JPS60502114A - 測定器および調整器をプログラミングする方法および装置 - Google Patents

測定器および調整器をプログラミングする方法および装置

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JPS60502114A
JPS60502114A JP59501221A JP50122184A JPS60502114A JP S60502114 A JPS60502114 A JP S60502114A JP 59501221 A JP59501221 A JP 59501221A JP 50122184 A JP50122184 A JP 50122184A JP S60502114 A JPS60502114 A JP S60502114A
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JP
Japan
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keys
program
regulators
display means
measuring instruments
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Pending
Application number
JP59501221A
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English (en)
Inventor
エルトル,シユテフアン
ヨーラ,マルテイーン
Original Assignee
ツエルヴエ−ゲル ウステル アクチエンゲゼルシヤフト
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416Systems
    • G01N27/4163Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
    • G01N27/4165Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus for pH meters

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 測定器および調整器をプログラミングする方法および装置理化学測定方法のうち 電位差滴定および導電率滴定法が最も広゛く普及している。電位差滴定法は大体 においてpH値および酸化還元電位の測定またはイオン選択的電極による濃度決 定にかかわる。導電率滴定法はなるべく水溶液の導電率の測定のために使用され るのが好ましい。
両方の測定法において、増幅器側の手段によって測定電極の不可避のばらつきを 考慮しなければならない。同時に、?lU宛電極電極用に関係するいくつかのパ ラメータがあり、これらのパラメータは適当な整合を要求する。
電位差滴定測定電極の場合は、例えば測定連鎖零点、峻度、等電位差および温度 係数が問題になる。導電率滴定測定電極の場合はセル定数および温度係数が問題 になる。さらに増幅器側において測定範囲および初期値を選ぶことができなけれ ばならない。
調整器が測定増幅器の不可欠の構成要素である場合は、一連の別の調整技術的パ ラメータ、例えば目標値、パルス列または連続信号としての設定量の出力および /またはP、PDまたはPID動作およびそれらのパラメータを選ぶことができ なければならない。
従来普通のアナログ技術においてはこれらの設定必要性は、大抵電位差計と結合 された回転ノブまたは締付は換え可能またはろう付は換え可能な橋絡線としての 多数の操作素子を必要とする。これらの多数の操作素子は常に誤操作の危険をも たらしている。そのうえ、この締付は換えまたはろう付は換えを大抵装置の使用 者では行なうことができず、訓練された職員によってしか行なうことができない 。したがってこのような切換えには大抵望ましくない出費および時間の損失が伴 う。
この状況においてマイクロプロセッサおよびマイクロコンピュータによるデータ 処理の普及と共に多数の物が改善されている。上述のすべての整合および/また は選択は、装置モジュールの固定的に定められた接続において、一部固定的に定 めら第1かつ大部分自由に選択可能なプログラムによって行なわれる。
この場合例えば15個のキーを含む操作盤、リストおよび移行キー(+=NTb R)によってプログラミングすることは普通である。
しかしこのような処置は一連の欠点を持っている。そういうわけでプ[Tグラミ ンクリストへの依存は好ましくない。重要性の嚢なるパラメータ整合が等価値で あることは、多数の市販の装置においてただ?llI定値だけに関係するディジ タル表示と同様に、別の欠点である。したがって装置をプログラミングする使用 者は、表示される数値の種類からのみ、選択されるプログラムに関する数字情報 を、例えば6.84が明らかにpH値であり、430が酸化還元電位でありまた は0.28−3がイオン濃度であるように、受は取る。
本発明はこれらの欠点を回避しかつ特許請求の範囲第1項に記載の方法段階で優 れている、電位差滴定および導電率滴定測定を組み合わせた洪1j定器および調 整器をプロゲラミンクする方法に関する。
本発明は特許請求の範囲第2項に記載の特徴による装置も含んでいる。
プログラミング技術の従来の慣習に対して、何がプログラミングされかつとのよ うなi!l定佃を選はれたパラメータか持っているかを英数字で認識させるよう なプログラミング技術はイj利である。ここでは適切な文字組合ゼによって使用 者か自分の処置の正しさを通知される。
本発明によって、組み込まれた調整器も含んでいるすべての電位差滴定および導 電率滴定測′ボ用複合装[ttの操作が著i)く容易にされかつ簡単化される。
実施例を図面により詳細に説明する0、そこには測定器の操作兼表示盤10が図 示されている。この測定器は少なくとも100の自由にプログラミング可能な機 能を含んでいるにも拘らず、キーを8個しか持っていない。これら8個のキーの うち3個(11,12,13)は主機能の選択のために使用さね、その際主機能 として1つのプロクラムが指定され、このプログラムは装置の最も量要な操作段 階を含みかつ一連のブロクラミング可能な副機能を持っている。
図面によれは次の通りキーに適用される。
11M −測定 +2 CAL ==目盛定め 13PID ”−調整器のパラメータの選択さらに別の3つのキー14.15. 16は次の過程用の補助キーである。
+4 x/y −外部/内部出力/信号の処理15手動/自動−記号ブ表示する モニタまたは閉した調整回路の構成要素としての装置の作動 16 ENTER−特定の副機能または数値の入力、同時にこのキーを警報信号 の確認のために使用可能 他のすべてのプロゲラミンク可能性は2つの揺動キー(17,18)(矢印で示 されている)によって選択される。これらの揺動キーを押すと副機能が所定の順 序でステップごとに選択され、同時に英数字表示21に文字組合せとして表示さ れる。キーENTERを押すことによって、選ばれた副機能が入力される。今や 両方の揺動キーが押されると、数のプログラムが経過し、このプログラムは、例 えば実験室においてめられた測定電極の零点および峻度の値を入力することを可 能にする。
この場合にも、ステップごとに選択された数の表示は英数字表示の数字部分にお いて行なわれる。
両方の揺動キ=(17,18)は、プログラミング時間を短縮する目的で、連続 的に並列された両方向における副機能の働含を可国際調査報告

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 重要なパラメータがいくつかの選択されるプログラムキー(11,12,1 3>によって入力されかつ英数字表示手段(21)によって連続的に見えるよう にされ、測定のために必要な副機能が2つの揺動キー(17,18)によって所 定の順序でステップごとに選択されかつ同時に英数字表示として表示手段(21 )によって見えるようにされることを特徴とする、電位差滴定および導電率滴定 測定を組み合わせた測定器および調整器をプログラミングする方法。 2 操作盤(10)の操作キーのうちいくつかのキーがプログラムキー(+1. 12.13)として構成され、少なくとも2つのキーが揺動キー(17,18) として構成され、表示手段(21)が英数字記号によって入力される量および/ またはプログラムステップの大きさおよび種類を表示することを特徴とする特許 請求の範囲第1項に記載の方法を実施するための装置。
JP59501221A 1983-09-02 1984-03-16 測定器および調整器をプログラミングする方法および装置 Pending JPS60502114A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH4826/83A CH663475A5 (de) 1983-09-02 1983-09-02 Verfahren und vorrichtung zum programmieren von messgeraeten und reglern.
CH4826/83-8 1983-09-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60502114A true JPS60502114A (ja) 1985-12-05

Family

ID=4283216

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JP59501221A Pending JPS60502114A (ja) 1983-09-02 1984-03-16 測定器および調整器をプログラミングする方法および装置

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EP (1) EP0155268A1 (ja)
JP (1) JPS60502114A (ja)
CH (1) CH663475A5 (ja)
DK (1) DK182885A (ja)
IT (1) IT1179186B (ja)
WO (1) WO1985001109A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2875394B2 (ja) * 1993-11-12 1999-03-31 ジェロン・コーポレイション テロメラーゼ活性アッセイ

Family Cites Families (2)

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DK182885D0 (da) 1985-04-24
DK182885A (da) 1985-04-24
IT1179186B (it) 1987-09-16
IT8448347A0 (it) 1984-06-07
CH663475A5 (de) 1987-12-15
EP0155268A1 (de) 1985-09-25
WO1985001109A1 (en) 1985-03-14

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