JPS6042360Y2 - 赤外線分析装置 - Google Patents
赤外線分析装置Info
- Publication number
- JPS6042360Y2 JPS6042360Y2 JP1980094291U JP9429180U JPS6042360Y2 JP S6042360 Y2 JPS6042360 Y2 JP S6042360Y2 JP 1980094291 U JP1980094291 U JP 1980094291U JP 9429180 U JP9429180 U JP 9429180U JP S6042360 Y2 JPS6042360 Y2 JP S6042360Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflective object
- detection head
- attached
- infrared
- cover glass
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、赤外線分析装置に関し、更に詳しくは、シー
ト状物体に近赤外線を照射し該物体と会合して得る近赤
外線を検出することにより該物体に含まれる水分量を測
定する赤外線分析装置に関するものである。
ト状物体に近赤外線を照射し該物体と会合して得る近赤
外線を検出することにより該物体に含まれる水分量を測
定する赤外線分析装置に関するものである。
第1図は、赤外線分析装置の従来例を示す構成説明図で
あり、図中、1は検出部上ヘッド、2は検出部下ヘッド
、3は被測定体、4a、4bは近赤外線照射窓(以下1
照射窓ヨという)、5は近赤外線受光窓(以下1受光窓
ヨという)、6はフィルタホイール、7は光フィルタ、
8a、8b。
あり、図中、1は検出部上ヘッド、2は検出部下ヘッド
、3は被測定体、4a、4bは近赤外線照射窓(以下1
照射窓ヨという)、5は近赤外線受光窓(以下1受光窓
ヨという)、6はフィルタホイール、7は光フィルタ、
8a、8b。
8cはレンズ、9はランプ、10は反射鏡、11は光感
応素子、12a、12bは反射被膜である。
応素子、12a、12bは反射被膜である。
第1図において、上ヘッド1と下ヘッド2は対向配置さ
れ、その対向面の所定領域には反射被膜12a、12b
が被覆されるとともに、上ヘッドには照射窓4a、4b
が設けられ、下ヘッド2には上記照射窓4bに対向する
位置に受光窓5が設けられている。
れ、その対向面の所定領域には反射被膜12a、12b
が被覆されるとともに、上ヘッドには照射窓4a、4b
が設けられ、下ヘッド2には上記照射窓4bに対向する
位置に受光窓5が設けられている。
また、光学フィルタ7が埋設支承されたフィルタホイー
ル6は、ランプ9、レンズ8a、8bおよび反射鏡10
による二系統の近赤外線を断続光となし、照射窓4a、
4bから被測定体3へ照射せしめている。
ル6は、ランプ9、レンズ8a、8bおよび反射鏡10
による二系統の近赤外線を断続光となし、照射窓4a、
4bから被測定体3へ照射せしめている。
而して、照射窓4a、4bから照射された近赤外線は、
被測定体3を透過し若しくは反射被膜12a、12bお
よび被測定体3の表面で散乱して受光窓5に達し、レン
ズ8cを経て光感応素子11で検出され受光光量に対応
した所定の信号が出力されている。
被測定体3を透過し若しくは反射被膜12a、12bお
よび被測定体3の表面で散乱して受光窓5に達し、レン
ズ8cを経て光感応素子11で検出され受光光量に対応
した所定の信号が出力されている。
第2図は、第1図の照射窓4a、4b付近の拡大断面で
あり、図中、21a、21bはアルミ鋳物部、22a、
22bは散乱面を形成する反射物体、23は反射物体2
2a、22bを保護するためのカバーガラス、24a、
24bは反射物体22av22bを加熱するためのアル
ミプレート、25はアルミプレート24a、24bと反
射物体22a、22bに形成される窓穴、26a、26
bはアルミプレート24a、24b、反射物体22a、
22b、カバーガラス23およびアルミ鋳物部21a、
21bで形成される間隙部、27a、27bは散乱面2
2at22bとカバーガラス23で形成される間隙部、
28a、28b、28 c、 28 d、 28
eは上ヘツド1内に供給され上ヘツド1内の放熱や防塵
を行なう空気流である。
あり、図中、21a、21bはアルミ鋳物部、22a、
22bは散乱面を形成する反射物体、23は反射物体2
2a、22bを保護するためのカバーガラス、24a、
24bは反射物体22av22bを加熱するためのアル
ミプレート、25はアルミプレート24a、24bと反
射物体22a、22bに形成される窓穴、26a、26
bはアルミプレート24a、24b、反射物体22a、
22b、カバーガラス23およびアルミ鋳物部21a、
21bで形成される間隙部、27a、27bは散乱面2
2at22bとカバーガラス23で形成される間隙部、
28a、28b、28 c、 28 d、 28
eは上ヘツド1内に供給され上ヘツド1内の放熱や防塵
を行なう空気流である。
第2図において、空気流28a、28eは間隙部26a
、26bを通り、主として間隙部26a、26bに付着
する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る。
、26bを通り、主として間隙部26a、26bに付着
する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る。
また、空気流28b、28c、28dは窓穴25および
間隙部27a、27bを通り、主として間隙部27a、
27bに付着する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る。
間隙部27a、27bを通り、主として間隙部27a、
27bに付着する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る。
然し乍ら、上記従来例においては、上ヘッドに供給され
るパージ用空気に含有されているゴミ、カーボン、ホコ
リ等の粉状物が間隙部27a、27bに混入してパージ
用空気の流路を閉塞したり、反射物体22 a、 2
2 bの表面である散乱面を汚したりするために、測定
光の散乱に異常をきたし赤外線分析装置の指示値にドリ
フト等の異常をきたすことが多かった。
るパージ用空気に含有されているゴミ、カーボン、ホコ
リ等の粉状物が間隙部27a、27bに混入してパージ
用空気の流路を閉塞したり、反射物体22 a、 2
2 bの表面である散乱面を汚したりするために、測定
光の散乱に異常をきたし赤外線分析装置の指示値にドリ
フト等の異常をきたすことが多かった。
また、上ヘッドに供給されるパージ用空気に含有されて
いる上記粉状物を除去することも、そのための除去装置
等設備費が嵩むため困難な場合が多かった。
いる上記粉状物を除去することも、そのための除去装置
等設備費が嵩むため困難な場合が多かった。
本考案は、かかる欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、赤外線分析装置のヘッドにおいて、ヘッドに
供給されるパージ用空気として前記粉状物が含有されて
いる空気が使用されても、指示値にドリフト等の異常を
きたさない赤外線分析装置を提供するにある。
の目的は、赤外線分析装置のヘッドにおいて、ヘッドに
供給されるパージ用空気として前記粉状物が含有されて
いる空気が使用されても、指示値にドリフト等の異常を
きたさない赤外線分析装置を提供するにある。
本考案の特徴は、赤外線分析装置のヘッドにおいて、測
定光を透過しパージ用気体を通過させない遮蔽物を測定
光の照射窓および受光窓に付設し、ヘッドに供給される
パージ用空気に前記粉状物が含有される場合も、赤外線
分析装置の指示値にドリフト等の異常をきたさないよう
にしたことにある。
定光を透過しパージ用気体を通過させない遮蔽物を測定
光の照射窓および受光窓に付設し、ヘッドに供給される
パージ用空気に前記粉状物が含有される場合も、赤外線
分析装置の指示値にドリフト等の異常をきたさないよう
にしたことにある。
以下、本考案について図を用いて詳細に説明する。
第3図は、本考案に係る赤外線分析装置における照射窓
4a、4b付近の拡大断面図であり、図中、27は遮蔽
物、29a、29b、29cは上ヘツド1内に供給され
る空気流である。
4a、4b付近の拡大断面図であり、図中、27は遮蔽
物、29a、29b、29cは上ヘツド1内に供給され
る空気流である。
なお、第3図において、第2図と同一記号は同一意味を
もたせて使用し、ここでの説明は省略する。
もたせて使用し、ここでの説明は省略する。
第3図において、空気流29a、29b、29cは遮蔽
物27によって流路を妨げられて直進できず、第3図の
横軸方向に流れて空気流28 a、 28 eと合流
し、間隙部26a、26bを通り、主として間隙部26
a、26bに付着する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る
。
物27によって流路を妨げられて直進できず、第3図の
横軸方向に流れて空気流28 a、 28 eと合流
し、間隙部26a、26bを通り、主として間隙部26
a、26bに付着する紙粉等を上ヘッドの外へ運び去る
。
また、間隙部26a、26bは空気流28at28eが
流れて同じ圧力が維持されているために、間隙部27a
、27bには空気の流れが生ぜず前記粉状物等が間隙部
27a、27bに詰まることもなく、またヘッド外から
紙粉等が混入することもない。
流れて同じ圧力が維持されているために、間隙部27a
、27bには空気の流れが生ぜず前記粉状物等が間隙部
27a、27bに詰まることもなく、またヘッド外から
紙粉等が混入することもない。
以上、詳しく説明したような本考案の実施例によれば、
前記従来例と異なり、赤外線分析装置のヘッドに供給さ
れるパージ用空気として前記粉状物が含有されている空
気を使用しても散乱面が前記粉状物で汚されることがな
いため、赤外線分析装置の指示値にドリフト等の異常を
きたすこともなく、パージ用空気から含有されている前
記粉状物を除去するための装置等も不要であるという利
点を有している。
前記従来例と異なり、赤外線分析装置のヘッドに供給さ
れるパージ用空気として前記粉状物が含有されている空
気を使用しても散乱面が前記粉状物で汚されることがな
いため、赤外線分析装置の指示値にドリフト等の異常を
きたすこともなく、パージ用空気から含有されている前
記粉状物を除去するための装置等も不要であるという利
点を有している。
第1図は、赤外線分析装置の従来例を示す構成説明図、
第2図は、第1図の照射窓4a、4b付近の拡大断面図
、第3図は、本考案実施例の拡大断面図である。 1・・・・・・検出部上ヘッド、2・・・・・・検出部
下ヘッド、3・・・・・・被測定体、4a、4b・・・
・・・照射窓、5・・・・・・入射窓、6・・・・・・
フィルタホイール、7・・・・・・光学フィルタ、8
ag 8 by 8 c・・・・・・レンズ、9・
・・・・・ランプ、10・・・・・・反射鏡、11・・
・・・・光感応素子、12 a、 12 b””反射
被膜、21a、21b・・・・・・アルミ鋳物部、22
a、22b・・・・・・反射物体、23・・・・・・カ
バーガラス、24 at 24 b・・・・・・アル
ミプレート、25・・・・・・窓穴、26 at 2
6b、27a、27b・・・・・・間隙部、27・・・
・・・遮蔽物、28a、28b、28c、28d、28
e。 29 a、 29 b、 29 c=空気流。
第2図は、第1図の照射窓4a、4b付近の拡大断面図
、第3図は、本考案実施例の拡大断面図である。 1・・・・・・検出部上ヘッド、2・・・・・・検出部
下ヘッド、3・・・・・・被測定体、4a、4b・・・
・・・照射窓、5・・・・・・入射窓、6・・・・・・
フィルタホイール、7・・・・・・光学フィルタ、8
ag 8 by 8 c・・・・・・レンズ、9・
・・・・・ランプ、10・・・・・・反射鏡、11・・
・・・・光感応素子、12 a、 12 b””反射
被膜、21a、21b・・・・・・アルミ鋳物部、22
a、22b・・・・・・反射物体、23・・・・・・カ
バーガラス、24 at 24 b・・・・・・アル
ミプレート、25・・・・・・窓穴、26 at 2
6b、27a、27b・・・・・・間隙部、27・・・
・・・遮蔽物、28a、28b、28c、28d、28
e。 29 a、 29 b、 29 c=空気流。
Claims (1)
- 検出ヘッドに付設された測定光の照射窓および受光窓に
装着され一側の面が散乱面を形成しているリング状の反
射物体と、該反射物体の中心穴の一側および前記−側面
を覆って前記反射物体を保護するカバーガラスと、前記
反射物体の他側の面に装着され前記反射物体を加熱する
アルミプレーとを具備し、該アルミプレート、反射物体
、およびカバーガラスと前記検出ヘッドの本体たるアル
ミ鋳物部とて形成される第1間隙部と、前記カバーガラ
スと前記反射物体の散乱面で形成される第2間隙部とを
有し、前記検出ヘッドの内部が気体でパージされている
赤外線分析装置において、前記パージ用気体は通さず前
記測定光を透過させる遮蔽物を前記反射物体中心穴の他
側に装着し、前記パージ用気体が前記第2間隙部を通ら
ず前記第1間隙部を通って前記検出ヘッド外へ排出され
るように構成したことを特徴とする赤外線分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1980094291U JPS6042360Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1980094291U JPS6042360Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5716954U JPS5716954U (ja) | 1982-01-28 |
JPS6042360Y2 true JPS6042360Y2 (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=29456221
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1980094291U Expired JPS6042360Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6042360Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-07-04 JP JP1980094291U patent/JPS6042360Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5716954U (ja) | 1982-01-28 |
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