JPH0233127Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0233127Y2
JPH0233127Y2 JP1981193475U JP19347581U JPH0233127Y2 JP H0233127 Y2 JPH0233127 Y2 JP H0233127Y2 JP 1981193475 U JP1981193475 U JP 1981193475U JP 19347581 U JP19347581 U JP 19347581U JP H0233127 Y2 JPH0233127 Y2 JP H0233127Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
contact
detection
measured
outputting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1981193475U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5899611U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP19347581U priority Critical patent/JPS5899611U/ja
Publication of JPS5899611U publication Critical patent/JPS5899611U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0233127Y2 publication Critical patent/JPH0233127Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、被測定物と接する検知手段の移動位
置から例えば被測定物の孔径等を計測する計測装
置に関するものである。 従来、マシニングセンタに自動計測機能を付加
する際に、検出器として接点型の検出器を使用し
た場合、その検出器が被測定物としてのワークに
接したときに発生する接触信号で機械に装着され
ている座標スケール、例えばインダクトシンやレ
ゾルバ等の値を読み取ることが必要である。この
接触信号は機械が移動中に発生するので、信号伝
達系の遅れ(電気信号の遅れ、接触信号を演算処
理部へ取込むときの認識遅れ等)があると、機械
が行きすぎた点の座標を読みとることになる。こ
の誤差は、機械の送り速度が速くなるほど大きく
なる。 このようなことから、精度の高い計測を行うた
めには機械の送り速度をできるだけ遅くすればよ
いわけであるが、機械の送り速度を遅くすると、
計測に時間がかかりすぎ実用的でないという難点
が生じる。 本考案の目的は、このような課題を解決し、計
測精度を維持しつつ計測能率を向上させる計測装
置を提供することにある。 そのため、本考案では、被測定物との接触およ
び離脱に伴い検知信号を発生する検知手段と、こ
の検知手段と被測定物とを相対移動させる駆動手
段と、この駆動手段に前記相対移動に関する指令
値データを出力する指令手段と、前記検知手段と
被測定物との相対位置を検出しその相対位置デー
タを出力する位置検出手段と、前記検知信号に基
づき駆動手段を制御して被測定物と検知手段との
接触位置を計測する制御手段とを設ける。そし
て、制御手段として、前記接触に伴う検知信号を
受けた際に接触状態信号を出力する接触状態指示
手段と、前記接触状態信号がある間に前記離脱に
伴う検知信号を受けた際に離脱状態信号を出力す
る離脱状態指示手段と、前記離脱状態信号がある
間に前記接触に伴う検知信号を受けた際に再接触
状態信号を出力する再接触状態指示手段と、前記
再接触状態信号を受けた際に前記相対位置データ
を計測位置として出力する計測位置出力手段と、
予め設定された一定の制動距離を記憶する制動距
離記憶手段と、予め設定された一定の移動補正値
を記憶する移動補正記憶手段と、前記被測定物と
検知手段とを第一速度で近接方向に相対移動させ
かつ前記接触状態信号を受けた際に同方向に前記
制動距離だけ相対移動させる第一移動指令手段
と、前記第一移動指令手段に続いて起動されて前
記被測定物と検知手段とを第二速度で逆方向に前
記制動距離に前記移動補正量を加えた距離だけ相
対移動させる第二移動指令手段と、前記第二移動
指令手段に続いて起動されて前記被測定物と検知
手段とを再度近接方向に前記第一速度および第二
速度よりも低速の第三速度で相対移動させる第三
移動指令手段と、を設ける。 このような構成により、被測定物と検知手段と
は、まず第一速度で近接され、接触したのち同方
向に所定距離行き過ぎ、それまでとは逆向きに第
二速度で所定距離戻つて離脱される。続いて再度
元の方向に低速の第三速度で移動され、この移動
の間に再度接触した時点で接触位置が計測され
る。つまり、位置計測を行う際の第三速度を低速
にすることで精度を確保するとともに、第三速度
で移動する距離を短い区間に限定し、他の区間で
の移動速度を高めて全体として迅速な動作を実現
することにより、上記目的を達成しようとするも
のである。 以下、本考案の一実施例を図面について説明す
る。 第1図は本実施例の全体のシステムを示してい
る。同システムは、被測定物としての工作物Wの
計測方向、つまり本実施例では穴Hの直径方向
(以下、x方向とする)に対して、例えばマシニ
ングセンタに装着された検知手段としての接点型
或いは圧電素子等からなる接触検出器1が駆動装
置2の作動によつて往復移動できるようになつて
いる。検出器1は、先端に前記工作物Wと接する
プローブ1Aを備え、このプローブ1Aが工作物
Wに接している間、信号検出回路3を通じて検知
信号を本考案の要部である制御手段としての制御
部4へ与える。制御部4は、前記信号検出回路3
を通じて与えられる検知信号に基づき、予め設定
された処理手順に従つてNC装置5へ各種の制御
信号を与えるとともに、所定の条件下において、
そのNC装置5へ入力されているデータを取込む
ようになつている。NC装置5は、前記検出器1
の移動位置を表わすところの駆動装置2に取付け
られた位置検出装置6からの位置データ
(Position Feedback Signal、以下PFSという)
と指令値データとの差に基づき前記駆動装置2を
駆動させるとともに、前記制御部4からの制御信
号に従つてその駆動を制御する。 第2図は前記制御部4とNC装置5との回路構
成を示している。NC装置5には、指令手段およ
び第一ないし第三の移動指令手段を兼ねるNC装
置要部51と、第1、第2の記憶手段52,53
と、加算部54と、差レジスタ55と、移動補正
値記憶手段として一定の移動補正値αを記憶した
移動補正値記憶手段として一定の移動補正値レジ
スタ56とが含まれている。前記NC装置要部5
1には、シーケンス情報を扱うシーケンス部51
A、テープ読取部7からのデータをデコードする
デコード部51Bおよび一定時間毎に移動指令値
(Δx/Δt)を出力する補間演算部51C等が含
まれ、かつ所定の条件において前記定数レジスタ
56の移動補正値αが与えられるようになつてい
る。また、前記第1の記憶手段52は、前記位置
検出装置6からの逐次入力される位置データPFS
を順次記憶するフイードバツクカウンタで構成さ
れている。また、前記第2の記憶手段53は、前
記NC装置要部51の補間演算部51Cから一定
時間毎に出力される移動指令値Δx/Δtを順次加
算、記憶する指令値カウンタによつて構成されて
いる。これらの第1、第2の記憶手段52,53
の差は、前記加算部54を介して差レジスタ55
に、いわゆるサーボエラー量SVEとして与えら
れる。このサーボエラー量SVEは、D/A変換
部を含む前記駆動装置2に与えられる。ちなみ
に、前記加算部54および差レジスタ55は可逆
カウンタとして構成することができる。 前記制御部4は、前記信号検出回路3からの検
知信号がアンド回路21に入力されるようになつ
ているとともに、インバータ22を介してアンド
回路23に入力されるようになつている。前記ア
ンド回路21には、前記検知信号のほかに、タイ
マ回路24からの一定時間Δt毎に出力されるク
ロツク信号およびフリツプフロツプ25のセツト
出力端Qからの信号がそれぞれ入力されている。
また、このアンド回路21からの出力は、前記フ
リツプフロツプ25をリセツトし、かつ前記NC
装置要部51にその指令値Δx/Δtの分配を停止
させるための停止指令信号STPとして入力され
ているとともに、アンド回路26の一方の入力端
およびゲート回路27に与えられている。 ここにおいて、アンド回路21およびフリツプ
フロツプ25により接触状態指示手段が構成さ
れ、アンド回路21のH出力が接触状態信号とな
る。 ゲート回路27は、前記アンド回路21の出力
がHレベル(論理値1)になつたとき開放され、
制動距離記憶手段である第3の記憶手段28に予
め記憶されている一定の制動距離ΔXTを前記NC
装置要部51へ与える。これにより、NC装置要
部51は、第3の記憶手段から与えられる制動距
離ΔXTに基づく寸法だけ検出器1を同方向へ移動
させて停止させ、続いてその制動距離ΔXTに定数
レジスタ56の移動補正値αを加えたデータに基
づく寸法だけ逆方向へ移動させるようになつてい
る。 また、前記アンド回路23には、前記信号検出
回路3からの反転信号のほかに、前記タイマ回路
24からのクロツク信号および前記フリツプフロ
ツプ25のリセツト出力端からの信号がそれぞ
れ入力されている。アンド回路23からの出力
は、前記フリツプフロツプ25のセツト入力端S
およびフリツプフロツプ29のセツト入力端Sに
それぞれ与えられている。 ここにおいて、アンド回路23、インバータ2
2およびフリツプフロツプ25により離脱状態指
示手段が構成され、アンド回路23のH出力が離
脱状態信号となる。 フリツプフロツプ29からの出力は、前記アン
ド回路21からの出力を一方の入力とするアンド
回路26の他方へ入力されている。アンド回路2
6からの出力は、ゲート回路30に与えられてい
る。 ここにおいて、アンド回路26およびフリツプ
フロツプ29により再接触状態指示手段が構成さ
れ、アンド回路26のH出力が再接触状態信号と
なる。 ゲート回路30は、前記アンド回路26の出力
がHレベルになつたとき開放され、前記第1の記
憶手段52のデータを第4の記憶手段31へ取込
む。これらのゲート回路30および第4の記憶手
段31により計測位置出力手段が構成され、第4
の記憶手段31に取込まれたデータは、計測値と
して例えば表示器等へ出力される。なお、初期設
定として前記NC装置要部51のシーケンス部5
1Aから出力される初期設定指令信号SSにより、
前記フリツプフロツプ25はセツト状態に、前記
フリツプフロツプ29はリセツト状態にそれぞれ
設定される。 次に、本実施例の作用を第3図をも参照して説
明する。 まず、NC装置要部51のシーケンス部51A
からの初期設定指令信号SSによりフリツプフロ
ツプ25をセツト状態に、フリツプフロツプ29
をリセツト状態にそれぞれ初期設定した後、NC
装置要部51からの指令により、駆動装置2を介
して検出器1を測定開始点となる基準位置P0
ら高速の第一速度V1で移動させると(第3図参
照)、位置データPFSが駆動装置2に設けられた
位置検出装置6から逐次与えられ、そのデータが
第1の記憶手段52に記憶されていく。 一方、検出器1が速度V1で移動する過程にお
いて、プローブ1Aが工作物Wと接する位置Pに
達すると、信号検出回路3を通じてHレベルの検
知信号(接触信号)が制御部4のアンド回路21
へ与えられる。アンド回路21は、フリツプフロ
ツプ25がセツトされた状態つまりそのセツト出
力端QからHレベルの信号が与えられている状態
にあるから、タイマ回路24からのクロツク信号
が与えられたとき、Hレベルの出力を発生する。
すると、そのアンド回路21からのHレベルの出
力により、フリツプフロツプ25がリセツトされ
ると同時に、NC装置要部51に対して停止指令
信号STPが与えられる、これにより、NC装置要
部51は補間演算部51Cから第2の記憶手段5
3への指令値Δx/Δtの分配を停止する。更に、
アンド回路21からのHレベルの出力によりゲー
ト回路27が開放される。すると、第3の記憶手
段28の制動距離ΔXTがNC装置要部51へ与え
られ、その制動距離ΔXTに基づいて検出器1が移
動される。そして、検出器1は、駆動手段2によ
りその制動距離ΔXTに基づく位置P1まで移動さ
れて停止される。 ここで、検出器1のプローブ1Aが工作物Wと
接し、それに伴う検知信号が出力されてから停止
するまでの検出器1の行きすぎ量lは、 l=ΔXT+V1・Δt1 …(1) で表わされる。ここで、制動距離ΔXTは、速度
V1など駆動手段2の常用送り速度ないし最高速
度でのサーボエラー量SVE等に応じて予め設定
されたものである。また、V1・Δt1は、制動にあ
たつて生じる遅れ誤差Δt1に伴う停止位置のずれ
量であり、Δt1は、検出器1のプローブ1Aが工
作物Wに接して検知信号が出力された時点からタ
イマ回路24のクロツク信号が与えられるまでの
時間つまり制御部4が検知信号を認識するまでの
遅れで、少なくともクロツク信号の周期Δtより
小さい。 次に、検出器1が停止した位置P1から検出器
1を、前記とは逆方向へ比較的高速の第二速度
V2で移動させる。このとき、NC装置要部51
は、第3の記憶手段28から与えられた制動距離
ΔXTに移動補正値レジスタ56の移動補正値を加
えたデータに基づく寸法の移動を指令する。ただ
し、移動補正値αは予めα>V1・Δt1となるよう
に設定された値であり、このα+ΔXTの移動によ
り検出器1はプローブ1Aが工作物Wから離脱す
る位置まで戻されることになる。 ここで、逆方向の移動中にプローブ1Aが工作
物Wから離脱すると、信号検出回路3を通じてL
レベルの検知信号(離脱信号)がインバータ22
で反転された後、アンド回路23へ与へ与えられ
る。アンド回路23は、フリツプフロツプ25が
リセツトされた状態つまりそのリセツト出力端
からHレベルの信号が与えられている状態にある
から、タイマ回路24からのクロツク信号が与え
られたとき、Hレベルの出力を発生する。する
と、アンド回路23からの出力により、フリツプ
フロツプ25が再びセツトされると同時に、フリ
ツプフロツプ29もセツトされる。この後、プロ
ーブ1Aが制動距離ΔXTに移動補正値αを加えた
位置P2に達した後、再度逆方向(元の方向)へ
微小な第三速度V3で移動させる。 検出器1が速度V3で移動する過程において、
そのプローブ1Aが工作物Wに接する位置Pに達
すると、信号検出回路3を通じてHレベルの検知
信号がアンド回路21へ与えられる。アンド回路
21は、フリツプフロツプ25がセツトされた状
態つまりそのセツト出力端QからHレベルの信号
が与えられている状態にあるから、タイマ回路2
4からのクロツク信号が与えられたとき、Hレベ
ルの出力を発生し、その出力をアンド回路26へ
与える。アンド回路26は、フリツプフロツプ2
9がセツトされた状態にあるから、アンド回路2
1からのHレベルの出力によりHレベルの出力を
発生する。これにより、ゲート回路30が開放さ
れ、このときの第1の記憶手段52の位置データ
PFSが第4の記憶手段31へ記憶される。この
後、第4の記憶手段31に記憶されたデータは、
計測値として例えば表示器等に表示することがで
きる。従つて、この場合には、プローブ1Aが工
作物Wと接したときの位置データを計測値とする
ため、逆にプローブ1Aが工作物Wと離れたとき
の位置データを計測値とする場合に比べ高精度の
計測が期待できる。 ここで、検出器1のプローブ1Aが工作物Wと
接し、その際の検知信号が出力された時点から、
その検知信号を認識するまでの間Δt2(Δt)に
おける検出器1の行きすぎ量つまり誤差δは、 δ=V3・Δt2 …(2) 表わされる。従つて、速度V3を低速もしくは微
小速度とすれば、誤差δをきわめて小さくするこ
とができる。また、速度V2については測定に無
関係であるから速い送りとし、速度V1について
は多少誤差があつてもよいので、最も速い検出器
1の許容速度とすれば、速度V3を低速もしくは
微小速度としたとしてもその移動距離が僅かな範
囲に限られるため、計測精度を落すことなく、か
つ計測能率を上げることが可能である。 以上の説明ではプローブ1Aの接触端の径を無
視したが、実際にはその接触端の径を補正する必
要がある。また、計測の対象としては、穴径の計
測のほか、穴芯の測定、自動芯出し、同芯穴加工
等に利用することができる。 なお、前記実施例における第2図では、制御部
4をハードウエアとしての論理回路による構成を
示したが、最近の如く、CNC(omputerized
Numerical ontrol device)タイプの数値制
御装置の場合には、制御部4を具体的な論理回路
の構成とする必要がなくなり、一群のプログラム
指令に置換えることができる。こうしたプログラ
ム指令群はCNC装置において、サブプログラム
としてΔtごとの割込み信号に応答して読み出さ
れ、実行される。 また、前記実施例では、マシニングセンタに装
着するようにしたが、本考案はこれに限られるも
のではなく、例えばNC横中ぐり盤等でも可能で
あり、さらには工作機拡に限らず一般の計測装
置、例えば座標測定装置にも適用できる。 上述のように、本考案によれば、計測精度を維
持しつつ計測能率を向上させることができる計測
装置を提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本考案の一実施例を示すもので、第1図は
全体のシステムを示す説明図、第2図は制御部と
NC装置の回路構成を示す回路図、第3図は検出
器の移動を示す説明図である。 1……検出手段としての検出器、2……駆動手
段としての駆動装置、4……制御手段としての制
御部、5……NC装置、6……位置検出手段とし
ての位置検出装置、21,23,25……接触状
態指示手段および離脱状態指示手段を構成するア
ンド回路およびフリツプフロツプ、26,29…
…再接触状態指示手段であるアンド回路およびフ
リツプフロツプ、28……制動距離記憶手段であ
る第3の記憶手段、36……計測位置出力手段で
ある第4の記憶手段、51……指令手段および第
一ないし第三の移動指令手段を兼ねるNC装置要
部、56……移動補正値記憶手段である定数レジ
スタ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物との接触および離脱に伴い検知信号を
    発生する検知手段と、この検知手段と被測定物と
    を相対移動させる駆動手段と、この駆動手段に前
    記相対移動に関する指令値データを出力する指令
    手段と、前記検知手段と被測定物との相対位置を
    検出しその相対位置データを出力する位置検出手
    段と、前記検知信号に基づき駆動手段を制御して
    被測定物と検知手段との接触位置を計測する制御
    手段とを備え、この制御手段は、 前記接触に伴う検知信号を受けた際に接触状態
    信号を出力する接触状態指示手段と、 前記接触状態信号がある間に前記離脱に伴う検
    知信号を受けた際に離脱状態信号を出力する離脱
    状態指示手段と、 前記離脱状態信号がある間に前記接触に伴う検
    知信号を受けた際に再接触状態信号を出力する再
    接触状態指示手段と、 前記再接触状態信号を受けた際に前記相対位置
    データを計測位置として出力する計測位置出力手
    段と、 予め設定された一定の制動距離を記憶する制動
    距離記憶手段と、 予め設定された一定の移動補正値を記憶する移
    動補正値記憶手段と、 前記被測定物と検知手段とを第一速度で近接方
    向に相対移動させかつ前記接触状態信号を受けた
    際に同方向に前記制動距離だけ相対移動させる第
    一移動指令手段と、 前記第一移動指令手段に続いて起動されて前記
    被測定物と検知手段とを第二速度で逆方向に前記
    制動距離に前記移動補正値を加えた距離だけ相対
    移動させる第二移動指令手段と、 前記第二移動指令手段に続いて起動されて前記
    被測定物と検知手段とを再度近接方向に前記第一
    速度および第二速度よりも低速の第三速度で相対
    移動させる第三移動指令手段と、 を備えていることを特徴とする計測装置。
JP19347581U 1981-12-28 1981-12-28 計測装置 Granted JPS5899611U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19347581U JPS5899611U (ja) 1981-12-28 1981-12-28 計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19347581U JPS5899611U (ja) 1981-12-28 1981-12-28 計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5899611U JPS5899611U (ja) 1983-07-06
JPH0233127Y2 true JPH0233127Y2 (ja) 1990-09-06

Family

ID=30106828

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19347581U Granted JPS5899611U (ja) 1981-12-28 1981-12-28 計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5899611U (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2669458B2 (ja) * 1985-04-18 1997-10-27 株式会社島津製作所 伸び測定用ゲージ長等の自動設定装置
CN110887054A (zh) * 2019-10-22 2020-03-17 武汉三宇机械有限公司 一种固定旋转式吹灰器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53149354A (en) * 1977-06-01 1978-12-26 Mitsubishi Electric Corp Position detector
JPS56168224A (en) * 1980-04-21 1981-12-24 Westinghouse Electric Corp Position monitor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53149354A (en) * 1977-06-01 1978-12-26 Mitsubishi Electric Corp Position detector
JPS56168224A (en) * 1980-04-21 1981-12-24 Westinghouse Electric Corp Position monitor

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5899611U (ja) 1983-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3576979A (en) Motion monitor system
EP0073495B1 (en) Method and apparatus for measuring a workpiece
EP0242869B1 (en) Numerical control equipment
JPH0233127Y2 (ja)
JP2845730B2 (ja) 位置制御システムの位置情報判別装置及びその判別方法
US5115401A (en) Method for automatically correcting deflection of stylus in digitizing device
JPH044527B2 (ja)
US3852719A (en) Pitch error compensation system
JPH0233122Y2 (ja)
JPH0233129Y2 (ja)
JPH0233124Y2 (ja)
JPS5929384B2 (ja) 倣い制御装置
JPH0233128Y2 (ja)
JPH0233123Y2 (ja)
JPH0336884Y2 (ja)
JPH0233126Y2 (ja)
JPH0233125Y2 (ja)
JPH0379645B2 (ja)
JP4280051B2 (ja) 位置決めシステムにおける原点復帰方法及び制御プログラム
JPH0237524B2 (ja)
JPH0217051B2 (ja)
JPH07210228A (ja) Nc工作機械を用いた測定システムの制御方法
JPS597546A (ja) 工具長測定方法
KR940005587Y1 (ko) 공작기계용 수치 제어기의 원점 설정장치
JPH0738971Y2 (ja) 位置決め装置