JPS6057045U - X線光電子分析装置 - Google Patents

X線光電子分析装置

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JPS6057045U
JPS6057045U JP14872983U JP14872983U JPS6057045U JP S6057045 U JPS6057045 U JP S6057045U JP 14872983 U JP14872983 U JP 14872983U JP 14872983 U JP14872983 U JP 14872983U JP S6057045 U JPS6057045 U JP S6057045U
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JP
Japan
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ray photoelectron
ray
photoelectron analyzer
pouch
generating section
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JP14872983U
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JPH0430560Y2 (ja
Inventor
関口 晴男
Original Assignee
株式会社島津製作所
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の一実施例を示す装置の斜視図、第2
図は、第1図A−A線における断面斜視図、第3図は、
同上装置におけるポーチの一実施例を示す斜視断面図、
第4図は、従来のX線発生装置の一例を示す装置の斜視
図である。 1・・・X線発生部、2・・・ポーチ、4・・・基台、
5・・・ターゲット。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ターゲット、ウェーネット及びフィラメントからなるX
    線発生部からの軟X線をポーチの照射窓から試料に照射
    するX線発生装置において、前記X線発生部をリング状
    に形成するとともに、ポーチを上下に分割可能としたこ
    とを特徴とするX線光電子分析用X線発生装置。
JP14872983U 1983-09-26 1983-09-26 X線光電子分析装置 Granted JPS6057045U (ja)

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JP14872983U JPS6057045U (ja) 1983-09-26 1983-09-26 X線光電子分析装置

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JPS6057045U true JPS6057045U (ja) 1985-04-20
JPH0430560Y2 JPH0430560Y2 (ja) 1992-07-23

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232530A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Toshiba Corp X線検査装置およびx線検査方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5275602A (en) * 1975-12-19 1977-06-24 Hitachi Zosen Corp Waste gas-circulating type positive pressure sintering process
JPS56108838A (en) * 1980-01-30 1981-08-28 Kobe Steel Ltd Method and apparatus for recovering waste heat in furnace using traveling grate
JPS5714101A (en) * 1980-06-30 1982-01-25 Sumitomo Heavy Industries Waste heat recovery apparatus for sintering equipment

Patent Citations (3)

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JPH0430560Y2 (ja) 1992-07-23

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