JPS6043300A - 感知増幅回路 - Google Patents

感知増幅回路

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JPS6043300A
JPS6043300A JP58149977A JP14997783A JPS6043300A JP S6043300 A JPS6043300 A JP S6043300A JP 58149977 A JP58149977 A JP 58149977A JP 14997783 A JP14997783 A JP 14997783A JP S6043300 A JPS6043300 A JP S6043300A
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JP
Japan
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circuit
reference voltage
voltage
output
fuses
Prior art date
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Application number
JP58149977A
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English (en)
Inventor
Masamichi Asano
正通 浅野
Hiroshi Iwahashi
岩橋 弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は入力信号電圧と基準電圧とを比較増幅して入
力信号に応じた出力信号を得る感知増幅回路に関する。
〔発明の技術的背景〕
入力信号電圧と基準□電圧とを比較増幅して入力信号に
対応した出力信号を得るに&知増幅回Ff’6いわゆる
センスアジゾは、メモリを始めとする種々の回路で用い
られている。
第1図は良く知られた従来の感知増幅回F11のブロッ
ク図である。この感知増幅回路は、一定電圧vcとアー
スとの間に2個の抵抗R1*R2を直列接続して構成さ
れる電圧分割回路10で得られた基準電圧VIIIPと
、入力信号電圧VINとを感知回路20によって比較増
幅するようKしている。
上−記感知回路20は、入力(i分電圧vINが基準′
4圧VREFよりも高ければ出力信号OUTとして1”
レベルを出力し、入力信号電、圧’/INが基準電圧V
REFよりも低ければ出力信号OUTとして10 jレ
ベルを出力する。
なお、感知回路20としては第2図に示すような歿動部
互ヱとデータラッチ部−40−とからなる周知の差増増
増回路や、交差形増幅回路等が用いられている。
このような′4体成でなる感知増幅回路では、感知すべ
き入力信号としてアナログ的に変化する微少信号、半導
体メモリにおけ番外部入力信号たとえばアドレス入力信
号、あるいはメモリセルから読み出された微少信号等が
与えられる。
〔背景技術の問題点〕
ところで、上記第11に示ずような感知増幅回路は感反
が極めて高くなるように感知回路20が設定されている
ので、微少な入力信号を良好に検出することができる。
しかしその反面、製造工程で発生するバラツキ勢により
基準電圧VBleFが変わったり、感知回p20におけ
る回路的なバランス状態がずれてくると、検出レベルが
ず・れてしまい、動作マージンが悪化したり動作不能と
なる場合もある。また従来では、使用目的によって種々
の検出レベルを5持つものたとえば入力信号のIt#、
″′0”の検出レベルが1.5 V 、 2.OV 、
 2.5 V@を必要とする場合には、その都度電圧分
割回路10を新たに設it L直さなければならないと
いう不都合もある。
〔発明の目的〕
この発明は上記のような事情を考Mf してなされたも
のであり、その目的は動作マージンの悪′化や動作不能
状態が発生せず、しかも入力信号の検出レベルを自由に
設定することができる汎用性のある感知増幅回路を提供
することにある。
〔発明の概要〕
この発明による感知増幅回路は、不揮発性データ記憶素
子であるヒユーズを設け、このヒユーズの状態に応じて
基準電圧の値を変化させるようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
第3図はこの発明に係る感知増幅回路の一実施例に従っ
た回路図である。この実施例回路が第1図に示す従来の
ものと異なるところは、新たな電圧分割回路50が設け
られ、この回路50からの出力電圧が基準電、圧VIL
gFとして前記感知回路20に与えられている点にある
。上記番□□ 電圧分割回路50は、一定電圧vcと基準電圧vnzv
の出力点51との間に抵抗R11を接続し、上記出力点
51とアースとの間に抵抗R12とヒユーズ52とを直
列接続し、同様に上記出力点51とアースとの間に抵抗
813とヒユーズ53とを直列接続し、同様に上記出力
点51とアースとの間に抵抗R14とヒユーズ54とを
直列接続して構−成されている。すなわち、この電圧分
割口’Jj55 Qでは複数の分割電圧を得る。ために
抵抗R12y R13# R14それぞれからなる分校
部が設けられ、さらにこれらの分校部に選択的に電流を
流して動作させるために途中にヒユーズ52゜53.5
4それぞれが挿入されている。また上ic電圧分割回路
50内の上記3つのヒユーズ52〜54は、たとえばレ
ーザ光等の照射によって妃択的に切断され、その状態は
一定電圧■。の供給状(ljにかかわず不変である。す
なわち、上記ヒユーズ52〜64はデータを不揮発的に
記1.(1する不揮発性データ記憶素子として用いられ
ている。
このような構成において、電圧分割回路5゜内の4つの
抵抗R11〜R14の値を適当に設2ドした上でヒユー
ズ52〜54を選択的に切1i1することによって(た
だしいずれのヒユーズ52〜64も切断しないときを含
む)、基’4” ’f1.j圧vRオとして最大で7つ
の異なる値のものをYlることかできる。すなわち、こ
の集施例回貯では不揮発性データ記憶素子としてのヒユ
ーズ52〜54の状態に対応した記憶データに応じて、
j:を圧分割回路5oの出方電圧すなわち基ハヘ電1−
f−VIIKFの値を7種に変えるようにしている。こ
のため、製造工程で発生するバラツキ等忙よって基準電
圧■RI+Fそのものが変わったり、感知回路20にお
ける回路的なバランス状態がずれたとしても、これに対
応して基準電圧VRgFの値を変えることができる。こ
の結果、感知回路20における伐出゛レベルを正常レベ
ルに一致させることができ、従来のような動作マージン
の悪化や動作不能が発生することは防止できる。また基
準電圧VRKFを種々の値に変えることができるので、
使用目的に適合した(λ々の検出レベルを必栃とする場
合にも、始めから設計をし直さなくても回路の完成後に
自由に設定でき、高い汎用性を有する。
第4図はこの発明に係る感知増幅回路の他の実施例に従
りた回路図である。
この実施例回路では、前記電圧分割回路50の代りにそ
れぞれ値が異なる分割電圧を出力する3つの電圧分割回
路60.70.80と、この3つの電圧分割回路60,
70.80の出力′−圧のうちの1つを選択しこれを基
準電圧VRRIとして前記感知回路20に供給する選択
回路息が新たに設けられている。上記3つの電圧分割回
路60,70.80は、一定’j、!:圧■。とアース
との間に各2個の抵抗RgiとR22*R31とR32
、R41とR42それぞれを直列接ff’tlsしてイ
1”)成され、互いに値が異なる分11電圧■1*■2
+v3を出力する。上記分割電圧■1 l■2 。
v3は選択回路90(7)MOSFET 91 、92
 、93それぞれの一端に供給される。そして上記3つ
のMOSFET 91 、92 、93の他端は共通に
接に−・iされ、この共通接続点は前記感知回路2oへ
の基準電圧VRgF供給点となっている。
さらに上記選択回路90において、−足電圧■。とアー
スとの間にはヒユーズ94とディプレッショy 屋(1
’) MOSFET 95とが直列接続されてオ6す、
この直列接続点96の信号はエンハンスメント滉MO8
FET及びディルッション型FETにより414成され
るルΦ形インバータ97.98それぞれに入力されてい
る。同様に一定電圧■。とアースとの間にはヒユーズ9
9とガイプレッションm ノMo5pETJ o oと
が匝列振続されており、この直列接続点101の信号は
もう1つの騨形インバータ102に入力されている。さ
らに上記い形インバータ97の出力はもう1つの騨形イ
ンバータ103に入力されている。また上記い形インバ
ータ102の出力は前記MO8FET 93のタートに
入力されているとともに、上記動形インバータJ 03
.9Bの出力端それぞれとアースとの間に接続されてい
るMO8FET104.105それぞれのダートに入力
されている。上記をΦ形インバータ98の出力端の信号
は前記MO8FET 92のダートに入力され、同様に
上記い形インバータ103の出力端の信号は前記MO8
FET 9 Jのダートに入力されている。
なお24!4図の回路において特に壓を指定してい/、
C’v ’ MOSFETはすべてエンハンスメント型
のものである。
このようなくVj成におい−°〔、逍択回路90内の2
つのヒユーズ94.99の両方を切断しない場合には、
各直列接続点96,101の信号はII 1 jlレベ
ルとなり、これにより3つのを勺インバータ97.98
.102の出力はずべて゛′0#レベルとなる。このと
き一端に1つの電圧分割回路80の出力電圧■3が供給
されているMOSFET 93はオフする。またルウ形
インバータ102の出力をダート入力とするMO8FE
T105もオフし、騨形インバータ98の出力端の(i
f号は3′0#レベルにされるので、Vila VLl
つの電圧分割回路70の出力電圧v2が供給されている
MOSFET 92もオフする◎一方、 E/1)形イ
ンバータ103の出力端に接続されているMO8FET
104はオフし、い形インバータ97の出力によって上
記E/D形インバータ103の出力は″1#レベルとさ
れるので、一端に1つの電圧分割回路60の出力電圧V
、が供給されているMOSFET 9 Jがオンする。
したがって、この場合に感知回路20には、1つの分割
電圧Vlが基準電圧VRgFとして与えられる。
次にこの状態から1つのヒユーズ94が切断されると、
直列、接続点96の信号は“0”レベルに変わり、これ
によってE/1)形インパータ103の出力端の信号は
“0″レベルに、い形インバータ98の出力端の(i号
、は1”レベルに変わる。これにより、今度は一端に1
つの電圧分割回路70の出力電圧■2が供給されている
MOSFET 92がオンし、感知回路20にはこの分
割電圧v2が基準電圧VREFとして与えられる・ さらにこの状態からもう、1つのヒユーズ99も切断さ
れると、直列接続点101の信号が6゛0”レベルとな
り、これによって騨形インバータ102の出力が″1#
レベルニナ°ル。
騨形インバータ102の出力が′1”レベルになると、
動形インバータ98の出力端に接続されているMOSF
ET 105がオンしてここの信号は″0#レベルにさ
れる。この結果、い形インバータ102の出力端の信号
のみが1”レベルにされ、これによりて今度は一端に1
つの電圧分割回路80の出力電圧v3が供給されている
MOSFET 9 B’がオンし、感知回路20にはこ
の分割電圧■3が基準電圧VRgFとして与えられる。
すなわち、この実施例回路では不揮発性データ記憶素子
としてのヒユーズ94.99の状態に対応した記憶デー
タに応じて、3つのiW圧分割回路60,10.80の
分割電圧のうちの1つを基準電圧VREFとして選択出
力するようにしている。このため、第3図の実施例の場
合と同様の理由によって、従来のような動作マージンの
悪化や動作不能の発生が防止でき、しかも使用目的に適
合した種々の検出レベルを必要とする場合にも始めから
設計をし直さなくても回h゛11の完成後に自由に設定
できて汎用性を高くすることができる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではな(
種々の変形が可能であることはいうまでもない。たとえ
ば第3図の実施例回路°11では基準電圧として値の異
なる7111の7式圧をイ)る:’に’合について、ま
た第4図の実施例回路では3つの電圧を得る場合につい
てそれぞれ説明したが、これはこれ以上の′電圧を得る
ように11−)成してもよい。
また不揮発性データ記憶素子としてのヒユーズはレーザ
光の照射によって切断する場合について説明したが、こ
れは大きな電流をヒユーズに流すことによって切断する
ようにしてもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したようにとのシロ明によれば、動作マージン
の悪化や動作不良状態が発生せず、しかも入力信号の検
出レベルを自由に設定することができる汎用性のある感
知増幅回路が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の感知増幅回路のブロック図、第2図は第
1図中の感知回−路を具体的に示す回路図、第3図はこ
の発明の一実施例を示す回路図、第4図はこの発明の他
の実施例を示す回路図である。 20・・・感知回路、50.60,70.80・・・電
圧分割回路、90・・・選択回路、52〜54゜94.
99・・・ヒユーズ@

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)不揮発性データ記憶素子の記憶データに応じて値
    の異なる基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、入力
    信号電圧と上記基準電圧とを比較増幅して入力信号に対
    応した出力信号を出力する入力感知回路とを具備したこ
    とを特徴と子る感知増幅回路。
  2. (2)前記3準電圧発生回路は、複数の異なる分割電圧
    を出力し得るように複数の分校部が設けられ、前記不揮
    発性記憶素子の記憶データに応じて上記分校部を選択的
    に動作させることによって1つの分割電圧を基準′電圧
    として出力子るように構成されている特許請求の範囲第
    1項に記載の感知増幅回路。
  3. (3)前記基準電圧発生回路は、異なる値の分割電圧を
    出力する複数の電圧分割回路と、上記&数の電圧分割回
    路から出力される分割電圧のうち01つを前記不揮発性
    データ記憶芥子の記憶データに応じて選択する選択回路
    とから(1・を成されている特許請求の範囲第1項に記
    載の感知増幅回路。
JP58149977A 1983-08-17 1983-08-17 感知増幅回路 Pending JPS6043300A (ja)

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JP58149977A JPS6043300A (ja) 1983-08-17 1983-08-17 感知増幅回路

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JP58149977A JPS6043300A (ja) 1983-08-17 1983-08-17 感知増幅回路

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JPS6043300A true JPS6043300A (ja) 1985-03-07

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ID=15486764

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JP58149977A Pending JPS6043300A (ja) 1983-08-17 1983-08-17 感知増幅回路

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JP (1) JPS6043300A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4730129A (en) * 1984-02-29 1988-03-08 Fujitsu Limited Integrated circuit having fuse circuit
JP2012160239A (ja) * 2011-02-02 2012-08-23 Lapis Semiconductor Co Ltd メモリ装置

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US4730129A (en) * 1984-02-29 1988-03-08 Fujitsu Limited Integrated circuit having fuse circuit
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