JPS5850303Y2 - 水分計の標準サンプル - Google Patents
水分計の標準サンプルInfo
- Publication number
- JPS5850303Y2 JPS5850303Y2 JP1978147975U JP14797578U JPS5850303Y2 JP S5850303 Y2 JPS5850303 Y2 JP S5850303Y2 JP 1978147975 U JP1978147975 U JP 1978147975U JP 14797578 U JP14797578 U JP 14797578U JP S5850303 Y2 JPS5850303 Y2 JP S5850303Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- standard sample
- filter
- light
- moisture meter
- spacer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、赤外線吸収スペクトルを利用した水分計の標
準サスプルに関し、さらに詳しくは、抄紙機における紙
の水分量および水分率を連続測定する赤外線水分計の校
正・チェック動作に供して最適な標準サンプルに関する
。
準サスプルに関し、さらに詳しくは、抄紙機における紙
の水分量および水分率を連続測定する赤外線水分計の校
正・チェック動作に供して最適な標準サンプルに関する
。
抄紙機の制御用信号として、また紙の品質管理用データ
として、抄紙工程における紙の水分量や水分率を計測す
ることは、紙の坪量や絶乾坪量と同様に重要である。
として、抄紙工程における紙の水分量や水分率を計測す
ることは、紙の坪量や絶乾坪量と同様に重要である。
上記水分量や水分率測定に供する赤外線水分計は、定期
的な校正・チェック動作を自動又は手動でなすことによ
って信頼性の高い測定信号を得るようになっている。
的な校正・チェック動作を自動又は手動でなすことによ
って信頼性の高い測定信号を得るようになっている。
このような校正・チェック動作に供する標準サンプルと
して、実開昭５４−６８６７２号公報に記載された標準
サンプルや実開昭５４−６８６７３号公報に記載された
標準サンプルがあり、その基本構成を第１図で示すこと
ができる。
して、実開昭５４−６８６７２号公報に記載された標準
サンプルや実開昭５４−６８６７３号公報に記載された
標準サンプルがあり、その基本構成を第１図で示すこと
ができる。
第１図において、イ図は標準サンプルの断面図で、口図
はその組立て説明図である。
はその組立て説明図である。
１は円板状の色ガラスフィルタ、２は円環状のスペーサ
、３は円板状の干渉フィルタ、４は円板状の保護ガラス
である。
、３は円板状の干渉フィルタ、４は円板状の保護ガラス
である。
干渉フィルタ３はフィルタ基板の片面に、薄膜材料を蒸
着させたものである。
着させたものである。
これら各フィルタを、スペーサを介在して積層し、金属
枠（図示せず）で一体構成をなして所望の分光特性を有
する標準サンプル４０を得ている。
枠（図示せず）で一体構成をなして所望の分光特性を有
する標準サンプル４０を得ている。
この標準サンプルを水分計の検出部に設置して校正・チ
ェックをなすが、その例を第２図で示すことができる。
ェックをなすが、その例を第２図で示すことができる。
第２図において、１０は水分計の検出部の上ヘッド、３
０はそれの下ヘッドである。
０はそれの下ヘッドである。
上ヘッド１０は赤外線の照射側を、下ヘッド３０は受光
側を構成し、上・下ヘッドは対向配置されてなり、標準
サンプル４０は下ヘッド３０に設置されている。
側を構成し、上・下ヘッドは対向配置されてなり、標準
サンプル４０は下ヘッド３０に設置されている。
上ヘッド１０の照射窓２０から、ランプ１６およびレン
ズ１７によって作成された光束が、モータ１２および伝
動機構（歯車１３．１４および回転軸からなる）によっ
て回転駆動されるセクタ１１で断続光となって照射され
る。
ズ１７によって作成された光束が、モータ１２および伝
動機構（歯車１３．１４および回転軸からなる）によっ
て回転駆動されるセクタ１１で断続光となって照射され
る。
その断続光は基準光（１，８０μｍ）と測定光（１，９
５μｍ）が交互に得られるように、セクタ１１の貫通穴
１１６に基準光用光学フィルタおよび測定用光学フィル
タが設けられている。
５μｍ）が交互に得られるように、セクタ１１の貫通穴
１１６に基準光用光学フィルタおよび測定用光学フィル
タが設けられている。
また、基準光および測定光による測定値を演算制御部５
０へ読み込み用の同期信号を得るために、セクタ１１の
周辺部１１２に貫通穴および切欠部を設けると共に、レ
ンズ１８および光検出素子１９を具備している。
０へ読み込み用の同期信号を得るために、セクタ１１の
周辺部１１２に貫通穴および切欠部を設けると共に、レ
ンズ１８および光検出素子１９を具備している。
一方、下ヘッド３０は、入射窓３８を通過した光を、レ
ンズ３２を介して光量検出素子３１で受け、検出信号を
増幅器３７で増幅し、演算制御部５０へ出力するように
なっている。
ンズ３２を介して光量検出素子３１で受け、検出信号を
増幅器３７で増幅し、演算制御部５０へ出力するように
なっている。
、また、下ヘツド３０内は、光量検出素子３１の温度を
一定に保持するための手段、すなわち、光量検出素子３
１を設置する基台３３の温度を検出する温度検出体３４
、温度調節器３５および操作端３６で構成する温度制御
系を具備している。
一定に保持するための手段、すなわち、光量検出素子３
１を設置する基台３３の温度を検出する温度検出体３４
、温度調節器３５および操作端３６で構成する温度制御
系を具備している。
本考案者の実験によって、上記標準サンプルおよび検出
部による校正・チェック操作において、サンプル設置角
度が重要な意味を持つことが明らかとなった。
部による校正・チェック操作において、サンプル設置角
度が重要な意味を持つことが明らかとなった。
サンプル設置角度とは、第３図におけるθであって、標
準サンプル４０を下ヘッド３０の入射窓３８の窓面に設
置したときに、標準サンプル４０を構成する円板状のフ
ィルタの平面と光学系の光軸１７１とのなす角度θを称
し、この角度θによってｆ（ＭＷ）値は第６図の特性を
呈する。
準サンプル４０を下ヘッド３０の入射窓３８の窓面に設
置したときに、標準サンプル４０を構成する円板状のフ
ィルタの平面と光学系の光軸１７１とのなす角度θを称
し、この角度θによってｆ（ＭＷ）値は第６図の特性を
呈する。
ｆ ＣＭＷ）値とは上記検出部の基準光（１，８０μｍ
）と測定（１，９５μｍ）を交互に標準サンプル４０に
透過させて、その透過光量に関連する信号を得て、あら
かじめ定めた演算式に基づいて得る数値である。
）と測定（１，９５μｍ）を交互に標準サンプル４０に
透過させて、その透過光量に関連する信号を得て、あら
かじめ定めた演算式に基づいて得る数値である。
そして、ｆ（ＭＷ）値は、秤量計から得る坪量信号と共
に、水分率を求める演算式への信号となるものである。
に、水分率を求める演算式への信号となるものである。
ところで、現実の水分計において、上・下ヘッド１０お
よび３０の機械的位置を所望の関係で保持し得たとして
も、サンプル設置角度θを零にすることは難しい。
よび３０の機械的位置を所望の関係で保持し得たとして
も、サンプル設置角度θを零にすることは難しい。
なんとなれば、水分計の検出部の設置場所周辺には、紙
粉、塵埃等が存在し、それらは窓面の清浄操作にもかか
わらず、窓面又はその近傍に付着して標準サンプルに傾
きを与えた設置状態を作りしめる。
粉、塵埃等が存在し、それらは窓面の清浄操作にもかか
わらず、窓面又はその近傍に付着して標準サンプルに傾
きを与えた設置状態を作りしめる。
本考案は、上述の事情に鑑みてなされたものである。
したがって、本考案の目的は、サンプル設置角度誤差を
軽減する水分計の標準サンプルを提供するにある。
軽減する水分計の標準サンプルを提供するにある。
本考案者は、実験の結果、上記サンプル設置角度誤差は
標準サンプル４０による多重反射によるものと判断し、
本考案の基本的構成は、表面が粗面状態はある色ガラス
フィルタおよび保護ガラスフィルタを具備するものとし
た。
標準サンプル４０による多重反射によるものと判断し、
本考案の基本的構成は、表面が粗面状態はある色ガラス
フィルタおよび保護ガラスフィルタを具備するものとし
た。
上記多重反射について、第４図を参照して解析する。
第４図は、校正・チェック動作における光学系の一部裁
断拡大図であって、図に付した符号は第１図および第２
図と同一である。
断拡大図であって、図に付した符号は第１図および第２
図と同一である。
ランプおよびレンズ（いずれも図示せず）で作成された
平行光線は、標準サンプル４０に照射され、平行透過光
が光量検出素子３１に検出されている。
平行光線は、標準サンプル４０に照射され、平行透過光
が光量検出素子３１に検出されている。
このとき、標準サンプル４０とセクタ１１に設けた光学
フィルタ（貫通穴１１６に埋設支承されている）間およ
び標準サンプル４０とレンズ３２間に多重反射がみられ
る。
フィルタ（貫通穴１１６に埋設支承されている）間およ
び標準サンプル４０とレンズ３２間に多重反射がみられ
る。
さらに詳しくは、この多重反射は、干渉フィルタ３の表
面３ａ（基板に薄膜蒸着をなしているので反射率が高い
）と光学フィルタの表面（これも干渉フィルタと類似の
構成をなしている）との間で、また、干渉フィルタ３の
他の表面３ｂとレンズ３２の表面との間で生じる。
面３ａ（基板に薄膜蒸着をなしているので反射率が高い
）と光学フィルタの表面（これも干渉フィルタと類似の
構成をなしている）との間で、また、干渉フィルタ３の
他の表面３ｂとレンズ３２の表面との間で生じる。
なお、照射窓２０、色ガラスフィルタ１、保護ガラスフ
ィルタ４および入射窓３８の表面はコーティングされて
、その反射率は小さいので、それらの面による多重反射
は無視してもよい。
ィルタ４および入射窓３８の表面はコーティングされて
、その反射率は小さいので、それらの面による多重反射
は無視してもよい。
したがって、光量検出素子３１で検出される光線は、平
行透過光および上記干渉フィルタ３に係わる多重反射光
の重畳されたものとなっている。
行透過光および上記干渉フィルタ３に係わる多重反射光
の重畳されたものとなっている。
しかるに、上記多重反射状態は標準サンプル４０のサン
プル設置角度θによって変わるものであり、その結果、
校正・チェック信号は、すでに第６図で説明したような
特性を示すことになる。
プル設置角度θによって変わるものであり、その結果、
校正・チェック信号は、すでに第６図で説明したような
特性を示すことになる。
第５図は、本考案の一実施例による標準サンプルの構成
説明図である。
説明図である。
第５図における構成の特徴は、色ガラスフィルタ１の片
面１ａおよび保護ガラスフィルタ４′の片面４’ａが粗
面状態をなしている点にあり、その他は第１図の構成と
同一である。
面１ａおよび保護ガラスフィルタ４′の片面４’ａが粗
面状態をなしている点にあり、その他は第１図の構成と
同一である。
したがって、上記標準サンプルを校正・チェック用に供
した場合、色ガラスフィルタ１′の透過光は散乱光とな
って干渉フィルタ３に入射するため、干渉フィルタ３の
表面３ａでの反射光は入射光と同一の光路をとらず、第
４図で説明したような干渉フィルタ３の表面と光学用フ
ィルタの表面間での多重反射は生じない。
した場合、色ガラスフィルタ１′の透過光は散乱光とな
って干渉フィルタ３に入射するため、干渉フィルタ３の
表面３ａでの反射光は入射光と同一の光路をとらず、第
４図で説明したような干渉フィルタ３の表面と光学用フ
ィルタの表面間での多重反射は生じない。
また、標準サンプル４０′の透過光に平行透過光が存在
しても、その平行透過光によって、干渉フィルタ３の表
面３ｂとレンズ３２の表面間で、上記と同一な作用をな
すため多重反射は生じない。
しても、その平行透過光によって、干渉フィルタ３の表
面３ｂとレンズ３２の表面間で、上記と同一な作用をな
すため多重反射は生じない。
第７図は、本考案の一実施例による標準サンプルの実験
データをグラフ化したものである。
データをグラフ化したものである。
第７図で明らかなように、本考案による標準サンプルは
、その脱型角度θによる影響はほとんどみられず、精度
の高い校正・チェック信号を得ることができる。
、その脱型角度θによる影響はほとんどみられず、精度
の高い校正・チェック信号を得ることができる。
なお、上記実施例において、標準サンプルの構成を色カ
ラスフィルタ、干渉フィルタおよび保護用ガラスでなし
たが、本考案はこれに限定するものではない。
ラスフィルタ、干渉フィルタおよび保護用ガラスでなし
たが、本考案はこれに限定するものではない。
標準サンプルには種々の特性のものが要求され、それぞ
れの特性に応じたエレメントが用意される。
れの特性に応じたエレメントが用意される。
例えば、複数の色ガラスフィルタと干渉フィルタであっ
てもよいし、また、色ガラスフィルタ、複数の干渉フィ
ルタおよび保護用ガラスで構成してもよい。
てもよいし、また、色ガラスフィルタ、複数の干渉フィ
ルタおよび保護用ガラスで構成してもよい。
要は、一方の表面が粗状をなした色ガラスフィルタおよ
び／又は保護ガラスと干渉フィルタを一体構成をなして
、所望の分光特性を得るようにした標準サンプルであれ
ばよい。
び／又は保護ガラスと干渉フィルタを一体構成をなして
、所望の分光特性を得るようにした標準サンプルであれ
ばよい。
また、上記一体構成は、色ガラスフィルタや保護ガラス
の粗面を外側に向けて（第５図の構成は内側に向いてい
る）なしても、光学的な作用効果は第５図におけると同
一に得られるが、粗面に紙粉・塵埃等が付着しやすくな
るので、あまり好ましくはない。
の粗面を外側に向けて（第５図の構成は内側に向いてい
る）なしても、光学的な作用効果は第５図におけると同
一に得られるが、粗面に紙粉・塵埃等が付着しやすくな
るので、あまり好ましくはない。
以上、詳しく説明したように、本考案による標準サンプ
ルによれば、サンプル設置角度誤差が軽減され、校正・
チェック信号に精度の良いものを得ることができ、しか
も、その設置操作に特別の注意を払う必要がないので、
その取扱いが簡単になる。
ルによれば、サンプル設置角度誤差が軽減され、校正・
チェック信号に精度の良いものを得ることができ、しか
も、その設置操作に特別の注意を払う必要がないので、
その取扱いが簡単になる。
第１図は、従来の標準サンプルの構成説明図、第２図は
、水分計の検出部の構成説明図で、かつ、標準サンプル
設置説明図、第３図は、サンプル設置角度説明図、第４
図は、検出器および標準サンプルにおける多重反射の説
明図、第５図は、本考案の一実施例による標準サンプル
の構成説明図、第６図は、従来の標準サンプルのｆ（Ｍ
Ｗ）−サンプル設置角度特性図、第７図は、本考案によ
る標準サンプルのΔｆ（ＭＷ）−サンプル設置角度特性
図である。 １′・・・・・・色ガラスフィルタ、２・・・・・・ス
ペーサ、３・・・・・・干渉フィルタ、４′・・・・・
・保護ガラス、４０・・・標準サンプル、１０・・・・
・・検出部の上ヘッド、３０・・・・・・検出部の下ヘ
ッド、５０・・・・・・演算制御部。
、水分計の検出部の構成説明図で、かつ、標準サンプル
設置説明図、第３図は、サンプル設置角度説明図、第４
図は、検出器および標準サンプルにおける多重反射の説
明図、第５図は、本考案の一実施例による標準サンプル
の構成説明図、第６図は、従来の標準サンプルのｆ（Ｍ
Ｗ）−サンプル設置角度特性図、第７図は、本考案によ
る標準サンプルのΔｆ（ＭＷ）−サンプル設置角度特性
図である。 １′・・・・・・色ガラスフィルタ、２・・・・・・ス
ペーサ、３・・・・・・干渉フィルタ、４′・・・・・
・保護ガラス、４０・・・標準サンプル、１０・・・・
・・検出部の上ヘッド、３０・・・・・・検出部の下ヘ
ッド、５０・・・・・・演算制御部。
Claims (1)
- 円板状の色ガラスフィルタ、円環状の第１のスペーサ、
円板上の干渉フィルタ、円環状の第２のスペーサ、およ
び円板状の保護ガラスが積層されて一体的に構成されて
なる水分計の標準サンプルにおいて、前記色ガラスフィ
ルタの前記第１スペーサと接する側の片面および前記保
護ガラスの前記第２のスペーサと接する側の片面が夫々
粗面であることを特徴とする水分計の標準サンプル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978147975U JPS5850303Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | 水分計の標準サンプル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978147975U JPS5850303Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | 水分計の標準サンプル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5564746U JPS5564746U (ja) | 1980-05-02 |
| JPS5850303Y2 true JPS5850303Y2 (ja) | 1983-11-16 |
Family
ID=29129937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1978147975U Expired JPS5850303Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | 水分計の標準サンプル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850303Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58141847U (ja) * | 1982-03-18 | 1983-09-24 | 株式会社チノ− | 検出器の校正装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5533238Y2 (ja) * | 1976-12-10 | 1980-08-07 |
-
1978
- 1978-10-27 JP JP1978147975U patent/JPS5850303Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5564746U (ja) | 1980-05-02 |
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