JPS6042611A - 接触検出装置を用いた寸法測定装置 - Google Patents

接触検出装置を用いた寸法測定装置

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JPS6042611A
JPS6042611A JP15083883A JP15083883A JPS6042611A JP S6042611 A JPS6042611 A JP S6042611A JP 15083883 A JP15083883 A JP 15083883A JP 15083883 A JP15083883 A JP 15083883A JP S6042611 A JPS6042611 A JP S6042611A
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measuring
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probe
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JP15083883A
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Tamaki Tomita
冨田 環
Haruo Omura
大村 春男
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Toyoda Koki KK
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Toyoda Koki KK
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/19Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
    • G05B19/21Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、接触検出装置を用いた寸法測定装置特にサー
ボモータによって移動さ治、る可動ヘッドに取付けられ
た接触検出用の測定子およびこの測定子が被測定物に接
触したことを検出する接触検出装置を備えた寸法測定装
置に関するものである。
〈従来技術〉 自動計測機能を備えた数値制御工作機械においては、工
作機械のスピンドルに接触検出用の測定子を挿着し、こ
の測定子を一対の測定点に接触させて、この一対の測定
点間での主軸ヘソl”の相対移動量によって両側定点間
の距離を測定する機能があり、この機能を利用して穴径
測定等を行うようにしている。しかしながら、従来にお
いては数値制御装置からサーボモータを駆動するドライ
ブユニットへ分配されるパルス数を計数することによっ
て主軸ヘッドの移動量を検出するようにしていたため、
ドライブユニット内の偏差カウンタにたまっている定常
偏差に応じたたまりパルスの数の分だけ、計測された移
動量と実際の移動量との間にずれが生じ、接触検出動作
時における送り速度を非常に遅くしないと正確な測定が
行えず、寸法測定に極めて長い時間がかかる問題があっ
た。
このため、従来においては、特開昭55−4850号に
示されているように、測定子を高速状態で接触させた後
で測定子が離れるまで主軸ヘッド測動作時間の短縮を計
っていたが、このものでも、主軸ヘラl゛の戻しおよび
主軸ヘッドの微速度送りが必要となるため、1測時間の
短縮には限界があった。
〈発明の目的〉 そこで本発明は、主軸ヘッドの移動速度を微速送り状態
に切替えることなしに測定子が被測定物に接触した位置
を正確に検出できるようにして、一対の測定点間の寸法
を正確にかつ短時間で測定できるようにすることを目的
とするものである。
〈発明の構成〉 第1図は本発明を明示するための全体構成図で□ ある
。測定子TSは、号−ボモータ14によって穴Hの直径
方向へ移動可能となっているとともに、測定子TSが穴
に接触したことを検出する接触検出回路3が設けられて
いる。測定子移動手段4はサーボモータ14を作動させ
ることにより、測定子TSを穴Hの一方の側に接触させ
た後で、穴Hの中心を挾んでこれと対向する側に接触す
るまで移動させ、この過程において、測定子TSが一方
の側の壁面に対して接触もしくは離間したことに応答し
て制御回路6はカウンタ60を有効に作動させて変位検
出手段14aから出力されるパルスを計数し、測定子T
Sの実移動量を検出する。そして、測定子TSが反対側
の壁面に対して接触もしくは離間したことが接触検出回
路3の出力に基づき制御回路6により検出されると、こ
れに応答してカウンタ60の計数動作が停止されるとと
もに、その計数値がラッチ手段61にラッチされ、この
ランチ手段61の出力が測定した寸法値として穴径の精
度測定等に利用される。
〈実施例〉 以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第2図において、IOは機械本体lのベッドで、このベ
ッド10′上には、工作物Wを載置するテーブル11が
紙面と垂直な方向(X軸方向)に移動可能に案内され、
また主軸1fJ112を上下方向(Y軸方向)に移動可
能に案内するコラム13が左右方向(X軸方向)に移動
可能に案内されている。
そして、テーブル11はベッド10に固着されたサーボ
モータ14によってX軸方向に移動され、主軸頭12は
、ベッドlOの後端部に取付けられたサーボモータ15
と、コラム13の上部に取付けられたサーボモータ16
とによってX軸方向およびY軸方向に移動されるように
なっている。
これらのサーボモータ14〜16はドライブユニット5
を介して数値制御装置2に接続され、数値制御装置2か
ら出力される分配パルスによって5一 回転駆動されるようになっており、また、これらのサー
ボモータ14〜16には変位量検出器14a〜16aが
それぞれ取付けられており、パルス化回路14b〜16
bは、変位量検出器14a〜16aの出力に基づき、各
軸方向の移動量に応じた帰還パルスを出力するようにな
っている。そして、変位量検出器1.4a〜16aから
出力される帰還パルスはドライブユニット5に供給され
るとともに、X軸に関しては、その出力が後述する移動
量検出回路6にも供給されるようになっている。
17は主軸頭12に軸架され主軸モータ18によって回
転駆動されるスピンドルで、穴径精度判定を行う場合に
は図に示す測定子TSが挿着される。主軸頭12の先端
外周部には、抵抗Rを介して交流電源19に接続されト
ロイダル状に巻装それた接触検出用のコイル20が配設
されており、測定子TSの先端外周面が工作物Wに接触
すると、第1図に破線で示す誘導電流路を介して誘導電
流が流れて、コイル20に流れる励磁電流が増大し、抵
抗Rの両端に発生する電圧が増加する。接触検6− 出回路3はこの抵抗R11Iv端に発生する電圧信号の
増加によって工作物Wと測定子TSが接触したことを検
出するもので、接触が検出されると接触検出信号TnS
を送出する。
数値制御装置2は、公知の数値制御装置で、紙テープ2
1にプログラムされているデータの内、MコードとBコ
ードのデータを出力するデータ出力端子と、外部からの
手動動作指令を受けいれるための手動操作端子とが設け
られている。Mコードの中には穴径精度の判定に用いら
れるN90のコードが含まれており、このN90のコー
ドデータはBコードのデータとともに穴径精度判定装置
4に与えられるようになっている。
穴径精度判定装置4はマイクロコンピュータ等の演算処
理装置によって構成され、N90のコードデータが与え
られると、第4図(a)、 (blにフローチャートで
示すプログラムに基づいて数値制御装置2を手動モード
に切換えた後、手動操作端子に軸指定用のデータと正負
のパルス分配指令を送出して数値制御装置2から各軸へ
パルス分配を甘しめ、これによって穴径精度判定のため
の送り制御を行うようになっている。なお、Bコードの
データが与えられた場合には、Bコードとともにプログ
ラムされている基準値Sおよび上下限の許容偏差範囲を
表すデータUL、LLを所定の記憶エリアに記憶するよ
うになっている。
また、移動量検出回路6は、穴径精度判定装置4の指令
によってテーブル11が実際に移動した移動量を検出す
るもので、第3図に示されるように、アップ・ダウン形
のカウンタ60、ラッチ回路61、接触検出信号TDS
の立上りと立下りをそれぞれ検出する立上り検出回路6
2および立下り検出回路63、これらの立上り検出回路
62および立下り検出回路63の出力と同期してカウン
タ60、ラッチ回路61を作動させるフリップフロップ
FFI、FF2.FF3、ゲートGl、 G2、G3.
OGおよびワンショット回路65から構成されている。
フリップフロップFFI〜FF3は穴径精度判定装置4
からの指令によってその状態が制御されるようになって
おり、穴径精度判定動作の開始前に、これらのフリップ
フロップFFI〜FF3はす七ソ1−される。
穴径精度判定装置4からの指令によりフリップフロップ
FFIがセットされ、ゲートG3が開かれると、立下り
検出回路63がら信号が出力された時点でフリップフロ
ップFF3がセットされて、ゲートG1.G2が開かれ
、帰還パルスがカウンタ60によって計数されるように
なる。また、この後、穴径精度判定装置4からの指令に
よりフリップフロップFF2がセットされてゲートG4
が開かれると、立上り検出回路62から信号が出力され
た時点でフリップフロップFF3がリセットされて、ゲ
ートGl、G2が閉じられ、カウンタ60による帰還パ
ルスの計数が停止される。
そして、この後、ゲートG4の出力に応答して一定時間
後にワンショット回路65から信号が出力されると、ラ
ッチ回路61はカウンタ60の計数値をラッチして穴径
精度判定装置4に出力するようになっている。
9− 次に上記構成から成る装置の動作について説明する。第
5図は穴径測定行う場合の数値制御プログラムの一例を
示すもので、測定子TSを工作物Wの被測定穴の略中心
位置に挿入するプログラムに引続き、ブロックN50〜
N52には、基準値Sおよび上下限の許容偏差範囲UL
、LLを表すデータがそれぞれBO,Bl、B2のコー
ドとともにプログラムされており、これに続くブロック
N53には、穴径測定を指令するN90がプログラムさ
れている。
ブロックN5O−N52のBコードデータが数値制御装
置2によって読込まれると、これらのデータは穴径精度
判定装置4に順次供給され、穴径精度判定装置4はこれ
に応答してBコードとともにプログラムされている基準
値と許容偏差範囲のデータをメモリ内に記憶する。
一方、この後、ブロックN53のN90のデータが数値
制御装置2にて読込まれ、これが穴径精度判定装置4に
供給されると、穴径精度判定装置4は第4図(al、 
(blに示す穴径測定用のプログラム=10− を実行する。
まず、ステップ(70)において、移動量検出回路6に
対してリセット信号を送出して移動量検出回路6内6内
のフリップフロップFFI〜FF3およびカウンタ60
をリセット信号た後、ステップ(71)で数値制御装置
2を手動運転モードに切換え、ステップ(72)〜(7
4)において、接触検出回路3から接触検出信号TDS
が出力されるまで、負パルスの分配を指令する負の分配
指令パルスを数値制御装置2にり、えてX軸に負パルス
を分配し、測定子TSをX軸一方向に相対移動させる。
なお、この時のパルス分配速度は、測定子TSが穴T(
の壁面に接触した時点でパルス分配を停止にしてから測
定子TSの相対移動が停止するまでに、測定子TSに対
して許容された以上の変形が生じない中程度の速度であ
る。
そして、第6図に示されるように測定子TSが穴tlの
壁面に接触するPlまで移動して、第7図(blに示さ
れるように接触検出回路3から接触検出信号TDSが出
力されると、これがステップ(73〉で判定され、ステ
ップ(73)から(75)へ移行して送りパルスの送出
を停止1−シ、ドライブユニット5内に設けられている
偏差カウンタ内のたまりに応じた惰性送りが行われて、
測定子TSの相対送りが停止されるまで待機する(第6
図P2)。
この後、ステップ(76)にて移動量検出回路6のフリ
ップフロップFF1をセットした後、ステップ(77)
〜(79)において、前述の場合と同様にして接触検出
回路3から接触検出信号TDSが送出されなくなるまで
測定子TSをX軸」一方向へ相対移動させる。
この過程において、測定子TSの弾性変形がなくなり、
測定子TSが被測定穴の壁面から離れると(第6図P3
)、接触検出回路3から接触検出信号TDSが出力され
なくなるため、これに応答して第7図telに示すよう
に立下り検出回路63から信号が出力される。この時フ
リップフロップFF1はセットされてゲートG3が開か
れているため、この立下り検出回路63からの信号がゲ
ートG3を介してフリップフロップFF3のセット端子
にり−えられ、第7図(elに示されるようにフリップ
フロップFF3をセソトシて、ゲートGl、G2を開く
、これにより、パルス化回路14bから出力される帰還
パルスの数がカウンタ60によって計数されるようにな
り、測定子TSが被測定穴の壁面から離れた瞬間からの
測定子TSの相対移動けが検出される。
そして、測定子TSが被測定穴の壁面から離れたことが
検出されるとステップ(80)において、移動量検出回
路6のフリップフロップFF2をセットした後、ステッ
プ(81)からステップ(83)によって、接触検出回
路3から再び接触検出信号TI)Sが送出されるまで前
記した中程度の速度で測定子TSをX軸子方向へ移動さ
せる処理を行い、測定子TSがP4に達して接触検出回
路3から接触検出信号TDSが送出されたことが検出さ
れるとステップ(82)から(84)へ移行して送りを
停止するとともに移動量検出回路6からi1数完了信号
CFSが送出されるまで待機し、こ一13− の後、ステップ(85)において移動量検出回路6内の
ラッチ回路61の出力値を読込む。
フリップフロップFF2がセットされ、ゲートG4が開
かれているため、測定子TSが反対側の壁面に接触して
、接触検出回路3から接触検出信号TDSが出力され、
これに応答して立上り検出回路62から信号が出力され
ると、第7図(C1,Telに示されるようにこの時点
でフリップフロップFF3のリセット信号に信号が与え
られ、フリップフロップFF3がリセットされる。これ
により、ゲートGl、G2が閉じられ、カウンタ60に
よる帰還パルスの計数は停止される。さらに、この後、
一定時間が経過すると、ワンショット回路65からラン
チ信号が出力されて、カウンタ60の計数値がランチ回
路61にラッチされる。これにより、ランチ回路61か
らは、測定子TSが被測定穴の一方の壁面を避れてから
反対側の壁面に接触するまでの測定子TSの相対移動量
に応じた帰還パルスの累積値が出力される。また、これ
と同時に計数完了信号CFSが穴径精度判定装置4に1
4− 送出されるため、これに応答し、穴径精度判定装置4は
前述のステップ(85)においてこの出力値りを読込む
さらに、穴径精度判定装置4は、これに引続くステップ
(86)において、出力値りの半分に応じた数の一パル
スをX軸に分配して、測定子TSを被測定穴の略中心位
置に戻し、この後、ステップ(87)において、ランチ
回路61の出力値りが表す寸法値に測定子TSの直径値
dを加えた値をBコードにより入力された基準値Sと比
較し、基準値Sに対して許容範囲を越える誤差があるか
否かを判定する。そして、許容範囲を越える誤差がある
と判定した場合には、ステップ(88)で寸法界雷の表
示を行った後、図略のメインルーチンへ復帰し、許容範
囲を越える誤差がないと判定した場合には、ステップ(
89)で数値制御装置2をテープ運転モードに切換え、
MFTNの信号をステップ(90)にて送出して引き続
く数値制御を再開させる。
上記した穴径測定の処理において、測定子TSが一方の
壁面を離れてから他方の壁面に到達するまでの移動量は
、数値制御装置2を介してドライブユニ・)ト5に送出
したパルスの数を数えるのではなく、テーブル11の実
際の移動量を正確に表す帰還パルスの数を、ハードウェ
アのカウンタ60によって検出するようにしているため
、機械系の応答遅れに起因してドライブユニット5内の
偏差カウンタに指令パルスのたまりがあっても、測定子
TSの相対移動量を正確に測定でき、測定子TSの相対
移動速度をそれ程遅くしなくても、穴径を高精度に検出
できることになる。
なお、上記実施例においては、測定子TSが壁面から離
れた時点から帰還パルスの計数を開始し、測定子TSが
反対側の壁面に接触した時点で帰還パルスの計数を停止
するようにしていが、上記実施例のようにカウンタがア
ップ・ダウン式のカウンタで正、負の帰還パルスにより
その内容を加減算するようにした場合には測定子TSが
一方の壁面に接触した時点から帰還パルスの計数を開始
するようにしてもよく、また、帰還パルスの計数の停止
トは、反対側の壁面から離れる時点にしてもよく、いず
れの場合も上記実施例と同じ測定結果が得られる。
また、−上記実施例においてはラッチ61を設けていた
が、測定子TSが壁面に接触した時点で01、G2を閉
じてカウンタ60の計数動作を停止するようにしている
ので、ラッチ回路61を設けずに、穴径精度判定装置4
がカウンタ60の出力を直接読込むようにしてもよい。
この場合は穴径精度判定装置4がカウンタ60の出力値
を一時記憶するランチ手段として作動する。
さらに、上記実施例においては測定子TSの移動速度を
測定子TSが穴Hの壁面に接触してから停止するまでの
間に生じる測定子TSの弾性変形が許容以下となるよう
な一定速度以下にしていたが、第6図に2点鎖線で示さ
れるように、測定子TSが穴IIの壁面に当接する直前
まで高速で移動させるようにしてもよい。
また、上記実施例は本発明を穴径測定に適用したもので
あったが、本発明は、溝の幅測定、芯出17− し動作の過程において行われる穴径測定にも適用できる
ものである。
〈発明の効果〉 以上述べたように本発明においては、測定子の現実の移
動量を検出する変位検出器から送出されるパルスを計数
するハードウェアカウンタを設けるとともに、最初の接
触時もしくは離間時にカウンタの計数を開始させ2回目
の接触時もしくは離間時においてカウンタの計数動作を
停止させて、この時点での計数値により寸法を検出する
ようにしたので、サーボ回路の遅れ等の影響を受けるこ
となしに穴径等を高精度に検出でき、寸法測定時におけ
る送り速度を早くしても高精度な測定が行なえる利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を明示するための全体構成図、第2図〜
第7図は本発明の実施例を示すもので、第2図は接触検
出子を装着した工作機械の概略側面図に制御回路を併記
した図、第3図は第2図における移動量検出回路6の詳
細な回路を示すプロ18− ツク図、第4図(al、 (b)は第2図における穴径
精度判定装置4の動作を示すフローチャート、第5図は
数値制御プログラムの一例を示す図、第6図は測定子T
Sの移動経路を示す図、第7図は測定子TSの移動速度
の変化および第3図に示す移動量検出回路の各部の動作
信号を示すタイムチャートである。 2・・・数値制御装置、3・・・接触検出回路、4・・
・穴径精度判定装置、6・・・移動量検出回路、14〜
16・・・サーボモータ、14a〜16a・・・変位量
検出器、14b〜16b・・・パルス化回路、17・・
・スピンドル、20・・・コイル、60・・・カウンタ
、61・・・ラッチ回路、62・・・立上り検出回路、
63・・・立下り検出回路、FFI〜FF3・・・フリ
ップフロップ、61〜G4・・・ゲート、TS・・・測
定子、W・・・工作物。 特許出願人 豊田工機株式会社 19− 第4図(b) 第4図(a)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1,1サーボモータによって相対移動される可動ヘッ
    ドに取付けられた接触検出用の測定子およびこの測定子
    が被測定物に接触したことを検出する接触検出装置を備
    え、被測定物に形成された穴の直径等を測定する寸法測
    定装置において、測定子を一対の測定点の内の一方に接
    触させ、この後他方の測定点に接触するまで前記可動ヘ
    ッドを相対移動させる測定子移動手段と、前記可動ヘッ
    ドの相対移動を検出して可動ヘッドが一定量相対移動す
    る度にパルスを出力する変位検出器と、この変位検出器
    から出力されるパルスを計数するハードウェアカウンタ
    と、前記カウンタの出力を読込み一時記憶するラッチ手
    段と、前記測定子の最初の接触もしくは離間に応答して
    前記カウンタを初期リセットし、前記測定子の2回目の
    接触もしくは離間に応答して前記ランチ手段を作動させ
    る制御回路とを設け、前記ラッチ手段の出力により前記
    一対の測定点間の寸法を検出するようにしたことを特徴
    とする接触検出装置を用いた寸法測定装置。
JP15083883A 1983-08-17 1983-08-17 接触検出装置を用いた寸法測定装置 Pending JPS6042611A (ja)

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