JPS6049539A - Ｃｒｔの試験方法 - Google Patents
Ｃｒｔの試験方法Info
- Publication number
- JPS6049539A JPS6049539A JP15700183A JP15700183A JPS6049539A JP S6049539 A JPS6049539 A JP S6049539A JP 15700183 A JP15700183 A JP 15700183A JP 15700183 A JP15700183 A JP 15700183A JP S6049539 A JPS6049539 A JP S6049539A
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明はＣＲＴの試験方法に係り、特に螢光表示面の輝
度劣化及び焼付現象の試験方法に関する。
度劣化及び焼付現象の試験方法に関する。
（ｂ） 技ｔ１１の背景
現在ＣＲＴは大型表示デバイスの主流を占め、人間工学
土からも高品質の螢光表示面が要求されている。このた
め、使用中の輝度変化や焼付き現象の未然防止と信頼性
確床のために、高精度で且つ効率的な試験方法が必要で
ある。
土からも高品質の螢光表示面が要求されている。このた
め、使用中の輝度変化や焼付き現象の未然防止と信頼性
確床のために、高精度で且つ効率的な試験方法が必要で
ある。
（Ｑ） 従来技術と問題点
従来行なっていたＣＲＴ螢光表示面の輝度変化及び焼付
き現象の試験方法は、所定のビーム走査条件でＣＲＴ螢
光表示而を面面ビーム走査を行いながらランニング動作
を実施し、そのランニング動作の前後における輝度を輝
度計で読み取り、又焼付き現象は、目視試験により行な
ついてた。この試験方法では次の様な欠点がある。第一
に単一ビーム走査でＣＲＴ螢光表示面のランニング動作
をしていたため輝度変化は輝度計でランニング動作前後
の輝度を測定し比較するが、焼付き現象は比較基準のな
い目視試験を行なっていた。この試験は一般に主観的判
断となり易い欠点かめる。第二にランニング条件を多数
の異なるビーム走査条件で行う必要がある時は、その条
件数に応じ／こ多数のＣＲＴを用いてランニング又は試
験を行わねばならず、非効率であった。第三はＣ’ＲＴ
螢光表示面を全面同一ビーム走査をした場合にもし輝度
灰化や焼付き現象に異常が発生してもランニング動作が
単モードのため原因の要素把握が困離になる。
き現象の試験方法は、所定のビーム走査条件でＣＲＴ螢
光表示而を面面ビーム走査を行いながらランニング動作
を実施し、そのランニング動作の前後における輝度を輝
度計で読み取り、又焼付き現象は、目視試験により行な
ついてた。この試験方法では次の様な欠点がある。第一
に単一ビーム走査でＣＲＴ螢光表示面のランニング動作
をしていたため輝度変化は輝度計でランニング動作前後
の輝度を測定し比較するが、焼付き現象は比較基準のな
い目視試験を行なっていた。この試験は一般に主観的判
断となり易い欠点かめる。第二にランニング条件を多数
の異なるビーム走査条件で行う必要がある時は、その条
件数に応じ／こ多数のＣＲＴを用いてランニング又は試
験を行わねばならず、非効率であった。第三はＣ’ＲＴ
螢光表示面を全面同一ビーム走査をした場合にもし輝度
灰化や焼付き現象に異常が発生してもランニング動作が
単モードのため原因の要素把握が困離になる。
（１）発明の目的
本発明の目的は単−ＣＲＴの螢光表示面を多区画に区分
けして各々異なる条件でランニング動作をすることによ
り螢光表示面の試験を容易且つ効率的にすることにある
。
けして各々異なる条件でランニング動作をすることによ
り螢光表示面の試験を容易且つ効率的にすることにある
。
（ｅ）発明の構成
本発明の反照は、ＣＲＴの螢光表示面を複数区画に区分
けし、それぞれにビーム走査をしたい区画と互に異なる
条件でビーム走査をする区画を設定してランニング動作
を行ない、その後、各区画を比較評価する試験方法にあ
る。この方法によれば、単一のＣＲＴで多種類のランニ
ング動作を行うことができ、試験の効率化を図ることが
できる。
けし、それぞれにビーム走査をしたい区画と互に異なる
条件でビーム走査をする区画を設定してランニング動作
を行ない、その後、各区画を比較評価する試験方法にあ
る。この方法によれば、単一のＣＲＴで多種類のランニ
ング動作を行うことができ、試験の効率化を図ることが
できる。
（ｆ）発明の実施例
以下本発明の一実施例を図面によって説明する。
第１図はＣＲＴ螢光表示面の模式図である。第１図でＣ
ＲＴの螢光表示面１は、ビーム走査を行わない部分２と
、所定のビーム走査を行う部分３、及び焼付き現象の比
較試験を行う部分４に区画されている。そして、焼付試
験区画部分４では、特に高輝度で表示される文字５と特
に低輝度で表示される文字６が表示されるようになって
いる。この様に画面を区画して、各々異なった条件でラ
ンニング動作をさせるためには第２図のような構成を用
いる。即ち、第２図のブロック図で示すごとく、ＣＲＴ
の螢光表示面７に表示される映像は、水平偏向回路８と
垂直偏向回路９で位置が決定され、表示のパターンはビ
デオ信号回路ＩＯで人力される。更に高輝度の場合には
高輝度信号回路１１から高輝度信号を出力し、この出力
をビデオ信号に加えることが実行される。従って、ビー
ムの偏向位置で区画を決め、各区画ごとに、表示パター
ンならびに輝度を設定すればよい。以北述べたごと（”
ＣＲＴの螢光表示面を複数区画に区分し、所定の映像パ
ターンを表示した状態で、所定時間のランニング動作を
行う。そしてこのランニング動作完了後、ＣＲＴの螢光
表示面を同一強度のビームで走査し、ＣＲＴ螢光表示面
の輝度及び焼付き試験を次のように実施する。すなわち
、（１） ランニング動作中ビーム走査をしない区画２
は、電子ビームの影響がないため螢光表示面自体には殆
ど変化がないのが普通であり、一方間化があれば陰極電
子放射の変動が考えられる。
ＲＴの螢光表示面１は、ビーム走査を行わない部分２と
、所定のビーム走査を行う部分３、及び焼付き現象の比
較試験を行う部分４に区画されている。そして、焼付試
験区画部分４では、特に高輝度で表示される文字５と特
に低輝度で表示される文字６が表示されるようになって
いる。この様に画面を区画して、各々異なった条件でラ
ンニング動作をさせるためには第２図のような構成を用
いる。即ち、第２図のブロック図で示すごとく、ＣＲＴ
の螢光表示面７に表示される映像は、水平偏向回路８と
垂直偏向回路９で位置が決定され、表示のパターンはビ
デオ信号回路ＩＯで人力される。更に高輝度の場合には
高輝度信号回路１１から高輝度信号を出力し、この出力
をビデオ信号に加えることが実行される。従って、ビー
ムの偏向位置で区画を決め、各区画ごとに、表示パター
ンならびに輝度を設定すればよい。以北述べたごと（”
ＣＲＴの螢光表示面を複数区画に区分し、所定の映像パ
ターンを表示した状態で、所定時間のランニング動作を
行う。そしてこのランニング動作完了後、ＣＲＴの螢光
表示面を同一強度のビームで走査し、ＣＲＴ螢光表示面
の輝度及び焼付き試験を次のように実施する。すなわち
、（１） ランニング動作中ビーム走査をしない区画２
は、電子ビームの影響がないため螢光表示面自体には殆
ど変化がないのが普通であり、一方間化があれば陰極電
子放射の変動が考えられる。
従ってこの区画のランニング動作前後における輝度比較
から、螢光面以外の陰極等の劣化の程度を把握すること
ができる。動作中のカソード電流の変化の試験と共に螢
光表示面の試験において基準となる区画である。
から、螢光面以外の陰極等の劣化の程度を把握すること
ができる。動作中のカソード電流の変化の試験と共に螢
光表示面の試験において基準となる区画である。
（２）高輝度でビーム走査をした区画３は、ビーム電流
が螢光表示面を走査するため、電子及びイオンの衝撃を
受け、この影響で螢光物質自体。
が螢光表示面を走査するため、電子及びイオンの衝撃を
受け、この影響で螢光物質自体。
メタルバック層、及び螢光面が塗布された表示面の硝子
材料等が変質し、これが輝度変化又は、焼付き現象とし
て螢光面の着色や黒化が認められる場合であり、その程
度はランニング前後にて、均一ビーム走査表示を行い、
区画２１区画３の輝度差を測定し比較することで、ビー
ム走査ランニングによ多生じる輝度の変化分を容易に把
握できる。
材料等が変質し、これが輝度変化又は、焼付き現象とし
て螢光面の着色や黒化が認められる場合であり、その程
度はランニング前後にて、均一ビーム走査表示を行い、
区画２１区画３の輝度差を測定し比較することで、ビー
ム走査ランニングによ多生じる輝度の変化分を容易に把
握できる。
（８）中央の区画４における高輝度表示文字５と、低輝
度表示文字６の表示ちとでは同一ビーム通流での表示時
に、両者の輝度を目視比較することにより焼付現象を容
易に把握することができる。
度表示文字６の表示ちとでは同一ビーム通流での表示時
に、両者の輝度を目視比較することにより焼付現象を容
易に把握することができる。
特にＣＲＴでは、螢光表示面に高輝度で同一パターンを
同一場所に表示した場合は、焼付現象が甚だしく表れる
という事実から、近接して高輝度、低輝度を表示してお
くと比較評価が容易になる。
同一場所に表示した場合は、焼付現象が甚だしく表れる
という事実から、近接して高輝度、低輝度を表示してお
くと比較評価が容易になる。
（２）発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明によれば螢光表
示面の区画を多面区分けとし、そめ各々に目的に応じた
ビーム走査を行うことで同−ＣＲＴで多目的試験が遂行
可能であり、又技術解析も効率的に実施できる。
示面の区画を多面区分けとし、そめ各々に目的に応じた
ビーム走査を行うことで同−ＣＲＴで多目的試験が遂行
可能であり、又技術解析も効率的に実施できる。
従って本発明は、ＣＲＴを使用しようとする装置の設計
試験又はＣＲＴの品質床証のだめの品質試験に適用する
ことにより、信頼性の高いＣＲＴの試験と試験の効率的
な運用に効果がある。
試験又はＣＲＴの品質床証のだめの品質試験に適用する
ことにより、信頼性の高いＣＲＴの試験と試験の効率的
な運用に効果がある。
第１図は、本発明における試験方法を説明するためのＣ
ＲＴ螢光表示面の模式図、第２図は本発明の試験方法を
実施するだめのブロック図である。′１．７はＯＲ，Ｔ
の表示面、２はビーム走査をしない部分、３は所定のビ
ーム走査を行う部分、４は焼付現象を比較する部分、５
は高輝度表示、６は低輝度表示、８は水平位置制御回路
、９は垂直位置制御回路、１０はビデオ信号、１１は高
輝度信号である。
ＲＴ螢光表示面の模式図、第２図は本発明の試験方法を
実施するだめのブロック図である。′１．７はＯＲ，Ｔ
の表示面、２はビーム走査をしない部分、３は所定のビ
ーム走査を行う部分、４は焼付現象を比較する部分、５
は高輝度表示、６は低輝度表示、８は水平位置制御回路
、９は垂直位置制御回路、１０はビデオ信号、１１は高
輝度信号である。
Claims (1)
- ＣＲＴの螢光表示面における輝度変化及び焼付現象を試
験する方法において、該ＣＲＴの螢光表示面を複数区画
に区分するとともに、ビーム走査をしない区画と複数の
各々異なる条件でのビーム走査をする区画を設定し、各
区画に対して所定時間のランニング動作を行なった後、
該ＣＲＴ螢光表示面を一様なビームで走査し、その時の
各区画間における輝度比較から、螢光表示面の輝度変化
及び焼付現象の試験をすることを特徴とするＣＲＴの試
験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15700183A JPS6049539A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | Ｃｒｔの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15700183A JPS6049539A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | Ｃｒｔの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6049539A true JPS6049539A (ja) | 1985-03-18 |
| JPH0346940B2 JPH0346940B2 (ja) | 1991-07-17 |
Family
ID=15640014
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15700183A Granted JPS6049539A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | Ｃｒｔの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049539A (ja) |
-
1983
- 1983-08-26 JP JP15700183A patent/JPS6049539A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0346940B2 (ja) | 1991-07-17 |
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