JPS6064284A - レ−ザ測距装置 - Google Patents

レ−ザ測距装置

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JPS6064284A
JPS6064284A JP58171352A JP17135283A JPS6064284A JP S6064284 A JPS6064284 A JP S6064284A JP 58171352 A JP58171352 A JP 58171352A JP 17135283 A JP17135283 A JP 17135283A JP S6064284 A JPS6064284 A JP S6064284A
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JP
Japan
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laser
frequency
semiconductor laser
light
reflected
Prior art date
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Pending
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JP58171352A
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English (en)
Inventor
Mitsuo Tamura
田村 光夫
Seiji Ishikawa
石川 清次
Kenro Sone
賢朗 曽根
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/491Details of non-pulse systems
    • G01S7/4912Receivers
    • G01S7/4916Receivers using self-mixing in the laser cavity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/32Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
    • G01S17/34Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated using transmission of continuous, frequency-modulated waves while heterodyning the received signal, or a signal derived therefrom, with a locally-generated signal related to the contemporaneously transmitted signal

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、距離開側等に用いられるレーザ測距装置に関
するものである。
(従来例の構成とその問題点) レーザが発明されて、種々の応用が考えられている。中
でも、レーザ光は、その優れたコヒーレンス、集束性、
高いエネルギー密度などの特徴のため、測長・測距分野
に広く利用されており、高精度測長・測距と言えば、ま
ず第一にレージが連想されるまでになっている。レーザ
を′11L波技術の一環として応用した代表例がレーザ
測距装置である。以下、図面を参照しながら、従来のレ
ー→ノー1111j距装置の例として、連続波周波数変
調測距装置について説明する。
第1図は従来の連続波周波数変調6111距装置の構成
を、また第2図は連続波周波数変調されだ送波と受波の
時間的関係を示したものである。まず、第2図を参照し
ながら連続波周波数変調i1+11距方法の原理を説明
する。実線で示されるような三角波状の周波数変調信号
(中心周波数f。、周波数偏移幅Δf1変調周期T =
 1/2fm% fmは変調周波数)で変調されだ送波
と距離Rだけ離れた1−1標がらの送波の反射波即ち受
波(破線で示されている)の−周期での周波数は各々 送波の周波数 fl、(tl = fo−Δf/2+Δ
f ・t/TR 受波の周波数 fR(t) −f。−Δf/2+Δf(
を−τ)/Tとなる。同時刻での送受波の周波数差即ち
ビート周波数部は fb二’T(t) ’f((tl二Δf・2R/C’l
’となり、これからビート周波数rbを知れば、目標ま
での距離Rをめることができる。以上が連続波周波数変
調測距方法の原理である。
次に第1図を参照しながら、従来の連続波周波数変調測
距装置について説明する。第1図において、1はレー→
f、2はレー−リー光り。を変調する変調器、3はコー
ナーキューブ15で反射され、・−一フミラー13で分
離されたレーザ光LRを受光する受光素子、4は周波数
変調信号発生器、5は受光素子3からの出力信号工、と
周波数変調信号発生器4からの参照信号I。とを混合す
るだめのミキサ回路、6はミキサ回路5からの混合fg
号Is がらビート信号lBを取り出すだめのフィルタ
回路、7はビート信号IBの周波数fbを測定する周波
数カウンタ、11および12はレーザ光り。を変調器2
に導くだめの全反射ミラー、13はハーフミラ−1]4
は光学系、15は距離R離れた目標に設置されたコーナ
ーキューブ、譜は周波数変調信号、LTは周波数変調信
号■□で振幅変調さノ[たレーザ光である。
以上のように構成された従来の連続波周波数変調測距装
置について以下その動作を説明する。レーザ1から放射
されたレーザ光り。は、全反射ミラー11および12に
よって変調器2に導かれ、周波数変調信号発生器4から
の周波数変調信+′fXmによって振幅変調される。周
波数変調信号I によって振幅変調されたレーザ光LT
(第2図の送波に対応)は、ハーフミラ−13、光学系
14tl−透過した後、目標に設置されたコーナーキュ
ーブ15で反射され戻って来るが、光学系14を透過後
、ハーフミラ−で分離され、分離された反射レーザ光T
、R(第2図の受波に対応)は、受光素子3で受光され
る。受光素子3からの出力信号工Rと周波数変調信号発
生器4からの参照信号■。をミキサ回路5によって混合
することにょシ混合信号rBを得る。この混合信号18
を透過周波数DC〜Δfのフィルタ回路6に人力するこ
とによってビート信号■Bを得、周波数カウンタ7によ
って、そのビート周波数fbを測定し、目標までの距離
Rをめる。
しかしながら、従来の連続波周波数変調測距装置では、
レー→ノーとして気体レーザ等を用いると変調器が必要
となる土、形状が大きくなり、又レーザとして半導体レ
ーザを用いても、ハーフミラ−1受光素イ、ミキサ回路
は依然として必要であシ、ハーフミラ−の使用は、送波
および受波として利用し得るレー→ノ冗を半減してしま
う等の問題点を有していた。
(発明の目的) 本発明は、前記欠点に鑑み、レーザとして半導体レーザ
を用いることにより変調器を必要とせず、さらに目標か
らの反射レーザ光を半導体レーザに帰還することによっ
て生じる自己結合効果を検出することにより、ハーフミ
ラ−1受光素子、ミキサ回路も必要とせず、従って送波
および受波として利用し得るレーザ光を半減することが
なく、又形状も非常に小型にすることのできるレーザ測
距装置を提供するものである。
(発明の構成) この目的を達成するために本発明のレーザ測距装置は、
変調された半導体レーザとfiil記半導体レーザ光軸
上に設けられた入出射共通のL!!!系と前記光軸上に
存在する目標に設けた反射鏡とフィルタ回路と演算回路
とで構成されている。この構成によって、反射鏡から反
射された半導体レーザ尤を半導体レーザ自身に帰還して
生じた自己結合効果を検出した後フィルタ回路を通して
得られた信号を前記演算回路によって演算することによ
り、目標までの距離を測定し得ることとなる。
(実施例の説明) 第3図は、本発明の一実施例を示したもので、自己結合
効果として光出力の変化を検出する場合の自己結合半導
体レーザを用いた連続波周波数変調測距装置の構成を示
している。第3図において、第1図と同一のものには同
一の番月および記号を付しており、まだ、1Gは半導体
レーザ、17は半導体レーザI6の駆動回路、18は半
導体レーザ16の後方出力Pmの受光素子、19および
20は入出射共通の光学系、21は目標に設iべされた
反射鏡、1)Tは周波数変調信号Imで振幅変調された
レーザ光、Plえは反射鏡21で反射されたレーザ光、
Ipは半導体レーザの駆動電流、IPは受光素子18か
らの出力信号である。
す」二のように構成された、自己結合効果として光出力
の変化を検出する場合の自己結合半導体レーザを用いた
連続波周波数変調測距装置について、1フ下その動作を
説明する。周波数変調信号発生器、1からの周波数変調
1.;号’nlを半導体レーザ16の駆動回路17に加
えることVCより半導体レーザ16の駆動電流xDiで
周波数変調信号Imを重畳し、半導体レーザ16の出力
を振幅変調する。周波数変調信号−によって振幅変調さ
れたレーザ光PT(第2図の送波に対応する)は、光学
系19によってコリメートされ、伝搬して行き、光学系
2゜によって目標に設置された反射鏡21の而」二に結
像さ、れる。反射鏡2】で反射されだレーザ光P1え(
第2図の受゛波に対応する)は、変調されたレーザ光P
Tと全く逆の光路を通って半導体レー→J−16に戻っ
てくる。この時、半導体レーザ1()の自己結合効果に
よって、半導体レーザの出力及び端子電圧にビート周波
数fbの変化が生じる。本実施例では、半導体レーザの
キャップに内蔵されている受光素子18を用い、半導体
レーザの後方出力Pmの変化を検出している。受光素子
18の出力信号Ipを透過周波数DC〜Δfのフィルタ
回路6に通してビート周波数信号IBを得、周波数カラ
ンタフによって、そのビート周波数fbt dill 
5iLし、目標までの距離Rをめる。
実施にあたって、半導体レーザ16として高出力赤外半
導体レーザ(発光中心波長5ooo X、出力200m
W)を用い、後方出カ貼の受光素子18としてば、半導
体レーりのギヤノブに内蔵されているpin−ホトダイ
オードを用いた。周波数変調信号発生器・1とし7て、
中21周波数f。−20MH7,、周波数偏移幅Δf 
= 2MHz 、変調周波数fm−1kHzの周波数変
調信号■□を発生ずる周波数掃引器を用いた。フィルタ
回路6として透過周波数DC〜2MHzのフィルタ回路
を用いた。又、)シ学系20と反射鏡21は、光学系2
0にコリメートされたレーザ光が入射した時、反射鏡2
1面上に焦点を結ぶように調節し固定した。
け上のように、自己結合半導体レーザを連続波周波数変
調1111距装置に用いることにより、変調器を必安と
せず、かつ、半導体レー」ノーが受光素子およびミキサ
回路を兼ねることにより、ハーフミラ−1受光累−r−
、ミキサ回路も必要とせず、ハーフミラ−を使用しない
ことにより、レーザ光を有効に使用することができる超
小型の連続波周波数変調測距装置を実現することができ
、51J〜、50mの測定距離で4111定精1.15
 mmが得られた。
なお、第3図の実施例では、自己結合効果として、光出
力の変化を検出しだが、☆;IJ子電圧の変化を検出し
てもよい。この場合は第3図の受光素子18は必要ない
。また、自己結合効果として、端子電圧の変化を検出す
る場合、半導体l/−ザ光軸上にV4波長板を配し、半
導体レーザの出力光と偏波方向が直交する反射光を帰還
するようにすれば、検出さ八る端子電圧の変化に歪みが
なくなり精度が上がる。
(発明の効果〕 本発明のレーザ測距装置は、変調さ、れた半導体レーザ
と半導体レーザの光軸上に設けられた入出射共通の光学
系と前記光軸上に存在する■標eこ設けた反射鏡とフィ
ルタ回路と演算回路とを備え、反射鏡から反射された半
導体レーザ光を21′心体レーザ自身に帰還して生じた
自己結合効果を検出した後、フィルタ回路を通して得ら
れた信号を演算回路によって演算することにより、目標
せでの距離を測定伊ることを特徴とし、レーザに一’l
′m体レーザを用いることにより変調器を必波とせず、
かつ半導体レーザ特有の自己結合効果を利用して半導体
レーザ自身が受光素子、ミキサ回路をも兼ね、従ってそ
れに付随する部品も必要としなくなるので、レーザ光を
有効に利用でき、しかも超小型の測距装置が可能となり
、その実用的効果は大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来例の構成を示すブロック図、第2図は、
連続波周波数変調された送波と受波の時間的関係を示す
図、第3図は、本発明の一実施例の構成を示すブロック
図である。 4−・・・・・・・周波数変調信号発生器、 6・・ 
・フィルタ回路、 7 ・・・−・・ 周波数カウンタ
、】6 ・ 半導体レーザ、 】7・・−・駆動回路、
18・・−・ 後方出力受光素子、 19. 20−・
・・・・光学系、 21 ・・・・反射鏡。 特許出願人 松ト電器産業株式会社 、−m− 代理人 星野 恒 司、 第1図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)変調された’F導体レーザと、該半導体レーザの
    光軸上に設けられた入出射共通の光学系と、前記光軸」
    −に存在する目標に設けられた反射鏡と、フィルタ回路
    と、θ(9回路とを備え、前記半導体レーザから出射さ
    れ、1iiJ記反射鏡で反射されたレーザ光を前記半導
    体レーザに帰還して生じた自己結合効果を検出し、その
    検出信号を前記フィルタ回路を通して得らjした信号を
    前記演算回路によりiiして、前記目標までの距離を6
    111定することを特徴とするレーザ測距装置。
  2. (2) 前記光軸上に1/・1波長板を備えだことを特
    徴とする特πF請求の範囲第(1)項記載のレーザ測距
    装置。
JP58171352A 1983-09-19 1983-09-19 レ−ザ測距装置 Pending JPS6064284A (ja)

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