JPS6064589A - 画像位置検出方法 - Google Patents
画像位置検出方法Info
- Publication number
- JPS6064589A JPS6064589A JP58173799A JP17379983A JPS6064589A JP S6064589 A JPS6064589 A JP S6064589A JP 58173799 A JP58173799 A JP 58173799A JP 17379983 A JP17379983 A JP 17379983A JP S6064589 A JPS6064589 A JP S6064589A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- angle
- coordinate value
- region
- point
- regions
- Prior art date
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- Granted
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- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、たとえばＩＣ実装機のような１点対称位置
に複数個の類似形状閉領域群を持つ点対称な画像におい
て、類似形状閉領域群々の０徴点序標の点対称な２領域
の領域ごとの平均座標を画像全体の特徴点座標として位
置ずれを検出する画像位置検出方法に関するものである
。
に複数個の類似形状閉領域群を持つ点対称な画像におい
て、類似形状閉領域群々の０徴点序標の点対称な２領域
の領域ごとの平均座標を画像全体の特徴点座標として位
置ずれを検出する画像位置検出方法に関するものである
。
従来例の構成とその問題点
従来の画像検出方法では、位置ずれを検出する画像全体
における数個の特徴点の座標から位置ずれの算出を行っ
ている。この特徴点は、たとえばある閉領域の重心、尖
端等で、これらの特徴点の座標を用いて位置ずれの検出
を行うと、特徴点座標群出の際に含ｉれるノイズが除去
されず、ノイズが含１れたままの座標値を用いて位置す
ｉｔ、を算出すること釦なり、算出結果に大きな誤差が
含まれるという欠点を持つ。
における数個の特徴点の座標から位置ずれの算出を行っ
ている。この特徴点は、たとえばある閉領域の重心、尖
端等で、これらの特徴点の座標を用いて位置ずれの検出
を行うと、特徴点座標群出の際に含ｉれるノイズが除去
されず、ノイズが含１れたままの座標値を用いて位置す
ｉｔ、を算出すること釦なり、算出結果に大きな誤差が
含まれるという欠点を持つ。
発明の目的
この発明は、上記欠点に鑑み、点対称な画像において、
ノイズが減少した２つの画像全体の特徴点座標を用いる
ことにより、簡易な計算で位置ずれを誤差少なく検出す
ることができる画像位置検出方法を提供することを目的
としている。
ノイズが減少した２つの画像全体の特徴点座標を用いる
ことにより、簡易な計算で位置ずれを誤差少なく検出す
ることができる画像位置検出方法を提供することを目的
としている。
発明の構成
この発明は１点対称な画像において１点対称な２つの領
域それぞれに含まれる類似形状閉領域群の個々の閉領域
の特徴点の平均座標をめ、画像全体の２つの特徴点座標
とし、２つの特徴点座標により形成される線分の中点座
標と角度を用いて基準座標および基準角度からの位置ず
れを検出することにより、上記目的を達するものである
。
域それぞれに含まれる類似形状閉領域群の個々の閉領域
の特徴点の平均座標をめ、画像全体の２つの特徴点座標
とし、２つの特徴点座標により形成される線分の中点座
標と角度を用いて基準座標および基準角度からの位置ず
れを検出することにより、上記目的を達するものである
。
以下、この発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第１図は、この発明による画像位置検出方法を適用した
実施例のブロック図である６１は画像入力部であり、位
置ずれを検出する画像情報を入力する。２１−ｊＭｌ領
域内の対象閉領域抽出部で、点対称な２領域の一方の領
域内に含浸ｉする（Ｓ′ｒｆＲずれ検出の対象となる類
似形状閉領域を抽出する。５は第２領域内の対象閉領域
抽出部で、第１領域と点対称釦位置する他方の領域内に
含浸れる位置ずれ検出の対象となる類似形状閉領域を抽
出する。
実施例のブロック図である６１は画像入力部であり、位
置ずれを検出する画像情報を入力する。２１−ｊＭｌ領
域内の対象閉領域抽出部で、点対称な２領域の一方の領
域内に含浸ｉする（Ｓ′ｒｆＲずれ検出の対象となる類
似形状閉領域を抽出する。５は第２領域内の対象閉領域
抽出部で、第１領域と点対称釦位置する他方の領域内に
含浸れる位置ずれ検出の対象となる類似形状閉領域を抽
出する。
３および６は閉領域の特徴点抽出部で、対象閉領域抽出
部２および５で抽出さｔまた閉領域個々の特徴点をそれ
ぞれ抽出する。４および７け平均座標値算出部であシ、
特徴点抽出部３および６で抽出された特徴点の平均座標
値をそれぞれ算出する。
部２および５で抽出さｔまた閉領域個々の特徴点をそれ
ぞれ抽出する。４および７け平均座標値算出部であシ、
特徴点抽出部３および６で抽出された特徴点の平均座標
値をそれぞれ算出する。
８は中点座標値・角度算出部で、平均座標値算出部４お
よび７で算出した２つの平均座標値により形成される線
分の中点座標値と角度を算出する。
よび７で算出した２つの平均座標値により形成される線
分の中点座標値と角度を算出する。
９け基準座標値・角度設定部で、位置ずれを検出″ｊ−
る画像が存在するべき正しい位置の座標値と角度を設定
する。１０は位置ずれ出力部で、中点座標・角度算出部
８で算出された座標値および角度と基準座標・角度設定
部９の基準座標値および角度との差を位置ずれ検出結果
として出力する。
る画像が存在するべき正しい位置の座標値と角度を設定
する。１０は位置ずれ出力部で、中点座標・角度算出部
８で算出された座標値および角度と基準座標・角度設定
部９の基準座標値および角度との差を位置ずれ検出結果
として出力する。
上記のように構成された画像位置検出方法例ついて、上
下に同数のリード線を持つインナーリードボンディング
装置（以下ＩＬＢ装置と称す）のリード線位置検出を例
に、以下その動作を説明する。
下に同数のリード線を持つインナーリードボンディング
装置（以下ＩＬＢ装置と称す）のリード線位置検出を例
に、以下その動作を説明する。
ｍ２図を参照しながら、入力された画像全体の２つの特
徴点座標抽出方法について説明する。第２図は位置検出
を行う入力画像で、図中のＸ、Ｙけ絶対座標である。点
対称な領域の一方の領域（第１領域）を左上リード線群
を含む領域とし、他方の領域（第２領域）を右下リード
線群を含む領域とするｃＧ）］領域の対象閉領域を左上
端から順に４本のリードねとじで抽出すると、１１．１
２゜１３．１４となる。一方、第２領域の対象閉領域を
右下端から順に４本のリード線として抽出すると、］
５． ］ ６ 、 ］ ７ 、 ］ ８となる。こＩＬ
らの対象閉領域の抽出方法の一例として、閉領域の重心
座標による方法が挙げられる。
徴点座標抽出方法について説明する。第２図は位置検出
を行う入力画像で、図中のＸ、Ｙけ絶対座標である。点
対称な領域の一方の領域（第１領域）を左上リード線群
を含む領域とし、他方の領域（第２領域）を右下リード
線群を含む領域とするｃＧ）］領域の対象閉領域を左上
端から順に４本のリードねとじで抽出すると、１１．１
２゜１３．１４となる。一方、第２領域の対象閉領域を
右下端から順に４本のリード線として抽出すると、］
５． ］ ６ 、 ］ ７ 、 ］ ８となる。こＩＬ
らの対象閉領域の抽出方法の一例として、閉領域の重心
座標による方法が挙げられる。
抽出された対象閉領域の特徴点をリードの先端点として
抽出すると、１１．・・・、１４，１５．・・・。
抽出すると、１１．・・・、１４，１５．・・・。
１８の対象閉領域に対して、１９．・・、 ２２．２３
゜・・、２６の特徴点が得られる。抽出された特徴点は
、順に、（Ｘｈ、、Ｙｈ□）、・・、（Ｘｈ４ 、”ｈ
４ ） ’（Ｘｔ’ｌ ’ Ｙ７？□）、・・、（ｘ□
４ 、Ｙ、４ ）の座標値である。
゜・・、２６の特徴点が得られる。抽出された特徴点は
、順に、（Ｘｈ、、Ｙｈ□）、・・、（Ｘｈ４ 、”ｈ
４ ） ’（Ｘｔ’ｌ ’ Ｙ７？□）、・・、（ｘ□
４ 、Ｙ、４ ）の座標値である。
これらの特徴点の座標値を領域ごとに平均すると、第１
領域では（ｘｈ、Ｙｈ）の座標値を持つ画像全体の特徴
点２７が得られ、第２領域では（Ｘ、 、 ｙ、 ）の
座標値を持つ画像全体の特徴点２８が荀られる。
領域では（ｘｈ、Ｙｈ）の座標値を持つ画像全体の特徴
点２７が得られ、第２領域では（Ｘ、 、 ｙ、 ）の
座標値を持つ画像全体の特徴点２８が荀られる。
上記のようＫして得られた画像全体の２つの特徴点２７
．２８から線分２９が形成される。０分２９の中点３３
の座標（ｘ、ｙ）と角度θを式（１）。
．２８から線分２９が形成される。０分２９の中点３３
の座標（ｘ、ｙ）と角度θを式（１）。
（２）よ請求めると。
となる。
同様にして、リード線がＩＣチップに接着すべき正しい
位置に存在した場合の画面全体の特徴点を抽出し、抽出
された特徴点により線分を形成すると第３図のようにな
る。図中の３０ ＋’ ３ ］はそれぞれ第１領域およ
び第２領域の対象閉領域特徴点の平均特徴点で、３２は
平均特徴点３０．３］により形成される線分である。こ
のようにして形成された線分３２の中点３４の座標値と
角度は式（１） 、 （２）からまり、基準座標値（Ｘ
ｏ、Ｙｏ）および基準角度θ。となる。
位置に存在した場合の画面全体の特徴点を抽出し、抽出
された特徴点により線分を形成すると第３図のようにな
る。図中の３０ ＋’ ３ ］はそれぞれ第１領域およ
び第２領域の対象閉領域特徴点の平均特徴点で、３２は
平均特徴点３０．３］により形成される線分である。こ
のようにして形成された線分３２の中点３４の座標値と
角度は式（１） 、 （２）からまり、基準座標値（Ｘ
ｏ、Ｙｏ）および基準角度θ。となる。
上記のようにして抽出された座標値および角度から、入
力画像の位置ずれ値算出方法について、第４図を参照し
ながら説明する。図中の線分２９け入力画像の特徴点に
より形成された線分で、線分３２け基準画面の特徴点に
より形成された線分である。入力画像のリード線を、正
しい位置にするためには、図中のΔＸ、ΔＹ ｆｅけ平
行移動し。
力画像の位置ずれ値算出方法について、第４図を参照し
ながら説明する。図中の線分２９け入力画像の特徴点に
より形成された線分で、線分３２け基準画面の特徴点に
より形成された線分である。入力画像のリード線を、正
しい位置にするためには、図中のΔＸ、ΔＹ ｆｅけ平
行移動し。
Δθだけ回転さぜればよいことになり、（ΔＸ、ΔＹ）
およびΔθは、入力画像の位置ずれを示す。入力画像の
位置ずれは式（３）、（４）により（ΔＸ、Δｙ） ＝
（ｘ−ｘｏ、 ｙ−ｙ□） ＋・−（３）Δθ＝ θ
−θ０ 、 （４） となる。
およびΔθは、入力画像の位置ずれを示す。入力画像の
位置ずれは式（３）、（４）により（ΔＸ、Δｙ） ＝
（ｘ−ｘｏ、 ｙ−ｙ□） ＋・−（３）Δθ＝ θ
−θ０ 、 （４） となる。
発明の効果
以上のように、この発明の画像位置検出方法で（ま、画
像位置検出のための特徴点抽出の際に含せれるノイズを
減少し、誤差の少ない位置検出を行うことができる。ま
た、簡易なアルゴリズムで位置ずれを計算できるため１
画像位置検出時間を縮少することがてきる。
像位置検出のための特徴点抽出の際に含せれるノイズを
減少し、誤差の少ない位置検出を行うことができる。ま
た、簡易なアルゴリズムで位置ずれを計算できるため１
画像位置検出時間を縮少することがてきる。
嬉１図はこの発明の一実施例における画像位置検出方法
のブロック図、第２図は入力画像び〕画面、全体の特徴
点抽出方法の説明図、第３図は基準画面の画面全体の特
徴点抽出図、第４図は入力画像の位置′１１Ｌ検出説明
図である。 ２・第１領域内の対象閉領域抽出ｉ１５．５・第２領域
内の対象閉領域抽出都、３，６ 閉領域σ〕特徴点抽出
部、４，７・平均座標値算出部、８ 中点座標および角
度算出部、９・基準座標値・角度設定部、１０ ・位置
ずれ出力部 第１図 第２１！］ 第３図 第４図
のブロック図、第２図は入力画像び〕画面、全体の特徴
点抽出方法の説明図、第３図は基準画面の画面全体の特
徴点抽出図、第４図は入力画像の位置′１１Ｌ検出説明
図である。 ２・第１領域内の対象閉領域抽出ｉ１５．５・第２領域
内の対象閉領域抽出都、３，６ 閉領域σ〕特徴点抽出
部、４，７・平均座標値算出部、８ 中点座標および角
度算出部、９・基準座標値・角度設定部、１０ ・位置
ずれ出力部 第１図 第２１！］ 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 点対称位置に複数個の類似形状閉領域群を持つ点対称な
画像において、画像情報から検出された閉領域群の中か
ら、点対称な２領域に含まれる複数個の類似形状閉領域
群を抽出する段階と、前段階で抽出された類似形状閉領
域群の個々の閉領域について、特徴点座標を個々に抽出
する段階と。 前段階で抽出された類似形状閉領域群の特徴点座標群か
ら１点対称な２領域の各領域ごとに平均座標値を算出す
る段階と、前段階で算出された２つの各領域平均座標値
から形成される線分の中点座標値と角度を算出し、基準
中心部標値および基準角度との差でｒＪ置ずれを検出す
る段階とを含む画像位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173799A JPS6064589A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 画像位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173799A JPS6064589A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 画像位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6064589A true JPS6064589A (ja) | 1985-04-13 |
| JPH0446038B2 JPH0446038B2 (ja) | 1992-07-28 |
Family
ID=15967369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58173799A Granted JPS6064589A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 画像位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6064589A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6286471A (ja) * | 1985-10-11 | 1987-04-20 | Hitachi Ltd | 位置姿勢判定方法 |
| JPS6345683A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 縫製部品表面の形状状態検査装置 |
| JP2012073258A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Carl Zeiss Sms Gmbh | 像内の構造の位置を決定する方法及び該方法を実施するための位置測定装置 |
| CN111537518A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-08-14 | 珠海格力智能装备有限公司 | 电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS574540A (en) * | 1980-06-12 | 1982-01-11 | Unitika Ltd | Method and apparatus for detecting defect of long flat object |
| JPS5743279A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-11 | Fujitsu Ltd | Method for detecting position of x-y symmetrical body |
| JPS58114283A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-07 | Fujitsu Ltd | パタ−ン認識装置 |
-
1983
- 1983-09-19 JP JP58173799A patent/JPS6064589A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS574540A (en) * | 1980-06-12 | 1982-01-11 | Unitika Ltd | Method and apparatus for detecting defect of long flat object |
| JPS5743279A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-11 | Fujitsu Ltd | Method for detecting position of x-y symmetrical body |
| JPS58114283A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-07 | Fujitsu Ltd | パタ−ン認識装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6286471A (ja) * | 1985-10-11 | 1987-04-20 | Hitachi Ltd | 位置姿勢判定方法 |
| JPS6345683A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 縫製部品表面の形状状態検査装置 |
| JP2012073258A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Carl Zeiss Sms Gmbh | 像内の構造の位置を決定する方法及び該方法を実施するための位置測定装置 |
| CN111537518A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-08-14 | 珠海格力智能装备有限公司 | 电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0446038B2 (ja) | 1992-07-28 |
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