JPH07318488A - 近赤外分光分析装置 - Google Patents
近赤外分光分析装置Info
- Publication number
- JPH07318488A JPH07318488A JP11613494A JP11613494A JPH07318488A JP H07318488 A JPH07318488 A JP H07318488A JP 11613494 A JP11613494 A JP 11613494A JP 11613494 A JP11613494 A JP 11613494A JP H07318488 A JPH07318488 A JP H07318488A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- moisture
- sample
- measurement
- measurement sample
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 品温や外気温が異なる加工プロセス下での計
測の信頼性の向上をはかる。 【構成】 測定試料に近赤外光を照射しその反射光量ま
たは透過光量を計測し、測定試料の化学成分値や物理的
特性あるいは総合的品質特性値を分析するものにおい
て、予め設定した検量線の水分変動に対する適用範囲を
求めて記憶する記憶手段を設け、その測定部の雰囲気の
温度・湿度検出手段と測定試料の品温・水分検出手段と
により測定試料の水分変動状態を判定する測定試料水分
変動状態判定手段とを設け、この水分変動状態判定結果
に基づいて上記水分変動による適用範囲にあるか否かを
判定し、その判定内容を表示する。
測の信頼性の向上をはかる。 【構成】 測定試料に近赤外光を照射しその反射光量ま
たは透過光量を計測し、測定試料の化学成分値や物理的
特性あるいは総合的品質特性値を分析するものにおい
て、予め設定した検量線の水分変動に対する適用範囲を
求めて記憶する記憶手段を設け、その測定部の雰囲気の
温度・湿度検出手段と測定試料の品温・水分検出手段と
により測定試料の水分変動状態を判定する測定試料水分
変動状態判定手段とを設け、この水分変動状態判定結果
に基づいて上記水分変動による適用範囲にあるか否かを
判定し、その判定内容を表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、近赤外分光分析装置
に関する。
に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
近赤外分光分析においては、なるべく測定試料の温度
（品温）と外気温度とを一定にして行われている。しか
しながら、加工プロセス下での計測に当たっては、乾燥
や調湿などの加工を伴うため試料からの水分変動を伴う
ことがあり、このような条件下では分析が困難とされて
いた。
近赤外分光分析においては、なるべく測定試料の温度
（品温）と外気温度とを一定にして行われている。しか
しながら、加工プロセス下での計測に当たっては、乾燥
や調湿などの加工を伴うため試料からの水分変動を伴う
ことがあり、このような条件下では分析が困難とされて
いた。
【０００３】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の欠点
を解消しようとするもので、測定試料に近赤外光を照射
しその反射光量または透過光量を計測し、測定試料の化
学成分値や物理的特性あるいは総合的品質特性値を分析
するものにおいて、予め設定した検量線の水分変動に対
する適用範囲を求めて記憶する記憶手段を設け、その測
定部の雰囲気の温度・湿度検出手段と測定試料の品温・
水分検出手段とにより測定試料の水分変動状態を判定す
る測定試料水分変動状態判定手段とを設け、この水分変
動状態判定結果に基づいて上記水分変動による適用範囲
にあるか否かを判定し試料測定の良・不良を表示する表
示手段を設けてなる近赤外分光分析装置の構成とする。
を解消しようとするもので、測定試料に近赤外光を照射
しその反射光量または透過光量を計測し、測定試料の化
学成分値や物理的特性あるいは総合的品質特性値を分析
するものにおいて、予め設定した検量線の水分変動に対
する適用範囲を求めて記憶する記憶手段を設け、その測
定部の雰囲気の温度・湿度検出手段と測定試料の品温・
水分検出手段とにより測定試料の水分変動状態を判定す
る測定試料水分変動状態判定手段とを設け、この水分変
動状態判定結果に基づいて上記水分変動による適用範囲
にあるか否かを判定し試料測定の良・不良を表示する表
示手段を設けてなる近赤外分光分析装置の構成とする。
【０００４】
【発明の作用効果】近赤外分析を行なうにあたって作成
する検量線について、予め試料の水分変動に対する適用
範囲を知って記憶しておき、実際に測定する試料の水分
変動状態判定値を求め、この判定値と上記検量線の適用
範囲との関係より当該試料の測定が可能か否か判定表示
される構成であるから、加工プロセス下での試料測定に
際し、検量線が適切であるか否かが知れて便利であり、
測定の信頼性を向上するものである。
する検量線について、予め試料の水分変動に対する適用
範囲を知って記憶しておき、実際に測定する試料の水分
変動状態判定値を求め、この判定値と上記検量線の適用
範囲との関係より当該試料の測定が可能か否か判定表示
される構成であるから、加工プロセス下での試料測定に
際し、検量線が適切であるか否かが知れて便利であり、
測定の信頼性を向上するものである。
【０００５】
【実施例】この発明の一実施例を図面に基づき説明す
る。１は試料（図例では穀物）を照射する光源、２は集
光用のレンズ、３はスリットであり、これらはレンズ２
の光軸上にくるように配置する。４は光の通過と遮断と
を行うためのチョッパ、５は複数のフィルタを取り付け
たフィルタ付き円盤である。６は反射ミラー、７は測定
する穀物試料をセットする試料セットディスク、８は光
を検出する光電検出器である。
る。１は試料（図例では穀物）を照射する光源、２は集
光用のレンズ、３はスリットであり、これらはレンズ２
の光軸上にくるように配置する。４は光の通過と遮断と
を行うためのチョッパ、５は複数のフィルタを取り付け
たフィルタ付き円盤である。６は反射ミラー、７は測定
する穀物試料をセットする試料セットディスク、８は光
を検出する光電検出器である。
【０００６】上記チョッパ４は、光の通過と遮断を行う
ために光の通過部と遮断部とを交互に形成した円盤であ
り、モータ４ａにより測定時に一定速度で回転するよう
に構成される。フィルタ付き円盤５は円盤の中心から等
距離の位置に所定間隔で複数の穴をあけ、その各穴にフ
ィルタ５Ａ〜５Ｆを取り付けたものであり、モータ５ａ
により測定時に間欠回転し、その停止時にこれらフィル
タ５Ａ〜５Ｆのいずれか一がレンズ２の光軸上にくるよ
うに構成する。これらフィルタ５Ａ〜５Ｆは測定試料に
おける測定対象成分等、例えば蛋白質、アミロース、水
分等の吸収に特徴と有する所定波長の近赤外線を透過さ
せるものに設定される。
ために光の通過部と遮断部とを交互に形成した円盤であ
り、モータ４ａにより測定時に一定速度で回転するよう
に構成される。フィルタ付き円盤５は円盤の中心から等
距離の位置に所定間隔で複数の穴をあけ、その各穴にフ
ィルタ５Ａ〜５Ｆを取り付けたものであり、モータ５ａ
により測定時に間欠回転し、その停止時にこれらフィル
タ５Ａ〜５Ｆのいずれか一がレンズ２の光軸上にくるよ
うに構成する。これらフィルタ５Ａ〜５Ｆは測定試料に
おける測定対象成分等、例えば蛋白質、アミロース、水
分等の吸収に特徴と有する所定波長の近赤外線を透過さ
せるものに設定される。
【０００７】９は投光用レンズ、１０，１１は夫々集光
用凹面鏡、凸面鏡である。試料セットディスク７は、円
盤の中心から所定距離離れた円周上の所定位置に、セラ
ミックからなる参照用基準板１２、透明セルに穀物粒子
を小さく粉砕して充填した測定試料１３、同様セルに充
填された既知の成分を含有する校正用試料１４、及び感
湿材１５を配設している。尚、感湿材とは外気の湿度変
化に対応して吸湿又は乾燥するもので、塩化リチウム，
五酸化リンなどの電解質系材、酢酸セルロースの親水性
高分子膜，ポリアミド樹脂などの有機質系材、酸化チタ
ン酸バナジウムの焼結材，金属リン酸皮膜などの金属酸
化物、セラミック材等があげられる。但し、参照用基準
板１２となるセラミック材にはコーティング処理により
感湿対策を施す必要がある。試料セットディスク７はモ
ータ７ａにより測定時に回転するとともに、その停止時
には反射ミラー６，投光用レンズ９からの光軸上にこれ
ら試料が位置するように構成している。なお、試料は校
正用試料１４−基準板１２−測定試料１３−感湿材１５
の順に繰返し測定できる構成としている。
用凹面鏡、凸面鏡である。試料セットディスク７は、円
盤の中心から所定距離離れた円周上の所定位置に、セラ
ミックからなる参照用基準板１２、透明セルに穀物粒子
を小さく粉砕して充填した測定試料１３、同様セルに充
填された既知の成分を含有する校正用試料１４、及び感
湿材１５を配設している。尚、感湿材とは外気の湿度変
化に対応して吸湿又は乾燥するもので、塩化リチウム，
五酸化リンなどの電解質系材、酢酸セルロースの親水性
高分子膜，ポリアミド樹脂などの有機質系材、酸化チタ
ン酸バナジウムの焼結材，金属リン酸皮膜などの金属酸
化物、セラミック材等があげられる。但し、参照用基準
板１２となるセラミック材にはコーティング処理により
感湿対策を施す必要がある。試料セットディスク７はモ
ータ７ａにより測定時に回転するとともに、その停止時
には反射ミラー６，投光用レンズ９からの光軸上にこれ
ら試料が位置するように構成している。なお、試料は校
正用試料１４−基準板１２−測定試料１３−感湿材１５
の順に繰返し測定できる構成としている。
【０００８】光電検出器８の後段には、信号の増幅を行
なう増幅器１６、Ａ／Ｄ変換を行なうＡ／Ｄ変換器１
７、及びマイクロコンピュータの制御部１８を接続す
る。この制御部１８は光電検出器８の検出値に基づき、
予め作成し記憶部１９に記憶された検量線Ｌに基づき蛋
白含量を求める等の処理を行なう。制御部１８で求めら
れた測定試料の蛋白含量等は液晶表示器などで構成する
表示器２０に表示される。
なう増幅器１６、Ａ／Ｄ変換を行なうＡ／Ｄ変換器１
７、及びマイクロコンピュータの制御部１８を接続す
る。この制御部１８は光電検出器８の検出値に基づき、
予め作成し記憶部１９に記憶された検量線Ｌに基づき蛋
白含量を求める等の処理を行なう。制御部１８で求めら
れた測定試料の蛋白含量等は液晶表示器などで構成する
表示器２０に表示される。
【０００９】上記制御部１８では次の処理も実行され
る。即ち、測定試料１３の外気平衡水分値ＭE，品温ＴS
及び水分値Ｍを知り、これらから水分変動状態判定、例
えば当該測定試料としての穀物が乾燥状態途中におかれ
ているか、あるいは吸湿状態途中にいるか等を判定しな
がら、この判定結果に基づき測定試料が予め作成した上
記検量線Ｌの適応範囲にあるか否かを判断しようとする
ものである。
る。即ち、測定試料１３の外気平衡水分値ＭE，品温ＴS
及び水分値Ｍを知り、これらから水分変動状態判定、例
えば当該測定試料としての穀物が乾燥状態途中におかれ
ているか、あるいは吸湿状態途中にいるか等を判定しな
がら、この判定結果に基づき測定試料が予め作成した上
記検量線Ｌの適応範囲にあるか否かを判断しようとする
ものである。
【００１０】このため、制御部１８は次の機能を有す
る。測定装置近傍温度になじんでいる校正用試料１４
の吸光度演算により、予め作成した外気温度測定用の検
量線を用いて外気温度ＴAを求める。同様に感湿材１
５の吸光度演算により外気の水蒸気量ＨAを求める。
で求めた外気温度ＴA及び水蒸気量ＨAとより、外気
平衡水分値ＭEを演算乃至予め記憶されたテーブル値か
ら呼び出す。測定試料１３としての穀物の吸光度演算
により品温ＴS及び当該試料の水分値Ｍとを求める。
で求めた外気平衡水分値ＭE、品温ＴS、及び水分値
Ｍより前記水分変動状態を判定する指標となる水分変動
状態判定値Ｒを、 Ｒ＝Ｋ（Ｍ−ＭE） で求める（Ｋは定数で、測定試料と品温とで決定され
る）。
る。測定装置近傍温度になじんでいる校正用試料１４
の吸光度演算により、予め作成した外気温度測定用の検
量線を用いて外気温度ＴAを求める。同様に感湿材１
５の吸光度演算により外気の水蒸気量ＨAを求める。
で求めた外気温度ＴA及び水蒸気量ＨAとより、外気
平衡水分値ＭEを演算乃至予め記憶されたテーブル値か
ら呼び出す。測定試料１３としての穀物の吸光度演算
により品温ＴS及び当該試料の水分値Ｍとを求める。
で求めた外気平衡水分値ＭE、品温ＴS、及び水分値
Ｍより前記水分変動状態を判定する指標となる水分変動
状態判定値Ｒを、 Ｒ＝Ｋ（Ｍ−ＭE） で求める（Ｋは定数で、測定試料と品温とで決定され
る）。
【００１１】上記のように求めた水分変動状態判定値Ｒ
を基準に、以下、この判定値Ｒが所定幅αにあるか否
かを判断する。測定良又は不良の判定をし及びその旨
の表示を行なう。ここで、上記所定幅αについては、前
記検量線Ｌを作成する際用いられた環境状態で決定され
るもので、例えば次のようにして定められる。
を基準に、以下、この判定値Ｒが所定幅αにあるか否
かを判断する。測定良又は不良の判定をし及びその旨
の表示を行なう。ここで、上記所定幅αについては、前
記検量線Ｌを作成する際用いられた環境状態で決定され
るもので、例えば次のようにして定められる。
【００１２】水分値の異なる複数個の試料を用意し、所
定の測定温度・湿度（外気温・湿度）及び品温（通常は
検量線作成時の各値）下で本装置にて基準値を得る。次
に上記判定値Ｒを種々変更しうるように測定温度・湿度
及び品温を変更して本装置にて実測値を得る。以上によ
り得た多数のデータによって実測値と基準値とが所定範
囲の公差になるような判定値Ｒを決定する。
定の測定温度・湿度（外気温・湿度）及び品温（通常は
検量線作成時の各値）下で本装置にて基準値を得る。次
に上記判定値Ｒを種々変更しうるように測定温度・湿度
及び品温を変更して本装置にて実測値を得る。以上によ
り得た多数のデータによって実測値と基準値とが所定範
囲の公差になるような判定値Ｒを決定する。
【００１３】上記においては外気温度等を試料等の吸光
度測定によって検出する構成としたが、当該外気温度，
湿度，品温を夫々検出できるセンサを別途設けても同様
の効果を得ることができる。上例の作用について説明す
る。試料セットディスク７が図に示す位置にあり、チョ
ッパ４が所定速度で回転するものとする。このときには
光源１から照射された光はレンズ２を通過後、通過と遮
断を繰返しながら、通過した光はフィルタ５Ａにて設定
された波長の近赤外線のみが通過する。この透過光は反
射ミラー６，投光用レンズ９を経由して、下方で待機す
る校正用試料１４に向けて照射される。
度測定によって検出する構成としたが、当該外気温度，
湿度，品温を夫々検出できるセンサを別途設けても同様
の効果を得ることができる。上例の作用について説明す
る。試料セットディスク７が図に示す位置にあり、チョ
ッパ４が所定速度で回転するものとする。このときには
光源１から照射された光はレンズ２を通過後、通過と遮
断を繰返しながら、通過した光はフィルタ５Ａにて設定
された波長の近赤外線のみが通過する。この透過光は反
射ミラー６，投光用レンズ９を経由して、下方で待機す
る校正用試料１４に向けて照射される。
【００１４】上記校正用試料１４で反射された反射光
は、光電検出器８で受光されて光電変換される。光電変
換された電気信号は、増幅されＡ／Ｄ変換されて制御部
１８に入力される。このような校正用試料１４からの反
射光はチョッパ４を光が通過する度に間欠的に得られ
る。そこで、制御部１８は、光電検出器８から出力され
る複数の電気信号に基づきその平均値ＰＢi（ｉはフィ
ルタを示す）を算出する。
は、光電検出器８で受光されて光電変換される。光電変
換された電気信号は、増幅されＡ／Ｄ変換されて制御部
１８に入力される。このような校正用試料１４からの反
射光はチョッパ４を光が通過する度に間欠的に得られ
る。そこで、制御部１８は、光電検出器８から出力され
る複数の電気信号に基づきその平均値ＰＢi（ｉはフィ
ルタを示す）を算出する。
【００１５】次に試料セットディスク７を回転し、基準
板１２を投光部に移動させる。同様に反射光から得られ
る電気信号を測定して平均値Ｐ０iを求める。さらに試
料セットディスク７を回転すると、測定試料の平均値Ｐ
Ｘi、感湿材の平均値ＰＨiが求められる。次いで各測定
平均値から吸光度を求める。即ち、吸光度ＯＤji＝ｌｏ
ｇＰ0i／Ｐji（ｊ＝０，Ｂ，Ｈ，Ｘ）によって算出す
る。
板１２を投光部に移動させる。同様に反射光から得られ
る電気信号を測定して平均値Ｐ０iを求める。さらに試
料セットディスク７を回転すると、測定試料の平均値Ｐ
Ｘi、感湿材の平均値ＰＨiが求められる。次いで各測定
平均値から吸光度を求める。即ち、吸光度ＯＤji＝ｌｏ
ｇＰ0i／Ｐji（ｊ＝０，Ｂ，Ｈ，Ｘ）によって算出す
る。
【００１６】上記吸光度を算出すると、予め設定してい
た検量線Ｌを用いて目標値ｙ、例えば測定試料穀物の蛋
白含量ｙを求める。ここでｙ＝ｋp0＋Σ（ｋpn・Ｏ
ＤXi）の算出式及びその定数ｋp0，ｋpn等を、求めよう
とする成分毎に各設定している。測定試料の吸光度測定
によって当該穀物の温度、品温ＴSを測定できる。又、
校正用試料の場合は、所定波長における吸光度測定でも
って外気温度ＴA及び水分値Ｍの測定ができるし、感湿
材１５の場合は外気の水蒸気量ＨAを吸光度測定によっ
て測定できる。即ち、 ＴS＝ｋt0＋Σ（ｋtn・ＯＤXi） Ｍ ＝ｋm0＋Σ（ｋmn・ＯＤXi） ＴA＝ｋa0＋Σ（ｋan・ＯＤBi） ＨA＝ｋh0＋Σ（ｋhn・ＯＤHi） で求められる。
た検量線Ｌを用いて目標値ｙ、例えば測定試料穀物の蛋
白含量ｙを求める。ここでｙ＝ｋp0＋Σ（ｋpn・Ｏ
ＤXi）の算出式及びその定数ｋp0，ｋpn等を、求めよう
とする成分毎に各設定している。測定試料の吸光度測定
によって当該穀物の温度、品温ＴSを測定できる。又、
校正用試料の場合は、所定波長における吸光度測定でも
って外気温度ＴA及び水分値Ｍの測定ができるし、感湿
材１５の場合は外気の水蒸気量ＨAを吸光度測定によっ
て測定できる。即ち、 ＴS＝ｋt0＋Σ（ｋtn・ＯＤXi） Ｍ ＝ｋm0＋Σ（ｋmn・ＯＤXi） ＴA＝ｋa0＋Σ（ｋan・ＯＤBi） ＨA＝ｋh0＋Σ（ｋhn・ＯＤHi） で求められる。
【００１７】これらの測定結果が得られると、これらの
うち外気温度ＴＡと外気水蒸気量Ｈ Aにより予め記憶部
に記憶されている内容から測定試料の外気平衡水分値Ｍ
Eを読み出す。この値と上記品温ＴS，水分値Ｍとから、
水分変動状態値Ｒが前記の式に基づいて算出される。次
いで、この値Ｒが所定幅α内にあるか否かが判定され、
所定幅以内であれば測定良好の旨表示する。一方この値
Ｒ所定幅よりも外れる場合には、測定不良の旨を表示す
るものである。Ｒ≒０のときが平衡状態を保っていると
きであり、環境の影響が少ない状態であるが、例えばＲ
＜０では測定試料は吸湿状態にあることが分かり、逆に
Ｒ＞０では減湿状態にあると判定されるのである。この
Ｒ＜０又はＲ＞０の程度が０から離れるほど吸湿程度が
速く、あるいは減湿程度が速いのであって、作成された
検量線を用いてもよいか否かが判定値Ｒにて判定される
ものである。
うち外気温度ＴＡと外気水蒸気量Ｈ Aにより予め記憶部
に記憶されている内容から測定試料の外気平衡水分値Ｍ
Eを読み出す。この値と上記品温ＴS，水分値Ｍとから、
水分変動状態値Ｒが前記の式に基づいて算出される。次
いで、この値Ｒが所定幅α内にあるか否かが判定され、
所定幅以内であれば測定良好の旨表示する。一方この値
Ｒ所定幅よりも外れる場合には、測定不良の旨を表示す
るものである。Ｒ≒０のときが平衡状態を保っていると
きであり、環境の影響が少ない状態であるが、例えばＲ
＜０では測定試料は吸湿状態にあることが分かり、逆に
Ｒ＞０では減湿状態にあると判定されるのである。この
Ｒ＜０又はＲ＞０の程度が０から離れるほど吸湿程度が
速く、あるいは減湿程度が速いのであって、作成された
検量線を用いてもよいか否かが判定値Ｒにて判定される
ものである。
【００１８】なお、表示部への表示にあたっては、単に
良否判定結果のみを表示するだけでもよいが、例えば所
定の検量線の適用可能範囲ａが図４のように分布すると
き、測定試料Ａについては、「品温を下げて測定して下
さい」あるいは「測定環境温度を上げて下さい」旨のメ
ッセージを表示するとよい。同様に測定試料Ｂでは「水
分値を上げて測定して下さい」「測定環境温度を上げて
測定して下さい」とするものである。測定試料Ｃ，Ｄに
ついても同様である。
良否判定結果のみを表示するだけでもよいが、例えば所
定の検量線の適用可能範囲ａが図４のように分布すると
き、測定試料Ａについては、「品温を下げて測定して下
さい」あるいは「測定環境温度を上げて下さい」旨のメ
ッセージを表示するとよい。同様に測定試料Ｂでは「水
分値を上げて測定して下さい」「測定環境温度を上げて
測定して下さい」とするものである。測定試料Ｃ，Ｄに
ついても同様である。
【００１９】図５は水分変動のない試料について示して
いる。即ち、液体試料や包装材に覆われたものについて
は、水分変動は無視できるから試料温度（品温）≒雰囲
気温度（外気温度）となって、適用範囲ａに収めるため
には試料温度のみの調整を行なうか、あるいは雰囲気温
度の調整を行なうのみでよい。
いる。即ち、液体試料や包装材に覆われたものについて
は、水分変動は無視できるから試料温度（品温）≒雰囲
気温度（外気温度）となって、適用範囲ａに収めるため
には試料温度のみの調整を行なうか、あるいは雰囲気温
度の調整を行なうのみでよい。
【図１】装置全体概要図である。
【図２】試料セットディスクの平面図である。
【図３】フロー図である。
【図４】試料水分値−品温関係グラフである。
【図５】雰囲気温度−品温関係グラフである。
１…光源、２…レンズ、３…スリット、４…チョッパ、
５…フィルタ付き円盤、６…反射ミラー、７…試料セッ
トディスク、８…光電検出器、９…投光用レンズ、１０
…集光用凹面鏡、１１…集光用凸面鏡、１２…参照用基
準板、１３…測定試料、１４…校正用試料、１５…感湿
材、１６…増幅器、１７…Ａ／Ｄ変換器、１８…制御
部、１９…記憶部、２０…表示部
５…フィルタ付き円盤、６…反射ミラー、７…試料セッ
トディスク、８…光電検出器、９…投光用レンズ、１０
…集光用凹面鏡、１１…集光用凸面鏡、１２…参照用基
準板、１３…測定試料、１４…校正用試料、１５…感湿
材、１６…増幅器、１７…Ａ／Ｄ変換器、１８…制御
部、１９…記憶部、２０…表示部
Claims (1)
- 【請求項１】 測定試料に近赤外光を照射しその反射光
量または透過光量を計測し、測定試料の化学成分値や物
理的特性あるいは総合的品質特性値を分析するものにお
いて、予め設定した検量線の水分変動に対する適用範囲
を求めて記憶する記憶手段を設け、その測定部の雰囲気
の温度・湿度検出手段と測定試料の品温・水分検出手段
とにより測定試料の水分変動状態を判定する測定試料水
分変動状態判定手段とを設け、この水分変動状態判定結
果に基づいて上記水分変動による適用範囲にあるか否か
を判定し試料測定の良・不良を表示する表示手段を設け
てなる近赤外分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11613494A JPH07318488A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 近赤外分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11613494A JPH07318488A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 近赤外分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07318488A true JPH07318488A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14679573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11613494A Pending JPH07318488A (ja) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | 近赤外分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07318488A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007225523A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Satake Corp | 穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計 |
| JP2008057996A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Miura Co Ltd | 被測定水中の被検成分濃度の測定方法 |
| JP2017505442A (ja) * | 2014-02-06 | 2017-02-16 | オーイーディーエー・リアド・ホールディングス・（２００６）・リミテッド | マスターバッチをプラスチック加工機に供給するためのスペクトル特性に基づいたシステム及び方法 |
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1994
- 1994-05-30 JP JP11613494A patent/JPH07318488A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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