JPS6036670B2 - デ−タ端末装置の試験方式 - Google Patents

デ−タ端末装置の試験方式

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JPS6036670B2
JPS6036670B2 JP53125110A JP12511078A JPS6036670B2 JP S6036670 B2 JPS6036670 B2 JP S6036670B2 JP 53125110 A JP53125110 A JP 53125110A JP 12511078 A JP12511078 A JP 12511078A JP S6036670 B2 JPS6036670 B2 JP S6036670B2
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line
dte
dce
signal
test
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征一郎 山本
俊明 小山
剛 小川
竹氏 原川
光祐 岡村
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  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は半二重動作を行らデータ端末装置(以下DT
Eと称する)の試験方法に関するものであり、特にその
ループ試験方式の改良に関するものである。
DTEがたとえば回線交換網のような通信網を介して相
手のDTEと通信する場合、回線終端装置を介してDT
Eを通信網に接続しなければならない。
ここで回線終端装置とは、よく知られているように、通
信網に対して変復調装置として機能をするとともに、D
TEに対してはDTE側インタフェースに従って情報の
送受信を行い、網棚の交予期機に対して交モ剣機側イン
タフェースに従って情報の送受信を行うよう機能するも
のであり、たとえば日本電信電話公社の提供する○12
1形あるいはD131形回線終端装置などが知られてい
る。回線終端装置は、DTE側インタフェースに関する
回路の部分で折返す折返し機能を有している。ところで
半二重通信用のDTEは、一般に送受信動作を同時に行
うことができない。そのため回線終端装置(以下DCE
と称する)のDTE側インタフェース折り返し試験のよ
うに送出信号が同一回線に戻ってくるものでは、その信
号を受信することはできない。従ってこの折り返しを利
用した従釆の試験方法では人手による動作確認が必要で
あった。第1図にその方法を示してある。これはDTE
.1とDCE.2をDTE一DCEインタフエ−ス.ケ
ーブル3、を用いて接続し、該インタフェース.ケーブ
ル3、を介してDCE.2で折り返され戻ってくる信号
を比較する方法である。第1図にはCCITT勧告x2
1に準拠するDTEの例を示してある。×2 1のDT
E一DCEインタフェース信号は周知のように次の信号
から成っている。r・・・・・・送信(DTE→DCE
)C・・.・・.コントロール(DTE→DCE)R・
・・・・・受信(DTE←DCE)1・・・・・・イン
デイケーシヨン(DTE←DCE)S・・・・・・信号
ェレメント.タイミング(DTE←DCE)G・・・・
・・信号用接地または共通婦線(DTE←→DCE)−
r線には送信データをのせる。
また、r線とC線は、その合せにより、DTEの状態を
DCEへ表示する。R線にはDCEからの受信データを
のせる。
また、R線と1線はその組合により、DCEからDTE
への指示を表示する。S線はr線およびR線上のデータ
のサンプリングタイミングを与える。
G線は信号用接地または共適帰線である。G線は本発明
の説明には不要なので、以下の説明では省略してある。
なお、本発明にいて半二重とはr線を用いてのデータ送
信とR線を用いてデータ受信を同時に行わないことを言
う。
但し受信中であってもr線、C線を任意の状態に保持し
ておくことはできるし、またデータ送信中であってもR
線1線の状態の監視はできるものとする。第1図に示し
た例の場合、該DTE.1のr線12はDCE.2でr
線22からR線24に折り返されるのでDTEIのr線
12はR線14を波形観測、電圧測定あるいは論理的な
手段により比較し、その動作を確認する。
C線13と1線15についても同様にして比較確認を行
う。S線11は折り返しはないがDCE2から常時クロ
ツクが出ているので、それを波形観測する。かような従
来の方法によるDCEでの折り返し試験ではインタフェ
ースの送信回路、受信回路およびインタフェース.ケー
ブルの確認しかできなかった。
発呼、着呼、データ送受信切断といったDTEの動作を
確認するには、DCEの動作をシミュレートする試験回
路を別に用意し、それとDTEを接続し動作確認を行う
か、あるいは第2図に示すように半二重動作を行うDT
E自身にDCEの動作をシミーレ−トする機能を設けて
おき、該DTEを別に1台用意し被試験DTEIとDC
Eの動作モード‘こある試験用DTE4をループ接続し
試験する方法をとらなばならなかった。後者の例を次に
示す。前者の場合も試験用DTEが専用の試験回路とな
るだけで同様である。
第2図において被試験DTBIとDCEの動作モードに
ある試験用DTE4はループケーブル5にて、ループ接
続されている。
ループケーブル5は、被試験DTEIのr線1 2、C
線1 3、R線14、1線15をそれぞれDCEの動作
モードで動作する試験用DTE4のR線44、1線45
、r線42、C線43にループする。また、両DTEの
S線1 1および4 1は試験用DTE4のループ試験
用クロックS′線4川こ接続される。S′線はDCEの
S線の代わりをする信号ェレメント.タイミングである
。試験用DTE4はr線42、C線43をDCEのR線
、1線と同様に動作させ、R線44、1線45をDCE
のr線、C線のようにみて動作する。動作はCCITT
X21に準拠した動作を行うが、×21に準拠した動作
は当業者では周知のことであるので省略する。いずれに
しても先に示した試験と併せて2つの異なった試験を行
わないと、DCEのDTE側インタフェースを含めた動
作確認はできなかった。
この発明の目的とするところは、上記のごとき問題点を
除去するものであり、DCEのDTE側インタフェース
を含めた動作確認を簡単に行うことのできるDTEの試
験方法を提供することにある。本発明は、DTEから受
信した信号を該DTEへ向ける送信信号として折り返す
機構を有するDCEを用いて該DTEの折り返し試験を
行う試験方式を前提とする。
本発明は、このような構成に対して、DCEから送信信
号を送る信号線DTEが送信信号を受けとる信号線との
間に介入し、DTEが送信しDCEを介して折り返され
る送信情報を受けてその応答情報を生成しDTEに直接
送信するよう構成された試験用装置を設けたデータ端末
装置の試験方式を特徴とする。次に本発明の実施例につ
き図面を用いて詳細に説明する。
第3図は本発明の実施例である。
DTEインタフェースでの折り返し試験状態にあるDC
Eを、ループの一部に挿入したDTEのループ試験の構
成図を示している。被試験DTEIは、DCEの動作を
シミュレートする試験用DTE4と、ループ.ケーブル
6により接続されるが、該ループ.ケーブル6には中間
にコネクタ7が設けられており、そこにDTE−DCE
インタフェース.ケーブル3が接続できるようになって
いる。
DCE2がDTEインタフェースでの折り返し試験の状
態になっているとき該ィ:ノタフエースケーブル3でコ
ネクタ7とDCE2を接続すると、被試験DTEIのr
線1 2の出力信号はDCE2で折り返され、DCEを
シミュレートする試験用DTE4のR線44に折り返さ
れる。同様にDTEIのC線1 3の出力信号はDCE
2で試験用DTE4の1線45に折り返される。被試験
DTEIのS線1 1と、試験用DTE4のS線41は
DCE2のS線21に接続される。また試験用DTE4
のr線42、C線43はそれぞれ被試験DTEIのR線
14、1線15に接続される。このよにループ接続を行
ったうえで、DCEの動作をシミュレートするDTE4
にDCEの動作を行わせ、一方、被試験DTEIにはD
TEとしての動作を行わせ、それが正常に動作すること
を確認すればDTEの動作確認ができただけでなく、D
CEのDTE側インタフェースを含めた動作確認ができ
たことになる。この動作を行なうDCE1,DCE4の
機能ブロック図を第4図に示す。
第4図において、DTE1,DTE4は装置内の信号と
インタフェース信号間のレベル交換を行なうドライバ5
4,55,73,74レシーバ56,57,71,72
を有しており、54,73はUOWレベル信号入力によ
り“1”状態を出力し、55,74はLOWレベル号入
力によりOFF状態を出力し、56,71は“1”信号
入力によりしOWレベル信号を出力し、57,72はO
FF信号入力によりしOWレベル信号を出力する。
DTEIにおいて、51はDrEI内の制御を行なう制
御部、52は起動信号を保持するラッチ、58はインタ
フェースRの信号をビットシリアルに取り込むラインレ
ジスタ、59は該レジス夕58のキャラクタ組立完了し
たデータを保持するデータレジスタ、60は該レジスタ
59の内容がSYN,SYN,十,十・・・・・・であ
ったときHighレベルを出力する「選択信号送出可」
信号デコーダ、61は、選択信号のSYNキャラクタ発
生器、62はSYMこ続く選択信号内容キャラク夕発生
器、53,63はオアゲート、64,65はアンドゲー
ト、66は送信キャラクタを保持するデータレジスタ、
67は該レジスタの内容をビットシリアルに分解して送
出するためのラインレジスタである。DTE4において
、70‘まDTE4内の制御を行なう制御部、75は起
動信号を検出するデコーダ、76は「選択信号送出可」
信号のSYNキャラクタ発生器、77はSYMこ続く“
十”キャラクタ発生器、78,79はアンドゲート、8
0はオアゲート、81は送信キャラクタを保持するデー
タレジスタ、82は該レジスタの内容をビットシリアル
に分解して送出するためのラインレジスタ、83はィン
タフェィスRの信号をビットシリアルに取り込むライン
レジスタ、84は該レジス夕83のキャラクタ組立完了
したデータを保持するデータレジスタ、85は該データ
レジスタの内容が選択信号であったときHi離しベルを
出力する選択信号デコーダである。
SLは送信側信号線で送信線Tとコントロール線Cを含
む、RLは受信側信号線で受信線Rとィンディケーショ
ン線1を含んでいる。DTEIの送信側信号線SLはD
CE2のインタフェース部分r,C,1,Rを介してD
TE4の受信側信号線に接続されており、DTE4の送
信側信号線SLはDTEIの受信側信号線RLに接続さ
れている。なおDCE2のDTE側インタフェース回路
の部分の折り返し機構は、すでに公知であり、当業者に
は知られているが、参考のために第6図を用いて説明を
加える。第6図はDCE2の特にDTE側での折り返し
機構を強調するブロック図であり、97は変復調装置を
含む交換機側インタフェース回路、96はディジタル・
データを処理する論理部である。91,92はしシーバ
、93,94はドライバであり、装置内信号とDTEイ
ンタフェース信号間のレベル変換を行う。
95はDTEインタフェース折り返しスイッチであり、
通常の使用時にはスイッチは論理部96とドライバ93
,94が接続されるような位置にある。
DCE2のパネル等から折り返しが指示されると、レシ
ーバ91の出力がドライバ93の入力に、またレシーバ
92の出力がドライバ91の入力に接続されるようスイ
ッチが倒れる。この動作の具体例を第5図に示す。これ
はDTEの発呼から通信可までのシーケンスである。
DTEIから発呼するにはr線12、C線13をDTE
レディ状態r=1,C=OFFからT=0、C=CNの
状態に変える。
このT線12、C線13は折り返し試験の状態にあるD
CE2で折り返され、DCEをシミュレートするDTE
4のR線44、1線45に入力される。DTE4は、こ
のR線44、1線を監視ており、DTEIが発呼の状態
になったことを検知すると、そのT線42,C線43を
DCEのR線と1線と同様に動作させる。つまり、2つ
の「SYNJを先行せた「十一符号をT線42に蓮続送
出し、「選択信号送出可」を指示する。このときC線4
3はOFFに保持する5 これらの信号はループケーブ
ル6により、DTEIのR線1 4、1線1 5に入力
される。DTEIはR線14、1線15を監視しており
「選択号送出可」信号を受信するとT線12に「選択信
号」を送出する。このときC線はONに保持する。これ
に対し、DTE4は「十一符号の送出を止め、一定時間
内に「通信可」の状態T=1、C=ON(DCEの場合
R=1、1=ON)を指示する。これにより、DTEI
のR線1 4は1に、1線15はONとなり、DTEI
は「通信可」となったことを知る。このようにしてDT
EIは発呼から通信可までの動作を行うが、更に、「通
信可」となった後の動作と「切断」の動作をも同様にし
て、テストプログラム等により、DTEIとDTE4を
用いて実行させれば、DTEIの動作確認がインタフェ
ースケーブル3、DCEのDCE側インタフェースまで
含めてできたことになる。なお「通信可」となった後の
動作と、「切断」の動作も同様に行うことができ、本発
明ではCCITT勧告X21に準拠したDTEについて
述べているが、C線、1線を除くだけでX2川こ準拠し
たDTEにも適用できることは明白である。
また、前記のDCEの動作をシミュレートするDTEの
代わりに専らDCEの動作を行う試験専用の回路を用い
ることができることはいうまでもない。さらに、DTE
側インタフェースが折り返し試験の状態になっているD
CEのかわにり、T線をR線に、C線を1線に折り返し
、S線は試験用のクロック信号と接続する試験器を用い
ることもできる。以上述べた如き構成であるから本発明
にあっては、次の如き効果を得ることができる。{11
DCEのDTE側インタフェースを含めたループ試験
を行うことができるようになり、DTEの動作確認を簡
単に行える。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来方式によるDCEでの折り返り試験の構成
図、第2図は従来方式によるDTE間のループ試験の構
成図、第3図は本発明によるDTE間のループ試験の構
成図、第4図はその装置内部のブロック図、第5図はそ
の動作タイムチャート、第6図は回線終端装置のブロッ
ク図である。 符号の説明、1・・・・・・データ端末装置(DTE)
、2・・・・・・回線終端装置(DCE)、3・・・・
・・DTE−DCEインタフエ−ス.ケーブル、1 1
・・・・・・DTEのS(信号ェレメントタィミング)
線、1 2・・・・・・DTEのT(送信)線、13・
・・・・・DTEのC(コントロール)線、14・・・
・・・DTEのR(受信)線、15・・・・・・DTE
の1(インデイケーション)線、21・・・・・・DC
EのS線、22・・・・・・DCEのT線、23・・・
・・・DCEのC線、24・・・・・・DCEのR線、
25・・・・・・DCEの1線、4・・・・・・試験用
のDTE、5・・・・・・ループケーブル、41・・・
・・・試験用のDTEのS線、42・・・・・・試験用
DTEのT線、43・・・・・・試験用DTEのC線、
44・・・・・・試験用DTEのR線、45・・・・・
・試験用DTEの1線、40・・・・・・ループ試験用
のクロック(S′)、10・・・・・・ループ試験用の
クロック(S′)、6・・・・・・本発明によるループ
ケーブル、7・・・・・・コネクタ、SL・・・・・・
送信側信号線、RL・・・・・・受信側信号線。 券’図 多2図 多3図 才4図 多5図 ある図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 データ端末装置(DTE)から受信した信号を該D
    TEへ向ける送信信号として折り返す機構を有する回線
    終端装置(DCE)を用いて該DCEの折り返し試験を
    行う試験方法において、前記DCEから送信信号を送る
    信号線と前記DTEが受信信号を受け取る信号線との間
    に介入し、前記DTEが送信し前記DCEを介して折り
    返される送信情報を受けてその応答情報を生成し前記D
    TEに直接送信するよう構成された試験用装置を設けた
    ことを特徴とするデータ端末装置の試験方式。
JP53125110A 1978-10-13 1978-10-13 デ−タ端末装置の試験方式 Expired JPS6036670B2 (ja)

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JPS5552966A JPS5552966A (en) 1980-04-17
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JPS62299149A (ja) * 1986-06-18 1987-12-26 Toshiba Corp デ−タ伝送シミユレ−シヨン装置

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JPS5552966A (en) 1980-04-17

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