JPS6057085A - 弁の開度及び開閉速度測定装置 - Google Patents
弁の開度及び開閉速度測定装置Info
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- JPS6057085A JPS6057085A JP16255583A JP16255583A JPS6057085A JP S6057085 A JPS6057085 A JP S6057085A JP 16255583 A JP16255583 A JP 16255583A JP 16255583 A JP16255583 A JP 16255583A JP S6057085 A JPS6057085 A JP S6057085A
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- Japan
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- circuit
- output
- valve
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- light receiving
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-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16K—VALVES; TAPS; COCKS; ACTUATING-FLOATS; DEVICES FOR VENTING OR AERATING
- F16K37/00—Special means in or on valves or other cut-off apparatus for indicating or recording operation thereof, or for enabling an alarm to be given
- F16K37/0058—Optical means, e.g. light transmission, observation ports
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は弁の動作状態を監視するための弁の開度及び開
閉速度測定装置に関する。
閉速度測定装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
産業設備例えば原子力発電プラン１−には弁にＪこって
種々の流体を制御し当該発電プランｌ〜を安全かつ効率
よく運軌している。したかつ−（、このような産業設備
に使用されている弁の聞磨及びｌ１ｉｌ ’１３１１速
度を検出して、制御Ｊべぎ設備の動作状態及び動作方法
等を検知することは産業設備の’ＡＩ率的利用」二から
も重要なことと言わねばならない。
種々の流体を制御し当該発電プランｌ〜を安全かつ効率
よく運軌している。したかつ−（、このような産業設備
に使用されている弁の聞磨及びｌ１ｉｌ ’１３１１速
度を検出して、制御Ｊべぎ設備の動作状態及び動作方法
等を検知することは産業設備の’ＡＩ率的利用」二から
も重要なことと言わねばならない。
ところで、従来行われている弁の開度は弁の駆動機４１
１＋Ｊに可変抵抗器を設【プてその可変抵抗器の変化量
を弁の開度と対応させることによって弁の開度を測定す
る方法が用いられＣいた。このような可変抵抗器を用い
て弁の開度を測定する方法は、長期にわたって使用され
ると、可変抵抗器が摩耗し、この摩耗によって測定精度
が低下づるという不具合があった。
１＋Ｊに可変抵抗器を設【プてその可変抵抗器の変化量
を弁の開度と対応させることによって弁の開度を測定す
る方法が用いられＣいた。このような可変抵抗器を用い
て弁の開度を測定する方法は、長期にわたって使用され
ると、可変抵抗器が摩耗し、この摩耗によって測定精度
が低下づるという不具合があった。
［発明の目的〕
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
は、弁の開度を経年変化なく検出しがっ測定表示づると
ともに弁のｏｒＪ閉速度を同一装置で同時に測定するこ
とができるように弁の開度及び開閉速度測定装置を提供
するにある。
は、弁の開度を経年変化なく検出しがっ測定表示づると
ともに弁のｏｒＪ閉速度を同一装置で同時に測定するこ
とができるように弁の開度及び開閉速度測定装置を提供
するにある。
［発明の概要］
本発明は上記目的を達成するために、弁の開閉動作と連
動しかつ２個の発光素子と２個の受光素子を有する連動
機構と、この２個の受光素子にそれぞれ波形整形回路を
接続し、この両波形整形回路の出力を位相比較回路に入
力することにより弁の開閉方向を判定し、前記１方の波
形整形回路の出力と前記位相比較回路の出力を計数回路
に入力して弁の開度および開閉速度を同時に測定するよ
うにした弁の開度及び開閉速度測定装置に関するもので
ある。
動しかつ２個の発光素子と２個の受光素子を有する連動
機構と、この２個の受光素子にそれぞれ波形整形回路を
接続し、この両波形整形回路の出力を位相比較回路に入
力することにより弁の開閉方向を判定し、前記１方の波
形整形回路の出力と前記位相比較回路の出力を計数回路
に入力して弁の開度および開閉速度を同時に測定するよ
うにした弁の開度及び開閉速度測定装置に関するもので
ある。
し発明の実施例」
本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の弁の開度及び開閉速度測定装置の一
実施例の概略構成図であり、同図に示°ケように、測定
対象の弁１は、弁の駆動機構２がら弁棒３で開閉を制御
している。格子板５は多数の一定間隔の間隙を持ち、連
結棒４で弁棒３に連結されている。格子板５の両側には
第３図に示Ｊ゛ように発光素子９Ａ 、９Ｂと受光素子
１０Ａ、１０Ｂの素子対を内蔵する素子収容部６が設け
られている。格子板５は第２図にも示すように等間隔の
間隙を有し、この格子板５の聞に１部５Ｂの間隔と無開
口部５Ａの間隔及び素子収納部６の開口部６Ａ、６Ｂの
間隔は全てζ９しい。また、発光素子９Ａ、９Ｂはそれ
ぞれ信号線７Ａ 、７Ｂで第４図の電源回路１５へ接続
されている。他の各回路も電源供給が必要であるが第４
図では接続線を省略１ノでいる。発光素子９Ａ、９Ｂ、
受光素子１０Ａ。
実施例の概略構成図であり、同図に示°ケように、測定
対象の弁１は、弁の駆動機構２がら弁棒３で開閉を制御
している。格子板５は多数の一定間隔の間隙を持ち、連
結棒４で弁棒３に連結されている。格子板５の両側には
第３図に示Ｊ゛ように発光素子９Ａ 、９Ｂと受光素子
１０Ａ、１０Ｂの素子対を内蔵する素子収容部６が設け
られている。格子板５は第２図にも示すように等間隔の
間隙を有し、この格子板５の聞に１部５Ｂの間隔と無開
口部５Ａの間隔及び素子収納部６の開口部６Ａ、６Ｂの
間隔は全てζ９しい。また、発光素子９Ａ、９Ｂはそれ
ぞれ信号線７Ａ 、７Ｂで第４図の電源回路１５へ接続
されている。他の各回路も電源供給が必要であるが第４
図では接続線を省略１ノでいる。発光素子９Ａ、９Ｂ、
受光素子１０Ａ。
１０Ｂはそれぞれ隔離されかつ対向するように素子収納
部６の内側に設けられている。そして発光素子９Ａから
の光は受光素子１０Ａへ、発光素子９Ｂからの光は受光
素子１０Ｂへ向かうにうに素子収納部６には前述したよ
うに開口部６Ａ 、６Ｂが設けられている。
部６の内側に設けられている。そして発光素子９Ａから
の光は受光素子１０Ａへ、発光素子９Ｂからの光は受光
素子１０Ｂへ向かうにうに素子収納部６には前述したよ
うに開口部６Ａ 、６Ｂが設けられている。
発光素子９Δ 、９Ｂの光が受光素子１０△ 、１０Ｂ
に入＋すると、受光素子１０Ａ、１０Ｂには電気信号が
発生し、この電気信号は波形整形回路１１Ａに入力され
る。波形整形回路１１Ａの出力は計数回路１２及び位相
比較回路１３に入力され、また波形整形回路１１Ｂの出
力は位相比較回路１３に入力される。位相比較回路１３
の出力は計数回路１２へ、さらに、計数回路１２の出力
は表示回路１４へ入力される。
に入＋すると、受光素子１０Ａ、１０Ｂには電気信号が
発生し、この電気信号は波形整形回路１１Ａに入力され
る。波形整形回路１１Ａの出力は計数回路１２及び位相
比較回路１３に入力され、また波形整形回路１１Ｂの出
力は位相比較回路１３に入力される。位相比較回路１３
の出力は計数回路１２へ、さらに、計数回路１２の出力
は表示回路１４へ入力される。
次に、３１数回路１２の詳細構成を第５図により説明す
る。引数回路１２は、記憶回路１７．１８、加算・減算
回路１６及び甜算回路１９．２０から構成されている。
る。引数回路１２は、記憶回路１７．１８、加算・減算
回路１６及び甜算回路１９．２０から構成されている。
波形整形回路１１Δの出ツノは信号線２１を介して加算
・減算回路１Ｇへ入力される。位相比較回路１３の出ツ
ノは信号線２２を介して加算減算回路１６へ入力される
。加算・減算回路１６の出力はそれぞれ記憶回路１７．
１８及び計算回路１９．２０へ入力される。また、記憶
回路１７の出力は計算回路１９へ、記憶回路′１８の出
力は品１算回路２０へ入力される。そして、８１算回路
１９．２０の出力は、それぞれ信号線２４ 。
・減算回路１Ｇへ入力される。位相比較回路１３の出ツ
ノは信号線２２を介して加算減算回路１６へ入力される
。加算・減算回路１６の出力はそれぞれ記憶回路１７．
１８及び計算回路１９．２０へ入力される。また、記憶
回路１７の出力は計算回路１９へ、記憶回路′１８の出
力は品１算回路２０へ入力される。そして、８１算回路
１９．２０の出力は、それぞれ信号線２４ 。
２５を介して表示回路１４へ入力される。表示回路１４
は各人力を表示できる指示語をイｊしている。
は各人力を表示できる指示語をイｊしている。
なｄ３、信号！２３は、後述する校ｉＩＥ侶号を入力す
るための信号線である。
るための信号線である。
次に本実施例の動作について説明する。
第１図及び第３図において格子板５は弁１が間の動作の
際にはへ方向に動き、閉の動作の際にはＢ方向に動く、
格子板５が動くとΔ子収納部６の内側に配置している発
光素子９Ａ、９Ｂからの光をさえぎったり通過さＵたり
し、受光素子１０Ａ、１０Ｂの受光用を変化させること
になる。ここでさと光素子９Ａ 、９Ｂは信号線７Δ
、７［３にＪ、って電源回路１５へ接続され測定中は７
１３時光先光光いる。本実施例には経演土の見地から、
例えば発光素子９Ａ 、９Ｂに電球を、受光素子に太陽
電池を用いている。受光素子１０Ａ、１０１３は受光量
に比例して電気信号出力が得られるものであり、光量変
化を電気信号に変換する変換器である。
際にはへ方向に動き、閉の動作の際にはＢ方向に動く、
格子板５が動くとΔ子収納部６の内側に配置している発
光素子９Ａ、９Ｂからの光をさえぎったり通過さＵたり
し、受光素子１０Ａ、１０Ｂの受光用を変化させること
になる。ここでさと光素子９Ａ 、９Ｂは信号線７Δ
、７［３にＪ、って電源回路１５へ接続され測定中は７
１３時光先光光いる。本実施例には経演土の見地から、
例えば発光素子９Ａ 、９Ｂに電球を、受光素子に太陽
電池を用いている。受光素子１０Ａ、１０１３は受光量
に比例して電気信号出力が得られるものであり、光量変
化を電気信号に変換する変換器である。
格子板５が移動すると受光素子１０Ａ、１０Ｂの出力は
第６図のように、両者１／４周期の位相差を保ちながら
変化する。
第６図のように、両者１／４周期の位相差を保ちながら
変化する。
波形整形回路１１Ａ、１１Ｂでは一定値以上の大きさの
電気信号入力に対しては論理出力１が７５＋られ、それ
以下の値の大きさの電気信号入力に対しては論理出力Ｏ
が得られる。本実施例におりる波形整形回路１１Ａ、１
１Ｂは論理出力１ 、Ｏの判別値を受光素子１０Ａ 、
１０Ｂの最大出力の１／２の値に設定しているので、出
力は第７図のようになる。第６図、第７図において時間
変化の方向Ａ及びＢは格子板５の移動方向に対応してい
る。
電気信号入力に対しては論理出力１が７５＋られ、それ
以下の値の大きさの電気信号入力に対しては論理出力Ｏ
が得られる。本実施例におりる波形整形回路１１Ａ、１
１Ｂは論理出力１ 、Ｏの判別値を受光素子１０Ａ 、
１０Ｂの最大出力の１／２の値に設定しているので、出
力は第７図のようになる。第６図、第７図において時間
変化の方向Ａ及びＢは格子板５の移動方向に対応してい
る。
位相比較回路１３は格子板５の移動方向を判別覆るだめ
の回路で、波形整形回路１１Ｂの出ツノが１からＯへ変
化する時間に波形整形回路１１Ａの出力が１のときのみ
論理用ノ〕１を得るＪ：うに構成している。したがって
、格子板５がへ方向に移動している時は位相比較回路１
３の論理出力は１であり、Ｂ方向に移動している時は位
相比較回路１３の論理出力はＯである。
の回路で、波形整形回路１１Ｂの出ツノが１からＯへ変
化する時間に波形整形回路１１Ａの出力が１のときのみ
論理用ノ〕１を得るＪ：うに構成している。したがって
、格子板５がへ方向に移動している時は位相比較回路１
３の論理出力は１であり、Ｂ方向に移動している時は位
相比較回路１３の論理出力はＯである。
第５図は計数回路１２のブロック構成図であり、加算・
減算回路１６は波形整形回路１１Ａからの入力をｖ４粋
してその値を保持するとともに格子板５の移動によって
得た波形整形回路１１Ａの論理出力１の数を加算・減算
する機能を右する。しかして、加算・減算回路１６は位
相比較回路１３の論理出力が１の時加算機能を持ち、論
理出力が０の時減算機能を持つように構成されている。
減算回路１６は波形整形回路１１Ａからの入力をｖ４粋
してその値を保持するとともに格子板５の移動によって
得た波形整形回路１１Ａの論理出力１の数を加算・減算
する機能を右する。しかして、加算・減算回路１６は位
相比較回路１３の論理出力が１の時加算機能を持ち、論
理出力が０の時減算機能を持つように構成されている。
そして、測定対象弁１が全開の時に加算・減算回路１６
の出力がＯとなるように校正信号線２３より入力される
。記憶回路１７は測定対象弁１が全開の時の加算・減算
回路１６の出力を記１ツる。記憶回路１８は１秒前の加
算・減算回路１Ｇの出力を記憶づる。
の出力がＯとなるように校正信号線２３より入力される
。記憶回路１７は測定対象弁１が全開の時の加算・減算
回路１６の出力を記１ツる。記憶回路１８は１秒前の加
算・減算回路１Ｇの出力を記憶づる。
ここで １〕：現在の加算・減算回路１６の出力Ｐ：記
憶回路１７の出力 Ｐ：記憶回路１８の出力 Ｄ＝測定対象弁１の開度［％］ ：測定対象弁１の開閉速度Ｌ％／コ とする。
憶回路１７の出力 Ｐ：記憶回路１８の出力 Ｄ＝測定対象弁１の開度［％］ ：測定対象弁１の開閉速度Ｌ％／コ とする。
計算回路１９は以下の機能を有する。
よって計算回路１９の出力には測定対象弁１の開度りを
得ることができる。
得ることができる。
計算回路２０は以下の機能を有Ｊ−る。
−Ｐ
よって計算回路２０の出力には測定対象弁１の開閉速度
を得ることができる。
を得ることができる。
計算回路１９．２０の出ノ〕は、それぞれ信号線２４
．２５を介して表示回路１４へ入ノ〕され、指示削にて
測定対象弁１の開度及び開閉速度が指示される。
．２５を介して表示回路１４へ入ノ〕され、指示削にて
測定対象弁１の開度及び開閉速度が指示される。
したがって、弁の開閉動作に応じて発光素子がら受光素
子への光量を変化させることによって弁の開度及び開閉
速度を同時に測定Ｊることかできる。
子への光量を変化させることによって弁の開度及び開閉
速度を同時に測定Ｊることかできる。
１１発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、弁の開度を経年変
化なく検出及び測定表示し、（ｊｆせて弁の開閉速度を
開度測定と同−装首Ｃｌ？ｊ１時に測定りることができ
る。
化なく検出及び測定表示し、（ｊｆせて弁の開閉速度を
開度測定と同−装首Ｃｌ？ｊ１時に測定りることができ
る。
第１図は本発明の一実施例の１１（（略構成図、第２図
は本発明の一実施例における格子板と素子収納部の斜視
図、第３図は本発明の一実施例における格子板と素子収
納部の断面図、第４図は本発明におけるブロック構成図
、第５図は第４図の計数回路の詳ＩＩＩなブロック図、
第６図は本発明の一実施例にｄ３ける受光素子の出力変
化を示す図、第７図は本発明一実施例における波形整形
回路の出力変化を示す図である。 １・・・測定対象弁 ２・・・弁の駆動（′３構３・・
・弁棒 ４・・・連結器 ５・・・格子板 ６・・・素子収納部 ７Ａ 、７Ｂ 、８Ａ 、８Ｂ・・・信号線９Ａ 、９
Ｂ・・・発光素子 １０Ａ、ＩＯＢ・・・受光素子 １１Ａ、１１Ｂ・・・波形整形回路 １２・・・計数回路 １３・・・位相比較回路１４・・
・表示回路 １５・・・電源回路１６・・・加算・減算
回路 １７．１８・・・記憶回路 １９．２０・・・計算回路 ２１ ．２２ ．２３ ．２４ ．２５・・・信号線代
理人ブｒ３！！！：Ｊ：ＪＩＩＪ 近 Ｓａ （／ａが
１ｇ）第 ５ 図 第６図 第 ７ 図
は本発明の一実施例における格子板と素子収納部の斜視
図、第３図は本発明の一実施例における格子板と素子収
納部の断面図、第４図は本発明におけるブロック構成図
、第５図は第４図の計数回路の詳ＩＩＩなブロック図、
第６図は本発明の一実施例にｄ３ける受光素子の出力変
化を示す図、第７図は本発明一実施例における波形整形
回路の出力変化を示す図である。 １・・・測定対象弁 ２・・・弁の駆動（′３構３・・
・弁棒 ４・・・連結器 ５・・・格子板 ６・・・素子収納部 ７Ａ 、７Ｂ 、８Ａ 、８Ｂ・・・信号線９Ａ 、９
Ｂ・・・発光素子 １０Ａ、ＩＯＢ・・・受光素子 １１Ａ、１１Ｂ・・・波形整形回路 １２・・・計数回路 １３・・・位相比較回路１４・・
・表示回路 １５・・・電源回路１６・・・加算・減算
回路 １７．１８・・・記憶回路 １９．２０・・・計算回路 ２１ ．２２ ．２３ ．２４ ．２５・・・信号線代
理人ブｒ３！！！：Ｊ：ＪＩＩＪ 近 Ｓａ （／ａが
１ｇ）第 ５ 図 第６図 第 ７ 図
Claims (2)
- （１）弁の間１１１８作と連動する格子板と、この格子
板を挾んで配設されている２個の発光素子と２個の受光
素子とを有する素子収納部と、前記２個の受光素子それ
ぞれに接続される波形整形回路と、この両波形整形回路
の出力により弁の開閉方向を判定する位相比較回路と、
前記１方の波形整形回路の出力と前記位相比較回路の出
力により弁の開度および開閉速度を測定する計数回路と
を段りたことを特徴とする弁の開度及び開閉速度測定装
置。 - （２）計数回路は、加算・減算回路と、弁が全開のとき
の前記加算・減算回路の出力を記憶りる第１の記憶回路
と、１秒前の前記加算・減算回路の出ツノを記憶する第
２の記憶回路と、前記加算・減算回路の出力と前記第１
の記憶回路の出力に基づいて弁の開度をめる第１の計算
回路と前記加算・減算回路の出力と前記第２の記憶回路
の出力に基づいて弁の開閉速度′をめる第２の計算回路
とから構成されている特許請求の範囲第１項記載の弁の
開度及び開閉速度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16255583A JPS6057085A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 弁の開度及び開閉速度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16255583A JPS6057085A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 弁の開度及び開閉速度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6057085A true JPS6057085A (ja) | 1985-04-02 |
Family
ID=15756813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16255583A Pending JPS6057085A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 弁の開度及び開閉速度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6057085A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6310384A (ja) * | 1986-07-02 | 1988-01-16 | Sony Corp | 回転記録媒体に対するサ−ボ方式 |
| US4821769A (en) * | 1986-11-12 | 1989-04-18 | Cd Medical Inc. | Valve monitor and method |
| US4823798A (en) * | 1986-03-12 | 1989-04-25 | Fuji Jukogyo Kabushiki Kaisha | Diagnosing system for an exhaust gas recirculation system of an automotive engine |
| US5559768A (en) * | 1993-06-29 | 1996-09-24 | Hitachi, Ltd. | Tracking following apparatus for optical disk device |
| JP2011080547A (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-21 | Ckd Corp | センサ付きバルブ |
| WO2012081228A1 (ja) * | 2010-12-13 | 2012-06-21 | パナソニック株式会社 | 流体制御弁 |
-
1983
- 1983-09-06 JP JP16255583A patent/JPS6057085A/ja active Pending
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| EP2653762A4 (en) * | 2010-12-13 | 2017-02-01 | Panasonic Corporation | Fluid control valve |
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