JPS6041788B2 - ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法 - Google Patents
ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法Info
- Publication number
- JPS6041788B2 JPS6041788B2 JP13573478A JP13573478A JPS6041788B2 JP S6041788 B2 JPS6041788 B2 JP S6041788B2 JP 13573478 A JP13573478 A JP 13573478A JP 13573478 A JP13573478 A JP 13573478A JP S6041788 B2 JPS6041788 B2 JP S6041788B2
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- digital image
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はディジタル画像処理装置の障害個所検知方法
に関するものである。
に関するものである。
従来この種の機器の障害探索にはオシロスコープによ
つて1つ1つあたつていく方法しかなく、このため非常
に時間がかかる欠点をもつていた。
つて1つ1つあたつていく方法しかなく、このため非常
に時間がかかる欠点をもつていた。
本発明はディジタル画像処理装置からの障害パターン
をみてコントロール系と本線系との障害を区別し本線系
の障害レベル又は障害レベルと障害時分割系を簡単かつ
迅速に発見することのできるディジタル画像処理装置の
障害個所検知方法を提供するものである。以下図面を用
いて本発明の詳細な説明する。
をみてコントロール系と本線系との障害を区別し本線系
の障害レベル又は障害レベルと障害時分割系を簡単かつ
迅速に発見することのできるディジタル画像処理装置の
障害個所検知方法を提供するものである。以下図面を用
いて本発明の詳細な説明する。
ディジタル画像処理装置ではアナログ信号を何ビットか
のディジタル信号に変換して処理しているが、これらの
ディジタル信号が図1に示すように各ビットごとに例え
ばA/D変換器において並列処理されている場合、本発
明の一つの特徴に従つてテスト信号として特定ビットの
レベルだけで構成されたものを使用することにより、ど
のビット系が障害てあるかをディスプレイ上に発生する
障害パターンにより容易に決定することができる。例え
ば4ビット分割している装置に対しては、濃度又は色調
を示すA4:1000,a3:0100,a2:001
0,a1:0001の4つのレベルで作られる部分をテ
スト信号の中に作つておく。もし、3ビット系に゛1゛
が゛0゛に変化する障害が発生したとすると図2aの上
段に示すようにA3レベル以外の領域はもともと第3ビ
ットの値は6“0゛であるためにこの障害に影響されな
いが、A3レベルの領域には第3ビットに゜“1゛の情
報があるためこれが“゜0゛になることからレベル変化
を起す。このように各ビットレベルだけからできあがつ
た部分をもつテスト信号を使えば、どの領域がレベル変
化をおこしているかを知ることにより容易に障害ビット
系をみつけることができる。図2bは3ビット系が゜“
0゛から゜“1゛に変化する障害の場合を示す図であり
、A4領域が゛1000゛から“゜1100゛に変化し
、A2領域は4“0010゛から゜゜0110゛に変化
し、a1領域も“゜000r゛から“010F゛に変化
するが、A3領域は3ビット系が“1゛であるので変化
しない。
のディジタル信号に変換して処理しているが、これらの
ディジタル信号が図1に示すように各ビットごとに例え
ばA/D変換器において並列処理されている場合、本発
明の一つの特徴に従つてテスト信号として特定ビットの
レベルだけで構成されたものを使用することにより、ど
のビット系が障害てあるかをディスプレイ上に発生する
障害パターンにより容易に決定することができる。例え
ば4ビット分割している装置に対しては、濃度又は色調
を示すA4:1000,a3:0100,a2:001
0,a1:0001の4つのレベルで作られる部分をテ
スト信号の中に作つておく。もし、3ビット系に゛1゛
が゛0゛に変化する障害が発生したとすると図2aの上
段に示すようにA3レベル以外の領域はもともと第3ビ
ットの値は6“0゛であるためにこの障害に影響されな
いが、A3レベルの領域には第3ビットに゜“1゛の情
報があるためこれが“゜0゛になることからレベル変化
を起す。このように各ビットレベルだけからできあがつ
た部分をもつテスト信号を使えば、どの領域がレベル変
化をおこしているかを知ることにより容易に障害ビット
系をみつけることができる。図2bは3ビット系が゜“
0゛から゜“1゛に変化する障害の場合を示す図であり
、A4領域が゛1000゛から“゜1100゛に変化し
、A2領域は4“0010゛から゜゜0110゛に変化
し、a1領域も“゜000r゛から“010F゛に変化
するが、A3領域は3ビット系が“1゛であるので変化
しない。
これにより、同図下段に示すようなレベル変化を起す。
また、図1に示すように、並列処理されている各ビット
ごとに、低速演算機能の複数の機器に高速パルスの順次
分配をうけて実質的に高速処理を行うように構成された
時分割処理装置に障害が発生した場合、どの時系列が障
害となつているかを知るためには、画面上に各時系列の
位置を知る情報をもたすことが必要となる。そのために
は図3に示すように、TV信号の小さい丸印で示す各サ
ンプリングポイントは1走査線ごとに左から右へと時間
的に順次表示されており、特定の時系列は、黒丸で表示
するようにある周期でライン上の情報を処理しているこ
とから、本発明の他の特徴に従つて(時分割周期+1)
の間隔(T)で縦線を画面上に入れることにより、これ
らの縦線を各時系列と対応させることができる。このよ
うな信号を用いると、障害が発生した場合、必ずこの縦
線の中には1本だけ表示面上で障害によるレベル変化を
示す障害ノイズと重なるものが現れる。この重なつた縦
線が左から数えて何番目の縦線であるかを知ることによ
りTl,T2,T3・・・・・の如き時系列のうちどの
時系列が障害であるかが決定できる。本発明を図4aに
示すようなT■標準方式変換装置へ使用した場合の実施
例につき説明する。
また、図1に示すように、並列処理されている各ビット
ごとに、低速演算機能の複数の機器に高速パルスの順次
分配をうけて実質的に高速処理を行うように構成された
時分割処理装置に障害が発生した場合、どの時系列が障
害となつているかを知るためには、画面上に各時系列の
位置を知る情報をもたすことが必要となる。そのために
は図3に示すように、TV信号の小さい丸印で示す各サ
ンプリングポイントは1走査線ごとに左から右へと時間
的に順次表示されており、特定の時系列は、黒丸で表示
するようにある周期でライン上の情報を処理しているこ
とから、本発明の他の特徴に従つて(時分割周期+1)
の間隔(T)で縦線を画面上に入れることにより、これ
らの縦線を各時系列と対応させることができる。このよ
うな信号を用いると、障害が発生した場合、必ずこの縦
線の中には1本だけ表示面上で障害によるレベル変化を
示す障害ノイズと重なるものが現れる。この重なつた縦
線が左から数えて何番目の縦線であるかを知ることによ
りTl,T2,T3・・・・・の如き時系列のうちどの
時系列が障害であるかが決定できる。本発明を図4aに
示すようなT■標準方式変換装置へ使用した場合の実施
例につき説明する。
この装置において入力信号はA/D変換器1によりによ
り4ビットのディジタル信号に変換され、書き込みデー
タファイル■にて各ビットを担当する4つの時系列でメ
モリ■に書き込まれる。読み出しデータファイル■では
出力信号の同期タイミン゛グに同期した信号でメモリ■
からデータを読み出す。方式変換のために歪を受けた信
号は内挿回路Vで補正され、A/D変換器■で再びアナ
ログ信号に変換される。制御部■は以上の各回路の制御
を行う。図4bに制御部■の主要部分である制御回路の
構成例のブロックダイヤを示す。
り4ビットのディジタル信号に変換され、書き込みデー
タファイル■にて各ビットを担当する4つの時系列でメ
モリ■に書き込まれる。読み出しデータファイル■では
出力信号の同期タイミン゛グに同期した信号でメモリ■
からデータを読み出す。方式変換のために歪を受けた信
号は内挿回路Vで補正され、A/D変換器■で再びアナ
ログ信号に変換される。制御部■は以上の各回路の制御
を行う。図4bに制御部■の主要部分である制御回路の
構成例のブロックダイヤを示す。
入力信号から同期信号分離器て分離された水平同期信号
Hと垂直同期信号■はそれぞれカウンタ1,カウンタ2
のリセットパルスとして使用される。また、水平同a期
信号Hは周波数逓倍器により572逓倍されて9.5M
HzのサンプリングパルスPsが作られる。カウンタ1
はサンプリングパルスPsを計数するが、そのスタート
時点は水平同期信号Hの発生時であり、これから定めら
れたサンプリングパルス・の個数が計数されたときにパ
ルスHstを発生する。また、カウンタ2はやはりサン
プリングパルスを計数するのであるが、そのスタート時
点は垂直同期信号Vで決められ、Vが発生した時点から
一定のサンプリングパルスを計数したときにパル17.
vStを発生する。図5aは、26鉢の走査線よりなり
各走査線に500のサンプリングポイントを含む表示面
を用いて本発明の前記の特徴の前者をA,B,C,Dの
領域にて表示し、後者をEの領域にて表示する表示例を
示すもので、図5bはこのためのテスト信号発生器の一
例を示し、図6a,b,cは動作説明用のタイムチャー
トである。
Hと垂直同期信号■はそれぞれカウンタ1,カウンタ2
のリセットパルスとして使用される。また、水平同a期
信号Hは周波数逓倍器により572逓倍されて9.5M
HzのサンプリングパルスPsが作られる。カウンタ1
はサンプリングパルスPsを計数するが、そのスタート
時点は水平同期信号Hの発生時であり、これから定めら
れたサンプリングパルス・の個数が計数されたときにパ
ルスHstを発生する。また、カウンタ2はやはりサン
プリングパルスを計数するのであるが、そのスタート時
点は垂直同期信号Vで決められ、Vが発生した時点から
一定のサンプリングパルスを計数したときにパル17.
vStを発生する。図5aは、26鉢の走査線よりなり
各走査線に500のサンプリングポイントを含む表示面
を用いて本発明の前記の特徴の前者をA,B,C,Dの
領域にて表示し、後者をEの領域にて表示する表示例を
示すもので、図5bはこのためのテスト信号発生器の一
例を示し、図6a,b,cは動作説明用のタイムチャー
トである。
このテスト信号発生器は、図4a(7)A/D変換器1
の変りに用いられる。前記のように回路は走査線1ライ
ンあたり5(1)個のサンプリングポイントがある場合
を考えており、A,B,C,Dの各領域は125サンプ
リング幅となる。信号発生には、まず、E領域の信号を
発生する部分1001:ニ.A,B,C,D領域の信号
を発生する部分200とを個別に作つておき、最後にラ
イン数を計数している130カウンタの信号によりセレ
クタ18にて100と200の信号を切替えている。回
路100において、220カウンタ3は22嘲のパルス
を計数すると、1個のパルスを出力する。
の変りに用いられる。前記のように回路は走査線1ライ
ンあたり5(1)個のサンプリングポイントがある場合
を考えており、A,B,C,Dの各領域は125サンプ
リング幅となる。信号発生には、まず、E領域の信号を
発生する部分1001:ニ.A,B,C,D領域の信号
を発生する部分200とを個別に作つておき、最後にラ
イン数を計数している130カウンタの信号によりセレ
クタ18にて100と200の信号を切替えている。回
路100において、220カウンタ3は22嘲のパルス
を計数すると、1個のパルスを出力する。
この出力パルスにより、マルチバイブレータ8の出力を
゜゜0゛にする。同様にして、236カウンタ4の出力
パルスによりマルチバイブレータ9の出力を″0″にす
る。マルチバイブレータ8の出力とマルチバイブレータ
9の出力はNAND回路12に入力され、その出力は図
6a■に示す如くなる。5カウンタ5はサンプリングパ
ルスPsを5個計数する毎に1個のパルスを出力する。
゜゜0゛にする。同様にして、236カウンタ4の出力
パルスによりマルチバイブレータ9の出力を″0″にす
る。マルチバイブレータ8の出力とマルチバイブレータ
9の出力はNAND回路12に入力され、その出力は図
6a■に示す如くなる。5カウンタ5はサンプリングパ
ルスPsを5個計数する毎に1個のパルスを出力する。
5カウンタ5の出力パルスにより、マルチバイブレータ
10の出力を反転させる(図6a■)。
10の出力を反転させる(図6a■)。
マルチバイブレータ10の出力は1サンプル遅延回路1
5により1サンプリングパルス分だけ遅延される(図6
aX)。マルチバイブレータ10の出力と1サンプル遅
延回路15の出力はNAND回路13に入力され、その
出力は図6aX[に示されるようになる。図6aXII
はAND回路14の出力であり、図6aX■はインバー
タ回路16の出力である。インバータ回路16の出力に
より図5a(7)E領域の縦線部すなわち″0000′
1レベルが5サンプリングポイント毎に発生する。次に
A,B,C,D領域の信号を発生させる部分について説
明する。
5により1サンプリングパルス分だけ遅延される(図6
aX)。マルチバイブレータ10の出力と1サンプル遅
延回路15の出力はNAND回路13に入力され、その
出力は図6aX[に示されるようになる。図6aXII
はAND回路14の出力であり、図6aX■はインバー
タ回路16の出力である。インバータ回路16の出力に
より図5a(7)E領域の縦線部すなわち″0000′
1レベルが5サンプリングポイント毎に発生する。次に
A,B,C,D領域の信号を発生させる部分について説
明する。
まず、シフトレジスタ17は6゜100σ3に設定して
おく。125カウンタ6はパルスHst(図6b■)に
よりサンプリングパルスPsを計数して、12緬のパル
スを計数すると1個のパルスが出力され(図6b■)、
シフトレジスタぱ゜0100゛にセットされる。
おく。125カウンタ6はパルスHst(図6b■)に
よりサンプリングパルスPsを計数して、12緬のパル
スを計数すると1個のパルスが出力され(図6b■)、
シフトレジスタぱ゜0100゛にセットされる。
さらに、次の125カウンタ6の出力によりシフトレジ
スタ17は゜“0010゛にセットされる。同様にして
、次の125カウンタ6の出力により“000丁゛にセ
ットされる。次に、125カウンタ6はパルスHstに
よりリセットされ、上記の動作が繰り返し実行される。
E領域の信号とA,B,C,D領域の信号は130カウ
ンタ7の出力(図6c■)によりマルチバイブレータ1
1の出力を反転させ、11の出力によりセレクタ18を
切り換えて、図5aに示すごとく、130ライン毎に画
面上に発生する。E領域の信号のみを発生させる場合に
はインバ・一タ16の出力を用いればよいから、6,7
,10,17,18の各回路を省略すればよいことは明
らかである。以上は660″ビットの中に“゜1゛のビ
ットを一つ含む信号を用いるものとして説明したが、″
r′のビットの中に′60″のビットを一つ含む信号を
用いても同様の効果を得ることができる。以上詳細に説
明したように、画像は人間の視覚に働きかける情報であ
り、これらのディジタル機器が障害である否かは、多く
の場合その出力画をみて判定されるためこのような障害
検知用テスト信号を用いて本発明のように表示すれば、
゛Mclフレームシンクロナイザ、ノイズリジユーサー
等のディジタル機器について充分な知識を有しない取扱
者でも、出力画の障害パターン上の縦線の位置、又はこ
れと各表示領域の濃度又は色調の変化により容易に障害
個所を見つけ保守することができる。
スタ17は゜“0010゛にセットされる。同様にして
、次の125カウンタ6の出力により“000丁゛にセ
ットされる。次に、125カウンタ6はパルスHstに
よりリセットされ、上記の動作が繰り返し実行される。
E領域の信号とA,B,C,D領域の信号は130カウ
ンタ7の出力(図6c■)によりマルチバイブレータ1
1の出力を反転させ、11の出力によりセレクタ18を
切り換えて、図5aに示すごとく、130ライン毎に画
面上に発生する。E領域の信号のみを発生させる場合に
はインバ・一タ16の出力を用いればよいから、6,7
,10,17,18の各回路を省略すればよいことは明
らかである。以上は660″ビットの中に“゜1゛のビ
ットを一つ含む信号を用いるものとして説明したが、″
r′のビットの中に′60″のビットを一つ含む信号を
用いても同様の効果を得ることができる。以上詳細に説
明したように、画像は人間の視覚に働きかける情報であ
り、これらのディジタル機器が障害である否かは、多く
の場合その出力画をみて判定されるためこのような障害
検知用テスト信号を用いて本発明のように表示すれば、
゛Mclフレームシンクロナイザ、ノイズリジユーサー
等のディジタル機器について充分な知識を有しない取扱
者でも、出力画の障害パターン上の縦線の位置、又はこ
れと各表示領域の濃度又は色調の変化により容易に障害
個所を見つけ保守することができる。
また、将来画像信号がディジタル伝送される際の伝送路
試験にも適用することができる。又障害状況をパターン
化し、見て判断するという点で障害がより具体的に、ま
た広範囲で複数の障害も容易に発見できる利点がある。
試験にも適用することができる。又障害状況をパターン
化し、見て判断するという点で障害がより具体的に、ま
た広範囲で複数の障害も容易に発見できる利点がある。
図1は本発明が対象とする装置を説明するためのブロッ
ク図、図2aおよび図2bは障害が発生したときに生ず
るレベル変化の態様を説明するための図、図3は本発明
の表示例を示す図、図4aは本発明の対象装置としての
TV標準方式変換装置の構成を示すブロック図、図4b
は図4aの例に用いる制御回路の構成例を示すブロック
図、図5aは本発明の一表示例を示す図、図5bは本発
明に用いるテスト信号発生器の構成例を示すブロック図
、図6a,図6b,図6cは本発明に用いるテスト信号
発生器の動作を説明するためのタイムチャートである。
ク図、図2aおよび図2bは障害が発生したときに生ず
るレベル変化の態様を説明するための図、図3は本発明
の表示例を示す図、図4aは本発明の対象装置としての
TV標準方式変換装置の構成を示すブロック図、図4b
は図4aの例に用いる制御回路の構成例を示すブロック
図、図5aは本発明の一表示例を示す図、図5bは本発
明に用いるテスト信号発生器の構成例を示すブロック図
、図6a,図6b,図6cは本発明に用いるテスト信号
発生器の動作を説明するためのタイムチャートである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 時分割処理により動作するディジタル画像処理装置
の障害探索のために、該ディジタル画像処理装置におけ
る前記時分割の数に1を加えた数の画素の周期でレベル
変化をするテスト信号を前記ディジタル画像処理装置に
入力して該ディジタル画像処理装置の表示面に前記の周
期で複数の縦線が表示されるようになし、前記の時分割
処理における障害系に対応してレベル変化した画素と前
記複数の縦線のうちいずれの縦線とが一致するかに従つ
て前記時分割処理の障害系を検知することを特徴とする
ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法。 2 時分割処理により動作するディジタル画像処理装置
の障害探索のために、該ディジタル画像処理装置におけ
る前記時分割の数に1を加えた数の画素の周期でレベル
変化する第1のテスト信号を前記ディジタル画像処理装
置に入力して該ディジタル画像処理装置の表示面に前記
の周期で複数の縦線が表示されるようになし、前記の時
分割処理における障害系に対応してレベル変化した画素
と前記複数の縦線のうちいずれの縦線とが一致するかに
従つて前記時分割処理の障害系を検知するとともに、前
記ディジタル画像処理装置で扱うディジタル信号のビッ
ト数と同一のビット数を有しかつ他のビットと異なる状
態の特定ビットを高位桁から下位桁に順次1ビット宛ず
らせることにより得られる前記ビット数に等しい数の複
数の第2のテスト信号を前記ディジタル画像処理装置に
順次入力し、該ディジタル画像処理装置の表示面上の前
記複数のテスト信号にそれぞれ対応する複数領域の各レ
ベルが前記特定ビットにおける障害に従つて変化するこ
とを利用して、前記ディジタル信号の障害ビットを検知
することを特徴とするディジタル画像処理装置の障害個
所検知方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13573478A JPS6041788B2 (ja) | 1978-11-06 | 1978-11-06 | ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13573478A JPS6041788B2 (ja) | 1978-11-06 | 1978-11-06 | ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5563462A JPS5563462A (en) | 1980-05-13 |
JPS6041788B2 true JPS6041788B2 (ja) | 1985-09-18 |
Family
ID=15158615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13573478A Expired JPS6041788B2 (ja) | 1978-11-06 | 1978-11-06 | ディジタル画像処理装置の障害個所検知方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6041788B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100339163C (zh) * | 2003-03-18 | 2007-09-26 | 日本油漆株式会社 | 一种生产涂布复合涂膜的方法 |
KR20200048979A (ko) * | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 삼성전기주식회사 | 카메라 모듈 및 이에 이용되는 윤활제 조성물 |
-
1978
- 1978-11-06 JP JP13573478A patent/JPS6041788B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100339163C (zh) * | 2003-03-18 | 2007-09-26 | 日本油漆株式会社 | 一种生产涂布复合涂膜的方法 |
KR20200048979A (ko) * | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 삼성전기주식회사 | 카메라 모듈 및 이에 이용되는 윤활제 조성물 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5563462A (en) | 1980-05-13 |
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