憶信号と記憶回路
１２の布線Ｈのリセット信号及びＮＡＮＤゲート１１が
働かないようになる。

フリップフロップＦ、のＱ、信号を補正回路に用いて、
記憶回路１２に記憶された温度値に一定数を加算した値
をディジタル表示部によって表示することにより、短時
間で正確な温度値を知ることができる。

以上の様に、測定時間短縮回路は、感温抵抗素子の温度
変化状態をディジタル的に測定することにより、測定時
間を短縮するものである。

以上の様に、本考案は、感温抵抗素子の温度変化状態を
温度をディジタル量に変換した信号を利用して、記憶回
路、比較判定回路によりディジタル的に温度変化状態を
測定して、測定時間を短縮するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来の測定時間を短縮したディジタル温度計
のブロック図である。 第２図は、本考案の測定時間を短縮したディジタル温度
計のブロック図である。 第３図は、本考案の測定時間を短縮する回路の一実施例
である。 第４図は、第３図の各部の符号に対応した部分の波形で
ある。 ６・・・・・・感温部、７・・・・・・Ａ−Ｄ変換回路
、８・・・・・・測定時間短縮回路、９・・・・・・補
正回路、１０・・・・・・ディジタル表示部、１１．１
４・・・・・・ＮＡＮＤゲート、１２．１３・・・・・
・第１及び第２の記憶回路、１５・・・・・・比較判定
回路。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 感温部、Ａ−Ｄ変換回路、測定時間短縮回路、補正回路
   及びデジタル表示部よりなる電子温度計において、前記
   測定時間短縮回路は、前記Ａ−Ｄ変換回路の測定温度信
   号を記憶する第１の記憶回路、前記Ａ−Ｄ変換回路の前
   回測定温度信号を記憶する第２の記憶回路及び前記第１
   の記憶回路と前記第２の記憶回路の値を比較する比較判
   定回路よりなり、前記比較判定回路により前記第１の記
   憶回路と前記第２の記憶回路の上位ビットの一致を検出
   して、前記第１の記憶回路と前記第２の記憶回路の温度
   信号の差が設定値以上の場合に、前記第２の記憶回路に
   前記第１の記憶回路の値を記憶させると共に前記第１の
   記憶回路をリセットし、前記温度信号の差が設定値以下
   になったときに前記比較判定回路の出力により前記補正
   回路によって前記第１の記憶回路の温度信号に一定値を
   加算して表示することを特徴とするデジタル電子温度計
   。